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      一種半導(dǎo)體加工裝置和加工半導(dǎo)體工件的工藝方法_2

      文檔序號:9472802閱讀:來源:國知局
      加熱源更具體地說,是六盞氙氣燈27。所述氙氣燈27規(guī)則地對稱排布,其產(chǎn)生的80%以上的熱量均可穿透玻璃密封蓋22傳遞至晶圓15表面。所述晶圓夾盤16上夾持有晶圓15,所述晶圓夾盤16具有一內(nèi)置加熱器19。所述藥液供給管13的外部包覆有管路加熱裝置14,用于補(bǔ)償藥液在傳輸過程中的熱量損失,實時控制管內(nèi)藥液的溫度處于55°C左右。所述藥液例如可以是臭氧水。所述溫度控制系統(tǒng)18連接管路加熱裝置14和加熱源,即氙氣燈27,并實時監(jiān)測藥液和晶圓15的溫度數(shù)據(jù)。所述密封蓋22為由玻璃制作而成的圓形蓋板,其本身并不吸收或損耗過多的由氙氣燈27輻射所產(chǎn)生的熱量。其具有良好的熱穿透性能。所述氙氣燈27照射產(chǎn)生的熱量絕大部分透過玻璃密封蓋22,傳遞至晶圓15表面,起到加熱晶圓的作用。所述溫度控制系統(tǒng)18包括溫度傳感器、溫度控制器和計算機(jī)。所述溫度控制系統(tǒng)18根據(jù)采集到的管內(nèi)藥液溫度和晶圓15表面的溫度數(shù)據(jù),在濕法蝕刻工藝過程中對管路加熱裝置14、內(nèi)置加熱器19的加熱強(qiáng)度和氙氣燈27的亮度做出相應(yīng)的調(diào)節(jié),控制管內(nèi)藥液溫度與晶圓15表面的溫度趨于相同,保持二者的溫度差在1°C左右,并將二者的溫度維持在55°C為佳。在此溫度下,臭氧水具有良好的刻蝕速率。所述溫度控制系統(tǒng)18對管路加熱裝置14、內(nèi)置加熱器19的加熱速率和氙氣燈27功率的調(diào)控是相互獨(dú)立的,其可以同時調(diào)節(jié)管路加熱裝置14的加熱速率和氙氣燈27的功率,也可單獨(dú)調(diào)控三者的其中之一。進(jìn)入干燥階段后,所述溫度控制系統(tǒng)18大幅度提高氙氣燈27的功率,進(jìn)而迅速提升晶圓15表面的溫度至80°C以上,高效快速的完成對晶圓15的干燥處理??梢钥吹剑瑴囟瓤刂葡到y(tǒng)18在調(diào)控晶圓15表面的溫度時,主要通過氙氣燈27和內(nèi)置加熱器19兩個渠道來實現(xiàn)。通過調(diào)節(jié)氙氣燈27的功率,以及氙氣燈27打開的個數(shù),可以從晶圓15的正面對晶圓15進(jìn)行加熱;而控制內(nèi)置加熱器19的加熱速率,能夠從晶圓15的背面對晶圓15進(jìn)行加熱,這樣從正反兩個方向上加熱晶圓15,能夠使晶圓15受熱更均勻,也更有利于加熱速率的提高。當(dāng)然,我們也可以僅僅通過氙氣燈27對晶圓15進(jìn)行加熱,或者僅僅通過內(nèi)置散熱器19對晶圓15進(jìn)行加熱,來實現(xiàn)對晶圓15表面溫度的調(diào)控,這樣會花費(fèi)更多的時間。另外,不管采用何種方式調(diào)控,溫度控制系統(tǒng)18均會根據(jù)采集的數(shù)據(jù)來保證藥液溫度與晶圓15表面的溫度差在rc的范圍之內(nèi)并作出相應(yīng)的調(diào)控。
      [0046]圖3俯視實施例二看到的氙氣燈27的排布位置示意圖??梢钥吹?,六盞氙氣燈27整體上按一個圓形排布,氙氣燈27a?d位于密封蓋22的上方,彼此均位于同一個平面且對稱,氙氣燈27e?f位于工藝腔11側(cè)方偏上位置,略低于氙氣燈27a?d所在的平面,且相互對稱。氣氣燈27e?f的照射方向與氣氣燈27a?d所在的平面向下成一定角度。
      [0047]圖4是本發(fā)明方法的示意框圖:
      [0048]本發(fā)明方法的【具體實施方式】包含以下步驟:
      [0049]提供一工藝腔,該工藝腔配備有溫度控制系統(tǒng)和熱能供應(yīng)裝置,所述溫度控制系統(tǒng)測量藥液和晶圓表面的溫度,并通過調(diào)控?zé)崮芄?yīng)裝置來實現(xiàn)對二者溫度的控制,所述熱能供應(yīng)裝置包括加熱藥液的管路加熱裝置,加熱晶圓的位于腔外的六盞水銀燈和晶圓夾盤內(nèi)部的內(nèi)置加熱器;
      [0050]通入預(yù)液預(yù)濕潤晶圓,這種預(yù)液更具體地說可以是超純水;
      [0051]打開溫度控制系統(tǒng),采集藥液和晶圓表面溫度數(shù)據(jù),這種藥液優(yōu)選臭氧水;
      [0052]溫度控制系統(tǒng)根據(jù)采集到的溫度數(shù)據(jù)分別加熱臭氧水藥液和晶圓,直至達(dá)到臭氧水的活性溫度,并在此溫度下保持恒定,臭氧水的活性溫度在55°C左右;
      [0053]溫度控制系統(tǒng)實時調(diào)控臭氧水和晶圓表面溫度,使二者的溫度差始終不超過1°C ;
      [0054]向工藝腔內(nèi)滴入臭氧水藥液,濕法蝕刻;
      [0055]蝕刻工藝完成,停止對臭氧水藥液的加熱和供給;
      [0056]通入后清洗液并清洗晶圓,所述后清洗液優(yōu)選去離子水(DIW);
      [0057]增大水銀燈的功率,打開全部六盞水銀燈,并增加內(nèi)置加熱器的加熱功率,迅速提升晶圓表面溫度進(jìn)行干燥,在此階段,可以加快晶圓的轉(zhuǎn)速并充入惰性氣體,以提高干燥效率;
      [0058]完成晶圓的干燥處理。
      [0059]上述【具體實施方式】只是用于說明本發(fā)明的設(shè)計方法,并不能用來限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。對于在本發(fā)明技術(shù)方案的思想指導(dǎo)下的變形和轉(zhuǎn)換,都應(yīng)該歸于本發(fā)明保護(hù)范圍以內(nèi)。
      【主權(quán)項】
      1.一種半導(dǎo)體加工裝置,包括工藝腔、密封蓋、藥液供給管、晶圓夾盤、洗液進(jìn)給管和溫度控制系統(tǒng),其特征在于,所述半導(dǎo)體加工裝置的工藝腔外部安裝有加熱源,所述藥液供給管外包覆有管路加熱裝置,所述溫度控制系統(tǒng)采集藥液和晶圓表面的溫度數(shù)據(jù),在濕法蝕刻工藝階段保持該藥液的溫度和晶圓表面的溫度的溫差在rc范圍內(nèi),在干燥階段提升晶圓溫度至80°C以上。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體加工裝置,其特征在于,所述密封蓋采用高透熱率材料制成。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體加工裝置,其特征在于,所述高透熱率材料的熱量透過率在80%以上。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體加工裝置,其特征在于,所述晶圓夾盤具有內(nèi)置加熱器。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體加工裝置,其特征在于,所述溫度控制系統(tǒng)單獨(dú)控制加熱源、內(nèi)置加熱器和管路加熱裝置。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體加工裝置,其特征在于,所述加熱源的個數(shù)為一個。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體加工裝置,其特征在于,所述加熱源位于所述工藝腔外部的正上方。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體加工裝置,其特征在于,所述加熱源的個數(shù)為兩個及以上。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體加工裝置,其特征在于,所述加熱源在所述工藝腔外部規(guī)則排布。10.一種加工半導(dǎo)體工件的工藝方法,其步驟包括: 提供一工藝腔,所述工藝腔配備有熱能供應(yīng)裝置和溫度控制系統(tǒng),所述溫度控制系統(tǒng)測量藥液和晶圓表面的溫度,并通過調(diào)控?zé)崮芄?yīng)裝置來實現(xiàn)對所述藥液和晶圓表面溫度的控制; 通入預(yù)液預(yù)濕潤晶圓; 打開所述溫度控制系統(tǒng),采集藥液與晶圓表面的溫度數(shù)據(jù); 所述溫度控制系統(tǒng)根據(jù)采集到的溫度數(shù)據(jù)分別加熱藥液和晶圓直至達(dá)到藥液的活性溫度,并在此溫度下保持恒定; 所述溫度控制系統(tǒng)實時調(diào)控藥液和晶圓表面溫度,使二者之間的溫度差始終不超過rc ; 滴入藥液,濕法蝕刻; 蝕刻工藝完成,停止對藥液的供給; 通入后清洗液并清洗晶圓; 增大所述熱能供應(yīng)裝置對晶圓的加熱強(qiáng)度,提升晶圓表面溫度進(jìn)行干燥; 完成晶圓的干燥處理。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的工藝方法,其特征在于,所述熱能供應(yīng)裝置包括針對藥液的管路加熱裝置以及針對晶圓的加熱源和內(nèi)置加熱器。12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的工藝方法,其特征在于,所述后清洗液為DIW,通過DIW沖洗,所述后清洗液把藥液沖洗干凈。13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的工藝方法,其特征在于,進(jìn)一步包括:在干燥階段,加快晶圓轉(zhuǎn)速,并充入惰性氣體。
      【專利摘要】本發(fā)明公開一種半導(dǎo)體加工裝置和加工半導(dǎo)體工件的工藝方法,該裝置包括工藝腔、密封蓋、藥液供給管、晶圓夾盤、洗液進(jìn)給管和溫度控制系統(tǒng),所述半導(dǎo)體加工裝置的工藝腔外部安裝有加熱源,所述藥液供給管外包覆有管路加熱裝置。本發(fā)明所述的半導(dǎo)體加工裝置通過一些獨(dú)特的結(jié)構(gòu)設(shè)計,可以保證半導(dǎo)體晶圓在濕法蝕刻的過程中藥液溫度與晶圓表面溫度近乎相同,當(dāng)藥液滴至晶圓表面后,晶圓各處能夠以一個均一的速率完成刻蝕過程,從而確保了晶圓片內(nèi)的均勻度。
      【IPC分類】H01L21/67, H01L21/02
      【公開號】CN105225982
      【申請?zhí)枴緾N201410236021
      【發(fā)明人】賈照偉, 王堅, 王暉
      【申請人】盛美半導(dǎo)體設(shè)備(上海)有限公司
      【公開日】2016年1月6日
      【申請日】2014年5月30日
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