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      天線裝置及天線裝置的設計方法

      文檔序號:8432735閱讀:586來源:國知局
      天線裝置及天線裝置的設計方法
      【技術領域】
      [0001] 本發(fā)明涉及天線裝置和天線裝置的設計方法。特別涉及HF頻帶的RFID標簽、讀 寫器所使用的天線裝置和天線裝置的設計方法。
      【背景技術】
      [0002]RFID(RadioRrequen巧Identification;射頻識別)系統(tǒng)作為費用系統(tǒng)、物品管 理系統(tǒng)已得到普及。在RFID系統(tǒng)中,W非接觸方式來使讀寫器和RFID標簽進行無線通信, 在該些器件之間收發(fā)高頻信號。讀寫器和RFID標簽分別包括;用于處理高頻信號的RFID 用1C 及用于收發(fā)高頻信號的天線。
      [0003] 若例如是使用13. 56MHz頻帶的HF頻帶RFID系統(tǒng),則使用線圈天線來作為天線。 并且,讀寫器側(cè)的線圈天線與RFID標簽側(cè)的線圈天線經(jīng)由感應磁場進行禪合。
      [0004] 例如,作為線圈天線,一般已知有如下結(jié)構(gòu)。(日本專利特開2004 - 206479號公 報等)
      [0005] 例如,線圈天線1由天線基板2、W及在天線基板2的第一表面卷繞了一圈或多圈 的第一線圈3構(gòu)成。另外,在天線基板2的第二表面,也構(gòu)成有卷繞了一圈或多圈的第二線 圈4。第一線圈3和第二線圈4在第一表面和第二表面的各個表面沿同一方向卷繞,并且第 一表面的第一線圈3和第二表面的第二線圈4例如在天線基板中設有通孔等,彼此導通且 串聯(lián)連接。
      [0006] 形成在基板上的第一線圈3和第二線圈4例如大多通過蝕刻工藝來構(gòu)成。然而, 此時的蝕刻工藝中所使用的蝕刻液的濃度或溫度、進行蝕刻的時間的管理較為困難,構(gòu)成 線圈的電極寬度(W)大多不恒定。此時,如圖11所示,會在第一線圈3與第二線圈4之間 產(chǎn)生的寄生電容(Co)中產(chǎn)生區(qū)別(偏差),會在電氣特性上產(chǎn)生偏差。
      [0007] 在HF頻帶RFID標簽的情況下,將上述線圈天線1和收發(fā)電路5進行連接,并使其 W預定的頻率進行諧振來使用。在收發(fā)電路5中,形成有1C和匹配電路。
      [000引在下述那樣的布線的情況下,1C和匹配電路的內(nèi)部電容(C)、W及線圈天線所具 有的電感(Lo)和寄生電容(Co)會在頻率f二1/ (2凡^化o+Cl)Lo)下進行諧振,因此 會由于寄生電容(Co)的偏差而導致諧振頻率f發(fā)生變化。一般而言,大多情況下會將諧振 頻率f設定成通信中所使用的信號的頻率化化F頻帶RFID的情況下為13. 56MHz),隨著諧 振頻率遠離化,會導致通信性能的劣化。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0009] 本發(fā)明的目的在于,提供一種能夠盡量減小因寄生電容(Co)的偏差而產(chǎn)生的通 信性能劣化的天線裝置及天線裝置的設計方法。
      [0010] 本發(fā)明的第一方面所涉及的天線裝置中,包括;基板;第一線圈,該第一線圈在所 述基板的第一表面卷繞一圈或多圈;W及第二線圈,該第二線圈在所述基板的第二表面卷 繞一圈或多圈,所述第一線圈和所述第二線圈的卷繞方向為相同方向,所述第一線圈和所 述第二線圈導通且串聯(lián)連接,將所述第一線圈和所述第二線圈的線圈寬度設計成使得所述 第一線圈和所述第二線圈的頻率不發(fā)生變化。
      [0011] 本發(fā)明的第二方面所涉及的天線裝置中,包括;基板;第一線圈,該第一線圈在所 述基板的第一表面卷繞一圈或多圈;W及第二線圈,該第二線圈在所述基板的第二表面卷 繞一圈或多圈,所述第一線圈和所述第二線圈的卷繞方向為相同方向,所述第一線圈和所 述第二線圈導通且串聯(lián)連接,使所述第一線圈和所述第二線圈的卷繞圈數(shù)彼此不同,W使 得所述第一線圈和所述第二線圈的頻率不發(fā)生變化。
      [0012] 本發(fā)明的第H方面所涉及的天線裝置中,包括;基板;第一線圈,該第一線圈在所 述基板的第一表面卷繞一圈或多圈;W及第二線圈,該第二線圈在所述基板的第二表面卷 繞一圈或多圈,所述第一線圈和所述第二線圈的卷繞方向為相同方向,所述第一線圈和所 述第二線圈導通且串聯(lián)連接,所述天線裝置采用如下結(jié)構(gòu):將線圈天線的電感設為(L),電 容設為(C),將所述第一線圈及所述第二線圈的電感(L)的偏差和電容(C)的偏差分別設為 電感偏差(AL)和電容偏差(AC),將所述第一線圈及所述第二線圈的電極寬度W的偏差設 為AW,此時,滿足下式所示的條件
      [0013](L+AL/AW) ?(C+AC/AW) =L?C。
      [0014] 本發(fā)明的第四方面所涉及的天線裝置在第H方面所涉及的天線裝置中,使所述第 一線圈和所述第二線圈的電極寬度W彼此不同。
      [0015] 本發(fā)明的第五方面所涉及的天線裝置在第H方面所涉及的天線裝置中,使所述第 一線圈和所述第二線圈的卷繞圈數(shù)彼此不同。
      [0016] 本發(fā)明的第六方面所涉及的天線裝置在第H方面所涉及的天線裝置中,在所述基 板的中央部分設置有貫通孔。
      [0017] 本發(fā)明的第走方面所涉及的天線裝置的設計方法中,所述天線裝置包括;基板; 第一線圈,該第一線圈在所述基板的第一表面卷繞一圈或多圈;W及第二線圈,該第二線圈 在所述基板的第二表面卷繞一圈或多圈,所述第一線圈和所述第二線圈的卷繞方向為相同 方向,所述第一線圈和所述第二線圈導通且串聯(lián)連接,所述天線裝置的設計方法采用如下 結(jié)構(gòu):將所述線圈天線的電感設為(L),電容設為(0,將所述第一線圈及所述第二線圈的 電感(L)的偏差和電容(C)的偏差分別設為電感偏差(AL)和電容偏差(AC),將所述第一 線圈及所述第二線圈的電極寬度W的偏差設為AW,此時,滿足下式所示的條件
      [0018](L+AL/AW) ?(C+AC/AW) =L?C。
      [0019] 通過采用上述結(jié)構(gòu),從而即使例如第一線圈和第二線圈的電極寬度中產(chǎn)生了偏差 等,也可通過預見因該偏差而可能會產(chǎn)生的天線裝置的電感及電容的偏差,并預先將天線 的電極寬度或卷繞圈數(shù)設計成使得滿足上述數(shù)學式的關系,從而作為天線整體在電氣特性 上充分地抑制偏差。
      【附圖說明】
      [0020] 圖1是本發(fā)明的天線裝置10的示意圖。
      [0021] 圖2是本發(fā)明的線圈天線1的剖視圖。
      [0022] 圖3是本發(fā)明的線圈天線1的俯視圖。
      [0023] 圖4是樣品1的線圈天線的示意圖。
      [0024]圖5是本發(fā)明中使第一線圈的電極圖案寬度、和第二線圈的電極圖案寬度彼此不 同時的剖視圖。
      [0025] 圖6是本發(fā)明中使第一線圈的卷繞圈數(shù)、和第二線圈的卷繞圈數(shù)彼此不同時的剖 視圖。
      [0026] 圖7是樣品3的線圈天線的示意圖。
      [0027] 圖8是樣品4的線圈天線的示意圖。
      [0028] 圖9是表示樣品1的天線裝置的阻抗與電極寬度的關系的圖。
      [0029] 圖10是表示樣品2的天線裝置的阻抗與電極寬度的關系的圖。
      [0030] 圖11是示出現(xiàn)有例中的在第一線圈3與第二線圈4之間產(chǎn)生的寄生電容(Co)中 產(chǎn)生區(qū)別的圖。
      【具體實施方式】
      [0031] 圖1是本發(fā)明的天線裝置10的示意圖。天線裝置10具有線圈天線1、W及與線圈 天線1電連接的收發(fā)電路5。
      [0032] 圖2是本發(fā)明的線圈天線1的剖視圖,圖3是本發(fā)明的線圈天線1的俯視圖。
      [0033] 本發(fā)明的線圈天線1具有天線基板2、形成在天線基板2的第一表面上的第一線圈 3、W及形成在天線基板2的第二表面上的第二線圈4。
      [0034] 該里,天線基板2由PET基板構(gòu)成,其平面形狀為矩形。天線基板2并不限于此, 例如也可W使用柔性基板等。
      [0035] 另外,第一線圈3和第二線圈4通過使由銅鉛、鉛鉛那樣較薄的金屬材料構(gòu)成的電 極圖案呈環(huán)形地卷繞一圈或多圈而形成。第一線圈3與第二線圈4的卷繞方向相同,且第 一線圈3與第二線圈4經(jīng)由設置在天線基板2中的通孔(未圖示)而導通,且串聯(lián)連接。
      [0036] 已知考慮該第一線圈3及第二線圈4的電感、或第一線圈3與第二線圈4的線間電 容等電容來設計電極圖案的線寬、線間距,W使得在通信中所使用的信號的頻率附近諧振。
      [0037] 所述第一線圈3及第二線圈4與收發(fā)電路5電連接。此外,收發(fā)電路5中例如設 有RFID用1C芯片和匹配電路。
      [0038] 一般而言,對于在天線基板2的第一表面和第二表面分別卷繞有第一線圈3和第 二線圈4的線圈天線1,特別是在天線基板2的中央部具有貫通孔且在貫通孔(圖2中未示 出。參考圖5、圖6)附近卷繞有所述第一線圈3和第二線圈4的情況下,寄生電容(Co)的 絕對值較大。該寄生電容(Co)與第一線圈3和第二線圈4的電極寬度(W)基本上呈比例 增加。目P,若電極寬度變大,則寄生電容也增加。
      [0039] 另一方面,第一線圈3和第二線圈4的電感(Lo)值與電極寬度(W)的對數(shù)(logW) 呈比例減少。目P,若電極寬度變大,則電感減少。
      [0040] 在電極寬度(W)發(fā)生變化的情況下,發(fā)現(xiàn)了:通過使寄生電容(Co)的增加量與電 感(Lo)的減少量相互抵消,從而能夠基本上消除作為天線裝置10的頻率變動。
      [0041] 使用數(shù)學式,更具體地進行說明。
      [0042] 在天線基板2上呈平面狀卷繞第一線圈3和第二線圈4的情況下,在形成Lo(nH) 的電感的同時,還起到作為具有寄生電容Co(P巧的電容的作用。
      [0043] 在將第一線圈3和第二線圈4的電極寬度W的偏差設為AW的情況下,將作為天 線裝置10的電感的偏差、電容的偏差分別設為AL、AC時,
      [0044]①電感(L)相對于電極寬度(W)的斜率成為(AL/AW),
      [004引②電容似相對于電極寬度(W)的斜率成為(AC/AW)。
      [0046] 收發(fā)電路5的IC及匹配電路的內(nèi)部電容(Cl)、線圈天線1所具有的電感(Lo)W 及寄生電容(Co)在
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