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      覆晶包裝結(jié)構(gòu)的制作方法

      文檔序號(hào):11197188閱讀:544來源:國知局
      覆晶包裝結(jié)構(gòu)的制造方法與工藝

      本實(shí)用新型關(guān)于一種半導(dǎo)體組件封裝構(gòu)造;特別是關(guān)于一種可適用于封裝較高芯片的覆晶包裝結(jié)構(gòu)。



      背景技術(shù):

      電子產(chǎn)品(如發(fā)光二極管,LED)逐漸朝向多功能化及小型化趨勢發(fā)展,使得芯片包裝結(jié)構(gòu)(IC Package)技術(shù)隨之改變,如:覆晶包裝結(jié)構(gòu)(Flip Chip Package),可由基板撘配封裝材料形成包裝結(jié)構(gòu)。

      由于芯片內(nèi)部組件數(shù)量逐漸增加,在芯片面積必須縮小的設(shè)計(jì)要求下,芯片內(nèi)部的組件只能改為堆棧形式,造成小面積的芯片高度增加,導(dǎo)致現(xiàn)有的大面積芯片的包裝結(jié)構(gòu)不再適用。

      其中,現(xiàn)有的芯片封裝材料大致可分為膠材、鋁材或陶瓷等,但是膠材未固化前呈現(xiàn)流體形態(tài)而不適用于高度較高的芯片;鋁材為金屬導(dǎo)電材質(zhì),不利于電路導(dǎo)線經(jīng)過;陶瓷則有成本較高及加工不易等缺點(diǎn)。

      有鑒于此,有必要改善上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),以符合實(shí)際需求,提升其安全實(shí)用性。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本實(shí)用新型提供一種覆晶包裝結(jié)構(gòu),以適用于封裝高度較高的芯片。

      本實(shí)用新型揭示一種覆晶包裝結(jié)構(gòu),可包括:一個(gè)基板,具有相對的兩個(gè)表面;一個(gè)圍阻體,設(shè)置于該基板的一個(gè)表面,該圍阻體為包括有至少一個(gè)導(dǎo)電箔的BT樹脂,該圍阻體開設(shè)一個(gè)凹槽,該導(dǎo)電箔的局部呈裸露狀態(tài);及一個(gè)芯片,設(shè)置于該凹槽內(nèi),該芯片電連接該導(dǎo)電箔。

      所述基板可具有一個(gè)黏合層,該黏合層可黏設(shè)該圍阻體;所述黏合層可為一個(gè)Epoxy材料層。借此,可加強(qiáng)該圍阻體與該基板之間的不同材質(zhì)材料的黏合效果。

      所述圍阻體的BT樹脂可具有至少一個(gè)貫孔,該貫孔容納至少一個(gè)導(dǎo)電件;所述圍阻體的BT樹脂可由一個(gè)底部及一個(gè)環(huán)墻連接形成該凹槽,該環(huán)墻的高度大于該底部的厚度,該貫孔貫穿該環(huán)墻;所述貫孔可沿該環(huán)墻的軸向或徑向延伸設(shè)置;所述基板為一個(gè)電路板,該電路板電連接該導(dǎo)電件;所述覆晶包裝結(jié)構(gòu)還包括一個(gè)導(dǎo)電板,該導(dǎo)電板可封閉該圍阻體的凹槽,該導(dǎo)電板電連接該導(dǎo)電件;所述導(dǎo)電板為一個(gè)金屬板;所述導(dǎo)電箔為一個(gè)銅箔。借此,可利用該圍阻體的BT樹脂作為保護(hù)芯片及電路連接等用途,以便提高電路或擴(kuò)大包裝結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)適用范圍。

      本實(shí)用新型的有益效果是:

      上述覆晶包裝結(jié)構(gòu)可利用該BT樹脂保護(hù)高度較高的芯片,該BT樹脂包覆的導(dǎo)電箔可電連接該芯片,該BT樹脂可由該貫孔設(shè)置該導(dǎo)電件作為接地或電連接其他電路等用途,可以達(dá)到“易加工”、“成本低”及 “設(shè)計(jì)適用范圍廣”等效果,相比于現(xiàn)有的封裝材料形成的包裝結(jié)構(gòu)方式,本實(shí)用新型的覆晶包裝結(jié)構(gòu)除可適用于高度較高的芯片,更可降低制作成本及可供電路導(dǎo)線經(jīng)過,可符合未來小型化芯片的封裝需求。

      附圖說明

      下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

      圖1:本實(shí)用新型覆晶包裝結(jié)構(gòu)實(shí)施例的側(cè)面剖視圖。

      附圖標(biāo)記說明

      1 基板

      1a,1b 基板的相對兩個(gè)表面

      11 黏合層

      2 圍阻體

      21 導(dǎo)電箔 22 BT樹脂

      221 底部 222 環(huán)墻

      223 貫孔 224 導(dǎo)電件

      23 凹槽

      3 芯片

      4 電路板

      5 導(dǎo)電板

      D1 環(huán)墻的軸向 D2 環(huán)墻的徑向。

      具體實(shí)施方式

      為使本實(shí)用新型的上述及其他目的、特征及優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例,并配合所附附圖,作詳細(xì)說明如下:

      本實(shí)用新型全文所述的方向性用語,例如“前”、“后”、“左”、“右”、“上(頂)”、“下(底)”、“內(nèi)”、“外”、“側(cè)”等,主要是參考附加附圖的方向,各方向性用語僅用以輔助說明及理解本實(shí)用新型的各實(shí)施例,并非用以限制本實(shí)用新型。

      請參閱圖1所示,其為本實(shí)用新型覆晶包裝結(jié)構(gòu)實(shí)施例的側(cè)面剖視圖。其中,該覆晶包裝結(jié)構(gòu)可包括一個(gè)基板1、一個(gè)圍阻體2及一個(gè)芯片3,該基板1設(shè)置該圍阻體2,該芯片3設(shè)置于該圍阻體2的內(nèi)部。其中,該基板1可具有相對的兩個(gè)表面1a、1b;該圍阻體2可黏置于該基板1的一個(gè)表面(如1a),該圍阻體2為包括有至少一個(gè)導(dǎo)電箔21的BT樹脂22,該圍阻體2開設(shè)一個(gè)凹槽23,使該導(dǎo)電箔21的局部露出,該凹槽23可利用蝕刻或雷射切割等方式加工而成;該芯片3可設(shè)置于該凹槽23內(nèi),該芯片3電連接該導(dǎo)電箔21。以下舉例說明該覆晶包裝結(jié)構(gòu)的實(shí)施例,但是不以此為限。

      舉例而言,該圍阻體2可由BT樹脂22設(shè)置(如包覆或貼合等)至少一個(gè)銅箔,該銅箔作為該導(dǎo)電箔21,該導(dǎo)電箔21可形成一布局圖案(layout pattern),用以導(dǎo)接不同電子組件或不同芯片接腳等;該BT樹脂22主要以B (Bismaleimide,雙馬來酰亞胺) 及 T (Triazine,三氮六環(huán)衍生物) 聚合而成,以該BT樹脂22為原料所構(gòu)成的基板具有高Tg(255~330℃)、耐熱性(160~230℃)、抗?jié)裥?、低介電常?shù)(Dk)及低散失因素(Df)等優(yōu)點(diǎn),可以達(dá)成穩(wěn)定尺寸、防止熱脹冷縮影響線路合格率等功效。

      在此例中,該基板1可具有一個(gè)黏合層11,該黏合層11可為一個(gè)Epoxy材料層,該黏合層11可黏設(shè)該圍阻體2,以便加強(qiáng)該圍阻體2與該基板1之間的不同材質(zhì)材料的黏合效果,其黏合過程可于該基板1上涂布Epoxy材料形成該黏合層11,將該圍阻體2置于該黏合層11上,再進(jìn)行加熱烘烤過程,該加熱烘烤過程可于真空環(huán)境中進(jìn)行,但是不以此為限。

      在此例中,該圍阻體2的BT樹脂22可由一個(gè)底部221及一個(gè)環(huán)墻222連接形成該凹槽23,該凹槽23可鄰近該導(dǎo)電箔21,如:該導(dǎo)電箔21可由該BT樹脂22的底部221或環(huán)墻222朝向該凹槽23露出,或者,該導(dǎo)電箔21可貼合于該凹槽23外的環(huán)墻222表面等,但是不以此為限,該環(huán)墻222的高度可大于該底部221的厚度;該BT樹脂22可具有至少一個(gè)貫孔223,該貫孔223可貫穿該環(huán)墻222,如:該貫孔223可沿該環(huán)墻222的軸向D1或徑向D2延伸設(shè)置,用以容納至少一個(gè)導(dǎo)電件224(如:導(dǎo)電線或電焊材等),該導(dǎo)電件224可電連接一個(gè)電路板4或一個(gè)導(dǎo)電板5,該導(dǎo)電板5為一個(gè)金屬板,如:該電路板4可做為該基板1的局部,用以設(shè)置電路布局(circuit layout)等;該導(dǎo)電板5可封閉該圍阻體2的凹槽23。借此,可利用該圍阻體2的BT樹脂22作為保護(hù)芯片及電路連接等用途,以便提高電路或擴(kuò)大包裝結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)適用范圍。

      借此,本實(shí)用新型上述實(shí)施例使用時(shí),可利用該BT樹脂保護(hù)高度較高的芯片,該BT樹脂包覆的導(dǎo)電箔可電連接該芯片,該BT樹脂可由該貫孔設(shè)置該導(dǎo)電件作為接地或電連接其他電路等用途,可以達(dá)到“易加工”、“成本低”及“設(shè)計(jì)適用范圍廣”等效果。

      本實(shí)用新型上述實(shí)施例相比于現(xiàn)有的封裝材料形成的包裝結(jié)構(gòu)方式,除可適用于高度較高的芯片,更可降低制作成本及可供電路導(dǎo)線經(jīng)過,可符合未來小型化芯片的封裝需求。

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