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      電子部件裝置的制造方法

      文檔序號(hào):9457785閱讀:251來源:國(guó)知局
      電子部件裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及一種電子部件裝置的制造方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 近年來,已知有安裝在安裝基板上的電子部件的密封所使用的密封用片(例如, 參照專利文獻(xiàn)1)。
      [0003] 專利文獻(xiàn)1中記載有,通過在安裝于安裝基板上的電子部件上配置密封用片,并 在規(guī)定條件下對(duì)密封用片進(jìn)行壓制,而將電子部件埋入密封用片之后,使密封用片固化,由 此制作密封有電子部件的電子部件裝置。
      [0004] 現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
      [0005] 專利文獻(xiàn)
      [0006] 專利文獻(xiàn)1 :日本專利特開2013 - 7028號(hào)公報(bào)

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0007] 發(fā)明要解決的問題
      [0008] 在電子部件裝置中,期待進(jìn)一步減少空隙(卜'')的產(chǎn)生。因此,本發(fā)明人等進(jìn) 行了深入研究,結(jié)果發(fā)現(xiàn):如果在電子部件上配置密封用片,則在密封用片柔軟的情況下, 密封用片的外周部分(正下方?jīng)]有電子部件的部分)會(huì)下垂,如果在密封用片與安裝基板 間關(guān)入有空氣的狀態(tài)下進(jìn)行壓制,則所制造的電子部件裝置容易產(chǎn)生空隙。
      [0009] 本發(fā)明是鑒于上述問題而完成的,其目的在于提供一種能夠抑制所制造的電子部 件裝置產(chǎn)生空隙的情形的電子部件裝置的制造方法。
      [0010] 用于解決問題的方法
      [0011] 本發(fā)明人等發(fā)現(xiàn)通過采用下述的構(gòu)成可以解決前述問題,進(jìn)而完成本發(fā)明。
      [0012] 即,本發(fā)明是一種電子部件裝置的制造方法,其特征在于,具備:
      [0013] 工序A,準(zhǔn)備在被安裝體上安裝有電子部件的層疊體;
      [0014] 工序B,準(zhǔn)備密封用片;
      [0015] 工序C,在加熱板上配置上述密封用片,并且,以安裝有上述電子部件的面朝下的 方式將上述層疊體配置在上述密封用片上;和
      [0016] 工序D,在上述工序C之后,進(jìn)行熱壓,將上述電子部件埋入上述密封用片。
      [0017] 根據(jù)本發(fā)明的電子部件裝置的制造方法,在加熱板上配置密封用片,并且,以安裝 有電子部件的面朝下的方式將上述層疊體配置在上述密封用片上(工序C)。由于將安裝 有電子部件的層疊體配置在密封用片之上,因此密封用片與被安裝體之間的空間沒有被封 閉。而且,如果在該狀態(tài)下進(jìn)行熱壓,將上述電子部件埋入上述密封用片,則空氣向外側(cè)逃 離。其結(jié)果是,可以抑制所制造的電子部件裝置產(chǎn)生空隙。
      [0018] 在上述構(gòu)成中,上述密封用片的0~200°C下的最低溶融粘度優(yōu)選為1000 OOPa ·s 以下。如果上述密封用片的0~200°C下的最低熔融粘度為1000 OOPa *s以下,則可以提高 電子部件向密封用片的埋入性。
      [0019] 在上述構(gòu)成中,上述密封用片的外周長(zhǎng)度優(yōu)選為500mm以上。在本發(fā)明中,如上所 述,將安裝有電子部件的層疊體配置在密封用片之上。因此,即使密封用片為外周長(zhǎng)度為 500_以上之類的大面積的密封用片,密封用片與被安裝體之間的空間也不會(huì)被封閉。因 此,如果在該狀態(tài)下進(jìn)行熱壓,將上述電子部件埋入上述密封用片,則空氣向外側(cè)逃離。這 樣根據(jù)上述構(gòu)成,能夠在抑制空隙的產(chǎn)生的同時(shí),以大面積一次性密封。
      [0020] 需要說明的是,所謂密封用片的外周長(zhǎng)度是指密封用片外側(cè)的周圍的長(zhǎng)度總體, 例如,當(dāng)密封用片為矩形時(shí),是指[(縱向長(zhǎng)度)X2+(橫向長(zhǎng)度)X2],當(dāng)密封用片為圓形 時(shí),是指圓周總體的長(zhǎng)度[2X π X (半徑)]。
      [0021] 發(fā)明效果
      [0022] 根據(jù)本發(fā)明,可以提供能夠抑制所制造的電子部件裝置產(chǎn)生空隙的情形的電子部 件裝置的制造方法。
      【附圖說明】
      [0023] 圖1是用于說明本發(fā)明的一實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法的剖面示意圖。
      [0024] 圖2是用于說明本發(fā)明的一實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法的剖面示意圖。
      [0025] 圖3是用于說明本發(fā)明的一實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法的剖面示意圖。
      [0026] 圖4是用于說明本發(fā)明的一實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法的剖面示意圖。
      [0027] 圖5是用于說明本發(fā)明的一實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法的剖面示意圖。
      [0028] 圖6是用于說明本發(fā)明的一實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法的剖面示意圖。
      [0029] 圖7是用于說明實(shí)施例的埋入性評(píng)價(jià)的方法的正面示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0030] 以下,參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。但是,本發(fā)明并不僅限定于這些實(shí) 施方式。
      [0031] 本實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法至少具備:
      [0032] 工序A,準(zhǔn)備在被安裝體上安裝有電子部件的層疊體;
      [0033] 工序B,準(zhǔn)備密封用片;
      [0034] 工序C,在加熱板上配置上述密封用片,并且,以安裝有上述電子部件的面朝下的 方式將上述層疊體配置在上述密封用片上;和
      [0035] 工序D,在上述工序C之后,進(jìn)行熱壓,將上述電子部件埋入上述密封用片。
      [0036] 作為上述電子部件,只要是被安裝在被安裝體上、并且發(fā)揮作為電子部件功能的 電子部件,就沒有特別限定,例如,可以列舉SAW(Surface Acoustic Wave)濾波器;壓力傳 感器、振動(dòng)傳感器等MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) ;LSI等1C、晶體管等半導(dǎo) 體元件;電容器;電阻等電子器件。
      [0037] 作為上述被安裝體,沒有特別限定,可以列舉印刷布線基板、半導(dǎo)體晶片等。
      [0038] 作為上述層疊體的具體例子,可以列舉使用半導(dǎo)體元件(例如,半導(dǎo)體芯片)作為 上述電子部件并使用半導(dǎo)體晶片作為上述被安裝體、實(shí)施CoW(chip on wafer)連接而得的 層疊體。
      [0039] 以下,對(duì)于使用半導(dǎo)體芯片作為上述電子部件、使用半導(dǎo)體晶片作為上述被安裝 體的情況進(jìn)行說明。
      [0040] 圖1~圖6是用于說明本發(fā)明的一種實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法的剖面 示意圖。
      [0041] [準(zhǔn)備層疊體的工序]
      [0042] 如圖1所示,在本實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法中,首先準(zhǔn)備在半導(dǎo)體晶 片22上安裝有半導(dǎo)體芯片23的層疊體20 (工序A)。需要說明的是,在圖1中,示出了將多 個(gè)半導(dǎo)體芯片23安裝在半導(dǎo)體晶片22上的情況,但本發(fā)明中,安裝在被安裝體上的電子部 件的數(shù)量也可以是1個(gè)。半導(dǎo)體芯片23可以通過采用公知方法切割形成有電路的半導(dǎo)體 晶片進(jìn)行單片化而形成。半導(dǎo)體芯片23向半導(dǎo)體晶片22的搭載,可以使用倒裝芯片焊接 機(jī)、芯片接合機(jī)等公知裝置。半導(dǎo)體芯片23和半導(dǎo)體晶片22通過凸塊(未圖示)等突起 電極進(jìn)行電連接。另外,半導(dǎo)體芯片23和半導(dǎo)體晶片22之間的距離可以適當(dāng)設(shè)定,一般為 15~50 μπι左右。在該間隙中可以填充密封樹脂(底部填料)。
      [0043] [準(zhǔn)備密封用片的工序]
      [0044] 另外,在本實(shí)施方式的電子部件裝置的制造方法中,如圖2所示,準(zhǔn)備密封用片 10 (工序Β)。密封用片10也可以按照層疊在聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯(PET)膜等支承體上 的狀態(tài)來準(zhǔn)備。這種情況下,為了容易地在支承體上進(jìn)行密封用片10的剝離,也可以實(shí)施 脫模處理。
      [0045] (密封用片)
      [0046] 密封用片10優(yōu)選含有環(huán)氧樹脂及酚醛樹脂。由此,可以獲得良好的熱固化性。
      [0047] 作為上述環(huán)氧樹脂,沒有特別限定。例如,可以使用三苯基甲烷型環(huán)氧樹脂、甲酚 線型酚醛型環(huán)氧樹脂、聯(lián)苯型環(huán)氧樹脂、改性雙酚A型環(huán)氧樹脂、雙酚A型環(huán)氧樹脂、雙酚F 型環(huán)氧樹脂、改性雙酚F型環(huán)氧樹脂、二環(huán)戊二烯型環(huán)氧樹脂、苯酚線型酚醛型環(huán)氧樹脂、 苯氧基樹脂等各種環(huán)氧樹脂。這些環(huán)氧樹脂可以單獨(dú)使用,也可以并用2種以上。
      [0048] 從確保環(huán)氧樹脂固化后的韌性以及環(huán)氧樹脂的反應(yīng)性的觀點(diǎn)考慮,優(yōu)選環(huán)氧當(dāng)量 為150~250、軟化點(diǎn)或熔點(diǎn)為50~130°C的常溫下為固態(tài)的環(huán)氧樹脂,其中,從可靠性的 觀點(diǎn)考慮,更優(yōu)選三苯基甲烷型環(huán)氧樹脂、甲酚線型酚醛型環(huán)氧樹脂、聯(lián)苯型環(huán)氧樹脂。
      [0049] 上述酚醛樹脂只要是與環(huán)氧樹脂之間發(fā)生固化反應(yīng)的酚醛樹脂,就沒有特別限 定。例如,可以使用苯酚線型酚醛樹脂、苯酚芳烷基樹脂、聯(lián)苯芳烷基樹脂、二環(huán)戊二烯型酚 醛樹脂、甲酚線型酚醛樹脂、甲階酚醛樹脂等。這些酚醛樹脂可以單獨(dú)使用,也可以并用2 種以上。
      [0050] 作為上述酚醛樹脂,從與環(huán)氧樹脂的反應(yīng)性的觀點(diǎn)考慮,優(yōu)選使用羥基當(dāng)量為 70~250、軟化點(diǎn)為50~IKTC的酚醛樹脂,其中,從固化反應(yīng)性高的觀點(diǎn)考慮,可以適宜使 用苯酚線型酚醛樹脂。另外,從可靠性的觀點(diǎn)考慮,還可以適當(dāng)?shù)厥褂帽椒臃纪榛鶚渲?、?lián) 苯芳烷基樹脂這樣的低吸濕性酚醛樹脂。
      [0051] 從固化反應(yīng)性的觀點(diǎn)考慮,環(huán)氧樹脂與酚醛樹脂的配合比例優(yōu)選按照相對(duì)于環(huán)氧 樹脂中的環(huán)氧基1當(dāng)量而酚醛樹脂中的羥基合計(jì)為0. 7~1. 5當(dāng)量的方式進(jìn)行配合,更優(yōu) 選為0.9~1.2當(dāng)量。
      [0052] 密封用片10中的環(huán)氧樹脂和酚醛樹脂的合計(jì)含量?jī)?yōu)選為2. 0重量%以上,更優(yōu)選 為3. O重量%以上。如果為2. O重量%以上,則可以良好地得到對(duì)于電子部件、被安裝體等 的粘接力。密封用片10中的環(huán)氧樹脂和酚醛樹脂的合計(jì)含量?jī)?yōu)選為20重量%以下,更優(yōu) 選為10重量%以下。如果為20重量%以下,則可以降低吸濕性。
      [0053] 密封用片10優(yōu)選含有熱塑
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