本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

有機(jī)電激發(fā)光二極管(oled)由于同時(shí)具備自發(fā)光，不需背光源、對比度高、厚度薄、視角廣、反應(yīng)速度快、可用于撓曲性面板、使用溫度范圍廣、構(gòu)造及制程較簡單等優(yōu)異之特性，被認(rèn)為是下一代的平面顯示器新興應(yīng)用技術(shù)。

oled器件結(jié)構(gòu)是由陽極、陰極以及夾在陽極和陰極之間的有機(jī)功能層構(gòu)成。其中的有機(jī)功能層包括hil(空穴注入層)、htl(空穴傳輸層)、eml(發(fā)光層)、etl(電子傳輸層)、eil(電子注入層)等層構(gòu)成。

為了擴(kuò)大有機(jī)發(fā)光器件的應(yīng)用范圍并將有機(jī)發(fā)光器件商業(yè)化，已經(jīng)發(fā)展增加該有機(jī)發(fā)光器件的效率和降低驅(qū)動(dòng)電壓的技術(shù)。

oled已經(jīng)在中小尺寸得到廣泛應(yīng)用，大尺寸oled電視已經(jīng)開始商品化。和中小尺寸oled相比，大尺寸oled電視由于面積大，良率更難提升，生產(chǎn)時(shí)容易出現(xiàn)暗點(diǎn)、亮點(diǎn)等缺陷，在低灰階下，暗點(diǎn)引起的mura(不均勻，有斑點(diǎn))更明顯。為解決上述缺陷，需要在oled制程中加入在線老化工藝，通過在線老化來減少暗點(diǎn)等缺陷，提高大尺寸oled面板良率?，F(xiàn)有技術(shù)中，oled顯示面板通過在線老化腔體后，再傳入附近的ivl(電流-電壓-亮度)點(diǎn)燈腔體檢測老化效果并進(jìn)行篩選后進(jìn)入封裝工序。由此造成所需的檢測時(shí)長過長，并且需要分別設(shè)置老化腔體和點(diǎn)燈腔體兩個(gè)腔體，設(shè)備成本高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)及方法，能夠節(jié)約檢測的時(shí)長，提高檢測效率，并且可以節(jié)省檢測設(shè)備，從而降低檢測成本。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)，老化測試系統(tǒng)包括真空腔體、點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)、至少一個(gè)光譜儀和至少一個(gè)相機(jī)，其中：

所述真空腔體設(shè)置有用于老化所述顯示面板的老化設(shè)備，并且所述真空腔體設(shè)置所述點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)、光譜儀和相機(jī)；

所述點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)與所述顯示面板電連接，用于點(diǎn)亮所述顯示面板；

所述至少一個(gè)光譜儀位于所述顯示面板發(fā)出的光的光路上，用于檢測所述顯示面板的色坐標(biāo)和亮度；

所述至少一個(gè)相機(jī)位于所述顯示面板發(fā)出的光的光路上，用于檢測顯示面板的子像素的暗點(diǎn)缺陷。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種顯示面板的老化測試方法，所述老化測試方法包括：

點(diǎn)亮所述顯示面板；

對所述顯示面板的色坐標(biāo)和亮度進(jìn)行檢測，同時(shí)對顯示面板的子像素的暗點(diǎn)缺陷進(jìn)行檢測。

本發(fā)明的有益效果是：區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本發(fā)明提供了一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)及方法。該老化測試系統(tǒng)包括真空腔體、點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)、至少一個(gè)光譜儀和至少一個(gè)相機(jī)，其中，真空腔體設(shè)置有用于老化顯示面板的老化設(shè)備，并且真空腔體設(shè)置點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)、光譜儀和相機(jī)，點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)與顯示面板電連接，用于點(diǎn)亮顯示面板，至少一個(gè)光譜儀位于顯示面板發(fā)出的光的光路上，用于檢測顯示面板的色坐標(biāo)和亮度，至少一個(gè)相機(jī)位于顯示面板發(fā)出的光的光路上，用于檢測顯示面板的子像素的暗點(diǎn)缺陷。因此，本發(fā)明將點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)和光譜儀、相機(jī)都設(shè)置在真空腔體中，使得可直接在真空腔體中完成老化及檢測老化的效果的工作，由此能夠節(jié)約檢測的時(shí)長，提高檢測效率，并且簡化了顯示面板的量產(chǎn)線的設(shè)計(jì)，節(jié)省檢測設(shè)備，從而降低檢測成本。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的老化測試方法的流程示意圖。

具體實(shí)施方式

請參閱圖1，圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，本發(fā)明的老化測試系統(tǒng)10包括真空腔體11、點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)12、至少一個(gè)光譜儀13和至少一個(gè)相機(jī)14。

其中，真空腔體11設(shè)置有用于老化顯示面板100的老化設(shè)備(圖未示)，并且真空腔體11設(shè)置點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)12、光譜儀13和相機(jī)14。

具體而言，本發(fā)明為了加快老化，在真空腔體11的一側(cè)設(shè)置氣體管道16，用于通入至少氮?dú)夂涂諝獾囊环N。為了加快氣體的輸入，可以設(shè)置兩個(gè)及以上的氣體管道16，如圖1所示，設(shè)置兩個(gè)氣體管道16。其中，空氣包括壓縮空氣和潔凈空氣的任一種。其中，壓縮空氣主要是水含量的較普通的空氣，潔凈空氣是無油無顆粒(particle)的空氣，其對水含量無要求。

老化測試系統(tǒng)10還包括支撐件17，用于支撐真空腔體11。

在其他實(shí)施例中，還可以預(yù)先將氣體加熱，然后再通入真空腔體11中，以進(jìn)一步加快顯示面板100的老化。

點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)12與顯示面板100電連接，用于點(diǎn)亮顯示面板100。具體而言，點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)12包括連接桿121和引腳122，連接桿121的一端設(shè)置在真空腔體11的內(nèi)壁上，連接桿121的另一端與引腳122連接。更具體的，點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)122還包括連接板123，引腳122設(shè)置在連接板123上，連接桿121的另一端通過連接板123與引腳122連接。引腳122用于與顯示面板100電連接。

本實(shí)施例中，引腳122為多個(gè)，并且平均分為預(yù)設(shè)組，設(shè)置在連接板123的預(yù)設(shè)位置，例如圖1中平均分為3組，每組包括3個(gè)。在進(jìn)行點(diǎn)燈測試，引腳122通過設(shè)置在顯示面板100上的引腳連接墊與顯示面板100連接，點(diǎn)亮顯示面板100。其中，點(diǎn)亮顯示面板100的方式包括多種，例如可以將顯示面板100的像素分為多個(gè)區(qū)域，點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)12通過引腳122依次點(diǎn)亮該多個(gè)區(qū)域，也可以同時(shí)點(diǎn)亮該多個(gè)區(qū)域。

至少一個(gè)光譜儀13位于顯示面板100發(fā)出的光的光路上，用于檢測顯示面板100的色坐標(biāo)和亮度。也就是說光譜儀13直接檢測顯示面板100的色坐標(biāo)和亮度，通過三個(gè)顏色的色坐標(biāo)和亮度來得到顯示面板100的色域，以作為檢測顯示面板100的老化效果的判斷標(biāo)準(zhǔn)。本實(shí)施例中，以ntsc色域標(biāo)準(zhǔn)來說，若通過色坐標(biāo)和亮度獲得顯示面板100的色域小于72％，則可認(rèn)定為顯示面板100不合格。

至少一個(gè)相機(jī)14位于顯示面板100發(fā)出的光的光路上，用于檢測顯示面板100的子像素的暗點(diǎn)缺陷。具體而言，在點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)12將顯示面板100點(diǎn)亮后，通過相機(jī)14對顯示面板100進(jìn)行拍照取證，然后根據(jù)所拍攝的照片查看顯示面板100的子像素是否存在暗點(diǎn)的缺陷，并統(tǒng)計(jì)暗點(diǎn)缺陷的數(shù)量。通常是點(diǎn)亮單色畫面時(shí)統(tǒng)計(jì)暗點(diǎn)缺陷的數(shù)量，例如通過點(diǎn)亮rgb三個(gè)顏色或者rgbw四個(gè)顏色，分別統(tǒng)計(jì)暗點(diǎn)缺陷數(shù)量。其中，首先預(yù)設(shè)暗點(diǎn)閾值，若拍攝的照片中顯示的暗點(diǎn)數(shù)大于暗點(diǎn)閾值，則可認(rèn)定為顯示面板100不合格。

本實(shí)施例中，光譜儀13和相機(jī)14均設(shè)置了兩個(gè)，其在顯示面板100發(fā)出的光的光路上間隔分布，例如可以為從左到右分別設(shè)置光譜儀13、相機(jī)14、光譜儀13以及相機(jī)14。

本實(shí)施例中，光譜儀13和相機(jī)14可隔分布在真空腔體11的外側(cè)。具體而言，真空腔體11收容顯示面板100、點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)12和支撐臺(tái)15，并在外側(cè)面上集成了光譜儀13和相機(jī)14。

本實(shí)施例中，老化測試系統(tǒng)10還包括支撐臺(tái)15，用于支撐顯示面板100。為了加強(qiáng)支持作用，支撐臺(tái)15的下方設(shè)置有三個(gè)支撐腳152。支撐臺(tái)15上進(jìn)一步設(shè)置有對位系統(tǒng)151，對位系統(tǒng)151用于對顯示面板100的位置進(jìn)行調(diào)整，使得顯示面板100與引腳122、光譜儀13以及相機(jī)14相對應(yīng)，以方便引腳122與顯示面板100電連接以及光譜儀13和相機(jī)14對顯示面板100進(jìn)行檢測。

承前所述，本發(fā)明通過在真空腔體11的外側(cè)集成光譜儀13和相機(jī)14，在真空腔體11的腔內(nèi)設(shè)置老化設(shè)備和點(diǎn)燈機(jī)構(gòu)12，由此使得可直接在真空腔體11中完成點(diǎn)燈測試，和顯示面板100的顏色的獲取以及子像素的暗點(diǎn)缺陷的獲取，即可以同時(shí)完成顯示面板100的老化及檢測老化的效果的工作，由此能夠節(jié)約檢測的時(shí)長，提高檢測效率，并且簡化了顯示面板的量產(chǎn)線的設(shè)計(jì)，節(jié)省檢測設(shè)備，從而降低檢測成本。其中，本發(fā)明的顯示面板100可以為oled顯示或者lcd顯示。

本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示面板的老化測試方法，該老化測試方法適用于前文所述的老化測試系統(tǒng)。具體請參閱圖2。

如圖2所示，本發(fā)明實(shí)施例的老化測試方法包括以下步驟：

步驟s1：點(diǎn)亮顯示面板。

步驟s2：對顯示面板的色坐標(biāo)和亮度進(jìn)行檢測，同時(shí)對顯示面板的子像素的暗點(diǎn)缺陷進(jìn)行檢測。具體原理如前文所述，在此不再贅述。

本實(shí)施例中，以ntsc色域標(biāo)準(zhǔn)來說，若通過檢測到的色坐標(biāo)和亮度獲得的色域小于72％，則可認(rèn)定為顯示面板不合格。

并進(jìn)一步預(yù)設(shè)暗點(diǎn)閾值，若檢測到子像素的暗點(diǎn)數(shù)大于暗點(diǎn)閾值，則可認(rèn)定為顯示面板不合格。

其中，為了加快老化速度，本實(shí)施例還進(jìn)一步提供至少氮?dú)夂涂諝獾囊环N?？諝獍▔嚎s空氣和潔凈空氣的任一種，其中壓縮空氣和潔凈空氣如前文所述，在此不再贅述。

在其他實(shí)施例中，還可以預(yù)先將氣體加熱，然后利用該加熱的氣體對顯示面板進(jìn)行老化作業(yè)。

綜上所述，本發(fā)明可以同時(shí)完成顯示面板的老化及檢測老化的效果的工作，由此能夠節(jié)約檢測的時(shí)長，提高檢測效率，并且簡化了顯示面板的量產(chǎn)線的設(shè)計(jì)，節(jié)省檢測設(shè)備，從而降低檢測成本。

以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。