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      具有鉑復(fù)合中心的硅片材料的制備方法

      文檔序號:9262174閱讀:313來源:國知局
      具有鉑復(fù)合中心的硅片材料的制備方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明屬于二極管的制備領(lǐng)域,具體涉及一種具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的制備 方法及由所述硅片材料制備得到的快恢復(fù)二極管。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 快恢復(fù)二極管(簡稱FRD),是一種具有開關(guān)特性好、反向恢復(fù)時間短特點的半導(dǎo)體 二極管,主要應(yīng)用于開關(guān)電源、PWM脈寬調(diào)制器、變頻器等電子電路中,作為高頻整流二極 管、續(xù)流二極管或阻尼二極管使用。
      [0003]在快恢復(fù)二極管中,硅快恢復(fù)二極管應(yīng)用廣泛。為了提高開關(guān)速度,減少反向恢復(fù) 時間T",傳統(tǒng)的方法是采用重金屬摻雜(如摻金、摻鉬)和電子輻射等技術(shù)在二極管中大面 積甚至是整體引入復(fù)合中心來消除二極管中的過剩載流子,實現(xiàn)降低器件反向恢復(fù)時間1" 的目的。摻金器件能級較深,高溫特性較差;電子輻照感生的缺陷不穩(wěn)定,在較低溫度下會 退化消失,且制備得到的器件漏電流偏大;而鉬擴散形成的替位原子是穩(wěn)定的結(jié)構(gòu),因此器 件的高溫穩(wěn)定性好,但鉬擴散二極管正向壓降(Vf)和反向恢復(fù)時間(T")特性較差。
      [0004]因此,在快恢復(fù)二極管的制備過程中,常見的制備具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的 方法是鉬蒸發(fā)或鉬濺射。在快恢復(fù)二極管中,作為復(fù)合中心的鉬量很小,鉬濺射或鉬蒸發(fā)造 成鉬的消耗量過大,過多的鉬在硅片上,造成浪費,且提高了制作成本;而鉬蒸發(fā)或鉬濺射 是以物理方式沉積在硅片表面,導(dǎo)致應(yīng)力,帶來的過多的張力,影響鉬的激活,阻礙鉬成為 有效的復(fù)合中心,造成快恢復(fù)二極管性能欠佳。
      [0005]因此,本領(lǐng)域急需一種制備具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的方法,該方法的成本低, 操作簡便,條件易控,制備得到的鉬摻雜硅材料用于快恢復(fù)二極管的性能表現(xiàn)良好。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006]針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的在于提供一種具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的 制備方法,該方法的操作簡便,條件易控,且制備得到的鉬摻雜硅材料用于快恢復(fù)二極管的 性能表現(xiàn)良好。
      [0007]本發(fā)明提供的具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的制備方法是將硅片材料浸泡在鉬摻 雜溶液中,使鉬離子以游離態(tài)的形式吸附在硅片表面,達到降低應(yīng)力幾乎為零的目的,之后 將附著在硅片表面的剩余的鉬元素清洗去除,經(jīng)退火后,實現(xiàn)在硅片材料中形成高效的鉬 復(fù)合中心的目的,實現(xiàn)正向壓降(Vf)和反向恢復(fù)時間(T")性能的最優(yōu)化。
      [0008]本發(fā)明提供的方法創(chuàng)新性地采用鉬摻雜溶液實現(xiàn)對硅片材料的鉬摻雜,獲得具有 鉬復(fù)合中心的硅片材料,克服了現(xiàn)有技術(shù)只采用鉬蒸發(fā)、鉬濺射等氣相沉積方法進行鉬摻 雜的技術(shù)偏見,并獲得了優(yōu)異的正向壓降(Vf)和反向恢復(fù)時間(T")。
      [0009]本發(fā)明首先提供了一種具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的制備方法,所述方法包括如 下步驟:
      [0010] (1)將硅片浸泡在鉬摻雜溶液中,獲得吸附了鉬離子的硅片;所述硅片為PN結(jié)二 極管硅片;
      [0011] (2)退火,獲得鉬摻雜的硅片;
      [0012] (3)采用鹽酸和雙氧水的混合溶液對步驟(2)得到的硅片進行清洗,取出晾干后獲 得具有鉬復(fù)合中心的娃片材料。
      [0013] 本發(fā)明提供的具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的制備方法中,通過將硅片浸泡在鉬摻 雜溶液中,實現(xiàn)了將鉬元素吸附于硅片上的目的,退火后使鉬元素擴散至硅片內(nèi)部,被激活 為有效的復(fù)合中心,并且最后經(jīng)過對鉬摻雜硅片的清洗,對硅片中摻雜的鉬含量進行控制, 并有效防止重金屬對硅片的污染。
      [0014] 本發(fā)明步驟(1)所述鉬摻雜溶液為含有鉬離子的硅腐蝕體系。
      [0015] 本發(fā)明所述硅片為任何型號的PN結(jié)二極管硅片,不做具體限定,本領(lǐng)域可以通過 專業(yè)知識進行制作或者通過商購獲得。
      [0016] 本發(fā)明對于鉬離子的硅腐蝕體系沒有具體限定,只要是能夠?qū)崿F(xiàn)將鉬元素擴散至 硅片材料內(nèi)部的溶液均可實現(xiàn)本發(fā)明。典型但非限制性的鉬離子可以以氯亞鉬酸銨、鉬酸 銨或氯鉬酸的形式加入;典型但非限制性的硅腐蝕體系可以是氫氟酸溶液、氫氟酸-硝酸 溶液、氫氟酸-硫酸溶液或氫氟酸-鹽酸溶液等。也就是說,本發(fā)明所述鉬摻雜溶液可以是 含有任何鉬離子的任何硅腐蝕體系。
      [0017] 優(yōu)選地,所述硅腐蝕體系由氫氟酸與硝酸、鹽酸或硫酸中的任意1種或至少2種的 組合。
      [0018] 優(yōu)選地,所述鉬離子以氯亞鉬酸銨的形式加入。
      [0019] 作為優(yōu)選技術(shù)方案,本發(fā)明所述鉬摻雜溶液為含有氯亞鉬酸銨的氫氟酸溶液;
      [0020] 優(yōu)選地,所述含有氯亞鉬酸銨的氫氟酸溶液中,氯亞鉬酸銨的濃度為0.01~l〇g/ L去離子水;每克氯亞鉬酸銨對應(yīng)0. 1~1000mL的氫氟酸;所述氫氟酸以30v%的濃度計。 也就是說,在所述浸泡溶液中,每升去離子水加入0.01~l〇g氯亞鉬酸銨;每克氯亞鉬酸銨 對應(yīng)0. 1~1000mL的氫氟酸。
      [0021] 典型但非限制性地,氯亞鉬酸銨的濃度為0. 01~10g/L,例如0. 02g/L、0. 07g/L、 0?14g/L、0. 18g/L、0.5g/L、0. 8g/L、l. 3g/L、2. 7g/L、3. 3g/L、5g/L、6.4g/L、7.8g/L、8.7g/ L、9. 5g/L、9. 9g/L等;每克氯亞鉬酸銨對應(yīng)加入氫氟酸的量為0. 4mL、0. 9mL、l. 4mL、4mL、 15mL、27mL、44mL、58mL、70mL、120mL、205mL、220mL、287mL、356mL、568mL、675mL、780mL、 956mL、998mL等。
      [0022] 本發(fā)明所述加入的氫氟酸以30v%的濃度計。本發(fā)明并不限定氫氟酸的濃度,此處 所述氫氟酸以30v%的濃度計,只是為了更明確的表示實際加入的氫氟酸的量,也就是說, 本發(fā)明加入的氫氟酸的濃度可以是任意可以獲得的氫氟酸的濃度,例如20%、25%、40%、37% 等。
      [0023] 本發(fā)明所述具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的制備方法步驟(1)中,所述浸泡時間 > 0.1s,例如 0.5s、4s、35s、80s、208s、296s、450s、552s、700s、852s、968s、1058s、1540s、 1854s、2050s、2358s等;優(yōu)選 0? 1 ~2000s。
      [0024] 優(yōu)選地,步驟(1)所述浸泡溫度為5~50°C,優(yōu)選20~35°C,例如22°C、25°C、 29°C、34°C等。
      [0025] 本發(fā)明對于退火的方式不做具體限定,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)掌握的專業(yè)知識 和實際情況對退火的方式和條件進行選擇,典型但非限制性的包括真空退火、爐管退火、接 觸式大電流退火、紅外退火或感應(yīng)式退火爐退火等等。
      [0026] 優(yōu)選地,步驟(2)所述退火的方式選自爐管退火和/或紅外退火。
      [0027] 本發(fā)明對于退火的具體條件也不做具體限定,典型但非限制性的,所述爐管退火 的條件為:退火溫度300~1200°C,退火時間1~500min。
      [0028] 優(yōu)選地,步驟(3)所述鹽酸和雙氧水的混合溶液中,鹽酸和雙氧水的體積比為 (5 ~60) :1,例如 6:1、13:1、17:1、22:1、26:1、30:1、37:1、42:1、46:1、53:1、58:1 等;其中 鹽酸以濃度為30v%計。
      [0029] 優(yōu)選地,步驟(3)所述清洗的方式為沖洗。
      [0030]優(yōu)選地,所述清洗的時間彡 10s,例如 20s、85s、168s、350s、580s、890s、1000s、 1358s、1685s、1850s、1900s、1985s等,優(yōu)選 10 ~2000s。
      [0031] 優(yōu)選地,所述清洗的溫度為10~301:,例如121:、181:、251:、291:等,優(yōu)選20~ 30。。。
      [0032] 優(yōu)選地,步驟(2)之前進行步驟(2'):清洗吸附了鉬離子的硅片,除去硅片上游離 的鉬尚子。
      [0033] 本發(fā)明對于"步驟(2'):清洗吸附了鉬離子的硅片,除去硅片上游離的鉬離子"的 方式不做具體限定,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)掌握的專業(yè)知識或?qū)嶋H情況進行選擇,典型 但非限制性的包括:將吸附了鉬離子的硅片置于氫氟酸中浸泡或沖洗;或?qū)⑽搅算f離子 的硅片置于雙氧水和硫酸溶液中浸泡或沖洗;或?qū)⑽搅算f離子的硅片置于氫氟酸和氟化 銨中進行浸泡或清洗;或者將吸附了鉬離子的硅片置于去離子水中進行浸泡或清洗等等。 [0034] 作為優(yōu)選技術(shù)方案,本發(fā)明所述具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的制備方法包括如下 步驟:
      [0035] (1)將硅片浸泡在鉬摻雜溶液中,獲得吸附了鉬離子的硅片;
      [0036] (2')清洗吸附了鉬離子的硅片,除去硅片表面游離的鉬離子;
      [0037] (2)將步驟(2')清洗后的硅片退火,獲得鉬摻雜的硅片;
      [0038] (3)采用鹽酸和雙氧水的混合溶液對步驟(2)得到的硅片進行清洗,取出晾干后獲 得具有鉬復(fù)合中心的娃片材料。
      [0039] 本發(fā)明進一步提供了一種快恢復(fù)二極管,所述快恢復(fù)二極管方法制備得到的具有 鉬復(fù)合中心的硅片材料制備得到。
      [0040] 與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下有益效果:
      [0041] (1)本發(fā)明提供的方法克服了現(xiàn)有技術(shù)采用氣相沉積(如蒸發(fā)或濺射)進行鉬摻雜 的技術(shù)偏見,創(chuàng)新性的采用溶液對硅片材料進行鉬摻雜,為具有鉬復(fù)合中心的硅片材料的 制備方法提供了一種新的思路;
      [0042] (2)本發(fā)明提供的鉬摻雜方法使鉬離子以游離態(tài)的形式吸附在硅片表面,達到降 低應(yīng)力幾乎為零的目的,這種方式有助于鉬在硅片材料中形成高效的復(fù)合中心,實現(xiàn)正向 壓降(Vf)和反向恢復(fù)時間(T")性能的最優(yōu)化;
      [0043] (3)本發(fā)明通過對退貨后的鉬摻雜硅片進行清洗,實現(xiàn)了對硅片中摻雜的鉬元素 的量的控制,并有效防止重金屬對硅片的污染,獲得了具有鉬復(fù)合中心的硅片材料;
      [0044] (4)提供的鉬摻雜方法操作簡便,條件易控,且制備得到的具有鉬復(fù)合中心的硅片 材料用于快恢復(fù)二極管的性能表現(xiàn)優(yōu)良。
      【具體實施方式】
      [0045] 為便于理解本發(fā)明,本發(fā)明列舉實施例如下。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明了,所述實施 例僅僅是幫助理解本發(fā)明,不應(yīng)視為對本發(fā)明的具體限制。
      [0046] 本發(fā)明【具體實施方式】所使用的PN結(jié)二極管硅片的厚度為390iim,其中,P為5Q/ cnT1,N為15Q/CHT1的6
      當(dāng)前第1頁1 2 
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