本發(fā)明涉及一種硅基高效太陽(yáng)能電池,屬于太陽(yáng)能電池技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
晶體硅太陽(yáng)能電池因低廉的成本,成熟的制造工藝,未來一二十年仍是太陽(yáng)能電池的主流產(chǎn)品。由于帶隙原因,晶硅太陽(yáng)電池只能吸收波長(zhǎng)小于1.1μm太陽(yáng)光,大部分長(zhǎng)波長(zhǎng)的光都會(huì)被浪費(fèi)掉。
目前常規(guī)單晶硅電池量產(chǎn)效率普遍在20%-21%左右,電池的最高轉(zhuǎn)換效率受到制約。但對(duì)于疊層電池來說,分段吸收太陽(yáng)光,可以充分的利用太陽(yáng)光。疊層電池可以看做串聯(lián)在一起的電池,開路電壓會(huì)明顯提升,短路電流小于或等于疊層電池中子電池的最小電流。疊層電池通過提升電池的開路電壓來提升太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本發(fā)明提供一種硅基高效太陽(yáng)能電池,可大大提升硅基太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的一種硅基高效太陽(yáng)能電池,包括單晶硅p型電池、鍵合層和gainp薄膜電池,所述gainp薄膜電池通過鍵合層鍵合到單晶硅p型電池的正面;
采用gaas或ge作為支撐基底,通過mocvd或mbe生長(zhǎng)與gaas晶格匹配的gainp薄膜電池,鍵合到單晶硅p型電池上,剝離生長(zhǎng)的gainp薄膜電池,即得所述硅基高效太陽(yáng)能電池。
作為改進(jìn),所述單晶硅p型電池包括下電極、鋁背場(chǎng)、p型層、n+層和鈍化膜;
所述下電極設(shè)置在鋁背場(chǎng)上,鋁背場(chǎng)位于p型層的背面,所述n+層位于p型層的正面,所述鈍化膜位于n+層表面。
作為改進(jìn),所述鍵合層采用點(diǎn)陣au/au鍵合。
進(jìn)一步改進(jìn),所述鍵合層上開有若干圓形或方形空隙,所述空隙內(nèi)填充有eva。
作為改進(jìn),所述gainp薄膜電池包括隧道結(jié)、gainp子電池和上電極;
所述隧道結(jié)位于鍵合層和gainp子電池之間,所述上電極位于gainp子電池上表面;
所述gainp子電池包括algainp背場(chǎng)、gainp基區(qū)、gainp發(fā)射區(qū)和alinp窗口層,所述algainp背場(chǎng)、gainp基區(qū)、gainp發(fā)射區(qū)和alinp窗口層從下至上依次布置。
作為改進(jìn),采用n型gaas襯底或ge襯底作為支撐基底,依次生長(zhǎng)300-500nmgaas緩沖層、10-15nm的alas犧牲層、300-500nmgaas歐姆接觸層、700-2500nm的所述gainp子電池、及10-30nm的隧道結(jié)。
作為改進(jìn),采用325μmgaas-n型襯底作為支撐基底。
作為改進(jìn),所述gaas歐姆接觸層采用n型gaas歐姆接觸層,n型摻雜元素為si,摻雜濃度為5e18cm-3;
所述alinp窗口層的厚度為20-100nm,n型摻雜元素為si;
所述gainp發(fā)射區(qū)厚度為50-350nm,n型摻雜元素為si。
作為改進(jìn),所述gainp基區(qū)厚度為350-1500nm,p型摻雜元素為zn;
所述algainp背場(chǎng)厚度為50-200nm,p型摻雜元素為zn。
作為改進(jìn),所述隧道結(jié)采用寬帶隙材料,帶隙選擇范圍為1.45-2.0ev,選用材料為gainp或algaas,n型摻雜為si/te共摻,濃度2e19cm-3,p型摻雜為c摻雜,濃度1e20cm-3。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下有益效果:
1)常規(guī)晶硅電池只能吸收波長(zhǎng)小于1.1μm的光,大部分長(zhǎng)波長(zhǎng)的光被浪費(fèi),從而轉(zhuǎn)換效率較低,而通過點(diǎn)陣鍵合技術(shù)和隧道結(jié)技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)多層電池的串聯(lián),從而通過提升電池開路電壓來提升整個(gè)疊層電池的轉(zhuǎn)換效率;且采用si作為硅基電池的支撐基底大大提升了電池的機(jī)械性能。
2)本發(fā)明通過將疊層電池鍵合到單晶硅p型電池正面,然后把襯底剝離下來,gainp子電池吸收波長(zhǎng)范圍為小于680nm的光,單晶硅子電池吸收680nm-1100nm的光,兩者配合有效實(shí)現(xiàn)了太陽(yáng)光譜的充分利用。
3)單晶硅子電池和gainp子電池通過隧道結(jié)串聯(lián)在一起(如果沒有隧道結(jié)子電池之間會(huì)形成反型層);通過點(diǎn)陣鍵合層將子電池鍵合在一起(點(diǎn)陣鍵合主要因?yàn)榻鸾疰I合層不透光,影響硅子電池光的吸收),實(shí)現(xiàn)硅基高效太陽(yáng)能電池。
4)本發(fā)明的太陽(yáng)能電池實(shí)現(xiàn)了太陽(yáng)光的分段吸收,可以有效的提升硅基太陽(yáng)能電池光電轉(zhuǎn)換效率。
附圖說明
圖1為本發(fā)明太陽(yáng)能電池的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明中一種鍵合層圖形的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本發(fā)明中另一種鍵合層圖形的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為本發(fā)明疊層薄膜電池部分的結(jié)構(gòu)示意圖(不包括上電極);
圖中:1、下電極,2、鋁背場(chǎng),3、p型層,4、n+層,5、鈍化膜,6、鍵合層,7、eva,8、隧道結(jié),9、algainp背場(chǎng),10、gainp基區(qū),11、gainp發(fā)射區(qū),12、alinp窗口層,13、上電極,14、gaas歐姆接觸層,15、alas犧牲層,16、gaas緩沖層,17、gaas襯底。
具體實(shí)施方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明了,下面通過附圖中及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。但是應(yīng)該理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限制本發(fā)明的范圍。
除非另有定義,本文所使用的所有的技術(shù)術(shù)語(yǔ)和科學(xué)術(shù)語(yǔ)與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同,本文中在本發(fā)明的說明書中所使用的術(shù)語(yǔ)只是為了描述具體的實(shí)施例的目的,不是旨在于限制本發(fā)明。
如圖1、圖4所示,一種硅基高效太陽(yáng)能電池,包括單晶硅p型電池、鍵合層6和gainp薄膜電池,所述gainp薄膜電池通過鍵合層6鍵合到單晶硅p型電池的正面,鍵合可以很好的將薄膜電池和單晶硅p型電池粘接在一起,還可以起到電流傳輸作用;
采用gaas或ge作為支撐基底,通過mocvd或mbe生長(zhǎng)與gaas晶格匹配的gainp薄膜電池,鍵合到單晶硅p型電池上,剝離生長(zhǎng)的gainp薄膜電池,即得所述硅基高效太陽(yáng)能電池。
作為實(shí)施例的改進(jìn),所述單晶硅p型電池包括下電極1、鋁背場(chǎng)2、p型層3、n+層4和鈍化膜5;
所述下電極1設(shè)置在鋁背場(chǎng)2上,鋁背場(chǎng)2位于p型層3的背面,所述n+層4位于p型層3的正面,所述鈍化膜5位于n+層4表面。
作為實(shí)施例的改進(jìn),所述鍵合層6采用點(diǎn)陣au/au鍵合。
進(jìn)一步的,如圖2、圖3所示,所述鍵合層6上開有若干圓形或方形空隙,所述空隙內(nèi)填充有eva7。所述鍵合層6可以有很多選擇組合,au/au鍵合是最優(yōu)的鍵合方式。鍵合層6需解決兩個(gè)問題:薄膜電池的p型歐姆接觸問題和單晶硅電池的p型歐姆接觸問題,良好的導(dǎo)電能力;還要保證良好的透光性。au具有良好的電學(xué)特性,但是不透光,這里鍵合層6需要特殊處理,使其光傳遞下來,供單晶硅吸收,考慮到粘合的穩(wěn)定性,鍵合層間隙之間加入eva(乙烯-醋酸乙烯共聚物)材料,保證薄膜的穩(wěn)定性。另外,絲網(wǎng)印刷的鈍化膜5的圖形與薄膜鍵合層面的圖形一致。
作為實(shí)施例的改進(jìn),所述gainp薄膜電池包括隧道結(jié)8、gainp子電池和上電極13,隧道結(jié)8可以實(shí)現(xiàn)單晶硅和薄膜電池之間電流的傳輸;
所述隧道結(jié)8位于鍵合層6和gainp子電池之間,上電極13位于gainp子電池上表面;
所述gainp子電池包括algainp背場(chǎng)9、gainp基區(qū)10、gainp發(fā)射區(qū)11和alinp窗口層12,所述algainp背場(chǎng)9、gainp基區(qū)10、gainp發(fā)射區(qū)11和alinp窗口層12從下至上依次布置。
作為實(shí)施例的改進(jìn),采用n型gaas襯底17或ge襯底作為支撐基底,因?yàn)間e-n型襯底生長(zhǎng)gaas或者gainp材料存在反向疇問題(ge是金剛石結(jié)構(gòu),gaas和gainp為閃鋅礦結(jié)構(gòu)),優(yōu)選采用325μmgaas-n型襯底作為支撐基底;
在支撐基底上依次生長(zhǎng)300-500nmgaas緩沖層16、10-15nm的alas犧牲層15、300-500nmgaas歐姆接觸層14、700-2500nm的所述gainp子電池、及10-30nm的隧道結(jié)8。
其中,gaas緩沖層16為后續(xù)材料生長(zhǎng)提供良好的界面,過濾位錯(cuò);alas犧牲層15的厚度優(yōu)選為10nm,根據(jù)溶液的選擇性腐蝕,可以剝離上面的薄膜;gaas歐姆接觸層14采用n型gaas歐姆接觸層,厚度優(yōu)選為360nm,由于gaas-n型摻雜很容易做的很高,故一般選為歐姆接觸層,n型摻雜元素為si,摻雜濃度5e18cm-3。
所述鋁銦磷(alinp)窗口層的厚度為20-100nm,n型摻雜元素為si,主要是降低界面復(fù)合;
所述gainp發(fā)射區(qū)11的厚度為50-350nm,n型摻雜元素為si;
所述gainp基區(qū)10的厚度為350-1500nm,p型摻雜元素為zn;
所述鋁鎵銦磷(algainp)背場(chǎng)的厚度為50-200nm,p型摻雜元素為zn。
作為實(shí)施例的進(jìn)一步改進(jìn),所述隧道結(jié)8采用寬帶隙材料,帶隙選擇范圍為1.45-2.0ev,且需要考慮晶格匹配問題,材料優(yōu)選為gainp或鋁鎵砷(algaas),n型摻雜為si/te共摻,濃度為2e19cm-3,p型摻雜為c摻雜,濃度為1e20cm-3。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換或改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。