本發(fā)明涉及礦石檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種聚光系統(tǒng)及其聚光方法。

背景技術(shù)：

陰極發(fā)光是固體物質(zhì)的一種表面物理熒光現(xiàn)象，固體樣品的表面在陰極射線(xiàn)(快速電子束)轟擊下，由電能轉(zhuǎn)化成光輻射后，產(chǎn)生的一種發(fā)光現(xiàn)象。由于帶能量的電子束是從陰極發(fā)射出來(lái)，經(jīng)陽(yáng)極電壓加速而獲得，故稱(chēng)陰極發(fā)光。這種發(fā)光只在電子束激發(fā)時(shí)才能觀(guān)察到，按照發(fā)光類(lèi)型，它屬于熒光發(fā)光類(lèi)型，一般涉及物質(zhì)的深度不超過(guò)10μm，是由物體表面輻射的光，其發(fā)光波譜多數(shù)為可見(jiàn)光范疇，波長(zhǎng)多在400～760nm之間。1879年，crookes首次發(fā)現(xiàn)并介紹了陰極發(fā)光現(xiàn)象；1965年，smith等人將陰極發(fā)光技術(shù)和光學(xué)顯微鏡相結(jié)合，于是開(kāi)始了陰極發(fā)光技術(shù)在地球科學(xué)，醫(yī)學(xué)，考古學(xué)，材料學(xué)等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，特別是在礦物學(xué)領(lǐng)域。礦物由于晶體結(jié)構(gòu)缺陷，如晶體空間群的對(duì)稱(chēng)性被破壞、陰陽(yáng)離子的空位、原子和分子填隙的空位、原子的無(wú)序分布、空位和雜質(zhì)的聚集體等，都可能導(dǎo)致陰極發(fā)光，因此研究礦物的陰極發(fā)光能夠幫助人們辨認(rèn)礦物，是常用的巖礦分析測(cè)試手段之一。目前的陰極發(fā)光儀通常都是和光學(xué)顯微鏡相結(jié)合使用的，能夠顯示礦物的顏色，給出礦物的圖像，但是不能對(duì)陰極發(fā)光的光譜進(jìn)行定量的測(cè)量。

專(zhuān)利文獻(xiàn)cn103999185a公開(kāi)的一種在電子顯微鏡中采集電子輻射下試樣的陰極發(fā)光的裝置包括：有試樣平面的試樣的托架；光采集鏡；有表面的光纖傳輸電纜；其中：所述光采集鏡包括用于采集所述試樣光的反射橢球表面，所述橢球表面包括橢球的一部分，所述橢球在所述試樣處具有第一焦點(diǎn)，在所述光纖電纜表面具有第二焦點(diǎn)；所述橢球在所述焦點(diǎn)之間有軸線(xiàn)，所述軸線(xiàn)相對(duì)于所述試樣平面傾斜。該專(zhuān)利采用電子顯微鏡采集陰極發(fā)光，但該專(zhuān)利不能對(duì)陰極發(fā)光的光譜進(jìn)行定量的測(cè)量，且采集強(qiáng)度低和精度差。

專(zhuān)利文獻(xiàn)cn105280465a公開(kāi)的一種用于在帶電粒子束系統(tǒng)內(nèi)使用的靜電透鏡包括：相互間隔以限定光軸的多個(gè)聚焦元件，所述帶電粒子束沿著所述光軸行進(jìn)穿過(guò)所述透鏡并且行進(jìn)到緊密鄰近所述透鏡放置的樣品上，導(dǎo)致來(lái)自樣品的放射物被往回輻射穿過(guò)所述透鏡，其中，所述元件中的至少一個(gè)對(duì)于所述放射物是透射性的；以及用于檢測(cè)所述放射物的至少一個(gè)檢測(cè)器。該專(zhuān)利采用靜電透鏡檢測(cè)，但該專(zhuān)利不能對(duì)陰極發(fā)光的光譜進(jìn)行定量的測(cè)量，且采集強(qiáng)度低和精度差。

在背景技術(shù)部分中公開(kāi)的上述信息僅僅用于增強(qiáng)對(duì)本發(fā)明背景的理解，因此可能包含不構(gòu)成在本國(guó)中本領(lǐng)域普通技術(shù)人員公知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于上述問(wèn)題，目前的陰極發(fā)光儀通常都是和光學(xué)顯微鏡相結(jié)合使用，能夠顯示礦物的顏色，給出礦物的圖像，但是不能對(duì)陰極發(fā)光的光譜進(jìn)行定量的測(cè)量。為了能夠定量的測(cè)量陰極發(fā)光光譜，同時(shí)提高采集信號(hào)的強(qiáng)度，發(fā)明人提供了一種聚光系統(tǒng)和聚光方法，可以對(duì)陰極發(fā)光儀的光信號(hào)進(jìn)行聚焦后輸入到光纖光譜儀且提高了儀器的測(cè)量精度。

本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)。

本發(fā)明的一方面，一種聚光系統(tǒng)包括陰極發(fā)光儀、聚光器和光纖光譜儀，所述聚光器連接所述陰極發(fā)光儀和光纖光譜儀，所述陰極發(fā)光儀包括陰極電子槍和發(fā)出光線(xiàn)的探測(cè)窗口，所述光纖光譜儀包括光纖探頭和光譜儀，所述聚光器包括用于接收來(lái)自所述探測(cè)窗口的光線(xiàn)的第一聚光部分和用于固定連接所述光纖探頭的第二聚光部分，所述第一聚光部分設(shè)有中空的第一本體和用于連接所述探測(cè)窗口的探測(cè)表面，所述探測(cè)表面上設(shè)有安裝透鏡的第一槽，所述第一本體的中空內(nèi)表面設(shè)有內(nèi)螺紋，所述第二聚光部分設(shè)有用于容納光纖探頭的光纖部分的中空的第二本體和設(shè)有第二槽的端表面，所述第二槽容納所述光纖探頭的探頭部分，所述第二本體的外表面設(shè)有外螺紋，所述探測(cè)窗口、透鏡、第一本體和光纖探頭形成聚光光路，所述外螺紋嚙合所述內(nèi)螺紋以調(diào)節(jié)所述光纖探頭和所述透鏡之間的距離。

所述的聚光系統(tǒng)中，所述第一槽設(shè)有固定透鏡的第一固定件，所述第二槽設(shè)有固定所述探頭部分的第二固定件。

所述的聚光系統(tǒng)中，所述第一固定件和/或第二固定件為可解鎖的鎖止件以鎖緊和放開(kāi)所述透鏡或探頭部分。

所述的聚光系統(tǒng)中，所述探測(cè)表面和所述探測(cè)窗口接觸使得聚光器穩(wěn)定連接在所述陰極發(fā)光儀上，所述端表面的長(zhǎng)度大于所述第一槽的直徑以避免所述端表面接觸所述透鏡。

所述的聚光系統(tǒng)中，所述外螺紋和所述內(nèi)螺紋為三角螺紋。

所述的聚光系統(tǒng)中，所述第一聚光部分為中空的螺母件，第一本體包括直徑為透鏡直徑的1-5倍的第一中空部分，所述第一槽直徑等于透鏡的直徑且深度為透鏡焦距的2-10倍；所述第二聚光部分為中空螺桿件，第二本體包括直徑為探頭直徑的1-20倍的第二中空部分，所述第二槽直徑等于探頭直徑。

所述的聚光系統(tǒng)中，第一本體包括直徑20毫米且深度為30毫米的第一中空部分，所述第一槽直徑為10毫米且深度5毫米，所述透鏡的直徑為10毫米且焦距1毫米；第二本體包括直徑為10毫米且深度為75毫米的第二中空部分，所述第二槽直徑為3.5毫米且深度為5毫米。

所述的聚光系統(tǒng)中，所述聚光系統(tǒng)設(shè)有處理設(shè)備，所述處理設(shè)備連接所述光纖光譜儀，所述光纖光譜儀將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)發(fā)送到所述處理設(shè)備，所述處理設(shè)備包括用于處理數(shù)據(jù)的處理器、用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器和用于顯示數(shù)據(jù)的顯示界面，其中，所述處理器為通用處理器、數(shù)字信號(hào)處理器、專(zhuān)用集成電路asic或現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列fpga，所述存儲(chǔ)器可以包括一個(gè)或多個(gè)只讀存儲(chǔ)器rom、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器ram、快閃存儲(chǔ)器或電子可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器eeprom。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種利用所述的聚光系統(tǒng)的聚光方法包括以下步驟：

在第一步驟中，將探頭部分固定在所述第二槽，將透鏡放在探測(cè)窗口，然后將聚光器放置在透鏡上，讓透鏡和第一槽固定。

在第二步驟中，通過(guò)旋轉(zhuǎn)內(nèi)、外螺紋以調(diào)節(jié)探頭部分和所述透鏡之間的距離。

在第三步驟中，陰極發(fā)光儀發(fā)出光線(xiàn)經(jīng)由探測(cè)窗口、透鏡、第一本體和光纖探頭形成的聚光光路傳輸?shù)焦饫w光譜儀。

在所述的聚光方法中，在第四步驟中，所述光纖光譜儀將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)發(fā)送到所述處理設(shè)備，處理后的數(shù)據(jù)通過(guò)顯示界面顯示。

本發(fā)明的聚光系統(tǒng)能對(duì)陰極發(fā)光的光譜進(jìn)行定量的測(cè)量，同時(shí)提高采集信號(hào)的強(qiáng)度，聚光系統(tǒng)可以對(duì)陰極發(fā)光儀的光信號(hào)進(jìn)行聚焦后輸入到光纖光譜儀且提高了儀器的測(cè)量精度和采集強(qiáng)度。

上述說(shuō)明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠使得本發(fā)明的技術(shù)手段更加清楚明白，達(dá)到本領(lǐng)域技術(shù)人員可依照說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容予以實(shí)施的程度，并且為了能夠讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，下面以本發(fā)明的具體實(shí)施方式進(jìn)行舉例說(shuō)明。

附圖說(shuō)明

通過(guò)閱讀下文優(yōu)選的具體實(shí)施方式中的詳細(xì)描述，本發(fā)明各種其他的優(yōu)點(diǎn)和益處對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將變得清楚明了。說(shuō)明書(shū)附圖僅用于示出優(yōu)選實(shí)施方式的目的，而并不認(rèn)為是對(duì)本發(fā)明的限制。顯而易見(jiàn)地，下面描述的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。而且在整個(gè)附圖中，用相同的附圖標(biāo)記表示相同的部件。

在附圖中：

圖1是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的聚光系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的聚光系統(tǒng)的第二聚光部分的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的聚光系統(tǒng)的第一聚光部分的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的聚光系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的利用聚光系統(tǒng)的聚光方法的步驟示意圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的利用聚光系統(tǒng)的聚光方法的步驟示意圖；

圖7是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的聚光方法獲得的鉀長(zhǎng)石陰極發(fā)光光譜圖；

圖8是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的聚光方法獲得的鈉長(zhǎng)石陰極發(fā)光光譜圖。

以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的解釋。

具體實(shí)施方式

下面將參照附圖更詳細(xì)地描述本發(fā)明的具體實(shí)施例。雖然附圖中顯示了本發(fā)明的具體實(shí)施例，然而應(yīng)當(dāng)理解，可以以各種形式實(shí)現(xiàn)本發(fā)明而不應(yīng)被這里闡述的實(shí)施例所限制。相反，提供這些實(shí)施例是為了能夠更透徹地理解本發(fā)明，并且能夠?qū)⒈景l(fā)明的范圍完整的傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。

需要說(shuō)明的是，在說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求當(dāng)中使用了某些詞匯來(lái)指稱(chēng)特定組件。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)可以理解，技術(shù)人員可能會(huì)用不同名詞來(lái)稱(chēng)呼同一個(gè)組件。本說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求并不以名詞的差異來(lái)作為區(qū)分組件的方式，而是以組件在功能上的差異來(lái)作為區(qū)分的準(zhǔn)則。如在通篇說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求當(dāng)中所提及的“包含”或“包括”為一開(kāi)放式用語(yǔ)，故應(yīng)解釋成“包含但不限定于”。說(shuō)明書(shū)后續(xù)描述為實(shí)施本發(fā)明的較佳實(shí)施方式，然所述描述乃以說(shuō)明書(shū)的一般原則為目的，并非用以限定本發(fā)明的范圍。本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視所附權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。

為便于對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的理解，下面將結(jié)合附圖以幾個(gè)具體實(shí)施例為例做進(jìn)一步的解釋說(shuō)明，且各個(gè)附圖并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的限定。

圖1為本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的聚光系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，本發(fā)明實(shí)施例將結(jié)合圖1進(jìn)行具體說(shuō)明。

如圖1所示，本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供了一種聚光系統(tǒng)，所述聚光系統(tǒng)包括陰極發(fā)光儀1、聚光器2和光纖光譜儀3，所述聚光器2連接所述陰極發(fā)光儀1和光纖光譜儀3，所述陰極發(fā)光儀1包括陰極電子槍4和發(fā)出光線(xiàn)的探測(cè)窗口5，所述光纖光譜儀3包括光纖探頭6和光譜儀7。

如圖2所示的聚光系統(tǒng)的第二聚光部分的結(jié)構(gòu)示意圖和圖3是所示的聚光系統(tǒng)的第一聚光部分的結(jié)構(gòu)示意圖，所述聚光器2包括用于接收來(lái)自所述探測(cè)窗口5的光線(xiàn)的第一聚光部分8和用于固定連接所述光纖探頭6的第二聚光部分9，所述第一聚光部分8設(shè)有中空的第一本體10和用于連接所述探測(cè)窗口的探測(cè)表面11，所述探測(cè)表面11上設(shè)有安裝透鏡12的第一槽13，所述第一本體10的中空內(nèi)表面設(shè)有內(nèi)螺紋14，所述第二聚光部分9設(shè)有用于容納光纖探頭6的光纖部分的中空的第二本體15和設(shè)有第二槽16的端表面17，所述第二槽16容納所述光纖探頭6的探頭部分，所述第二本體15的外表面設(shè)有外螺紋18，所述探測(cè)窗口5、透鏡12、第一本體10和光纖探頭6形成聚光光路，所述外螺紋18嚙合所述內(nèi)螺紋14以調(diào)節(jié)所述光纖探頭6和所述透鏡12之間的距離。

本發(fā)明的聚光系統(tǒng)利用可進(jìn)行巖礦分析測(cè)試的陰極發(fā)光儀對(duì)樣品進(jìn)行陰極發(fā)光，利用激光器顯著地提高了了采集信號(hào)強(qiáng)度，克服了現(xiàn)有技術(shù)中不能對(duì)陰極發(fā)光的光譜進(jìn)行定量的測(cè)量的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明通過(guò)聚光器調(diào)節(jié)光纖探頭6和透鏡之間的距離，對(duì)陰極發(fā)光儀的光信號(hào)進(jìn)行聚焦后輸入到光纖光譜儀，進(jìn)一步提高了儀器的測(cè)量精度，可以定量測(cè)量礦物的陰極發(fā)光光譜，本發(fā)明進(jìn)一步地通過(guò)處理設(shè)備對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，相比現(xiàn)有技術(shù)，顯著提高了測(cè)量精度和應(yīng)用范圍。

本發(fā)明的聚光系統(tǒng)的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，所述第一槽13設(shè)有固定透鏡12的第一固定件，所述第二槽16設(shè)有固定所述探頭部分的第二固定件。這進(jìn)一步提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性從而提高了本系統(tǒng)的耐用性。

本發(fā)明的聚光系統(tǒng)的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，所述第一固定件和/或第二固定件為可解鎖的鎖止件以鎖緊和放開(kāi)所述透鏡12或探頭部分。這方便本系統(tǒng)更換不同的透鏡和探頭。

本發(fā)明的聚光系統(tǒng)的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，所述探測(cè)表面11和所述探測(cè)窗口5接觸使得聚光器2穩(wěn)定連接在所述陰極發(fā)光儀1上，所述端表面17的長(zhǎng)度大于所述第一槽13的直徑以避免所述端表面17接觸所述透鏡12。

本發(fā)明的聚光系統(tǒng)的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，所述外螺紋18和所述內(nèi)螺紋14為三角螺紋。

本發(fā)明的聚光系統(tǒng)的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，所述第一聚光部分8為中空的螺母件，第一本體10包括直徑為透鏡直徑的1-5倍的第一中空部分，所述第一槽13直徑等于透鏡的直徑且深度為透鏡焦距的2-10倍；所述第二聚光部分9為中空螺桿件，第二本體15包括直徑為探頭直徑的1-20倍的第二中空部分，所述第二槽16直徑等于探頭直徑。通過(guò)研究，本實(shí)施例的聚光系統(tǒng)能夠使用大部分的透鏡，且聚光效果和應(yīng)用范圍得到了較好的平衡。

本發(fā)明的聚光系統(tǒng)的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，第一本體10包括直徑20毫米且深度為30毫米的第一中空部分，所述第一槽13直徑為10毫米且深度5毫米，所述透鏡12的直徑為10毫米且焦距1毫米；第二本體15包括直徑為10毫米且深度為75毫米的第二中空部分，所述第二槽16直徑為3.5毫米且深度為5毫米。本實(shí)施例的聚光系統(tǒng)是透鏡為10毫米且焦距1毫米情況下，得到的最佳尺寸。

參見(jiàn)圖4，圖4是本發(fā)明的聚光系統(tǒng)一個(gè)實(shí)施例，所述聚光系統(tǒng)包括陰極發(fā)光儀1、聚光器2和光纖光譜儀3，所述聚光器2連接所述陰極發(fā)光儀1和光纖光譜儀3，所述陰極發(fā)光儀1包括陰極發(fā)光器4和發(fā)出光線(xiàn)的探測(cè)窗口5，所述光纖光譜儀3包括光纖探頭6和光譜儀7，所述聚光器2包括用于接收來(lái)自所述探測(cè)窗口5的光線(xiàn)的第一聚光部分8和用于固定連接所述光纖探頭6的第二聚光部分9，所述第一聚光部分8設(shè)有中空的第一本體10和用于連接所述探測(cè)窗口的探測(cè)表面11，所述探測(cè)表面11上設(shè)有安裝透鏡12的第一槽13，所述第一本體10的中空內(nèi)表面設(shè)有內(nèi)螺紋14，所述第二聚光部分9設(shè)有用于容納光纖探頭6的光纖部分的中空的第二本體15和設(shè)有第二槽16的端表面17，所述第二槽16容納所述光纖探頭6的探頭部分，所述第二本體15的外表面設(shè)有外螺紋18，所述探測(cè)窗口5、透鏡12、第一本體10和光纖探頭6形成聚光光路，所述外螺紋18嚙合所述內(nèi)螺紋14以調(diào)節(jié)所述光纖探頭6和所述透鏡12之間的距離，所述聚光系統(tǒng)設(shè)有處理設(shè)備19，所述處理設(shè)備19連接所述光纖光譜儀3，所述光纖光譜儀3將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)發(fā)送到所述處理設(shè)備19，所述處理設(shè)備19包括用于處理數(shù)據(jù)的處理器20、用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器21和用于顯示數(shù)據(jù)的顯示界面22，其中，所述處理器20為通用處理器、數(shù)字信號(hào)處理器、專(zhuān)用集成電路asic或現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列fpga，所述存儲(chǔ)器21可以包括一個(gè)或多個(gè)只讀存儲(chǔ)器rom、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器ram、快閃存儲(chǔ)器或電子可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器eeprom。

圖5是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的利用聚光系統(tǒng)的聚光方法的步驟示意圖，聚光方法包括以下步驟。

在第一步驟s1中，將探頭部分固定在所述第二槽16，將透鏡12放在探測(cè)窗口5，然后將聚光器2放置在透鏡上，讓透鏡和第一槽13固定。

在第二步驟s2中，通過(guò)旋轉(zhuǎn)內(nèi)、外螺紋以調(diào)節(jié)探頭部分和所述透鏡12之間的距離。

在第三步驟s3中，陰極發(fā)光儀1發(fā)出光線(xiàn)經(jīng)由探測(cè)窗口5、透鏡12、第一本體10和光纖探頭6形成的聚光光路傳輸?shù)焦饫w光譜儀3。

在聚光方法中，首先將光纖光譜儀的光纖探頭插入到聚光系統(tǒng)中固定，然后將透鏡放置在陰極發(fā)光儀的探測(cè)窗口，接著將整個(gè)聚光系統(tǒng)放在透鏡上面圖5，同時(shí)可以微調(diào)聚光系統(tǒng)中光纖頭到透鏡的距離，調(diào)焦之后進(jìn)行實(shí)際測(cè)量。

圖6是根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的利用聚光系統(tǒng)的聚光方法的步驟示意圖，聚光方法包括以下步驟。

在第一步驟s1中，將透鏡12固定安裝在所述第一槽13，將探頭部分固定在所述第二槽16。

在第二步驟s2中，通過(guò)旋轉(zhuǎn)內(nèi)、外螺紋以調(diào)節(jié)探頭部分和所述透鏡12之間的距離。

在第三步驟s3中，陰極發(fā)光儀1發(fā)出光線(xiàn)經(jīng)由探測(cè)窗口5、透鏡12、第一本體10和光纖探頭6形成的聚光光路傳輸?shù)焦饫w光譜儀3。

在第四步驟s4中，所述光纖光譜儀3將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)發(fā)送到所述處理設(shè)備19，處理后的數(shù)據(jù)通過(guò)顯示界面22顯示。

為了進(jìn)一步說(shuō)明本方法的改進(jìn)和特點(diǎn)，如圖7所示的聚光方法獲得的鉀長(zhǎng)石陰極發(fā)光光譜圖和圖8所示的聚光方法獲得的鈉長(zhǎng)石陰極發(fā)光光譜圖，可以看出，本發(fā)明得到的鉀長(zhǎng)石陰極發(fā)光光譜圖和鈉長(zhǎng)石陰極發(fā)光光譜圖均顯著強(qiáng)于現(xiàn)有技術(shù)，這說(shuō)明本發(fā)明提供了顯著的聚光效果。

盡管以上結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方案進(jìn)行了描述，但本發(fā)明并不局限于上述的具體實(shí)施方案和應(yīng)用領(lǐng)域，上述的具體實(shí)施方案僅僅是示意性的、指導(dǎo)性的，而不是限制性的。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本說(shuō)明書(shū)的啟示下和在不脫離本發(fā)明權(quán)利要求所保護(hù)的范圍的情況下，還可以做出很多種的形式，這些均屬于本發(fā)明保護(hù)之列。