本發(fā)明涉及一種自驅(qū)動近紅外光電探測器及其制備方法,具體地說是基于銅硫酸鉀準一維納米結(jié)構(gòu)的自驅(qū)動近紅外光電探測器及其制備方法。
背景技術(shù):
光電探測器是將光信號轉(zhuǎn)化為電信號的半導(dǎo)體器件。人眼可感知的波長范圍為380-780nm,而日常生活中又存在大量的紅外光,因此光電探測器也可以認為是人眼的一個有效延伸。中、遠紅外光(3~14μm)的穿透能力強,因此被廣泛應(yīng)用于軍事領(lǐng)域,在紅外偵察、紅外制導(dǎo)、紅外夜視、紅外隱身等方面都有重要的應(yīng)用。如美國陸軍研究實驗室與洛克韋爾科學公司合作,通過分子束外延技術(shù),在cdsexte1-x/si復(fù)合襯底上生長的長波紅外材料hg0.78cd0.22te(proc.ofspie.2006,6206,620611),有望應(yīng)用于更加經(jīng)濟耐用的第三代紅外焦平面陣列的制造。但是其一般工作在低溫,價格昂貴,所以很難推廣到民用領(lǐng)域。
近年來,近紅外光(780~2526nm)光電探測器在醫(yī)學成像技術(shù)、光通訊、工業(yè)自動控制、環(huán)境監(jiān)測、火險報警等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用需求,推動了高性能、低成本的近紅外光電探測器的研究。目前780~1100nm范圍內(nèi)主要使用si光電二極管,而1100~2526nm范圍內(nèi)使用較多的則是ingaas和pbs探測器。
隨著納米技術(shù)的發(fā)展,納米光電探測器的發(fā)展逐漸興起。2016年,huangtan等使用化學氣相沉積(cvd)的方式,制備了基于單根in0.65ga0.35as納米線的近紅外光電探測器,該器件對于波長范圍1100~2000nm的近紅外光有很好的響應(yīng),在0.5v偏壓、1600nm(光強15.8mwcm-2)光照射下,響應(yīng)度達到了6.5×103aw-1、外部量子效率達到了5.04×105%(nano-microlett.2016,8,29)。與光電導(dǎo)型光電探測器相比,肖特基結(jié)或p-n結(jié)型光電探測器具有更為優(yōu)良的高頻特性,并且由于光生伏特效應(yīng),該類器件有望構(gòu)建自驅(qū)動光電探測器,在無需外加電源的條件下工作,隨著便攜式設(shè)備和可穿戴設(shè)備的廣泛使用,這一類型光電探測器尤為引人關(guān)注。如k.das等報道了基于單根p型摻雜的si納米線和cr/au電極形成的肖特基結(jié),該器件具有良好的光伏特性,在900nm光照下,零偏壓時響應(yīng)度達到了2×104aw-1,探測率約為1013cmhz1/2w-1(nanoscale,2014,6,11232)。
為了進一步提升器件性能,研究者們開始探討具有較大結(jié)區(qū)面積的、基于納米線陣列或薄膜結(jié)構(gòu)的近紅外光電探測器的構(gòu)建。huiwang等使用紫外光刻技術(shù)在二氧化硅片上,定義出極其規(guī)整的圖案,然后使材料順著圖案的邊緣生長,獲得了非常有序的mesq納米線組裝成的二維薄膜,制備的器件在808nm的光照下,開關(guān)比為1600,超過了大部分的有機光電探測器(acsappl.mater.interfaces2016,8,7912)。合肥工業(yè)大學吳春艷研究團隊也通過將si片刻蝕成si納米線陣列,在納米線表面均勻包覆cu膜,構(gòu)建了si/cu核殼結(jié)構(gòu)異質(zhì)結(jié),器件在光強為0.22mwcm-2的980nm近紅外光照下呈顯著的光伏特性,具有良好的自驅(qū)動近紅外光電探測效果(j.mater.chem.c2016,4,10804)。
然而,目前基于納米線陣列或者薄膜的近紅外光電探測器,常需要使用分子束外延生長、物理氣相沉積等高真空薄膜制備技術(shù),或者需借助紫外曝光光刻等微細加工技術(shù)來實現(xiàn),較高的設(shè)備條件和制作成本,在一定程度上限制了其推廣。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
在現(xiàn)有技術(shù)存在的基礎(chǔ)之上,本發(fā)明旨在構(gòu)建基于銅硫酸鉀準一維納米結(jié)構(gòu)的自驅(qū)動近紅外光電探測器,在納米光電探測器發(fā)展領(lǐng)域有著重要的意義,所要解決的技術(shù)問題是通過langmuir-blodgett(lb)技術(shù),將kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)組裝成單層膜,并將其轉(zhuǎn)移到n型硅基底上形成si/kcu7s4異質(zhì)結(jié),從而構(gòu)建自驅(qū)動近紅外光電探測器。
本發(fā)明解決技術(shù)問題,采用如下技術(shù)方案:
本發(fā)明基于銅硫酸鉀準一維納米結(jié)構(gòu)的自驅(qū)動近紅外光電探測器,其特點在于:是以平面硅為基底,在平面硅上表面的局部位置構(gòu)建有絕緣區(qū)域;在平面硅上表面轉(zhuǎn)移有由kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)通過lb技術(shù)組裝而成的kcu7s4單層膜;所述kcu7s4單層膜部分位于所述絕緣區(qū)域上,剩余部分直接與平面硅上表面接觸,形成si/kcu7s4異質(zhì)結(jié);在所述kcu7s4單層膜上方沉積有第一金屬薄膜電極,與所述kcu7s4單層膜形成歐姆接觸;所述第一金屬薄膜電極位于所述絕緣區(qū)域的上方,且不超出所述絕緣區(qū)域所在的區(qū)域;在所述平面硅的背面刷涂有第二金屬薄膜電極,與硅形成歐姆接觸。
優(yōu)選的,所述平面硅的導(dǎo)電類型為n型,電阻率為1-10ω·㎝。
優(yōu)選的,所述絕緣區(qū)域為絕緣膠帶、sio2絕緣層、si3n4絕緣層、hfo2絕緣層或al2o3絕緣層,其中絕緣層的電阻率不小于1×103ω·cm、厚度為100-500nm。
優(yōu)選的,所述kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)的軸向長度不小于10μm、徑向長度為100-1000nm。
優(yōu)選的,所述第一金屬薄膜電極為au電極、ti/au復(fù)合電極、cr/au復(fù)合電極、ni/au復(fù)合電極或pt電極;所述au電極、pt電極的厚度為30-100nm;所述ti/au復(fù)合電極、cr/au復(fù)合電極、ni/au復(fù)合電極分別是在厚度3-10nm的ti、cr、ni上沉積有30-100nm厚的au。
優(yōu)選的,所述第二金屬薄膜電極(5)為in/ga電極或ag電極,通過刷涂相應(yīng)導(dǎo)電膠的方式形成。
本發(fā)明自驅(qū)動近紅外光電探測器的制備方法,包括如下步驟:
a、將平面硅依次用丙酮、酒精、去離子水超聲清洗后,吹干,作為基底備用;
b、在平面硅上表面的局部位置構(gòu)建絕緣區(qū)域;
c、將kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)的粉末加入質(zhì)量濃度為3~5%的pvp水溶液中,攪拌6h,從而在kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)表面包覆一層pvp,以增加其在后續(xù)lb過程所用溶劑中的分散性,然后離心、取出沉淀物并烘干備用;
d、將2mg包覆了pvp的kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)粉末分散于0.5mln,n-二甲基甲酰胺和0.5ml三氯甲烷的混合液中,獲得含有kcu7s4的溶液;然后用5ml的注射器將含有kcu7s4的溶液逐滴加入到裝有去離子水的lb水槽中;將構(gòu)建有絕緣區(qū)域的平面硅放置于lb水槽底部,30分鐘后開始擠壓液面,速度為20cm2min-1;當液面的表面壓力達到5~25mn/m的時候,緩慢的將平面硅提上來,從而在平面硅上形成kcu7s4單層膜;
e、使用電子束蒸發(fā)鍍膜的方式,在kcu7s4單層膜上沉積第一金屬薄膜電極,為避免第一金屬薄膜電極與平面硅的接觸,使第一金屬薄膜電極位于所述絕緣區(qū)域的上方,且不超出所述絕緣區(qū)域所在的區(qū)域;第一金屬薄膜電極沉積時真空室氣壓不高于6×10-3pa、蒸發(fā)速率為0.01-0.05nm/s;
f、將平面硅的背面打磨、刷涂一層導(dǎo)電膠,形成第二金屬薄膜電極,即獲得基于kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)的自驅(qū)動近紅外光電探測器。
與已有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果體現(xiàn)在:
1、本發(fā)明通過langmuir-blodgett(lb)技術(shù),將高結(jié)晶性的準一維納米結(jié)構(gòu)在液面自組裝形成單層膜,與傳統(tǒng)高真空鍍膜技術(shù)相比,既保持了準一維納米結(jié)構(gòu)良好的電輸運特性,又顯著降低了制備難度和成本;
2、本發(fā)明器件制備過程簡單易行,與現(xiàn)行硅工藝具有良好的兼容性,易于實現(xiàn)器件在現(xiàn)有集成電路芯片上的集成。
附圖說明
圖1是本發(fā)明基于銅硫酸鉀準一維納米結(jié)構(gòu)的自驅(qū)動近紅外光電探測器的器件結(jié)構(gòu)示意圖;其中1為平面硅,2為絕緣區(qū)域,3為kcu7s4單層膜,4為第一金屬薄膜電極,5為第二金屬薄膜電極。
圖2是本發(fā)明基于銅硫酸鉀準一維納米結(jié)構(gòu)的自驅(qū)動近紅外光電探測器的器件制備過程示意圖。
圖3為本發(fā)明實施例1中si/kcu7s4異質(zhì)結(jié)的光譜響應(yīng),圖中可以看出器件在較寬的光譜范圍內(nèi)(約600-1100nm)有顯著的光響應(yīng)。
圖4為本發(fā)明實施例1中si/kcu7s4異質(zhì)結(jié)的典型電流-電壓特性曲線,圖中可以看出在980nm光照下(光強約300μwcm-2),器件具有顯著的光伏特性,開路電壓為0.135v,短路電流為1620na,填充因子為24.23%。
圖5為本發(fā)明實施例1中si/kcu7s4異質(zhì)結(jié)零偏壓下的時間響應(yīng)圖譜,圖中可以看出器件開關(guān)比約8000,具有良好的可重復(fù)性和穩(wěn)定性。
圖6為本發(fā)明實施例1中si/kcu7s4異質(zhì)結(jié)在頻率為50khz的入射光下的時間響應(yīng)圖譜,圖中可以看出器件上升時間和下降時間分別為7.4μs和8.6μs。
圖7為本發(fā)明實施例1中si/kcu7s4異質(zhì)結(jié)光電流-光強擬合曲線。
圖8為本發(fā)明實施例1中si/kcu7s4異質(zhì)結(jié)光電流分布圖,圖中可以看出器件具有較好的均勻性。
圖9為本發(fā)明實施例2中si/kcu7s4異質(zhì)結(jié)的典型電流-電壓特性曲線,圖中可以看出在980nm光照下(光強約300μwcm-2),器件具有顯著的光伏特性,開路電壓為0.117v,短路電流為3.27na,填充因子為16.91%。
圖10為本發(fā)明實施例3中si/kcu7s4異質(zhì)結(jié)的典型電流-電壓特性曲線,圖中可以看出在980nm光照下(光強約300μwcm-2),器件具有顯著的光伏特性,開路電壓為0.064v,短路電流為299na,填充因子為23.52%。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例作詳細說明,本實施例在以本發(fā)明技術(shù)方案為前提下進行實施,給出了詳細的實施方式和具體的操作過程,但本發(fā)明的保護范圍不限于下述的實施例。
實施例1
參見圖1,本發(fā)明的自驅(qū)動近紅外光電探測器是以平面硅1為基底,在平面硅1上表面的局部位置構(gòu)建有絕緣區(qū)域2;在平面硅1上表面轉(zhuǎn)移有由kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)通過lb技術(shù)組裝而成的kcu7s4單層膜3;kcu7s4單層膜3部分位于絕緣區(qū)域2上,剩余部分直接與平面硅上表面接觸,形成si/kcu7s4異質(zhì)結(jié);在kcu7s4單層膜3上方沉積有第一金屬薄膜電極4,與kcu7s4單層膜3形成歐姆接觸;第一金屬薄膜電極4位于絕緣區(qū)域2的上方,且不超出絕緣區(qū)域2所在的區(qū)域;在平面硅1的背面刷涂有第二金屬薄膜電極5,與硅形成歐姆接觸。
具體的:本實施例通過在平面硅上表面的一側(cè)粘貼絕緣膠帶的方式構(gòu)建有絕緣區(qū)域;本實施例所用kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)為溶液法合成的kcu7s4納米線;所用平面硅導(dǎo)電類型為n型,電阻率為1-10ω·㎝;第一金屬薄膜電極是厚度為50nm的au電極,第二金屬薄膜電極是in/ga電極。
具體的,kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)的制備方法如下:
將3.88gnaoh和5.11gkoh加入到30ml去離子水中,磁力攪拌使其溶解并降至室溫,然后依次加入0.51gcucl2·2h2o、300μl乙二胺、2.88gna2s·9h2o、3ml水合肼,充分攪拌后放入80℃的恒溫干燥箱中反應(yīng)50分鐘,取出上層絮狀產(chǎn)物,離心清洗,直至上層清液酸堿度達到中性,之后再用酒精清洗2-3次,即得產(chǎn)物kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)。之后放置于60℃的恒溫干燥箱中干燥4小時,得到的粉末備用。
如圖2所示,本實施例自驅(qū)動近紅外光電探測器的制備方法如下:
a、將平面硅依次用丙酮、酒精、去離子水超聲清洗后,吹干,作為基底備用;
b、在平面硅上表面的一側(cè)粘貼絕緣膠帶,構(gòu)建絕緣區(qū)域;
c、將kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)的粉末加入質(zhì)量濃度為4%的pvp水溶液中,攪拌6h,從而在kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)表面包覆一層pvp,以增加其在后續(xù)lb過程所用溶劑中的分散性,然后離心、取出沉淀物并烘干備用;
d、將2mg包覆了pvp的kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)粉末分散于0.5ml的n,n-二甲基甲酰胺(dmf)和0.5ml的三氯甲烷(chcl3)的混合溶液中,獲得含有kcu7s4的溶液;之后用5ml的注射器將含有kcu7s4的溶液逐滴加入langmuir-blodgett(lb)(ksvnima,alter2006)水槽中(水槽中的液體為去離子水)。將貼有絕緣膠帶的硅片放置于水槽底部,30分鐘之后,開始擠壓液面,速度為20cm2min-1。當液面的表面壓力達到25mn/m的時候,緩慢的將硅片提上來,從而在平面硅上形成kcu7s4單層膜;
e、使用電子束蒸發(fā)鍍膜的方式,在kcu7s4單層膜上沉積au電極,為避免au電極與平面硅的接觸,使au電極位于絕緣膠帶的上方,且不超出絕緣膠帶所在的區(qū)域;沉積時真空室氣壓為6×10-3pa,蒸發(fā)速率為0.05nm/s。
f、將平面硅的背面打磨、刷涂一層in/ga導(dǎo)電膠,形成in/ga電極,即獲得基于kcu7s4準一維納米結(jié)構(gòu)的自驅(qū)動近紅外光電探測器。
本實施例所得自驅(qū)動近紅外光電探測器的光譜響應(yīng)如圖3所示,可以看出器件在較寬的光譜范圍內(nèi)(約600-1100nm)有顯著的光響應(yīng)。
本實施例自驅(qū)動近紅外光電探測器在光強為300μwcm-2、980nm單色光照下,呈現(xiàn)顯著的光伏特性,如圖4所示,開路電壓為0.135v、短路電流為1620na、填充因子為24.23%。
本實施例自驅(qū)動近紅外光電探測器在零偏壓下的時間響應(yīng)圖譜如圖5所示,可以看出器件開關(guān)比約8000,具有良好的可重復(fù)性和穩(wěn)定性。
本實施例自驅(qū)動近紅外光電探測器在頻率為50khz的入射光下的時間響應(yīng)圖譜如圖6所示,可以看出器件上升時間和下降時間分別為7.4μs和8.6μs。
本實施例自驅(qū)動近紅外光電探測器的光電流-光強擬合曲線如圖7所示。
本實施例自驅(qū)動近紅外光電探測器的光電流分布圖如圖8所示,可以看出器件具有較好的均勻性。
實施例2
本實施例的自驅(qū)動近紅外光電探測器及其制備方法與實施例1相同,區(qū)別僅在于步驟d中表面壓力為5mn/m。
本實施例所制備的自驅(qū)動近紅外光電探測器在光強為300μwcm-2、波長980nm單色光照射下,呈現(xiàn)顯著的光伏特性,如圖9所示,開路電壓為0.117v、短路電流為3.27na、填充因子為16.91%。
實施例3
本實施例的自驅(qū)動近紅外光電探測器及其制備方法與實施例1相同,區(qū)別僅在于步驟d中表面壓力為15mn/m。
本實施例所制備的自驅(qū)動近紅外光電探測器在光強為300μwcm-2、波長980nm單色光照射下,呈現(xiàn)顯著的光伏特性,如圖10所示,開路電壓為0.064v、短路電流為299na、填充因子為23.52%。
以上僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。