国产精品1024永久观看,大尺度欧美暖暖视频在线观看,亚洲宅男精品一区在线观看,欧美日韩一区二区三区视频,2021中文字幕在线观看

  • <option id="fbvk0"></option>
    1. <rt id="fbvk0"><tr id="fbvk0"></tr></rt>
      <center id="fbvk0"><optgroup id="fbvk0"></optgroup></center>
      <center id="fbvk0"></center>

      <li id="fbvk0"><abbr id="fbvk0"><dl id="fbvk0"></dl></abbr></li>

      勻氣結(jié)構(gòu)及等離子體系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:8488814閱讀:495來源:國知局
      勻氣結(jié)構(gòu)及等離子體系統(tǒng)的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種等離子體系統(tǒng),特別是涉及一種提高刻蝕性能的、適用于電感耦合等離子體系統(tǒng)的氣體勻氣結(jié)構(gòu)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]現(xiàn)有技術(shù)中,隨著半導(dǎo)體集成電路的迅猛發(fā)展,集成電路技術(shù)的更新?lián)Q代不斷加快,而每個(gè)技術(shù)代都是以最小特征尺寸的縮小、芯片集成度和硅片尺寸的增加為標(biāo)志。而隨著微型化需求的持續(xù),工藝節(jié)點(diǎn)的進(jìn)一步縮小必然會(huì)增加集成電路制造的復(fù)雜度,對生產(chǎn)流程中每個(gè)工藝的要求也會(huì)越來越高。
      [0003]在半導(dǎo)體工藝流程中,等離子體干法刻蝕是非常重要的工藝制程,是實(shí)現(xiàn)圖形轉(zhuǎn)移的重要途徑。隨著晶圓直徑的增大和晶體管尺寸的縮小,導(dǎo)致在刻蝕過程中要求有更高的精準(zhǔn)和重復(fù)性。在眾多影響刻蝕性能的參數(shù)中,刻蝕均勻性是最為重要的參數(shù)之一,而刻蝕均勻性主要體現(xiàn)在腔體內(nèi)氣流的分布情況,因此提高氣體在腔體內(nèi)的分布均勻性,顯得格外重要。
      [0004]常見的等離子體刻蝕包括電感耦合等離子體系統(tǒng)(ICP)、電容耦合等離子體系統(tǒng)(CCP)以及微波電子回旋共振等離子體系統(tǒng)(ECR)。
      [0005]本發(fā)明針對電感耦合等離子體系統(tǒng)(ICP),引入氣體的勻氣結(jié)構(gòu),增加氣體在腔體內(nèi)的分布均勻性,提高刻蝕性能。
      [0006]請參閱圖1和圖2所示,圖1為等離子體系統(tǒng)中噴嘴的結(jié)構(gòu)示意圖,圖2為現(xiàn)有技術(shù)的等離子體系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖,噴嘴110的結(jié)構(gòu)為圓柱主體112、中心噴氣孔114、圓周噴氣孔116及主管道118。噴嘴110插入圖2中的等離子體系統(tǒng)100的介質(zhì)窗120中,氣體通過主管道118流入,經(jīng)中心噴氣孔114和圓周噴氣孔116分流通入腔體130內(nèi)。
      [0007]噴嘴110通過噴嘴固定結(jié)構(gòu)150安裝在介質(zhì)窗120上。晶圓通過靜電卡盤140固定在腔體130內(nèi)。射頻電源160通過射頻線圈170,將氣體解離形成等離子體。
      [0008]氣體通過主管道118流入,在噴嘴110的底部經(jīng)中心噴氣孔114和圓周噴氣孔116分流進(jìn)入腔體130,這樣將導(dǎo)致氣體主要通過中心噴氣孔114流入腔體130,僅有很少一部分氣體經(jīng)過圓周噴氣孔116,并且噴嘴110的直徑遠(yuǎn)小于腔體130內(nèi)放置的晶圓直徑,致使氣體不能有效注入到晶圓的表面,而主要囤積于晶圓的中心部分,導(dǎo)致刻蝕不均勻性出現(xiàn),影響刻蝕效果。
      [0009]鑒于上述缺陷,本發(fā)明人經(jīng)過長時(shí)間的研究和實(shí)踐終于獲得了本發(fā)明創(chuàng)造。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0010]基于此,有必要提供一種提高刻蝕均勻性的勻氣結(jié)構(gòu)及具有該勻氣結(jié)構(gòu)的等離子體系統(tǒng)。
      [0011]本發(fā)明的一種勻氣結(jié)構(gòu),包括勻氣板與進(jìn)氣板;
      [0012]所述勻氣板上設(shè)置通孔;
      [0013]所述進(jìn)氣板覆蓋在所述勻氣板的通孔上,所述進(jìn)氣板上設(shè)置噴氣孔。
      [0014]作為一種可實(shí)施方式,所述通孔的尺寸和形狀與所述進(jìn)氣板的尺寸和形狀相匹配;
      [0015]所述進(jìn)氣板活動(dòng)安裝于所述勻氣板的通孔內(nèi)。
      [0016]作為一種可實(shí)施方式,所述通孔的數(shù)量為多個(gè)。
      [0017]作為一種可實(shí)施方式,所述噴氣孔的數(shù)量為多個(gè)。
      [0018]本發(fā)明的一種等離子體系統(tǒng)包括腔體、介質(zhì)窗、噴嘴與所述的勻氣結(jié)構(gòu);
      [0019]所述介質(zhì)窗置于所述腔體的開口上;
      [0020]所述介質(zhì)窗的中部設(shè)置安裝孔,所述噴嘴插入所述安裝孔中;
      [0021]所述勻氣板置于所述噴嘴的下方,并安裝于所述介質(zhì)窗上;
      [0022]氣體從所述噴嘴中流入,經(jīng)由所述通孔與所述噴氣孔位置對應(yīng)的重疊部分,通入所述腔體內(nèi)。
      [0023]作為一種可實(shí)施方式,在所述介質(zhì)窗靠近所述腔體的端面的中部設(shè)置凹槽;
      [0024]所述安裝孔位于所述凹槽的底部;所述勻氣板內(nèi)嵌于所述凹槽內(nèi);
      [0025]所述勻氣板與所述凹槽的底部之間具有預(yù)設(shè)的距離。
      [0026]作為一種可實(shí)施方式,所述介質(zhì)窗靠近所述腔體的端面為平面;
      [0027]所述勻氣板為槽形,所述勻氣板的槽形開口朝向所述介質(zhì)窗。
      [0028]作為一種可實(shí)施方式,所述勻氣板活動(dòng)安裝于所述介質(zhì)窗上;
      [0029]所述勻氣板與所述介質(zhì)窗之間設(shè)置密封膠圈。
      [0030]作為一種可實(shí)施方式,所述噴氣孔的形狀為圓形、橢圓形、菱形或方形。
      [0031]作為一種可實(shí)施方式,所述的等離子體系統(tǒng)還包括盲板;
      [0032]所述盲板的數(shù)量與所述進(jìn)氣板的數(shù)量之和等于所述通孔的數(shù)量;
      [0033]當(dāng)多個(gè)所述通孔中的部分所述通孔上未對應(yīng)覆蓋所述進(jìn)氣板時(shí),所述盲板覆蓋在未覆蓋所述進(jìn)氣板的所述通孔上。
      [0034]作為一種可實(shí)施方式,所述進(jìn)氣板通過緊固件安裝于所述勻氣板上。
      [0035]作為一種可實(shí)施方式,所述勻氣板、所述進(jìn)氣板的材料與所述介質(zhì)窗相同。
      [0036]作為一種可實(shí)施方式,所述勻氣板、所述進(jìn)氣板與所述介質(zhì)窗的材料為石英。
      [0037]與現(xiàn)有技術(shù)比較本發(fā)明的有益效果在于:氣體能有效注入到晶圓的外表面的整個(gè)區(qū)域,均勻到達(dá)晶圓的中心和邊緣位置,有效解決了晶圓的邊緣進(jìn)氣少的問題,提高了刻蝕均勻性,保證了刻蝕質(zhì)量。經(jīng)過長時(shí)間的工藝過程后,發(fā)生噴氣孔堵塞時(shí),可以靈活對進(jìn)氣板進(jìn)行拆裝,清洗,節(jié)約了時(shí)間,避免了無效勞動(dòng)。
      【附圖說明】
      [0038]圖1為等離子體系統(tǒng)中噴嘴的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0039]圖2為現(xiàn)有技術(shù)的等離子體系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0040]圖3為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0041]圖4為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例一的介質(zhì)窗與噴嘴的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0042]圖5為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例一中勻氣結(jié)構(gòu)的主視示意圖;
      [0043]圖6為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例一中勻氣結(jié)構(gòu)的剖視示意圖;
      [0044]圖7為本發(fā)明的勻氣結(jié)構(gòu)中的進(jìn)氣板的主視示意圖;
      [0045]圖8為本發(fā)明的勻氣結(jié)構(gòu)中的進(jìn)氣板的剖視示意圖;
      [0046]圖9為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0047]為了解決刻蝕不均勻性的問題,提出了一種勻氣結(jié)構(gòu)及具有該勻氣結(jié)構(gòu)的等離子體系統(tǒng)來提高氣體分布的均勻性,從而提高刻蝕均勻性。
      [0048]以下結(jié)合附圖,對本發(fā)明上述的和另外的技術(shù)特征和優(yōu)點(diǎn)作更詳細(xì)的說明。
      [0049]請參閱圖3和圖4所示,圖3為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖,圖4為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例一的介質(zhì)窗與噴嘴的結(jié)構(gòu)示意圖,本發(fā)明的實(shí)施例一的等離子體系統(tǒng)200包括噴嘴210、介質(zhì)窗220、腔體230與勻氣結(jié)構(gòu)。
      [0050]介質(zhì)窗220置于腔體230的開口上。介質(zhì)窗220的中部設(shè)置安裝孔,噴嘴210插入安裝孔中。
      [0051]勻氣結(jié)構(gòu)包括勻氣板280與進(jìn)氣板290。勻氣板280置于噴嘴210的下方,并固定于介質(zhì)窗220上。
      [0052]噴嘴210通過噴嘴固定結(jié)構(gòu)250安裝在介質(zhì)窗220上。晶圓通過靜電卡盤240固定在腔體230內(nèi)。射頻電源260通過射頻線圈270,將氣體解離形成等離子體。
      [0053]請結(jié)合圖5和圖6所示,圖5為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例一中勻氣結(jié)構(gòu)的主視示意圖,圖6為本發(fā)明的等離子體系統(tǒng)實(shí)施例一中勻氣結(jié)構(gòu)的剖視示意圖,在勻氣板280上的中部設(shè)置通孔,進(jìn)氣板290覆蓋在勻氣板280的通孔上。在進(jìn)氣板290上設(shè)置噴氣孔292。
      [0054]氣體從噴嘴210中流入,經(jīng)由通孔與噴氣孔292位置對應(yīng)的重疊部分,通入腔體230內(nèi)。勻氣結(jié)構(gòu)使氣體可以均勻分布于腔體230內(nèi)。
      [0055]進(jìn)氣板290的數(shù)量、噴氣孔2
      當(dāng)前第1頁1 2 
      網(wǎng)友詢問留言 已有0條留言
      • 還沒有人留言評論。精彩留言會(huì)獲得點(diǎn)贊!
      1