概括地，本公開內容涉及致動裝置，更具體而言，涉及用于磁觸發(fā)接近開關的致動裝置。

背景技術：

磁觸發(fā)接近開關(也稱為限位開關)通常用于線性位置感測。在美國專利no.8,362,859中描述了這種磁觸發(fā)接近開關的示例，該美國專利的全部內容通過引用被并入本文。

磁觸發(fā)接近開關通常檢測目標的存在和/或接近度，而無需物理地接觸目標。當可能包括例如包含在殼體中的含鐵物體或永久磁體的目標超過接近開關的指定范圍時，與不可移動地定位在接近開關中的偏置磁體相關聯的磁通量使得可移動地定位在接近開關中的檢測器磁體被拉向偏置磁體，這使接近開關置于第一開關位置。在第一開關位置，接近開關的常開電路斷開，并且接近開關的常閉電路閉合。

當目標在接近開關的指定范圍內通過時，與目標相關聯的磁通量觸發(fā)和/或使得接近開關的檢測器磁體被拉向目標并遠離偏置磁體，這使所述接近開關置于第二開關位置。在第二開關位置，接近開關的常開電路閉合，并且接近開關的常閉電路斷開。

技術實現要素：

一種用于磁觸發(fā)接近開關的示例性裝置包括具有第一段和第二段的致動器軸。所述第一段與所述第二段相交。所述第一段限定所述致動器軸的第一端，并且所述第二段限定所述致動器軸的與第一端相對的第二端。所述第二段還限定槽。該示例性裝置還包括檢測器磁體組件，所述檢測器磁體組件耦接到所述致動器軸的所述第一段并鄰近所述第一段的第一端。該示例性裝置還包括開關臂，所述開關臂耦接到所述致動器軸的所述第二段。所述開關臂具有第一端、與所述開關臂的第一端相對的第二端以及位于所述開關臂的第一端與第二端之間的部分。開關臂的所述部分被定位在所述致動器軸的所述第二段的所述槽中。

一種用于組裝用于磁觸發(fā)接近開關的示例性裝置的示例性方法包括：將檢測器磁體組件耦接到致動器軸的第一段。當耦接到所述致動器軸的所述第一段時，所述檢測器磁體組件抵接被定位在所述致動器軸的所述第一段上的機械止動部。該示例性方法還包括：將開關臂耦接到所述致動器軸的第二段。所述致動器軸的所述第二段與所述致動器軸的所述第一段相交。所述開關臂包括第一端、與第一端相對的第二端和位于所述開關臂的第一端與第二端之間的部分。當耦接到所述致動器軸的所述第二段時，所述開關臂的所述部分被定位在由所述致動器軸的所述第二段限定的槽中。

附圖說明

圖1是具有改進的致動裝置的示例性接近開關的分解圖。

圖2是圖1的示例性接近開關的局部剖視圖。

圖3是圖1和圖2的示例性接近開關的示例性開關臂的透視圖。

圖4是圖1-圖3的示例性開關臂的側視圖。

圖5是圖1-圖4的示例性開關臂的平面圖。

圖6是圖1和圖2的示例性接近開關的示例性致動器軸的透視圖。

圖7是圖1、圖2和圖6的示例性致動器軸的側視圖。

圖8是圖1和圖2的示例性接近開關的示例性檢測器磁體組件的分解圖，其示出了示例性檢測器磁體保持器和示例性檢測器磁體。

圖9是圖1、圖2和圖8的示例性檢測器磁體組件的透視圖，其示出了被定位在示例性檢測器磁體保持器上的示例性檢測器磁體。

圖10是圖1、圖2、圖8和圖9的示例性檢測器磁體組件的透視圖，其示出了耦接到示例性檢測器磁體保持器的示例性檢測器磁體。

圖11是包括圖1、圖2、圖6、圖7和圖10的示例性致動器軸、示例性偏置磁體和示例性檢測器磁體組件的示例性致動器軸/磁體組件的透視圖。

圖12是圖11的示例性致動器軸/磁體組件的側視圖。

具體實施方式

在上文標識的附圖中示出并且在下文詳細地描述某些示例。在描述這些示例時，相似或相同的附圖標記用于標識相同或相似的元件。附圖不一定是按比例繪制的，并且為了清楚和/或簡明起見，附圖的某些特征和某些視圖可以以放大的比例或示意性地示出。

已知的接近開關(如美國專利no.8,362,859中所描述的)包括開關臂，該開關臂具有靠近開關臂的中間部分的孔口，用于接收致動器桿的端部。結合已知的接近開關的制造和/或組裝，致動器桿的端部被插入通過開關臂的孔口，然后致動器桿的端部通過機械緊固被固定到開關臂。

本文所描述的示例性裝置提供了一種用于磁觸發(fā)接近開關的改進的致動裝置。該示例性裝置包括致動器軸，該致動器軸具有被配置為接收開關臂的一部分的槽。致動器軸和開關臂的示例性配置提供了對開關臂與致動器軸之間的界面公差(interfacetolerance)的增加的控制，這降低了與制造和/或組裝實現改進的致動裝置的接近開關相關聯的可變性。開關臂和致動器軸的界面還提供了與制造和/或組裝實現改進的致動裝置的接近開關相關聯的時間的減少。此外，與已知的接近開關的開關臂不同，示例性裝置的開關臂不包括靠近開關臂的中間部分的孔口。作為消除了孔口的結果，示例性裝置的開關臂相對于已知的接近開關的開關臂而言更強和/或更健壯。作為消除孔口的進一步結果，用于形成示例性裝置的開關臂的制造和/或加工過程相對于用于形成已知的接近開關的開關臂的制造和/或加工過程而言被簡化。

在一些公開的示例中，該裝置包括具有第一段和第二段的致動器軸。在一些公開的示例中，第一段與第二段相交。在一些公開的示例中，第一和第二段是一體形成的。在一些公開的示例中，第一段限定致動器軸的第一端。在一些公開的示例中，第一段還限定致動器軸的縱軸。在一些公開的示例中，第一段包括機械止動部。在一些公開的示例中，第二段限定致動器軸的與第一端相對的第二端。在一些公開的示例中，第二段還限定槽。在一些公開的示例中，第二段包括基部段、第一腿段和第二腿段。在一些公開的示例中，第二腿段與第一腿段間隔開。在一些公開的示例中，第一段與第二段的第一腿段相交。在一些公開的示例中，基部段包括第一端和與第一端相對的第二端。在一些公開的示例中，第一腿段以第一角度從基部段的第一端延伸，并且第二腿段以第二角度從基部段的第二端延伸。在一些公開的示例中，第二段的基部段基本上平行于第一段。在一些公開的實例中，第一腿段基本上平行于第二腿段。在一些公開的示例中，第一腿段基本上垂直于基部段。

在一些公開的示例中，該裝置還包括檢測器磁體組件，該檢測器磁體組件耦接到致動器軸的第一段并鄰近第一段的第一端。在一些公開的示例中，當檢測器磁體組件耦接到致動器軸的第一段時，檢測器磁體組件抵接致動器軸的第一段的機械止動部。在一些公開的示例中，檢測器磁體組件包括檢測器磁體和檢測器磁體保持器。在一些公開的示例中，檢測器磁體包括第一孔口，該第一孔口被配置為接收檢測器磁體保持器。在一些公開的示例中，檢測器磁體保持器包括第二孔口，該第二孔口被配置為定位在檢測器磁體的第一孔口內并且還被配置為接收致動器軸的第一段的第一端。在一些公開的示例中，檢測器磁體組件通過將檢測器磁體耦接到檢測器磁體保持器而形成。在一些公開的示例中，將檢測器磁體耦接到檢測器磁體保持器包括型鍛(swage)檢測器磁體保持器。在一些公開的示例中，將檢測器磁體組件耦接到致動器軸的第一段包括型鍛致動器軸的第一段。

在一些公開的示例中，該裝置還包括耦接到致動器軸的第二段的開關臂。在一些公開的示例中，開關臂具有第一端、與開關臂的第一端相對的第二端以及位于開關臂的第一端與第二端之間的部分。在一些公開的示例中，當開關臂耦接到第二段時，開關臂的該部分定位在致動器軸的第二段的槽中。在一些公開的示例中，開關臂包括與開關臂的第一端相鄰的環(huán)形段以及與開關臂的第二端相鄰的公共接觸部。在一些公開的示例中，開關臂被配置為在第一開關位置與第二開關位置之間可樞轉地移動。

本文結合圖1-圖12描述了具有改進的致動裝置的示例性磁觸發(fā)接近開關。圖1是具有改進的致動裝置的示例性接近開關100的分解圖。接近開關100包括具有示例性第一主體半部104和示例性第二主體半部106的示例開關主體102。接近開關100還包括示例性公共端子108、示例性主端子110、示例性次端子112、示例性開關臂114、示例性致動器軸116、示例性偏置磁體118和示例性檢測器磁體組件120，它們都被配置成被接收和/或定位在開關主體102的第一主體半部104和/或第二主體半部106中。

圖2是示例性接近開關100的局部剖視圖。圖2例示了被組裝在開關主體102的第一主體半部104中的公共端子108、主端子110、次端子112、開關臂114、致動器軸116、偏置磁體118以及檢測器磁體組件120。

如圖1和圖2所示，開關主體102的第一主體半部104包括示例性第一通道122、示例性第二通道124、示例性第三通道126、示例性第一腔128、示例性第二腔130、示例性第三腔132、示例性第四腔134和示例性第五腔136。在所示示例中，第一、第二和第三通道122、124、126基本上彼此平行。第一通道122、第二通道124和第三通道126中的每一個通道從第一主體半部104的外部表面138延伸到第一主體半部104的第一腔128。第一通道122被配置為接收公共端子108的一部分，第二通道124被配置為接收主端子110的一部分，并且第三通道126被配置為接收次端子112的一部分。第一腔128被配置為接收公共端子108、主端子110和次端子112中的每一個端子的一部分以及開關臂114、和致動器軸116的一部分。第二腔130被配置為接收致動器軸116的一部分。第三腔132被配置為接收偏置磁體118。第四腔134被配置為接收致動器軸116的一部分，并且第五腔136被配置為接收檢測器磁體組件120。

開關主體102的第二主體半部106與第一主體半部104互補，并且包括與上文描述的第一主體半部104的第一通道122、第二通道124和第三通道126以及第一腔128、第二腔130、第三腔132、第四腔134和第五腔136相對應的通道和腔。第二主體半部106被配置為經由任何適當類型的緊固件和/或粘合劑剛性地耦接到第一主體半部104，以形成示例性接近開關100的開關主體102。

接近開關100的公共端子108包括示例性第一端140、與第一端140相對的示例性第二端142以及位于第一端140與第二端142之間的示例性中間部分202。當公共端子108被定位在開關主體102的第一主體半部104(如圖2所示)和/或第二主體半部106中，公共端子108的第一端140被定位在開關主體102的外部，公共端子108的中間部分202被定位在第一通道122中，并且公共端子108的第二端142被定位在第一腔128中。公共端子108還包括靠近公共端子108的第二端142形成的示例性鉤(hook)段144，鉤段144被配置為電接觸并且可樞轉地保持開關臂114的一部分，如下文更詳細地描述的。

接近開關100的主端子110包括示例性第一端146、與第一端146相對的示例性第二端148以及位于第一端146與第二端148之間的示例性中間部分204。當主端子110被定位在開關主體102的第一主體半部104(如圖2中所示)和/或第二主體半部106中時，主端子110的第一端146被定位在開關主體102的外部，主端子110的中間部分204被定位在第二通道124中，并且主端子110的第二端148定位在第一腔128中。主端子110還包括被定位在主端子110的第二端148處的示例性主接觸部150。主接觸部150被配置為：當開關臂114處于第一開關位置時，電接觸開關臂114的一部分，如下文更詳細地描述的。

接近開關100的次端子112包括示例性第一端152、與第一端152相對的示例性第二端154以及位于第一端152與第二端154之間的示例性中間部分206。當次端子112被定位在開關主體102的第一主體半部104(如圖2所示)和/或第二主體半部106中時，次端子112的第一端152被定位在開關主體102的外部，次端子112的中間部分206被定位在第三通道126中，并且次端子112的第二端154被定位在第一腔128中。次端子112還包括被定位在次端子112的第二端154處的示例性次接觸部156。次接觸部156被配置為：當開關臂114處于第二開關位置時，電接觸開關臂114的一部分，如下文更詳細地描述的。

圖3、圖4和圖5分別是圖1和圖2的示例性開關臂114的透視圖、側視圖和平面圖。接近開關100的開關臂114包括示例性第一端158、與第一端158相對的示例性第二端160以及位于第一端158與第二端160之間的示例性中間部分162。當開關臂114被定位在開關主體102的第一主體半部104(如圖2所示)和/或第二開關主體半部106中時，開關臂114的第一端158、第二端160和中間部分162都被定位在第一腔128中。開關臂114的中間部分162被配置為與示例性致動器軸116的一部分相連接和/或由示例性致動器軸116的一部分接收，如下文更詳細地描述的。

開關臂114還包括靠近開關臂114的第一端158形成的示例性環(huán)形段164。開關臂114的環(huán)形段164被配置為接收并電接觸公共端子108的鉤段144(如圖2所示)，以使得開關臂114可樞轉地耦接到公共端子108。更具體地，在公共端子108的鉤段144與開關臂114的環(huán)形段164之間的耦接使得開關臂114的第二端160能夠相對于和/或繞公共端子108的第二端142樞轉和/或旋轉。該可樞轉的耦接還提供公共端子108的第一端140通過開關臂114到示例性公共接觸部166之間的導電路徑。

如所示出的，公共接觸部166被定位在開關臂114的第二端160處。當開關臂114被定位在開關主體102的第一主體半部104(如圖2所示)和/或第二主體半部106中時，公共接觸部166被定位在主端子110的主接觸部150與次端子112的次接觸部156之間。公共接觸部166被配置為當開關臂114處于第一開關位置時電接觸主端子110的主接觸部150，并且進一步被配置為當開關臂114處于第二開關位置時電接觸次端子112的次接觸部156。

圖6和7分別是圖1和圖2的致動器軸116的透視圖和側視圖。接近開關100的致動器軸116包括示例性第一段168和示例性第二段170。第一段168限定致動器軸116的示例性第一端172，而第二段170限定致動器軸116的與第一端170相對的示例性第二端174。第一段168還限定致動器軸116的示例性縱軸702。第一段168還包括示例性機械止動部176。如下文更詳細地描述的，機械止動部176可以經由被配置為防止和/或阻止機械部件移動和/或超過在第一段168上機械止動部176被定位的位置的一個或多個突出部、加寬部、翼部、座部和/或凸緣來實現。當致動器軸116被定位在開關主體102的第一主體半部104(如圖2所示)和/或第二主體半部106中時，致動器軸116的第二段170被定位在第一腔128中，并且致動器軸116的第一段168被定位在第二腔130和第四腔134中。致動器軸116可在開關主體102內沿著基本上平行于致動器軸116的縱軸702的軸線移動。

在圖1、圖2、圖6和圖7的所示示例中，致動器軸116具有大致矩形的橫截面。在其它示例中，致動器軸116的橫截面可以是圓形、橢圓形、三角形和/或任何其它適當的多邊形形狀。在所示示例中，致動器軸116的橫截面在致動器軸116的第一端172與第二端174之間沿著致動器軸116大致均勻。在其它示例中，致動器軸116可以具有一個或多個橫截面面積，其在致動器軸116的第一端172與第二端174之間沿著致動器軸116的各個點處不同。

在所示示例中，致動器軸116的第一段168被配置為具有限定致動器軸116的縱軸702的大致細長的矩形形狀。在其它示例中，致動器軸116的第一段168可以被配置為具有一個或多個其它適當的多邊形形狀和/或一個或多個彎曲形狀。

在所示示例中，致動器軸116的第二段170被配置為具有限定示例性槽178的形狀。槽178被配置為接收開關臂114的中間部分162。在所示示例中，致動器軸116的第二段170的形狀大致類似于字母“u”的形狀。在這樣的示例中，致動器軸116的第二段170包括示例性基部段602、示例性第一腿段608以及示例性第二腿段610，示例性基部段602具有示例性第一端604和示例性第二端606，示例性第一腿段608從基部段602的第一端604以相對于基部段602的示例性第一角度704延伸，示例性第二腿段610從基部段602的第二端606以相對于基部段602的示例性第二角度706延伸。如所示出的，第一腿段608相對于基部段602以大約90度的第一角度704定向，并且第二腿段610相對于基部段602以大約90度的第二角度706定向。在其它示例中，第一腿段608和/或第二腿段610中的一個或兩者可以相對于基部段602以除了90度之外的角度定向。在所示示例中，槽178通常由第一腿段608和第二腿段610之間的間距和/或距離“d”708來限定。

在所示示例中，基部段602、第一腿段608和第二腿段610各自被配置為具有大致細長的矩形形狀。在其它示例中，基部段602、第一腿段608和/或第二腿段610中的一個或多個可以被配置為具有一個或多個其它適當的多邊形形狀和/或一個或多個彎曲和/或非線性的形狀。

在所示示例中，基部段602基本上平行于第一段168，第一腿段608基本上平行于第二腿段610，并且第一腿段608和第二腿段610都基本上垂直于第一段168以及基部段602。在其它示例中，第一腿段168、基部段602、第一腿段608和/或第二腿段610之間可以存在替代的空間關系和/或角度。

在所示示例中，第一段168和第二段170是一體形成的，第二段170的基部段602、第一腿段608和第二腿段610也是一體形成的。在其它示例中，第一段168、第二段170、基部段602、第一腿段608和/或第二腿段610中的一個或多個可以是經由任何類型的適當的緊固件和/或粘合劑耦接在一起的分離部件。例如，第一段168可以是與第二段170分離的部件。舉另一個示例，第一腿段608和/或第二610中的一個或兩者可以是與基部段602分離的部件。

在所示示例中，第一段168與第二腿段608相交于位于在第一腿段608的自由端612和第一腿段608與基部段602相交的點之間的點處。在其它示例中，第一段168可以在緊鄰第一腿段608的自由端612的點處與第一腿段608相交。在其它示例中，第一段168可以與基部段602相交，和/或可以和第一腿部段168與基部段602相交的點相交。

接近開關100的示例性偏置磁體118具有圓形橫截面和大致圓柱形和/或盤狀的形狀。偏置磁體118包括靠近偏置磁體118的圓形橫截面的中心而定位的示例通孔和/或孔口180。偏置磁體118被配置為具有與偏置磁體118的第一表面相關聯的北極以及與偏置磁體118的與第一表面相對的第二表面相關聯的南極。在圖1的所示示例中，偏置磁體118的北極朝著致動器軸116的第二端174定向，并且偏置磁體118的南極遠離致動器軸116的第二端174定向。在其它示例中，偏置磁體118的南極可以朝著致動器軸116的第二端174定向，并且偏置磁體118的北極可以遠離致動器軸116的第二端174定向。當偏置磁體118被定位在開關主體102的第一主體半部104(如圖2所示)和/或第二主體半部106中時，偏置磁體118被剛性地定位在第三腔132中。

圖8是圖1和圖2的檢測器磁體組件120的分解圖。接近開關100的檢測器磁體組件120包括示例性檢測器磁體保持器182和示例性檢測器磁體184。檢測器磁體保持器182包括具有圓形橫截面和大致圓柱形和/或盤狀形狀的示例性第一部分802，以及具有圓形橫截面和大致圓柱形形狀的示例性第二部分804，其從第一部分802延伸以形成桿。檢測器磁體保持器182還包括靠近檢測器磁體保持器182的圓形橫截面的中心而定位的示例性通孔和/或孔口806。孔口806穿過檢測其磁體保持器182的第一部分802和第二部分804兩者。

檢測器磁體保持器182被配置為接收檢測器磁體184。檢測器磁體184具有圓形橫截面和大致圓柱形形狀。檢測器磁體184包括靠近檢測器磁體184的圓形橫截面的中心而定位的示例性通孔和/或孔口808，其被配置為使得檢測器磁體保持器182的第二部分804和/或桿能夠延伸通過檢測器磁體184的孔口808。檢測器磁體184被配置為具有與檢測器磁體184的第一表面相關聯的北極和與檢測器磁體184的與第一表面相對的第二表面相關聯的南極。檢測器磁體184和偏置磁體118的相應極性被定向在相同的方向上。例如，如圖1所示，檢測器磁體184和偏置磁體118的北極朝著致動器軸116的第二端174定向，并且檢測器磁體184和偏置磁體118的南極遠離致動器軸116的第二端174定向。在其它示例中，檢測器磁體184和偏置磁體118的南極可以朝著致動器軸116的第二端174定向，并且檢測器磁體184和偏置磁體118的北極可以遠離致動器軸116的第二端174定向。當檢測器磁體組件120被定位在開關主體102的第一主體半部104(如圖2所示)和/或第二主體半部106中時，檢測器磁體組件120被定位在第五腔136中。檢測器磁體組件120可在開關主體102內沿著基本上平行于致動器軸116的縱軸702的軸線移動。

本文描述了接近開關100的某些部件的制造和/或組裝。結合制造和/或組裝接近開關100，檢測器磁體184相對于檢測器磁體保持器182定向，以使得當接近開關100完全組裝時檢測器磁體184將被拉向偏置磁體118。一旦適當地定向，通過將檢測器磁體保持器182的第二部分804和/或桿插入穿過檢測器磁體184的孔口808并且使檢測器磁體184抵靠檢測器磁體保持器182，檢測器磁體184落座和/或定位在檢測器磁體保持器182上。在一些示例中，檢測器磁體184的孔口808的尺寸設置成允許檢測器磁體保持器182的第二部分804和/或桿無干涉地(withoutinterference)穿過檢測器磁體184的孔口808。在其它示例中，檢測器磁體184的孔口808的尺寸設置成在檢測器磁體184與檢測器磁體保持器182的第二部分804和/或桿之間提供摩擦配合。圖9是圖1和圖2和圖8的檢測器磁體組件120的透視圖，其示出了定位在檢測器磁體保持器182上的檢測器磁體184。

在檢測器磁體184已經定位在檢測器磁體保持器182上之后，在檢測器磁體保持器182的第二部分804和/或桿上執(zhí)行型鍛操作，以增加第二部分804的橫截面，并且將檢測器磁體184耦接到檢測器磁體保持器182以形成檢測器磁體組件120。圖10是圖1、圖2、圖8和圖9的檢測器磁體組件120的透視圖，其示出了耦接到作為上文描述的型鍛操作的結果的檢測器磁體保持器182的檢測器磁體184。

進一步結合制造和/或組裝接近開關100，致動器軸116的第一端172被插入通過偏置磁體118的孔口180，并且偏置磁體118被移動到經過致動器軸的機械止動部的位置。在一些示例中，偏置磁體118的孔口180的尺寸設置成允許致動器軸116和機械止動部176無干涉地穿過偏置磁體118的孔口180。

在檢測器磁體組件120已經如上文所描述形成之后并且在偏置磁體118已經被定位在致動器軸116上之后，致動器軸1114的第一端172被插入通過檢測器磁體保持器182的孔口806，并且檢測器磁體組件120被移動到抵接致動器軸116的機械止動部176的位置。在一些示例中，檢測器磁體保持器182的孔口806的尺寸設置成允許致動器軸116的第一端172與機械止動部176之間的第一段168無干涉地通過檢測器磁體保持器182的孔口806。在其它示例中，檢測器磁體保持器182的孔口806的尺寸設置成在檢測器磁體保持器182與致動器軸116的第一端172和機械止動部176之間的第一段168之間提供摩擦配合。

在檢測器磁體組件120已經抵靠致動器軸116的機械止動部176定位之后，在致動器軸116的第一端172上進行型鍛操作，以增加第一端172的橫截面并且將檢測器磁體組件120耦接到致動器軸116。圖11和12分別是示出作為偏置磁體118和檢測器磁體組件120耦接到致動器軸116的結果形成的示例性致動器軸/磁體組件1100的透視圖和側視圖。致動器軸/磁體組件1100包括致動器軸116、偏置磁體118和檢測器磁體組件120。

進一步結合制造和/或組裝接近開關100，開關臂114的中間部分162被定位在致動器軸116的槽178中，以形成包括開關臂114、致動器軸116、偏置磁體118和檢測器磁體組件120的示例性致動組件。接近開關100的制造和/或組裝還包括將公共端子108、主端子110和次端子112定位在開關主體102的第一主體半部104和/或第二主體半部106中，并且還將開關臂114、致動器軸/磁體組件1100和/或示例性致動組件定位在開關主體102的第一主體半部104和/或第二主體半部106中，以使得公共端子108的鉤段144被接收在開關臂114的環(huán)形段164中，并且使得開關臂114的公共接觸部166被定位在主端子110的主接觸部150與次端子112的次接觸部156之間。

在操作中，示例性接近開關100檢測目標的存在和/或接近度，而無需物理地接觸目標。目標可以包括被包含在外殼中的含鐵物體或永磁體。當目標超過接近開關100的指定范圍時，與不可移動地定位在接近開關100中的偏置磁體118相關聯的磁通量使得可移動地定位在接近開關100中的檢測器磁體組件120沿著由致動器軸116限定的縱軸702被拉向偏置磁體118。當檢測器磁體組件120被拉向偏置磁體118時，檢測器磁體組件120與致動器軸116之間以及在致動器軸116與開關臂114之間的相應耦接使得開關臂114相對于公共端子108可樞轉地旋轉，以使得開關臂114被置于第一開關位置。在第一開關位置，開關臂114的公共接觸部166電接觸主端子110的主接觸部150，并且不電接觸次端子112的次接觸部156。因此，在第一開關位置，導電路徑或電路形成在公共端子108與主端子110之間，而不形成在公共端子108與次端子112之間。

當目標在接近開關100的指定范圍內通過時，與目標相關聯的磁通量觸發(fā)和/或使檢測器磁體組件120沿著由致動器軸116限定的縱軸702被拉向目標并遠離偏置磁體118。當檢測器磁體組件120被拉向目標并遠離偏置磁體118時，在檢測器磁體組件120與致動器軸116之間以及在致動器軸116與開關臂114之間的相應耦接使得開關臂114相對于公共端子108可樞轉地旋轉，以使得開關臂114被置于第二開關位置。在第二開關位置，開關臂114的公共接觸部166電接觸次端子112的次接觸部156，并且不電接觸主端子110的主接觸部150。因此，在第二開關位置，導電路徑或電路形成在公共端子108與次端子112之間，而不形成在公共端子108與主端子110之間。

上文描述的接近開關100的示例性致動組件提供了優(yōu)于美國專利no.8,362,859中描述的已知接近開關的致動組件的許多優(yōu)點。例如，與已知的接近開關不同，示例性接近開關100包括具有槽178的致動器軸116，槽178被配置為接收開關臂114的一部分162。致動器軸116和開關臂114的示例性配置提供了對開關臂114與致動器軸116之間的界面公差的增加的控制，這降低了與制造和/或組裝實現改進的致動裝置的接近開關相關聯的可變性。開關臂114和致動器軸116的界面還提供了與制造和/或組裝實現改進的致動裝置的接近開關相關聯的時間的減少。此外，與已知的接近開關的開關臂不同，示例性接近開關100的開關臂114不包括靠近開關臂114的中間部分162的孔口。作為消除了孔口的結果，開關臂114相對于已知的接近開關的開關臂而言更強和/或更健壯。作為消除孔口徑的進一步結果，用于形成示例性接近開關100的開關臂114的制造和/或加工過程相對于用于形成已知接近開關的開關臂的制造和/或加工過程而言被簡化。

盡管本文描述了某些裝置、系統和方法，但是本專利的覆蓋范圍不限于此。相反，本專利涵蓋在字面上或在等同原則下完全落入所附權利要求的范圍內的所有裝置、系統和方法。