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      一種同時(shí)具備存儲和整流的有機(jī)二極管電存儲器件和方法

      文檔序號:9262436閱讀:564來源:國知局
      一種同時(shí)具備存儲和整流的有機(jī)二極管電存儲器件和方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及有機(jī)二極管電存儲器件領(lǐng)域,尤其涉及到一種同時(shí)具備回滯和整流的 二極管電存儲器件及其制備方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 有機(jī)二極管電存儲器具有結(jié)構(gòu)簡單并且可設(shè)計(jì)性強(qiáng),可以通過三維堆疊提高存儲 密度,低功耗穩(wěn)定性高等眾多優(yōu)點(diǎn)得到了廣泛的關(guān)注。有機(jī)二極管電存儲器作為替換或補(bǔ) 充現(xiàn)有的無機(jī)半導(dǎo)體存儲技術(shù)的下一代數(shù)據(jù)存儲技術(shù)具有極大的研宄價(jià)值和經(jīng)濟(jì)前景。其 在高集成化高密度大容量存儲展現(xiàn)的應(yīng)用潛力也不斷被研宄。
      [0003] 實(shí)驗(yàn)研宄中制備的電存儲器件由一定數(shù)量的存儲單元組成,按照存儲排列方式不 同可以分為交叉點(diǎn)狀結(jié)構(gòu)(Cross-Point)和交叉條狀結(jié)構(gòu)(Cross-Bar)兩類,其中交叉 點(diǎn)狀結(jié)構(gòu)中由于所有存儲元只共用底電極,頂電極是分離的,因此不支持三維堆疊結(jié)構(gòu)制 備。而交叉條狀結(jié)構(gòu)優(yōu)勢是支持三維堆疊制備,可實(shí)現(xiàn)高密度存儲,因此為了實(shí)現(xiàn)高密度高 集成化的大容量存儲器件研宄,一般都通過采用交叉條狀結(jié)構(gòu)(Cross-Bar)實(shí)現(xiàn)器件三維 堆疊來提高存儲密度,但是由于其每個(gè)存儲元都有與其他存儲元共用頂電極和底電極的情 況,因此產(chǎn)生潛在電流路徑,容易造成對存儲信息的誤讀。
      [0004] 圖1即為潛在電流路徑對器件造成誤讀的示意圖,如圖所示,當(dāng)其他的點(diǎn)存儲了 " 1"處于高導(dǎo)態(tài),而A點(diǎn)要求存儲"0"處于低導(dǎo)態(tài),由于存在潛在電流路徑如圖紅色箭頭表 示,導(dǎo)致a-A路徑類似短路,無論其存儲信息"0"或者" 1",其信息讀取結(jié)果都會與其他點(diǎn) 的狀態(tài)一致,即都會是存儲了"1"的高導(dǎo)態(tài),因此造成了信息的誤讀。對于交叉條狀結(jié)構(gòu)中 存在的潛在電流路徑的問題,一般解決方法是在每個(gè)存儲單元上串聯(lián)一個(gè)整流二極管(如 圖2),也就是將存儲和整流結(jié)合在一個(gè)器件中,通過整流二極管的正向?qū)ǎ聪蚪刂沟奶?點(diǎn),使得潛在電流路徑不再存在,從而解決信息誤讀的問題。
      [0005] 2 0 10 年Lee等(ChoB,KimTff,SongS,eta1 .Adv Mater, 2010, 22(11) : 1228-1232.)在硅片上蒸鍍一層鋁結(jié)合存儲單元制備了交叉條形 結(jié)構(gòu)有機(jī)二極管電存儲器,該存儲器很好的將整流特性引入到二極管存儲器中,從未避 免了潛在電流路徑的存在。也有相關(guān)研宄則是通過設(shè)計(jì)1D-1R結(jié)構(gòu)(即存儲器結(jié)合 一個(gè)整流二極管)來避免潛在電流路徑的存在,如2013年Ji等人(Ji,Y.etal.Nat. Commun. 4:2707doi:10. 1038/ncomms3707(2013))將整流二極管和二極管存儲器結(jié)合在一 個(gè)器件中(1D-1R),該器件也成功的避免了潛在電流路徑的存在。雖然采用這一類的方法可 以成功的使器件同時(shí)具有存儲和整流效應(yīng),從而避免潛在電流路徑的存在,但是這些方法 使得器件設(shè)計(jì)性繁雜,材料匹配選擇難,此外層層堆疊也會造成器件成功率與產(chǎn)率降低。而 本發(fā)明能夠很好地解決上面的問題。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006] 本發(fā)明目的在于解決了上述技術(shù)問題,提供了一種同時(shí)具備存儲和整流的有機(jī)二 極管電存儲器件及其制備方法,該器件在在外電場15V作用下表現(xiàn)出非常明顯的電雙穩(wěn)態(tài) 存儲特性并且同時(shí)擁有較大的整流比。器件在正向低電壓下處于高電阻低導(dǎo)態(tài),隨著掃描 電壓增大到一定電壓(7V)下,器件電流從1(T8A急劇增加到1(T3A,器件電流會增加到低電 阻高導(dǎo)態(tài),意味著器件從OFF態(tài)轉(zhuǎn)變到ON態(tài),在隨后的掃描中,器件在正向電壓下維持著穩(wěn) 定的回滯,而器件在反向電壓下,器件則一直處于高電阻低導(dǎo)態(tài),從而使得器件具有明顯的 整流效應(yīng)。因此器件ITO/LiF/CuPc/Al表現(xiàn)出很好的存儲特性,其最大開關(guān)電流比達(dá)到103, 同時(shí)器件的擁有的整流比最大達(dá)到1〇 4,這些在單層的CuPc器件中都沒有出現(xiàn)過。
      [0007]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采取的技術(shù)方案是:一種同時(shí)具有存儲和整流的有機(jī)二 極管電存儲器件,該器件包括上下電極、介質(zhì)層、陽極緩沖層,所述陽極緩沖層為氟化鋰。所 述的器件將陽極緩沖層LiF引入到有機(jī)二極管電存儲器件垂直結(jié)構(gòu)中,S卩:添加在陽極IT0 與介質(zhì)層之間。
      [0008]本發(fā)明所述介質(zhì)層材料選自包括酞菁銅、氟化酞菁銅、并五苯等小分子材料。
      [0009]本發(fā)明所述介質(zhì)層結(jié)構(gòu)可由酞菁銅、氟化酞菁銅、并五苯等材料構(gòu)成,也可以是異 質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu)和多層結(jié)構(gòu),如由酞菁銅和氟化酞菁銅構(gòu)成的異質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu),酞菁銅、氟化酞菁銅、 并五苯三者構(gòu)成的多層結(jié)構(gòu)。
      [0010]本發(fā)明所述的陽極緩沖層為LiF。
      [0011] 本發(fā)明所述的陽極緩沖層的厚度為1〇~20納米。
      [0012]本發(fā)明所述的有機(jī)半導(dǎo)體的厚度為35~100納米。
      [0013] 一種同時(shí)具有存儲和整流效應(yīng)的二極管存儲器件,由里到外分別為IT0玻璃基底 層、陽極緩沖層、介質(zhì)層、金屬陰極層;IT0玻璃基底層是以IT0導(dǎo)電玻璃作為器件的襯底和 陽極,LiF(氟化鋰)作為陽極緩沖層,CuPc(酞菁銅)為器件的介質(zhì)層,A1(鋁)構(gòu)成金屬 陰極層,CuPc的分子式如下:
      [0014]
      [0015]本發(fā)明上述的陽極緩沖層、介質(zhì)層、鋁電極層的厚度分別為10納米、40納米、100 納米。
      [0016] 本發(fā)明所述的陽極緩沖層為氟化鋰,其特征在于,將陽極緩沖層LiF引入到有機(jī) 二極管電存儲存儲器件垂直結(jié)構(gòu)中,即添加在陽極IT0與介質(zhì)層之間。
      [0017] 本發(fā)明還提供了一種同時(shí)具備存儲和整流的有機(jī)二極管電存儲器件的制備方法, 該方法包括以下步驟:
      [0018] 步驟1 :IT0導(dǎo)電玻璃作為器件的襯底和陽極,依次經(jīng)過丙酮、乙醇、超凈水清洗, 并依次經(jīng)過丙酮、乙醇、超純水三步超聲清洗處理并烘干。
      [0019] 步驟2:將上述步驟1中烘干的IT0玻璃經(jīng)過紫外臭氧處理10分鐘。
      [0020] 步驟3:在上述步驟2中處理好的IT0玻璃放進(jìn)真空蒸鍍系統(tǒng)中,抽真空至腔內(nèi)壓 力低于5Xl(T5Pa之后,開始依次蒸鍍10nm的LiF、40nm的CuPc和100nm的A1電極。
      [0021] 步驟4:鍍膜結(jié)束,保持該真空狀態(tài)下待電極冷卻至室溫,然后進(jìn)行相關(guān)電學(xué)測 試。
      [0022] 本發(fā)明步驟1所述的,丙酮、乙醇、超純水三步超聲清洗的步驟,其超聲時(shí)間依次 為10分鐘,10分鐘,10分鐘。
      [0023] 本發(fā)明步驟3所述的真空蒸鍍陽極緩沖層材料為LiF,蒸鍍速率為〇.5A/s,采用晶 振控制厚度在l〇_15nm;所述真空蒸鍍介質(zhì)層材料為CuPc,蒸鍍速率為〇.5A/s,基板溫度控 制為125°C,采用晶振控制厚度在35-45nm。LiF的蒸鍍速度為〇.3~〇.5A/S,CuPc的蒸鍍速 度為0.3~0.5A/S,A1電極蒸鍍速度為1-3A/S。薄膜的厚度是采用臺階儀進(jìn)行測量。
      [0024] 有益效果:
      [0025] 1、本發(fā)明的器件ITO/LiF/CuPc/Al具有很好的存儲特性,并且其最大開關(guān)電流比 達(dá)到1〇3,同時(shí)器件的擁有的整流比最大達(dá)到1〇 4,這些在單層的CuPc器件中都沒有出現(xiàn)過。
      [0026] 2、本發(fā)明的器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡單,操作簡便,成本低廉,有利于大規(guī)模批量化生產(chǎn)。
      [0027] 3、本發(fā)明的器件結(jié)構(gòu)首次將陽極緩沖層引入到二極管電存儲垂直結(jié)構(gòu)中,具有普 適性,在其他一些同類型材料進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)中,器件均會表現(xiàn)出存儲整流于一體。
      [0028] 4、本發(fā)明的的器件具有高的產(chǎn)率和穩(wěn)定性,適合作進(jìn)一步的研發(fā)工作。
      【附圖說明】
      [0029]圖1為有機(jī)二極管電存儲交叉條形器件結(jié)構(gòu)中存在的潛在電流路徑示意圖。
      [0030] 圖2為有機(jī)二極管電存儲交叉條形器件結(jié)構(gòu)中通過增加整流二極管解決潛在電 流路徑示意圖。
      [0031] 圖3為本發(fā)明的二極管電存儲器件結(jié)構(gòu)圖。
      [0032] 圖4為采用本發(fā)明制備的器件電流-電壓特性曲線圖。
      [0033]圖5為采用本發(fā)明制備的器件高低導(dǎo)態(tài)信息維持時(shí)間圖。
      [0034] 圖6為采用本發(fā)明制備的器件開關(guān)比和整流比特性曲線圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0035]
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