一種磁性吸波貼片縮比模擬復(fù)合材料配制方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于目標與環(huán)境電磁散射特性研究中的電磁縮比模擬復(fù)合材料設(shè)計與構(gòu) 造領(lǐng)域,涉及一種電磁縮比模擬復(fù)合材料,具體涉及一種磁性吸波貼片縮比模擬復(fù)合材料 配制方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 雷達散射截面精確測量是雷達探測、目標識別和電子戰(zhàn)技術(shù)的重要研究手段,在 提升我國武器系統(tǒng)的防御能力以及新型隱身武器系統(tǒng)的研制中發(fā)揮著舉足輕重的作用。通 常的測量方法主要有全尺寸實測法和電磁縮比測量法。由于外場全尺寸實測法存在著真實 目標獲取困難、可控性性差、測試成本極其昂貴等難以克服的障礙。因此,電磁縮比測量法 被廣泛應(yīng)用在目標和環(huán)境的雷達散射截面的測量之中。對于電磁縮比測量,為了能夠準確 地得到原型目標的雷達散射截面,要求縮比模型與原型目標保持電尺寸比例不變,更重要 的是保證它們電磁散射特性相同。因此,電磁縮比材料的研制成為縮比測量技術(shù)的關(guān)鍵。 隨著以隱身飛機為代表的隱身武器系統(tǒng)的出現(xiàn),電磁吸波材料正受到各個國家越來越多的 關(guān)注。與電損耗型吸波相比,磁損耗型更能符合隱身材料"薄、輕、寬、強"的發(fā)展要求。然 而,絕大多數(shù)材料在縮比測量的頻率范圍內(nèi)無法保持磁性能,導(dǎo)致了在測試頻率下難以獲 得與原型材料在原型測試頻率下的電磁參數(shù)。國防專利"一種非金屬目標電磁散射特性縮 比測試方法"(專利號:ZL200710081915.X)、國防專利"一種用于電磁散射特性測試的海水 縮比模擬材料制造方法"(專利號:201218005632. 90)、國防專利"亞毫米波波段的非金屬 材料制備方法及系統(tǒng)"(專利號:201318007995. 00)以及國防專利"高介電常數(shù)海水縮比模 擬復(fù)合材料加工方法"(專利號=201318007991. 20)都進行了電磁縮比材料配制方法的研 究,這些專利中配制的材料都是非磁性材料,只需對介電常數(shù)進行設(shè)計,使之與原型材料在 原型測試頻率處的介電常數(shù)相同或接近,這種縮比材料的設(shè)計方法不適合磁性材料的縮比 設(shè)計,而且設(shè)計材料配方時采用的公式為一般的等效媒質(zhì)理論公式,這些公式不適合高濃 度混合等效電磁參數(shù)的計算,而且填充的顆粒往往是球形顆粒,對各向異性的填充顆粒計 算時誤差將更大。
[0003] 因此,磁性吸波材料的縮比模擬復(fù)合材料的研制亟待解決。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004] 本發(fā)明的目的提供一種磁性吸波材料的縮比模擬復(fù)合材料的研制方法,采用混合 物等效電磁參數(shù)計算方法,能對高濃度各向異性的顆粒混合物進行等效電磁參數(shù)進行計 算,并在此基礎(chǔ)上進一步提出縮比模擬復(fù)合材料斜角反射率優(yōu)化設(shè)計方法,可以有效地解 決包括磁性吸波材料在內(nèi)的縮比模擬復(fù)合材料設(shè)計與制備難題,從而為推動雷達散射截面 縮比測量技術(shù)的發(fā)展做出貢獻。
[0005] 為達到上述目的,本發(fā)明提供了 一種磁性吸波貼片縮比模擬復(fù)合材料配制方法, 其包含如下步驟:
[0006] 步驟1,確定模擬復(fù)合材料中電磁顆粒與粘結(jié)劑的混合比例:在給定厚度范圍內(nèi), 通過對不同配方的模擬復(fù)合材料在縮比頻率處的斜角反射率進行計算,找出與磁性吸波貼 片原型材料在原型頻率下的斜角反射率最為接近的模擬復(fù)合材料,確定該模擬復(fù)合材料的 配方,即,其中電磁顆粒的濃度(電磁顆粒與粘結(jié)劑的相對比例)和相應(yīng)的材料厚度;
[0007] 步驟2,按上述確定的混合比例稱量電磁顆粒與粘結(jié)劑;
[0008] 步驟3,加料、混煉:混煉過程包括包輥、吃粉和翻煉三個階段,在混煉過程,輥速 控制在16~18r/min內(nèi),速比一般為1:1. 1~1:1. 2之間,輥溫一般能超過50°C;
[0009] 步驟4,硫化:在溫度為180°C,壓力為lOMPa下模壓硫化5min左右,取出,冷卻至 室溫,放置一段時間,得到硫化片;
[0010] 步驟5,熱處理:將硫化片在溫度為200°C,放置4~6小時,取出冷卻,得到縮比模 擬用磁性吸波貼片。
[0011] 上述的方法,其中,吸波材料的斜角反射率與電磁波的極化方式有關(guān),當電磁波為 橫電波時,電磁波的電場分量與電磁波傳播方向和貼片法線方向構(gòu)成的平面垂直,磁場分 量在該平面內(nèi),此時斜角反射率可以通過以下公式計算獲得:
[0012]
[0013]
[0014] 其中,RL(TE)代表電磁波為橫電波時的斜角反射率,RUReflectionsLoss)為反 射損耗效率,也就是反射率,由于在斜入射的情況下,RL是入射角Θ的函數(shù),因此這時的RL 就是斜角反射率;Z。代表空氣的特性阻抗,其大小為377Ω;Ζιη代表電磁波在材料表面的輸 入阻抗;f代表入射電磁波的頻率;C代表電磁波在真空中的傳播速度;Θ代表電磁波入射 角;d代表吸波材料的厚度;\代表吸波材料等效復(fù)介電常數(shù);μ1^代表吸波材料等效復(fù)磁 導(dǎo)率。
[0015] 上述的方法,其中,當電磁波為橫磁波時,電磁波的電場分量在電磁波傳播方向和 貼片法線方向構(gòu)成的平面內(nèi),磁場分量與該平面垂直,此時斜角反射率可以通過以下公式 計算獲得:
[0016]
[0017]
[0018] 其中,RL(ΤΜ)代表電磁波為橫磁波時的斜角反射率;Ζ。代表空氣的特性阻抗,其大 小為377Ω;Ζιη代表電磁波在材料表面的輸入阻抗;f代表入射電磁波的頻率;C代表電磁 波在真空中的傳播速度;Θ代表電磁波入射角;d代表吸波材料的厚度;ε^代表吸波材料 等效復(fù)介電常數(shù);μ1^代表吸波材料等效復(fù)磁導(dǎo)率;等效復(fù)介電常數(shù)或等效復(fù)磁導(dǎo)率是指在 宏觀上將復(fù)合材料等效成某種單一材料,并且保證單一材料儲存電場或磁場的能力與復(fù)合 材料完全相同,這時單一材料的復(fù)介電常數(shù)或復(fù)磁導(dǎo)率的大小就是復(fù)合材料等效復(fù)介電常 數(shù)或等效復(fù)磁導(dǎo)率的值。
[0019] 上述的方法,其中,所述的吸波材料等效復(fù)介電常數(shù)、吸波材料等效復(fù)磁導(dǎo)率的計 算方法為:將電磁顆粒按不同的添加比例與粘結(jié)劑混合,制備電磁參數(shù)測試用的同軸樣件, 測試獲得電磁參數(shù)測試數(shù)據(jù);然后將最高濃度的復(fù)合材料的測試等效電磁參數(shù)作為基底的 電磁參數(shù),而粘結(jié)劑的電磁參數(shù)作為微粒的電磁參數(shù),通過向高濃度復(fù)合材料中添加粘結(jié) 劑的方式來實現(xiàn)低濃度復(fù)合材料的等效電磁參數(shù)計算,所述的吸波材料等效復(fù)介電常數(shù)、 吸波材料等效復(fù)磁導(dǎo)率通過如下公式計算:
[0020]
[0021] υ=ap^+bp+c
[0022] 式中,ΦβΗ表示復(fù)合材料的等效介電常數(shù)或磁導(dǎo)率;Φi表示為微粒的電磁參數(shù); 在這表示為最高濃度的復(fù)合材料的等效電磁參數(shù);P表示計算低濃度復(fù)合材料等效電磁 參數(shù)時向高濃度復(fù)合材料中所需要添加的粘結(jié)劑的含量;a、b和c為擬合參數(shù),通過對測試 的各個濃度的復(fù)合材料等效電磁參數(shù)擬合計算而獲得。
[0023] 上述的方法,其中,原型材料和縮比模擬材料都是單層結(jié)構(gòu),而且材料的電磁特性 是各向同性。
[0024] 上述的方法,其中,縮比模擬復(fù)合材料填充的顆粒為具有各向異性的形體。
[0025] 上述的方法,其中,縮比模擬復(fù)合材料的粘結(jié)劑為硅橡膠;所述的電磁顆粒為具有 各向異性形體的片形羰基鐵粉。
[0026] 上述的方法,其中,所述的吸波材料等效復(fù)介電常數(shù)、吸波材料等效復(fù)磁導(dǎo)率通過 如下公式計算:
[0027]
[0028] υ =ap2+bp+c
[0029] 其中,Φ#表示所需濃度混合物的等效介電常數(shù)或磁導(dǎo)率;Φi為純橡膠的電磁參 數(shù);Φη為顆粒體積分數(shù)為47. 44%的片形羰基鐵/硅橡膠混合物的測試等效電磁參數(shù);p為 得到所需濃度混合物時需要向顆粒體積分數(shù)為47. 44%的片形羰基鐵/硅橡膠混合物添加 純硅橡膠的體積分數(shù);a、b和c為擬合參數(shù),通過對純硅橡膠樣件以及含有顆粒體積分數(shù)分 別為7. 71 %、17. 32 %、21. 93 %、29. 06 %和47. 44%片形羰基鐵/硅橡膠混合物按上述進行 擬合計算,得到a= 2. 3640、b= 4. 6191、和c= -4. 8