本發(fā)明涉及光電子技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種發(fā)光二極管的外延片及其制備方法。
背景技術(shù):
發(fā)光二極管(英文:lightemittingdiode,簡稱:led)作為光電子產(chǎn)業(yè)中極具影響力的新產(chǎn)品,具有體積小、使用壽命長、顏色豐富多彩、能耗低等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于照明、顯示屏、信號(hào)燈、背光源、玩具等領(lǐng)域。led的核心結(jié)構(gòu)是外延片,外延片的制作對(duì)led的光電特性有著較大的影響。
外延片通常包括緩沖層、u型gan層、n型gan層、發(fā)光層、電子阻擋層和p型gan層,在制作成led時(shí),各層之間材料的存在差異,這使得各層之間的折射率也不同,由于折射率的不同,發(fā)光層發(fā)出的光可能會(huì)在發(fā)光層和電子阻擋層的界面上、電子阻擋層和p型gan層的界面上以及p型gan層和空氣的界面上發(fā)生全反射,導(dǎo)致光線反射回外延片內(nèi)部,而反射回的光線需要經(jīng)過多次反射才可能重新從外延片的表面射出,光線在多次反射的過程中會(huì)被吸收,反射次數(shù)越多則被吸收的越多,從而使得led的出光率下降,亮度降低。
為了提高發(fā)光二極管的出光率,通常會(huì)對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化處理,以使電子阻擋層的表面粗糙,減少全反射的發(fā)生,但是對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化不僅過程復(fù)雜,而且粗化后,容易出現(xiàn)電子阻擋層表面的顆粒過大、粗化不均勻等問題,從而導(dǎo)致發(fā)光二極管亮度不均勻。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為了解決對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化處理過程復(fù)雜,容易出現(xiàn)電子阻擋層表面的顆粒過大、粗化不均勻的問題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種發(fā)光二極管的外延片及其制備方法。所述技術(shù)方案如下:
一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種發(fā)光二極管的外延片,所述外延片包括襯底和依次層疊在所述襯底上的緩沖層、u型gan層、n型gan層、發(fā)光層、增透層、電子阻擋層和p型gan層,所述增透層包括層疊設(shè)置在所述發(fā)光層上的一層inn層和一層mg3n2層,或者所述增透層包括交替層疊設(shè)置的多層所述inn層和多層所述mg3n2層,且所述inn層和所述mg3n2層的層數(shù)相同。
優(yōu)選地,當(dāng)所述增透層包括交替層疊設(shè)置的多層所述inn層和多層所述mg3n2層時(shí),所述inn層和所述mg3n2層交替層疊的周期數(shù)為8~10。
進(jìn)一步地,當(dāng)所述增透層包括交替層疊設(shè)置的多層所述inn層和多層所述mg3n2層時(shí),所述增透層的厚度為32~60nm。
優(yōu)選地,所述inn層的厚度為2~3nm。
優(yōu)選地,所述mg3n2層的厚度為2~3nm。
另一方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法,所述制備方法包括:
提供一襯底;
在所述襯底上生長依次生長緩沖層、u型gan層、n型gan層、發(fā)光層、增透層、電子阻擋層和p型gan層,所述增透層包括層疊設(shè)置在所述發(fā)光層上的一層inn層和一層mg3n2層,或者所述增透層交替層疊設(shè)置的多層所述inn層和多層所述mg3n2層,且所述inn層和所述mg3n2層的層數(shù)相同。
進(jìn)一步地,所述增透層的生長溫度為750℃~800℃。
優(yōu)選地,所述增透層的生長壓力為300~400mbar。
可選地,當(dāng)所述增透層包括交替層疊設(shè)置的多層所述inn層和多層所述mg3n2層時(shí),所述增透層的厚度為32~60nm。
可選地,當(dāng)所述增透層包括交替層疊設(shè)置的多層所述inn層和多層所述mg3n2層時(shí),所述inn層和所述mg3n2層交替生長的周期數(shù)為8~10。
本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:通過將外延片設(shè)置為包括緩沖層、u型gan層、n型gan層、發(fā)光層、增透層、電子阻擋層和p型gan層的形式,其中增透層為層疊設(shè)置的一層inn層和一層mg3n2層或交替層疊設(shè)置的多層inn層和多層mg3n2層,使得從發(fā)光層發(fā)出的光會(huì)先進(jìn)入到增透層中,再經(jīng)過增透層和電子阻擋層的界面處進(jìn)入到電子阻擋層,由于inn材料和mg3n2材料具有表面粗糙的特性,因此光線會(huì)在inn層和mg3n2層的界面處發(fā)生漫反射,通過漫反射可以將朝向一個(gè)方向的反射光向多個(gè)方向反射,減少光線在增透層和電子阻擋層的界面處發(fā)生全反射的光的比例,且被反射回外延片內(nèi)部的光線,會(huì)在inn層和mg3n2層的界面處以漫反射的形式向遠(yuǎn)離發(fā)光層的一側(cè)反射,避免光線被再次反射會(huì)外延片內(nèi)部,從而減少光線在外延片內(nèi)部反射的次數(shù),減少了外延片對(duì)光的吸收,從而提高了出光率,同時(shí)不需要對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化處理,避免了對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化處理過程復(fù)雜,容易出現(xiàn)電子阻擋層表面的顆粒過大、粗化不均勻的問題。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種發(fā)光二極管的外延片的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種增透層的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法的流程圖;
圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法的流程圖;
圖5~圖11是本發(fā)明實(shí)施例提供的發(fā)光二極管的外延片制作過程中的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖12是一種現(xiàn)有l(wèi)ed的外延片內(nèi)光線傳播路徑示意圖;
圖13是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種led的外延片內(nèi)光線傳播路徑示意圖;
圖14是一種現(xiàn)有的led的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖15是一種采用本發(fā)明實(shí)施例中的外延片制備的led的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種發(fā)光二極管的外延片的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖1所示,外延片包括襯底10和依次層疊在襯底10上的緩沖層20、u型gan層30、n型gan層40、發(fā)光層50、增透層60、電子阻擋層70和p型gan層80,圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種增透層的結(jié)構(gòu)示意圖,增透層60包括交替層疊設(shè)置的多層inn層61和多層mg3n2層62,且inn層61和mg3n2層62的層數(shù)相同。
在本實(shí)施例中,增透層60包括交替層疊設(shè)置的多層inn層61和多層mg3n2層62,以構(gòu)成inn/mg3n2超晶格結(jié)構(gòu),在本發(fā)明的另一種實(shí)施例方式中,增透層60也可以只包括層疊設(shè)置在發(fā)光層50上的一層inn層61和一層mg3n2層62。
本發(fā)明實(shí)施例通過將外延片設(shè)置為包括緩沖層、u型gan層、n型gan層、發(fā)光層、增透層、電子阻擋層和p型gan層的形式,其中增透層為層疊設(shè)置的一層inn層和一層mg3n2層或交替層疊設(shè)置的多層inn層和多層mg3n2層,使得從發(fā)光層發(fā)出的光會(huì)先進(jìn)入到增透層中,再經(jīng)過增透層和電子阻擋層的界面處進(jìn)入到電子阻擋層,由于inn材料和mg3n2材料具有表面粗糙的特性,因此光線會(huì)在inn層和mg3n2層的界面處發(fā)生漫反射,通過漫反射可以將朝向一個(gè)方向的反射光向多個(gè)方向反射,減少光線在增透層和電子阻擋層的界面處發(fā)生全反射的光的比例,且被反射回外延片內(nèi)部的光線,會(huì)在inn層和mg3n2層的界面處以漫反射的形式向遠(yuǎn)離發(fā)光層的一側(cè)反射,避免光線被再次反射會(huì)外延片內(nèi)部,從而減少光線在外延片內(nèi)部反射的次數(shù),減少了外延片對(duì)光的吸收,從而提高了出光率,同時(shí)不需要對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化處理,避免了對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化處理過程復(fù)雜,容易出現(xiàn)電子阻擋層表面的顆粒過大、粗化不均勻的問題。
實(shí)現(xiàn)時(shí),襯底10可以為藍(lán)寶石襯底。
優(yōu)選地,增透層60包括交替層疊設(shè)置的多層inn層61和多層mg3n2層62,多層inn層61和多層mg3n2層62構(gòu)成inn/mg3n2超晶格結(jié)構(gòu),可以具有多個(gè)inn層和mg3n2層的界面,多個(gè)界面都可以對(duì)光線進(jìn)行反射。
進(jìn)一步地,當(dāng)增透層60包括交替層疊設(shè)置的多層inn層61和多層mg3n2層62時(shí),增透層60的厚度可以為32~60nm。優(yōu)選為45nm。若增透層60的厚度過大,會(huì)增厚外延片的總厚度,同時(shí)也會(huì)增加增透層60對(duì)光線的吸收量,若增透層60的厚度過小,則在每一個(gè)周期的厚度相同的情況下,周期數(shù)會(huì)減少。在增透層60的厚度相同的情況下,周期數(shù)越多,則光線在inn層和mg3n2層的界面處散射的次數(shù)越多,會(huì)使得發(fā)生全反射的光線比例越少,從而使出光率更高。
需要說明的是,圖2中僅示出了增透層60中的2個(gè)周期的結(jié)構(gòu),并不用以限制inn層和mg3n2層交替層疊的周期數(shù)。
可選地,當(dāng)增透層60包括交替層疊設(shè)置的多層inn層61和多層mg3n2層62時(shí),inn層61和mg3n2層62交替層疊的周期數(shù)可以為8~10。以使得光線在增透層60中進(jìn)行多次的散射。
可選地,inn層61的厚度可以為2~3nm。
可選地,mg3n2層62的厚度為2~3nm。
在本發(fā)明的一種實(shí)現(xiàn)方式中,緩沖層20可以是gan緩沖層。
可選地,發(fā)光層50包括交替層疊設(shè)置的inxga(1-x)n層和gan層,其中0.2<x<0.25。
可選地,電子阻擋層70可以是p型algan電子阻擋層。
圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法的流程圖,如圖3所示,該制備方法包括:
s11:提供一襯底。
s12:在襯底上生長依次生長緩沖層、u型gan層、n型gan層、發(fā)光層、增透層、電子阻擋層和p型gan層。
其中,增透層包括層疊設(shè)置在發(fā)光層上的一層inn層和一層mg3n2層,或者增透層包括交替層疊設(shè)置的多層inn層和多層mg3n2層,且inn層和mg3n2層的層數(shù)相同。
本發(fā)明實(shí)施例通過將外延片設(shè)置為包括緩沖層、u型gan層、n型gan層、發(fā)光層、增透層、電子阻擋層和p型gan層的形式,其中增透層為層疊設(shè)置的一層inn層和一層mg3n2層或交替層疊設(shè)置的多層inn層和多層mg3n2層,使得從發(fā)光層發(fā)出的光會(huì)先進(jìn)入到增透層中,再經(jīng)過增透層和電子阻擋層的界面處進(jìn)入到電子阻擋層,由于inn材料和mg3n2材料具有表面粗糙的特性,因此光線會(huì)在inn層和mg3n2層的界面處發(fā)生漫反射,通過漫反射可以將朝向一個(gè)方向的反射光向多個(gè)方向反射,減少光線在增透層和電子阻擋層的界面處發(fā)生全反射的光的比例,且被反射回外延片內(nèi)部的光線,會(huì)在inn層和mg3n2層的界面處以漫反射的形式向遠(yuǎn)離發(fā)光層的一側(cè)反射,避免光線被再次反射會(huì)外延片內(nèi)部,從而減少光線在外延片內(nèi)部反射的次數(shù),減少了外延片對(duì)光的吸收,從而提高了出光率,同時(shí)不需要對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化處理,避免了對(duì)電子阻擋層進(jìn)行粗化處理過程復(fù)雜,容易出現(xiàn)電子阻擋層表面的顆粒過大、粗化不均勻的問題。
圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種發(fā)光二極管的外延片的制備方法的流程圖,下面結(jié)合附圖5~11對(duì)圖4提供的制備方法進(jìn)行詳細(xì)說明:
s21:提供一襯底。
實(shí)現(xiàn)時(shí),該襯底可以是藍(lán)寶石襯底,藍(lán)寶石襯底是一種常見的襯底,制備工藝較為成熟。
在步驟s21中,可以對(duì)藍(lán)寶石襯底進(jìn)行預(yù)處理,將藍(lán)寶石襯底置于反應(yīng)腔中,對(duì)藍(lán)寶石襯底進(jìn)行退火處理8~10分鐘。
具體地,退火溫度可以為1000~1100℃,退火壓力可以為100~300mbar,進(jìn)行退火處理時(shí),向反應(yīng)腔內(nèi)以100l/min~130l/min的速度通入h2,以在氫氣氣氛下進(jìn)行退火處理。
s22:在襯底上外延生長緩沖層。
如圖5所示,在襯底10上生長gan緩沖層20。
其中,gan緩沖層20的厚度可以為20nm~40nm,生長的gan緩沖層20的厚度不同,最終形成的外延層的質(zhì)量也會(huì)不同,若gan緩沖層20的厚度過薄,則會(huì)導(dǎo)致gan緩沖層20的表面較為疏松和粗糙,不能為后續(xù)結(jié)構(gòu)的生長提供一個(gè)好的模板,隨著gan緩沖層20厚度的增加,gan緩沖層20的表面逐漸變得較為致密和平整,有利于后續(xù)結(jié)構(gòu)的生長,但是若gan緩沖層20的厚度過厚,則會(huì)導(dǎo)致gan緩沖層20的表面過于致密,同樣不利于后續(xù)結(jié)構(gòu)的生長,無法減少外延層中的晶格缺陷。
具體地,生長gan緩沖層20時(shí),控制nh3的流量為10000~20000sccm,三甲基鎵的流量為50~100sccm,h2的流量為100~130l/min。
gan緩沖層20的生長溫度可以為500~600℃,生長壓力可以為300~600mbar。
優(yōu)選地,在步驟s22之后,還可以對(duì)gan緩沖層20進(jìn)行處理,以使gan緩沖層20的表面形成不規(guī)則小島。
具體地,可以升高反應(yīng)腔內(nèi)的溫度到1000~1100℃,保持反應(yīng)腔內(nèi)的壓力為300~600mbar,控制nh3的流量為30000~40000sccm,h2的流量為100~130l/min,持續(xù)300~500秒,從而使得gan緩沖層20的表面形成不規(guī)則小島,避免gan緩沖層20的表面過于致密。
s23:在緩沖層上生長u型gan層。
如圖6所示,在gan緩沖層20上生長u型gan層30。
實(shí)現(xiàn)時(shí),u型gan層30的厚度可以為2μm~4μm,若u型gan層30的厚度過薄,會(huì)增加后續(xù)生長的結(jié)構(gòu)中的位錯(cuò)密度,u型gan層30的厚度過厚,會(huì)增大外延片的正向電阻。
具體地,生長u型gan層30時(shí),控制nh3的流量為30000~40000sccm,三甲基鎵的流量為200~400sccm,h2的流量為100~130l/min。
u型gan層30的生長溫度可以為1000~1200℃,生長壓力可以為300~600mbar。
s24:在u型gan層上生長n型gan層。
如圖7所示,在u型gan層30上生長n型gan層40。
具體地,n型gan層40可以包括第一n型gan子層41和第二n型gan子層42。
步驟s24可以包括:
在u型gan層30上生長第一n型gan子層41。
其中,第一n型gan子層41的厚度可以為3~4μm。
進(jìn)一步地,生長第一n型gan子層41時(shí),控制nh3的流量為30000~60000sccm,三甲基鎵的流量為200~400sccm,h2的流量為100~130l/min,sih4的流量為20~50sccm。
第一n型gan子層41的生長溫度可以為1000~1200℃,生長壓力可以為300~600mbar。
可選地,第一n型gan子層41中的si摻雜濃度可以為5e18cm-3~1e19cm-3。
在第一n型gan子層41上生長第二n型gan子層42。
其中,第二n型gan子層42的厚度可以為200~400nm。
進(jìn)一步地,生長第二n型gan子層42時(shí),控制nh3的流量為30000~60000sccm,三甲基鎵的流量為200~400sccm,h2的流量為100~130l/min,sih4的流量為2~10sccm。
第二n型gan子層42的生長溫度可以為1000~1200℃,生長壓力可以為300~600mbar。
可選地,第二n型gan子層42中的si摻雜濃度可以為5e17cm-3~1e18cm-3。
s25:在n型gan層上生長發(fā)光層。
如圖8所示,在n型gan層40上生長發(fā)光層50。
實(shí)現(xiàn)時(shí),發(fā)光層50可以包括交替層疊的inxga(1-x)n層51和gan層52,其中0.2<x<0.25。inxga(1-x)n層51和gan層52交替層疊的周期數(shù)可以為7~15。
需要說明的是,圖8中僅示出了發(fā)光層50中的部分結(jié)構(gòu),并不用于限制inxga(1-x)n層51和gan層52交替層疊的周期為2。
具體地,生長inxga(1-x)n層51時(shí),控制nh3的流量為50000~70000sccm,三甲基鎵的流量為20~40sccm,三甲基銦的流量為1500~2000sccm,n2的流量為100~130l/min。
可選地,inxga(1-x)n層51的厚度可以為2.5~3.5nm。
inxga(1-x)n層51的生長溫度可以為700~750℃,生長壓力可以為300~400mbar。
具體地,生長gan層52時(shí),控制nh3的流量為50000~70000sccm,三甲基鎵的流量為20~100sccm,n2的流量為100~130l/min。
可選地,gan層52的厚度可以為8~15nm。
gan層52的生長溫度可以為750~850℃,生長壓力可以為300~400mbar。
s26:在發(fā)光層上生長增透層。
如圖9所示,在發(fā)光層50上生長增透層60。
實(shí)現(xiàn)時(shí),增透層60可以包括交替層疊設(shè)置的多層inn層61和多層mg3n2層62。inn層61和mg3n2層62交替生長的周期數(shù)可以為8~10,以使得光線在增透層60中進(jìn)行多次的散射。
需要說明的是,圖9中僅示出了增透層60的部分結(jié)構(gòu),并不用以限制inn層61和mg3n2層62各只有1層。
具體地,生長inn層61時(shí),控制nh3的流量為50000~70000sccm,三甲基鎵的流量為30~60sccm,三甲基銦的流量為100~130sccm,n2的流量為100~130l/min。
可選地,inn層61的厚度可以為2~3nm。
inn層61的生長溫度可以為750~800℃,生長壓力可以為300~400mbar。
具體地,生長mg3n2層62時(shí),控制nh3的流量為50000~70000sccm,二茂鎂的流量為1000~1300sccm,n2的流量為100~130l/min。
可選地,mg3n2層62的厚度可以為2~3nm。
mg3n2層62的生長溫度可以為750~800℃,生長壓力可以為300~400mbar。
優(yōu)選地,當(dāng)增透層60包括交替層疊設(shè)置的多層inn層61和多層mg3n2層62時(shí),增透層60的厚度可以為32~60nm。若增透層60的厚度過大,會(huì)增厚外延片的總厚度,同時(shí)也會(huì)增加增透層60對(duì)光線的吸收量,若增透層60的厚度過小,則在每一個(gè)周期的厚度相同的情況下,周期數(shù)會(huì)減少,從而減少了光線在inn層61和mg3n2層62的界面處散射的次數(shù)。
在本實(shí)施例中,增透層60包括交替層疊設(shè)置的多層inn層61和多層mg3n2層62,從而構(gòu)成inn/mg3n2超晶格結(jié)構(gòu),在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,增透層60也可以只包括層疊設(shè)置的一層inn層和一層mg3n2層,以降低制備成本。
需要說明的是,在生長增透層60時(shí),可以先生長inn層61也可以先生長mg3n2層62。
s27:在增透層上生長電子阻擋層。
如圖10所示,在增透層60上生長p型algan電子阻擋層70。
實(shí)現(xiàn)時(shí),p型algan電子阻擋層70的厚度可以為50nm~100nm,若p型algan電子阻擋層70的厚度過薄,會(huì)降低對(duì)電子的阻擋能力,若p型algan電子阻擋層70的厚度過厚,則會(huì)增加p型algan電子阻擋層70會(huì)光的吸收,從而導(dǎo)致led的亮度降低。
具體地,生長p型algan電子阻擋層70時(shí),控制nh3的流量為50000~70000sccm,三甲基鎵的流量為30~60sccm,h2的流量為100~130l/min,三甲基鋁的流量為100~130sccm,二茂鎂的流量為1000~1300sccm。
p型algan電子阻擋層70的生長溫度可以為900~950℃,生長壓力可以為200~400mbar。
可選地,p型algan電子阻擋層70中的mg摻雜濃度可以為1e19cm-3~1e20cm-3,al的濃度可以為1e20cm-3~3e20cm-3。
s28:在電子阻擋層上生長p型gan層。
如圖11所示,在電子阻擋層70上生長p型gan層80。
具體地,p型gan層80的厚度可以為50nm~200nm。
具體地,生長p型gan層80時(shí),控制nh3的流量為50000~70000sccm,三甲基鎵的流量為20~100sccm,h2的流量為100~130l/min,二茂鎂的流量為1000~3000sccm。
p型gan層80的生長溫度可以為950~1000℃,生長壓力可以為400~900mbar。
可選地,p型gan層80中的mg摻雜濃度可以為1e19cm-3~1e20cm-3。
s29:將反應(yīng)腔在650~680℃保溫20~30min,之后關(guān)閉加熱系統(tǒng)和給氣系統(tǒng),待反應(yīng)腔溫度降低至室溫。
之后可以對(duì)外延片進(jìn)行后續(xù)制程,以制備led。
圖12是一種現(xiàn)有l(wèi)ed的外延片內(nèi)光線傳播路徑示意圖,如圖12所示,部分光線在外延片的表面141處發(fā)生全反射,反射回外延片的內(nèi)部,并在電子阻擋層和p型gan層的界面142處再次發(fā)生反射,光線通過多次反射才會(huì)從外延片的表面141處射出。
圖13是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種led的外延片內(nèi)光線傳播路徑示意圖,如圖13所示,部分光線在外延片的表面151處發(fā)生全反射,反射回外延片的內(nèi)部,并在電子阻擋層和增透層的界面152處發(fā)生漫反射,漫反射后的部分光線可以直接從外延片的表面151處射出,只有一小部分會(huì)再次反射回外延片內(nèi)部,從而可以減少光線在外延片內(nèi)部反射的次數(shù)。
需要說明的是,圖12和圖13中的小圓圈表示外延片內(nèi)部的雜質(zhì)原子,例如碳原子等,該雜質(zhì)原子并非故意摻雜的原子,這種雜質(zhì)原子也會(huì)對(duì)光線進(jìn)行反射。
圖14是一種現(xiàn)有的led的結(jié)構(gòu)示意圖,圖15是一種采用本發(fā)明實(shí)施例中的外延片制備的led的結(jié)構(gòu)示意圖,兩種led中的歐姆接觸層120均為150nm的氧化銦錫層,且制備工藝相同,兩種led中的電極材料相同,均為cr/pt/au電極110,厚度均為1500nm,且制備工藝相同,兩種led中的保護(hù)層130均為100nm的sio2,兩種led的尺寸相同,均為25mil×25mil,且采用相同的切割工藝,在相同的封裝工藝下封裝成白光led,分別隨機(jī)抽取100顆,在350ma電流下進(jìn)行測試,下表為測試結(jié)果的統(tǒng)計(jì)表。
由以上數(shù)據(jù)可知,采用本發(fā)明中的外延片制備的led,亮度從126.01lm/w提升到了135.31lm/w,有效提高了led的亮度。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。