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      一種GaN基發(fā)光二極管外延片及其制備方法

      文檔序號(hào):8489019閱讀:662來源:國知局
      一種GaN基發(fā)光二極管外延片及其制備方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種GaN基發(fā)光二極管外延片及其制備方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]發(fā)光二極管(Light Emitting D1de,簡稱“LED”)作為一種高效、綠色環(huán)保的新型固態(tài)照明光源,具有體積小、重量輕、壽命長、可靠性高及使用功耗低等優(yōu)點(diǎn),因而在照明領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。現(xiàn)有的GaN基LED芯片結(jié)構(gòu)包括襯底、緩沖層、η型GaN層、多量子阱層、P型GaN層等。
      [0003]GaN基LED芯片在工作過程中,η型GaN層中產(chǎn)生的電子和ρ型GaN層中產(chǎn)生的空穴,在電場的作用下向多量子阱層迀移,并在多量子阱層中發(fā)生輻射復(fù)合,進(jìn)而發(fā)光。目前,由于用作照明的LED芯片工作電流都較大,而大電流密度下工作的芯片發(fā)光效率都比較低,為了增加LED芯片的發(fā)光效率,主要是通過減少電子的溢漏和增加空穴的傳輸距離以及提高有源區(qū)的晶體質(zhì)量等方法。
      [0004]在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題:
      [0005]隨著LED芯片工作電流的增加,電流密度隨之增大,在這種大電流密度情況下,注入多量子阱層中的電子也隨之增多,導(dǎo)致部分電子未與空穴在多量子阱層中復(fù)合而迀移至P型GaN層中,致使電子溢漏的程度增加,使得大電流密度情況下LED芯片的發(fā)光效率下降。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006]為了解決現(xiàn)有LED芯片隨著工作電流的增加,在大電流密度的情況下發(fā)光效率下降的問題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種GaN基發(fā)光二極管外延片及其制備方法。所述技術(shù)方案如下:
      [0007]一方面,提供了一種GaN基發(fā)光二極管外延片,所述外延片包括:襯底,和依次覆蓋在所述襯底上的u型GaN層、η型GaN層、多量子阱層、以及ρ型GaN層,所述多量子阱層包括:交替生長的InGaN阱層和GaN皇層,
      [0008]所述外延片還包括:設(shè)于所述η型GaN層與所述多量子阱層之間的勢皇結(jié)構(gòu)層,所述勢皇結(jié)構(gòu)層包括N層勢皇結(jié)構(gòu),每層所述勢皇結(jié)構(gòu)包括:依次生長的u型GaN子層和ρ型GaN子層,所述u型GaN子層的厚度dl的取值范圍為:0nm < dl ^ 50nm,所述ρ型GaN子層的厚度d2的取值范圍為:0nm < d2彡50nm,所述N為大于或者等于2的整數(shù)。
      [0009]具體地,所述ρ型GaN子層為摻Mg的GaN子層,Mg源的流量F的取值范圍為:0< F 10sccm0
      [0010]具體地,所述N的取值范圍為:2 < NS 20。
      [0011]進(jìn)一步地,所述勢皇結(jié)構(gòu)層的總厚度d的取值范圍為:0nm < d ^ 500nm。
      [0012]進(jìn)一步地,所述u型GaN層的厚度為I?4um ;
      [0013]所述η型GaN層的厚度為I?4um ;
      [0014]所述InGaN阱層的厚度為2.8?3.8nm ;
      [0015]所述GaN皇層的厚度為6nm?18nm ;
      [0016]所述ρ型GaN層的厚度為100?500nm。
      [0017]另一方面,提供了一種GaN基發(fā)光二極管外延片制備方法,所述方法包括:
      [0018]在襯底上依次生長u型GaN層和η型GaN層;
      [0019]在所述η型GaN層上生長一層勢皇結(jié)構(gòu)層,所述勢皇結(jié)構(gòu)層包括N層勢皇結(jié)構(gòu),每層所述勢皇結(jié)構(gòu)包括:依次生長的u型GaN子層和ρ型GaN子層,所述u型GaN子層的厚度dl的取值范圍為:0nm < dl彡50nm,所述ρ型GaN子層的厚度d2的取值范圍為:0nm<d2^ 50nm,所述N為大于或者等于2的整數(shù);
      [0020]在所述勢皇結(jié)構(gòu)層上依次生長多量子阱層和ρ型GaN層,所述多量子阱層包括:交替生長的InGaN阱層和GaN皇層。
      [0021]具體地,所述ρ型GaN子層為摻Mg的GaN子層,Mg源的流量F的取值范圍為:0
      <F ^ 10sccm0
      [0022]具體地,所述N的取值范圍為:2 < N < 20。
      [0023]進(jìn)一步地,所述N層依次生長的u型GaN子層和P型GaN子層的總厚度d的取值范圍為:0nm < d 500nm。
      [0024]進(jìn)一步地,所述勢皇結(jié)構(gòu)層的生長溫度均為1100?1200°C。
      [0025]本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:
      [0026]通過在η型GaN層與多量子阱層之間增設(shè)由多層勢皇結(jié)構(gòu)組成的勢皇結(jié)構(gòu)層,形成多層能量勢皇,能有效降低大電流密度下η型GaN層中的電子注入多量子阱層的速率,進(jìn)而增加P型GaN層的空穴的迀移距離,增加了多量子阱層中空穴的注入率,提高了電子和空穴在多量子阱層中的復(fù)合率,同時(shí)也能減少因部分電子迀移至P型GaN層而產(chǎn)生的溢漏,進(jìn)而提高了大電流密度下LED芯片的發(fā)光效率。
      【附圖說明】
      [0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
      [0028]圖1是本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種GaN基發(fā)光二極管外延片的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0029]圖2是本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種GaN基發(fā)光二極管外延片制備方法流程圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0030]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
      [0031]實(shí)施例一
      [0032]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種GaN基發(fā)光二極管外延片,適用于藍(lán)綠光波的GaN基LED,參見圖1,該外延片包括:襯底100,和依次覆蓋在襯底100上的u型GaN層101、η型GaN層102、多量子阱層104、以及ρ型GaN層105,該多量子阱層104包括:交替生長的InGaN阱層114和GaN皇層124。
      [0033]該外延片還包括:設(shè)于η型GaN層102與多量子阱層104之間的勢皇結(jié)構(gòu)層103,該勢皇結(jié)構(gòu)層103為N層勢皇結(jié)構(gòu),每層勢皇結(jié)構(gòu)包括:依次生長的u型GaN子層113和ρ型GaN子層123,u型GaN子層113的厚度dl的取值范圍可以為:0nm < dl ( 50nm,ρ型GaN子層123的厚度d2的取值范圍可以為:0nm < d2彡50nm,N為大于或者等于2的整數(shù)。
      [0034]具體地,ρ型GaN子層123可以為摻Mg的GaN子層,Mg源的流量F的取值范圍為:O < F 10sccm0
      [0035]在本實(shí)施例中,Mg源的流量是指制備ρ型GaN子層123時(shí),通入Mg源的流量。
      [0036]具體地,N的取值范圍可以為:2彡N彡20,即N可以取2彡N彡20范圍內(nèi)的任一正整數(shù)。優(yōu)選地,N的取值范圍可以為:3 < N < 8。
      [0037]進(jìn)一步地,電子阻擋層103的總厚度d的取值范圍可以為:0nm < d ^ 500nm。
      [0038]進(jìn)一步地,u型GaN層101的厚度為I?4um (優(yōu)選2um),n型GaN層102的厚度為I?4um(優(yōu)選2um),InGaN講層114的厚度為2.8?3.8nm(優(yōu)選為3?3.5nm), GaN皇層124的厚度為6nm?18nm(優(yōu)選為10?15nm),p型GaN層105的厚度為100?500nm(優(yōu)選 200nm)。
      [0039]本發(fā)明實(shí)施例通過在η型GaN層與多量子阱層之間增設(shè)由多層勢皇結(jié)構(gòu)組成的勢皇結(jié)構(gòu)層,形成多層能量勢皇,能有效降低大電流密度下η型GaN層中的電子注入多量子阱層的速率,進(jìn)而增加P型GaN層中空穴的迀移距離,增加了多量子阱層中空穴的注入率,進(jìn)而提高了電子和空穴在多量子阱層中的復(fù)合率,同時(shí)也能減少因部分電子迀移至P型GaN層而產(chǎn)生的溢漏,進(jìn)而提高了大電流密度下LED芯片的發(fā)光效率,此外,隨著大電流密度下LED芯片發(fā)光效率的提高,在保持LED芯片總的發(fā)光量不變的情況下,LED芯片面積可以進(jìn)一步減少,進(jìn)而可以進(jìn)一步降低了 LED芯片的成本。
      [0040]實(shí)施例二
      [0041]本發(fā)明實(shí)施例
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