本發(fā)明屬于天線設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種天線饋源位置的檢測裝置、天線和饋源位置校正方法。

背景技術(shù)：

反射面接收天線是一種常見的衛(wèi)星接收天線，其原理是通過反射面將微弱的衛(wèi)星信號匯聚到饋源，在饋源內(nèi)產(chǎn)生感應(yīng)電信號從而實現(xiàn)數(shù)據(jù)的接收。為使衛(wèi)星接收天線達到最好的接收效果，需將天線的饋源設(shè)于天線反射面的焦點處。雖然在天線設(shè)計過程中，可通過數(shù)學(xué)方法精確計算出天線反射面的焦點位置，但在天線的實際制造過程中，存在誤差；在天線的運輸、安裝過程中，各部件容易產(chǎn)生形變。各個環(huán)節(jié)中的累加誤差，導(dǎo)致最后安裝好的天線的饋源實際位置和反射面的焦點理論位置產(chǎn)生較大偏差，嚴重降低了天線的接收效果，然而，目前對安裝好的衛(wèi)星接收天線的饋源最佳位置缺少科學(xué)的檢測裝置和方法。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種天線饋源位置的檢測裝置、天線和饋源位置校正方法，可以實現(xiàn)對安裝好的衛(wèi)星接收天線的拋物面反射面進行焦點檢測，進而得到天線饋源位置的最佳位置，以供用戶調(diào)節(jié)當前饋源位置，提高天線信號接收效果。

一方面，本發(fā)明提供了一種天線饋源位置的檢測裝置，該檢測裝置包括：支架、至少兩個反射鏡以及設(shè)于支架上的至少兩個平行投射光源，每個平行投射光源匹配一個反射鏡；

所有平行投射光源沿著平行于天線的拋物面反射面的軸線方向朝拋物面反射面投射，并在拋物面反射面上形成投射位置，反射鏡位于相匹配的平行投射光源在拋物面反射面上的投射位置；

所有平行投射光源投射的光線在反射鏡發(fā)生反射，并形成一個光線匯聚點，光線匯聚點為拋物面反射面的焦點，拋物面反射面的焦點為天線饋源位置的最佳位置。

優(yōu)選地，支架為尺寸可調(diào)節(jié)的伸縮結(jié)構(gòu)。

支架的尺寸可調(diào)節(jié)可使得該檢測裝置適用于安裝好的各類尺寸大小的天線。

優(yōu)選地，支架包括豎桿和橫桿，豎桿設(shè)于拋物面反射面的軸線上，橫桿連接于豎桿上遠離拋物面反射面的一端，平行投射光源固定在橫桿上，豎桿和橫桿是長度可調(diào)節(jié)的伸縮桿或者螺紋桿。

優(yōu)選地，平行投射光源為激光筆，激光筆固定于橫桿上，激光筆的筆身與豎桿平行。

基于激光的聚集度高，定位效果好，采用激光作為平行投射光源可以提高檢測的準確性，同時將激光筆的筆身與豎桿保持平行，可以進一步使激光與拋物面反射面的軸線平行。

優(yōu)選地，采用4個激光筆，支架包括兩個橫桿，4個激光筆分別設(shè)于兩個橫桿的兩端，4個激光筆圍繞著豎桿成中心對稱分布，兩兩激光筆以豎桿為中心成90度分布。

該檢測裝置中設(shè)置4個激光筆，促使能夠檢測到從4個不同的方向反射過來的激光的匯聚情況，提高了焦點檢測的準確度。

優(yōu)選地，豎桿底端設(shè)有吸盤，吸盤吸附于拋物面反射面的底部中央而將豎桿固定在拋物面反射面的軸線上。

優(yōu)選地，橫桿的端部設(shè)有拐角。

設(shè)置拐角可以防止檢測裝置對反射激光的干擾。

另一方面，本發(fā)明還提供了一種天線，該天線包括：饋源撐桿以及上述的檢測裝置；饋源撐桿一端位于天線饋源位置。

優(yōu)選地，饋源撐桿包括第一桿、第二桿以及位于第一桿和第二桿之間的螺桿，螺桿通過第一螺紋管狀接口與第一桿連接；螺桿通過第二螺紋管狀接口與第二桿連接。

另一方面，本發(fā)明還提供了一種天線饋源位置校正方法，該天線包括檢測裝置和饋源撐桿，檢測裝置包括支架、至少兩個反射鏡以及設(shè)于支架上的至少兩個激光筆，每個激光筆匹配一個反射鏡，支架包括豎桿和橫桿，豎桿和橫桿的長度可調(diào)節(jié)，校正方法包括如下步驟：

步驟1：將檢測裝置固定在天線的拋物面反射面上，使豎桿位于天線的拋物面反射面的軸線上；

步驟2：調(diào)節(jié)豎桿和橫桿的長度；

步驟3：在橫桿上安裝激光筆，使激光筆與豎桿保持平行，并打開所有激光筆，確保激光束與豎桿保持平行并朝拋物面反射面投射；

步驟4：將反射鏡貼在相匹配的激光筆的激光在拋物面反射面上形成的投射位置；

步驟5：檢測反射激光的光線匯聚點，光線匯聚點為拋物面反射面的焦點；

步驟6：調(diào)節(jié)饋源撐桿使饋源位置位于光線匯聚點。

上述校正方法能夠?qū)崿F(xiàn)對饋源撐桿的精度調(diào)節(jié)。

有益效果：

本發(fā)明提供了一種天線饋源位置的檢測裝置，通過設(shè)置至少兩個的平行投射光源，并使平行投射光源以平行于天線的拋物面反射面的軸向方向朝反射面投射的方式，進而得到了天線反射面的焦點，使得用戶能夠通過調(diào)節(jié)饋源撐桿而將天線饋源位置調(diào)節(jié)至該天線反射面的焦點上，提高天線信號的接收性能。

本發(fā)明還提供了一種天線饋源位置校正方法，通過上述檢測裝置可以直接檢測出天線的拋物面反射面的焦點位置，從而使得對饋源位置進行校正時，不需要拆卸天線即可檢測出饋源位置的最佳位置，即拋物面反射面的焦點位置，同時通過調(diào)節(jié)饋源撐桿即可實現(xiàn)將當前饋源位置調(diào)節(jié)至最佳的饋源位置，不需要對天線結(jié)構(gòu)進行大幅度的調(diào)節(jié)。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實施例提供的天線結(jié)構(gòu)的示意圖；

圖2是本發(fā)明實施例提供的檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明實施例提供的饋源撐桿的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明實施例提供的天線饋源位置校正方法的流程示意圖。

其中，附圖標記說明如下所示：

1檢測裝置、2饋源撐桿、3拋物面反射面、5光線匯聚點、11支架、12反射鏡、13激光筆、111豎桿、112橫桿、14吸盤、21第一桿、22第二桿、23螺桿、24第一螺紋管狀接口、25第二螺紋管狀接口。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明進行進一步地說明。

參見圖1，本發(fā)明實施例提供的一種天線，天線包括天線饋源位置的檢測裝置1、饋源撐桿2以及拋物面反射面3。其中，饋源撐桿2一端固定于天線饋源位置。

參見圖1和圖2，檢測裝置1包括支架11、至少兩個反射鏡12以及設(shè)于支架11上的至少兩個平行投射光源。

其中，每個平行投射光源匹配一個反射鏡12，所有平行投射光源沿著平行于拋物面反射面3的軸線方向朝拋物面反射面3投射，并在拋物面反射面3上形成投射位置，反射鏡12位于相匹配的平行投射光源在拋物面反射面3上的投射位置。

優(yōu)選反射鏡12的尺寸為1cm×1cm，使得平行投射光源的光線可以在反射鏡12上發(fā)生反射?；谔炀€的拋物面反射面3具有微波反射功能，但是不具有光反射功能，設(shè)置反射鏡12可以有效地實現(xiàn)平行投射光源的光線反射。

所有平行投射光源投射的光線在反射鏡12發(fā)生反射，并形成一個光線匯聚點5，光線匯聚點5為拋物面反射面3的焦點，拋物面反射面3的焦點為天線饋源位置的最佳位置。

獲取到該最佳位置后，用戶可以調(diào)節(jié)饋源撐桿2而將天線饋源位置調(diào)節(jié)至該拋物面反射面3的焦點處，以此來提高天線的信號接收性能。

基于激光具有聚集度高，定位效果好的特點，優(yōu)選平行投射光源為激光源，進而可以提高檢測結(jié)果的準確度，且優(yōu)選激光源為激光筆13。

請繼續(xù)參見圖1和圖2，本實施例中優(yōu)選支架11是尺寸可調(diào)節(jié)的伸縮結(jié)構(gòu)，具體的，支架11包括豎桿111和橫桿112，豎桿111設(shè)于拋物面反射面3的軸線上，橫桿112連接于豎桿111上遠離拋物面反射面3的一端，且橫桿112與豎桿111正交，平行投射光源固定在橫桿112上，其中，豎桿111和橫桿112是長度可調(diào)節(jié)的伸縮桿或者螺紋桿。當平行投射光源為激光筆13時，激光筆13固定在橫桿112的端部，激光筆13的筆身與豎桿111平行以確保激光筆13的激光束與豎桿111平行，進而保證激光束與拋物面反射面3的軸線平行。

其他可行的實施例中，支架可以是其他類型的伸縮結(jié)構(gòu)，例如支架包括長度可調(diào)節(jié)的豎桿和由若干短桿交錯形成的可收縮卷簾。

參見圖2，優(yōu)選支架11包括兩個橫桿112，兩個橫桿112相互交錯固定在豎桿111上，平行投射光源為激光筆13，并采用4個激光筆13，4個激光筆13分別設(shè)于兩個橫桿112的兩端，4個激光筆13圍繞著豎桿111成中心對稱分布，兩兩激光筆13以豎桿111為中心成90度分布。

應(yīng)當理解，設(shè)置4個激光筆13，可以檢測到4個不同的方向反射過來的激光的匯聚情況，進而提高了焦點檢測的準確度。其他可行的實施例中，還可以設(shè)置4個以上的激光筆13，本發(fā)明對此不進行具體的限定。

參見圖2，優(yōu)選橫桿112的端部設(shè)有拐角，設(shè)置拐角從而使經(jīng)過反射鏡12反射后的反射光不經(jīng)過橫桿112，進而防止發(fā)生橫桿112對反射光的干擾情況而影響檢測結(jié)果的準確度。

例如當支架11的結(jié)構(gòu)如2中所示時，優(yōu)選每個拐角相較于橫桿的偏轉(zhuǎn)方向相同，拐角的大小相同。

參見圖2，優(yōu)選檢測裝置1還包括設(shè)置于豎桿111底端的吸盤14，吸盤14吸附于拋物面反射面3的底部中央而將豎桿111固定在拋物面反射面3的軸線上。

其他可行的實施例中，可以采用可拆卸的其他固定方式將豎桿111固定在拋物面反射面3軸線上，例如螺紋連接，卡扣連接等。

請看圖3，是發(fā)明實施例提供的一種饋源撐桿的結(jié)構(gòu)。如圖所示，饋源撐桿2包括第一桿21、第二桿22以及位于第一桿21和第二桿22之間的螺桿23，螺桿23通過第一螺紋管狀接口24與第一桿21連接；螺桿23通過第二螺紋管狀接口25與第二桿22連接。

具體的，通過調(diào)節(jié)螺桿23來實現(xiàn)調(diào)節(jié)饋源撐桿2的長度。需要說明的是，饋源撐桿2的一端用于支撐饋源，另一端固定于天線的拋物面反射面3上，優(yōu)選饋源撐桿2與拋物面反射面3之間的角度可調(diào)節(jié)。

在其他可行的實施例中，饋源撐桿2采用彈性變形材料制成，用戶可以直接通過掰動饋源撐桿2實現(xiàn)將天線饋源的饋源位置校正至拋物面反射面3的焦點。

需要說明的是，本實施例中優(yōu)選天線包括至少兩個饋源撐桿，兩個饋源撐桿一端相交并位于天線饋源，同時還優(yōu)選檢測裝置位于饋源撐桿下方，即位于饋源撐桿和拋物面反射面之間。

還需要說明的是，本發(fā)明提供的檢測裝置可以作為獨立設(shè)備，用于檢測各類尺寸天線的饋源的最佳位置，還可以作為天線的零件用于檢測天線的饋源的最佳位置。

參見圖4，基于上述天線以及天線中的檢測裝置，本發(fā)明提供一種天線饋源位置校正方法，校正方法如下所示：

步驟1：將檢測裝置固定在天線的拋物面反射面上，使豎桿位于天線的拋物面反射面的軸線上。

具體的，若采用吸盤結(jié)構(gòu)來固定豎桿，則通過在吸盤吸附拋物面反射面的底部中央而將豎桿固定在拋物面反射面的軸線上。

步驟2：調(diào)節(jié)豎桿和橫桿的長度。

調(diào)節(jié)豎桿和橫桿的長度可以提供更多的操作空間供用戶安裝或拆卸檢測裝置。

步驟3：在橫桿上安裝激光筆，使激光筆與豎桿保持平行，并打開所有激光筆，確保激光束與豎桿保持平行并朝拋物面反射面投射。

具體的，優(yōu)選在橫桿的端部安裝激光筆，例如通過夾子來固定。

步驟4：將反射鏡貼在相匹配的激光筆的激光在拋物面反射面上形成的投射位置。

步驟5：檢測反射激光的光線匯聚點，光線匯聚點為拋物面反射面的焦點；

步驟6：調(diào)節(jié)饋源撐桿使饋源位置位于光線匯聚點。

具體的，若饋源撐桿是如圖3所示的螺桿連接結(jié)構(gòu)，則調(diào)節(jié)螺桿來實現(xiàn)調(diào)節(jié)饋源撐桿的長度，進而將饋源位置調(diào)節(jié)至光線匯聚點；若饋源撐桿采用彈性可變形材料，則可掰動饋源撐桿使其發(fā)生變形，進而使饋源位置調(diào)節(jié)至光線匯聚點。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，對本發(fā)明而言僅僅是說明性的，而非限制性的。本專業(yè)技術(shù)人員理解，在本發(fā)明權(quán)利要求所限定的范圍內(nèi)可對其進行許多修改，但都將落入本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。