本發(fā)明屬于封裝技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種超薄封裝元件的制作工藝。
背景技術(shù):
目前在無引腳封裝產(chǎn)品方面種類較少,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及封裝工藝比較普通,產(chǎn)品在市場的沒有太多的競爭力。針對(duì)結(jié)構(gòu)復(fù)雜的工藝要求難以實(shí)現(xiàn)。傳統(tǒng)產(chǎn)品厚度仍然比較大,無法滿足當(dāng)前的便攜式設(shè)備對(duì)小體積、高密度封裝的需求。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供一種超薄封裝元件的制作工藝。
本發(fā)明解決現(xiàn)有技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案:一種超薄封裝元件的制作工藝,包括如下步驟:
a、框架設(shè)計(jì)制造
采用金屬作為底板,在底板上通過干膜光刻掩膜,按順序分別電鍍厚度控制在0.03~0.05um的Au層、厚度60~80um的Ni層和厚度1.5~3umAg層,形成組裝功能區(qū),用于芯片的安裝和焊線的焊點(diǎn);
b、裝片
采用共晶或銀膠或絕緣膠中的任一種裝片工藝,完成芯片安裝;
c、焊線
采用球焊工藝進(jìn)行焊接;
d、等離子清洗
進(jìn)行等離子清洗,保證產(chǎn)品在塑封前的表面清潔,提高器件的可靠性和濕度敏感性;
e、塑封固化
產(chǎn)品裝入塑封模具,加入環(huán)氧樹脂包裹成型,使產(chǎn)品內(nèi)部的芯片和焊線能夠安全地保護(hù),塑封后的產(chǎn)品經(jīng)過高溫150~175℃烘烤4~8小時(shí),使環(huán)氧樹脂內(nèi)部結(jié)構(gòu)能夠充分反應(yīng);
f、化學(xué)去框架底板
產(chǎn)品放進(jìn)腐蝕液中進(jìn)行腐蝕,框架底板材料在腐蝕液中被腐蝕掉,而與底板接觸的鍍金層由于耐腐蝕性未被腐蝕,去除框架底板后產(chǎn)品的底部全部露出鍍金層凸點(diǎn),用于產(chǎn)品后續(xù)與PCB板之間的焊接;
g、切割分離
將去除底板后的產(chǎn)品粘貼在UV上,按照產(chǎn)品設(shè)計(jì)的尺寸大小及外露的鍍金凸點(diǎn)之間的間距采用切割設(shè)備進(jìn)行切割分離,切割后進(jìn)行UV照射并使產(chǎn)品從UV上分離開,通過清洗并干燥烘干;
h、測(cè)試、包裝
根據(jù)產(chǎn)品的電性規(guī)定設(shè)定測(cè)試程序進(jìn)行電性能參數(shù)測(cè)試,通過測(cè)試合格產(chǎn)品按照印章內(nèi)容要求MARK打印,并對(duì)測(cè)試打印后產(chǎn)品進(jìn)行外觀檢測(cè)通過后進(jìn)行編帶包裝,形成合格成品。
進(jìn)一步地,所述步驟a中底板為厚度0.1mm的銅板或不銹鋼板材料通過多層電鍍方式制成。
進(jìn)一步地,所述步驟b中采用銀膠、絕緣膠工藝的產(chǎn)品裝片后需進(jìn)行加溫?zé)Y(jié),燒結(jié)后進(jìn)行等離子清洗去除燒結(jié)過程中的銀膠、絕緣膠產(chǎn)生的揮發(fā)物,保證下道焊線工序的品質(zhì)。
進(jìn)一步地,所述步驟c中球焊工藝中選用金線、合金線或者銅線等焊接材料,采用合金線和銅線生產(chǎn)在焊接過程中需要增加氮?dú)浠旌蠚膺M(jìn)行保護(hù),防止球氧化造成焊接不良。
采用了上述技術(shù)方案,本發(fā)明具有以下的有益效果:
1、結(jié)構(gòu)靈活,可以根據(jù)需要隨意設(shè)計(jì)裝片和焊線功能區(qū)域形狀;
2、封裝工藝簡單,設(shè)備通用性強(qiáng);
3、最終產(chǎn)品內(nèi)部無框架設(shè)計(jì),產(chǎn)品超薄化。
附圖說明
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
圖1是本發(fā)明的工藝流程圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明的內(nèi)容更容易被清楚地理解,下面根據(jù)具體實(shí)施例并結(jié)合附圖,對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
如圖1所示的一種超薄封裝元件的制作工藝,包括如下步驟:
a、框架設(shè)計(jì)制造
采用金屬作為底板,底板選用厚度0.1mm的銅板或不銹鋼板材料,在底板上通過干膜光刻掩膜,按順序分別電鍍厚度控制在0.03~0.05um的Au層、厚度60~80um的Ni層和厚度1.5~3umAg層,形成組裝功能區(qū),用于芯片的安裝和焊線的焊點(diǎn);
b、裝片
采用共晶或銀膠或絕緣膠中的任一種裝片工藝,完成芯片安裝,采用銀膠、絕緣膠工藝的產(chǎn)品裝片后需進(jìn)行加溫?zé)Y(jié),燒結(jié)后進(jìn)行等離子清洗去除燒結(jié)過程中的銀膠、絕緣膠產(chǎn)生的揮發(fā)物,保證下道焊線工序的品質(zhì);
c、焊線
采用球焊工藝進(jìn)行焊接,選用金線、合金線或者銅線等焊接材料,采用合金線和銅線生產(chǎn)在焊接過程中需要增加氮?dú)浠旌蠚膺M(jìn)行保護(hù),防止球氧化造成焊接不良。
d、等離子清洗
進(jìn)行等離子清洗,保證產(chǎn)品在塑封前的表面清潔,提高器件的可靠性和濕度敏感性;
e、塑封固化
產(chǎn)品裝入塑封模具,加入環(huán)氧樹脂包裹成型,使產(chǎn)品內(nèi)部的芯片和焊線能夠安全地保護(hù),塑封后的產(chǎn)品經(jīng)過高溫150~175℃烘烤4~8小時(shí),使環(huán)氧樹脂內(nèi)部結(jié)構(gòu)能夠充分反應(yīng);
f、化學(xué)去框架底板
產(chǎn)品放進(jìn)腐蝕液中進(jìn)行腐蝕,框架底板材料在腐蝕液中被腐蝕掉,而與底板接觸的鍍金層由于耐腐蝕性未被腐蝕,去除框架底板后產(chǎn)品的底部全部露出鍍金層凸點(diǎn),用于產(chǎn)品后續(xù)與PCB板之間的焊接;
g、切割分離
將去除底板后的產(chǎn)品粘貼在UV上,按照產(chǎn)品設(shè)計(jì)的尺寸大小及外露的鍍金凸點(diǎn)之間的間距采用切割設(shè)備進(jìn)行切割分離,切割后進(jìn)行UV照射并使產(chǎn)品從UV上分離開,通過清洗并干燥烘干;
h、測(cè)試、包裝
根據(jù)產(chǎn)品的電性規(guī)定設(shè)定測(cè)試程序進(jìn)行電性能參數(shù)測(cè)試,通過測(cè)試合格產(chǎn)品按照印章內(nèi)容要求MARK打印,并對(duì)測(cè)試打印后產(chǎn)品進(jìn)行外觀檢測(cè)通過后進(jìn)行編帶包裝,形成合格成品。
本發(fā)明設(shè)計(jì)新穎,采用特殊的框架設(shè)計(jì)方式,裝片和焊線功能區(qū)域可根據(jù)結(jié)構(gòu)需要設(shè)計(jì)不同形狀并通過電鍍形成,最終成型后的產(chǎn)品內(nèi)部沒有框架。該種工藝容易實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)的封裝要求,設(shè)備工裝通用性強(qiáng),封裝工藝難度低,產(chǎn)品厚度可實(shí)現(xiàn)超薄型化。
以上所述的具體實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
以上所述的具體實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。