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      一種利用量子隧穿能力提高光增益的半導(dǎo)體激光器件及其制備方法與流程

      文檔序號(hào):40384932發(fā)布日期:2024-12-20 12:07閱讀:3來(lái)源:國(guó)知局
      一種利用量子隧穿能力提高光增益的半導(dǎo)體激光器件及其制備方法與流程

      本發(fā)明涉及一種利用量子隧穿能力提高光增益的半導(dǎo)體激光器件及其制備方法,屬于光電子。


      背景技術(shù):

      1、algainp紅光半導(dǎo)體激光器具有體積小、重量輕,功耗小,可直接調(diào)制,具有很高的效率及可靠性的特點(diǎn),在塑料光纖傳輸中的近距離全光網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用和在醫(yī)療美容、激光顯示及工業(yè)測(cè)量等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。然而algainp激光器材料結(jié)構(gòu)中的最大導(dǎo)帶能隙差只有270mev,電子限制能力較差,電子溢出較為嚴(yán)重,同時(shí)algainp熱阻率較大,散熱能力差,隨輸出功率及工作環(huán)境增加,有源區(qū)溫度升高,進(jìn)一步惡化了載流子限制能力,導(dǎo)致閾值電流增加、斜率效率降低,產(chǎn)生更多的廢熱,限制了輸出功率的進(jìn)一步提升。

      2、文獻(xiàn)ieee?journal?of?selected?topics?in?quantum?electronics,vol?17(6),2011,pg?1723–1726指出降低閾值電流密度,有助于抑制載流子溢出,其中采用alinp做為限制層具有最大光限制因子,從而減小閾值電流密度。algainp材料中隨al組分增加導(dǎo)帶帶隙逐漸增大,一般認(rèn)為當(dāng)al組分達(dá)到(al70ga30)50in50p后,材料由直接帶隙轉(zhuǎn)變?yōu)殚g接帶隙,導(dǎo)帶降低、載流子限制能力變差。

      3、文獻(xiàn)japanese?journal?of?applied?physics,vol?45,2006,pg?7600–7604報(bào)道了采用5對(duì)張應(yīng)變(al70ga30)0.5in0.5p及壓應(yīng)變gainp交替生長(zhǎng),來(lái)抑制電子溢出,降低閾值電流密度,提高斜率效率。文獻(xiàn)laser?diode?technology?and?applications,vol?1850,1993,pg?263–269報(bào)道了采用晶格匹配(al70ga30)0.5in0.5p及gainp交替生長(zhǎng)超晶格結(jié)構(gòu),以提高導(dǎo)帶帶隙,抑制電子溢出,從而提高斜率效率。利用超晶格多量子阱壘結(jié)構(gòu)組成電子反射結(jié)構(gòu)(mqb),雖然可以提高導(dǎo)帶帶隙,抑制載流子限制能力,但采用algainp作為限制層與量子阱折射率差降低,光限制能力變差,導(dǎo)致閾值電流變大、光增益減小。

      4、文獻(xiàn)中國(guó)激光,vol?42(7),2020,pg?0701007-1-13綜述了量子級(jí)聯(lián)激光器的原理及最新進(jìn)展,與常規(guī)半導(dǎo)體激光器不同,量子級(jí)聯(lián)激光器利用量子化能帶之間的電子躍遷,利用偏壓下電子通過(guò)一系列量子阱的光子輔助量子隧穿實(shí)現(xiàn)光放大,即在偏壓下電子從一個(gè)量子阱的基態(tài)躍遷至相鄰量子阱的激發(fā)態(tài)并伴隨光子發(fā)射。但qcl需要多大數(shù)千層單層材料的生長(zhǎng),對(duì)厚度、組分及生長(zhǎng)穩(wěn)定要求較高,缺少該原理在常規(guī)量子阱激光器中的應(yīng)用。

      5、中國(guó)專(zhuān)利文獻(xiàn)cn115528542a公開(kāi)了一種帶有應(yīng)變超晶格結(jié)構(gòu)的algainp紅光半導(dǎo)體激光器件及其制備方法,通過(guò)在組分漸變波導(dǎo)層結(jié)構(gòu)與量子阱之間插入應(yīng)變超晶格,利用應(yīng)變超晶格抑制缺陷及非輻射復(fù)合產(chǎn)生的原理,提高材料生長(zhǎng)質(zhì)量,改善老化特性,但該結(jié)構(gòu)位于n波導(dǎo)層與量子阱之間,對(duì)抑制量子阱向p限制層溢出無(wú)作用,同時(shí)各對(duì)材料組分固定,量子隧穿效果較差。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提供了一種利用量子隧穿能力提高光增益的半導(dǎo)體激光器件及其制備方法;

      2、本發(fā)明中,利用alinp作為限制層,實(shí)現(xiàn)最高折射率差值設(shè)計(jì),提高光限制能力,降低閾值電流;利用多量子阱壘結(jié)構(gòu)(mqb)作為壘層,提高多量子阱之間壘層的導(dǎo)帶帶隙,增強(qiáng)電子抑制能力;多量子阱壘結(jié)構(gòu)(mqb)采用薄層應(yīng)變技術(shù),實(shí)現(xiàn)能帶量子化,利用偏壓下能帶傾斜量子隧穿,降低閾值電流,提高光增益。多量子阱壘結(jié)構(gòu)(mqb)采用組分遞變技術(shù),提高偏壓下的能帶傾斜,加速量子隧穿,提高光增益。

      3、本發(fā)明的技術(shù)方案如下:

      4、第一個(gè)方面,本發(fā)明提供了一種利用量子隧穿能力提高光增益的半導(dǎo)體激光器件。

      5、一種利用量子隧穿能力提高光增益的半導(dǎo)體激光器件,由下至上依次包括襯底、緩沖層、下過(guò)渡層、下限制層、下波導(dǎo)層、gax2in1-x2p第一量子阱、(ala1ga1-a1)b1in1-b1p/(ala2ga1-a2)b2in1-b2p應(yīng)變多量子阱壘超晶格、gax3in1-x3p第二量子阱、上波導(dǎo)層、第一上限制層、腐蝕終止層、第二上限制層、第一上過(guò)渡層、第二上過(guò)渡層和帽層;

      6、其中,0.4≤x2≤0.65;0.4≤x3≤0.65;0.6≤a1≤1,0.38≤b1≤0.48;0≤a2≤0.4,0.5≤b2≤0.65。

      7、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述gax2in1-x2p第一量子阱,非故意摻雜,厚度為4-15nm;進(jìn)一步優(yōu)選的,x2=0.43,所述gax2in1-x2p第一量子阱的度為5nm。

      8、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述(ala1ga1-a1)b1in1-b1p/(ala2ga1-a2)b2in1-b2p應(yīng)變多量子阱壘超晶格,非故意摻雜,厚度為1-5nm;同時(shí)第一對(duì)與第n對(duì)之間,a1、a2逐級(jí)降低,保持a1與a2差值。

      9、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述(ala1ga1-a1)b1in1-b1p/(ala2ga1-a2)b2in1-b2p應(yīng)變多量子阱壘超晶格中,第一對(duì)a1=0.95、b1=0.42,厚度為1.12nm,a2=0.25、b2=0.55,厚度為1.46nm;第二對(duì)a1=0.92、b1=0.42,厚度為1.17nm,a2=0.22、b2=0.55,厚度為1.51nm;第三對(duì)a1=0.9、b1=0.42,厚度為1.23nm,a2=0.2、b2=0.55,厚度為1.58nm;第四對(duì)a1=0.88、b1=0.42,厚度為1.3nm,a2=0.18、b2=0.55,厚度為1.65nm;第五對(duì)a1=0.85、b1=0.42,厚度為1.35nm,a2=0.15、b2=0.55,厚度為1.73nm;第六對(duì)a1=0.82、b1=0.42,厚度為1.43nm,a2=0.18、b2=0.55,厚度為1.81nm;交替生長(zhǎng)共6對(duì)。

      10、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述gax3in1-x3p第二量子阱,非故意摻雜,0.4≤x3≤0.65,厚度為4-15nm;

      11、進(jìn)一步優(yōu)選的,x3=0.43,量子阱厚度為5nm,實(shí)現(xiàn)激射波長(zhǎng)645nm。

      12、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述下限制層為n型al0.5in0.5p下限制層,所述第一上限制層為p型al0.5in0.5p第一上限制層,所述第二上限制層為p型al0.5in0.5p第二上限制層。

      13、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述n型al0.5in0.5p下限制層的摻雜源為si2h6,摻雜濃度為3e17-1.5e18個(gè)原子/cm3,厚度為0.5-3μm;

      14、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述n型al0.5in0.5p下限制層的厚度為0.9μm,摻雜濃度為7e17個(gè)原子/cm3。

      15、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述p型al0.5in0.5p第一上限制層的摻雜源為cp2mg或dezn,摻雜濃度為3e17-3e18個(gè)原子/cm3,厚度為0.1-0.5μm;

      16、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述p型al0.5in0.5p第一上限制層的厚度為0.2μm,摻雜濃度為5e17個(gè)原子/cm3。

      17、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述p型al0.5in0.5p第二上限制層的摻雜源為cp2mg或dezn,摻雜濃度為3e17-3e18個(gè)原子/cm3,厚度為0.5-2μm;

      18、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述p型al0.5in0.5p第二上限制層的厚度為0.8μm,摻雜濃度為8e17個(gè)原子/cm3。

      19、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述襯底為gaas襯底,所述緩沖層為gaas緩沖層,所述下過(guò)渡層為ga0.5in0.5p下過(guò)渡層,所述下波導(dǎo)層為(alx1ga1-x1)y1in1-y1p下波導(dǎo)層,所述上波導(dǎo)層為(alx4ga1-x4)y2in1-y2p上波導(dǎo)層,所述腐蝕終止層為p型gax5in1-x5p腐蝕終止層,所述第一上過(guò)渡層為(al0.5ga0.5)0.5in0.5p第一上過(guò)渡層,所述第二上過(guò)渡層為ga0.5in0.5p第二上過(guò)渡層,所述帽層為gaas帽層;

      20、其中,0.4≤x1≤1,0.4≤y1≤0.6;0.4≤x4≤1,0.4≤y2≤0.6;0.5≤x5≤0.6。

      21、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述gaas緩沖層的摻雜源為si2h6,摻雜濃度為2e18-5e18個(gè)原子/cm3,厚度為0.1-0.3μm;

      22、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述gaas緩沖層的厚度為0.2μm,摻雜濃度為2e18個(gè)原子/cm3。

      23、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述ga0.5in0.5p下過(guò)渡層的摻雜源為si2h6,摻雜濃度為5e17-2e18個(gè)原子/cm3,厚度為0.1-0.3μm;

      24、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述ga0.5in0.5p下過(guò)渡層的厚度為0.1μm,摻雜濃度為1e18個(gè)原子/cm3。

      25、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述(alx1ga1-x1)y1in1-y1p下波導(dǎo)層,非故意摻雜,0.4≤x1≤1,0.4≤y1≤0.6,x1由小于1漸變至大于等于0.4,厚度為60-200nm;

      26、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述(alx1ga1-x1)y1in1-y1p下波導(dǎo)層中x1由0.95漸變至0.5,y1=0.5,厚度為100nm。

      27、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述(alx4ga1-x4)y2in1-y2p上波導(dǎo)層,非故意摻雜,0.4≤x4≤1,0.4≤y2≤0.6,x4由大于等于0.4漸變至小于等于1,厚度為60-200nm;

      28、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述(alx4ga1-x4)y2in1-y2p上波導(dǎo)層中x4由0.5漸變至0.95,y2=0.5,厚度為100nm。

      29、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述p型gax5in1-x5p腐蝕終止層的摻雜源為cp2mg或dezn,摻雜濃度為1e18-3e18個(gè)原子/cm3,0.5≤x5≤0.6,厚度為5-30nm;

      30、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述p型gax5in1-x5p腐蝕終止層的厚度為10nm,x5=0.53,摻雜濃度,2e18個(gè)原子/cm3。

      31、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述(al0.5ga0.5)0.5in0.5p第一上過(guò)渡層的摻雜源為cp2mg或dezn,摻雜濃度為1e18-3e18個(gè)原子/cm3,厚度為10-50nm;

      32、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述(al0.5ga0.5)0.5in0.5p第一上過(guò)渡層的厚度為20nm,摻雜濃度為1.2e18個(gè)原子/cm3。

      33、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述ga0.5in0.5p第二上過(guò)渡層的摻雜源為cp2mg或dezn,摻雜濃度為1e18-3e18個(gè)原子/cm3,厚度為10-50nm;

      34、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述ga0.5in0.5p第二上過(guò)渡層的厚度為20nm,摻雜濃度為1.5e18個(gè)原子/cm3。

      35、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,所述gaas帽層的摻雜源為cbr4或dezn,摻雜濃度為3e19-1e20個(gè)原子/cm3,厚度為100-500nm;

      36、進(jìn)一步優(yōu)選的,所述gaas帽層的厚度為200nm,摻雜濃度為5e19個(gè)原子/cm3。

      37、本發(fā)明第二方面提供上述利用量子隧穿能力提高光增益的半導(dǎo)體激光器件的制備方法。

      38、上述利用量子隧穿能力提高光增益的半導(dǎo)體激光器件的制備方法,包括:

      39、在所述襯底上依次生長(zhǎng)所述緩沖層、下過(guò)渡層、下限制層、下波導(dǎo)層;

      40、在所述下波導(dǎo)層上生長(zhǎng)所述gax2in1-x2p第一量子阱;包括:溫度保持在650±10℃,通入tmin、tmga和ph3,在所述下波導(dǎo)層上生長(zhǎng)所述gax2in1-x2p第一量子阱;

      41、在所述gax2in1-x2p第一量子阱上生長(zhǎng)所述(ala1ga1-a1)b1in1-b1p/(ala2ga1-a2)b2in1-b2p應(yīng)變多量子阱壘超晶格;包括:溫度保持在650±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述ga1-x2inx2p第一量子阱上生長(zhǎng)所述(ala1ga1-a1)b1in1-b1p/(ala2ga1-a2)b2in1-b2p應(yīng)變多量子阱壘超晶格;

      42、在所述(ala1ga1-a1)b1in1-b1p/(ala2ga1-a2)b2in1-b2p應(yīng)變多量子阱壘超晶格上生長(zhǎng)所述gax3in1-x3p第二量子阱;包括:溫度保持在650±10℃,通入tmin、tmga和ph3,在所述(ala1ga1-a1)b1in1-b1p/(ala2ga1-a2)b2in1-b2p應(yīng)變多量子阱壘超晶格上生長(zhǎng)所述gax3in1-x3p第二量子阱;

      43、在所述gax3in1-x3p第二量子阱上依次生長(zhǎng)所述上波導(dǎo)層、第一上限制層、腐蝕終止層、第二上限制層、第一上過(guò)渡層、第二上過(guò)渡層和帽層。

      44、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,在gaas襯底上依次生長(zhǎng)gaas緩沖層、ga0.5in0.5p下過(guò)渡層、n型al0.5in0.5p下限制層、(alx1ga1-x1)y1in1-y1p下波導(dǎo)層;包括:

      45、s1,將gaas襯底放在mocvd設(shè)備生長(zhǎng)室內(nèi),h2環(huán)境升溫到720±10℃烘烤,并通入ash3,對(duì)所述gaas襯底進(jìn)行表面熱處理;

      46、s2,將溫度緩降到680±10℃,降溫速度不高于30℃/min,繼續(xù)通入tmga和ash3,在所述gaas襯底上生長(zhǎng)gaas緩沖層;

      47、s3,溫度保持在680±10℃,在所述gaas緩沖層上生長(zhǎng)停頓,通入ph3,通過(guò)中止停斷v族族源及iii族源實(shí)現(xiàn)生長(zhǎng)停頓,停斷3-30s,將mocvd設(shè)備生長(zhǎng)室內(nèi)as原子耗盡;

      48、s4,溫度保持在680±10℃,通入tmga、tmin和ph3,在所述gaas緩沖層上生長(zhǎng)ga0.5in0.5p下過(guò)渡層;

      49、s5,溫度緩變至700±10℃,升溫速度不高于60℃/min,通入tmal、tmin和ph3,在所述ga0.5in0.5p下過(guò)渡層上生長(zhǎng)n型al0.5in0.5p下限制層。

      50、s6,溫度緩變到650±10℃,降溫速度不高于60℃/min,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在n型al0.5in0.5p下限制層上生長(zhǎng)(alx1ga1-x1)y1in1-y1p下波導(dǎo)層。

      51、根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的,在所述gax3in1-x3p第二量子阱上依次生長(zhǎng)(alx4ga1-x4)y2in1-y2p上波導(dǎo)層、p型al0.5in0.5p第一上限制層、p型gax5in1-x5p腐蝕終止層、p型al0.5in0.5p第二上限制層、

      52、(al0.5ga0.5)0.5in0.5p第一上過(guò)渡層、ga0.5in0.5p第二上過(guò)渡層和gaas帽層;包括:

      53、s7,溫度緩變至700±10℃,升溫速度不高于60℃/min,繼續(xù)通入tmal、tmin、tmga和ph3,在gax3in1-x3p第二量子阱上生長(zhǎng)(alx4ga1-x4)y2in1-y2p上波導(dǎo)層。

      54、s8,溫度保持在700±10℃,繼續(xù)通入tmal、tmin和ph3,在所述(alx4ga1-x4)y2in1-y2p上波導(dǎo)層上生長(zhǎng)p型al0.5in0.5p第一上限制層;

      55、s9,溫度保持在700±10℃,繼續(xù)通入tmga、tmin和ph3,在所述p型al0.5in0.5p第一上限制層上生長(zhǎng)p型gax5in1-x5p腐蝕終止層;

      56、s10,溫度保持在700±10℃,繼續(xù)通入tmal、tmin和ph3,在所述p型gax5in1-x5p腐蝕終止層上生長(zhǎng)p型al0.5in0.5p第二上限制層;

      57、s11,溫度漸變至680±10℃,降溫速度不高于60℃/min,通入tmal、tmin、tmga和ash3,在所述p型al0.5in0.5p第二上限制層生長(zhǎng)(al0.5ga0.5)0.5in0.5p第一上過(guò)渡層;

      58、s12,溫度保持在680±10℃,降溫速度不高于60℃/min,通入tmin、tmga和ash3,在所述(al0.5ga0.5)0.5in0.5p第一上過(guò)渡層上生長(zhǎng)ga0.5in0.5p第二上過(guò)渡層;

      59、s13,將溫度降低到540±10℃,降溫速度不超過(guò)40℃/min,繼續(xù)通入tmga和ash3,在所述ga0.5in0.5p第二上過(guò)渡層上生長(zhǎng)gaas帽層。

      60、本發(fā)明的有益效果為:

      61、1、利用多量子阱壘結(jié)構(gòu)(mqb)作為壘層,提高多量子阱之間壘層的導(dǎo)帶帶隙,增強(qiáng)電子抑制能力,提高了高溫可靠性;

      62、2、多量子阱壘結(jié)構(gòu)(mqb)采用薄層應(yīng)變技術(shù),實(shí)現(xiàn)能帶量子化,利用偏壓下能帶傾斜量子隧穿,降低閾值電流,提高光增益。

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