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      太陽(yáng)能電池及其制造方法

      文檔序號(hào):9549631閱讀:392來(lái)源:國(guó)知局
      太陽(yáng)能電池及其制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明的實(shí)施方式涉及太陽(yáng)能電池及其制造方法,更具體地,涉及具有隧穿結(jié)構(gòu)的太陽(yáng)能電池及其制造方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在最近幾年,隨著諸如石油和煤炭的傳統(tǒng)能源枯竭,對(duì)用于代替這些能源的替代能源的關(guān)注正在增加。當(dāng)然,太陽(yáng)能電池作為下一代電池吸引了很多注意,其將太陽(yáng)能轉(zhuǎn)換為電能。
      [0003]這種太陽(yáng)能電池是通過(guò)根據(jù)設(shè)計(jì)方案形成各個(gè)層和電極制造的。太陽(yáng)能電池的效率可以根據(jù)各個(gè)層和電極的設(shè)計(jì)來(lái)確定。應(yīng)克服低效率,使得太陽(yáng)能電池投入實(shí)際使用。因此,各個(gè)層和電極應(yīng)被設(shè)計(jì)成使得太陽(yáng)能電池的效率最大化。并且,用于制造具有各個(gè)層和電極的太陽(yáng)能電池的方法應(yīng)簡(jiǎn)化。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明的實(shí)施方式提供具有增強(qiáng)的效率的太陽(yáng)能電池以及具有簡(jiǎn)化的制造處理的制造太陽(yáng)能電池的方法。
      [0005]—種制造太陽(yáng)能電池的方法,該方法包括以下步驟:在半導(dǎo)體襯底上形成隧穿層;在該隧穿層上形成半導(dǎo)體層,其中,形成該半導(dǎo)體層的步驟包括沉積半導(dǎo)體材料;以及形成連接到所述半導(dǎo)體層的電極。在高于室溫的溫度和低于大氣壓力的壓力下形成所述隧穿層。
      [0006]—種通過(guò)以上方法制造的太陽(yáng)能電池,該太陽(yáng)能電池包括具有約2nm或更小的厚度的隧穿層。
      【附圖說(shuō)明】
      [0007]圖1是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于制造太陽(yáng)能電池的方法制造的太陽(yáng)能電池的示例的截面圖;
      [0008]圖2是圖1例示的太陽(yáng)能電池的部分后視平面圖;
      [0009]圖3a到圖3g是例示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于制造太陽(yáng)能電池的方法的截面圖;
      [0010]圖4a到圖4h是用于例示根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方式的用于制造太陽(yáng)能電池的方法的截面圖;
      [0011 ] 圖5是根據(jù)示例1到3和比較示例1制造的太陽(yáng)能電池的隧穿層的厚度的圖;
      [0012]圖6是根據(jù)試驗(yàn)示例1到3和比較示例1的太陽(yáng)能電池的電流(I)-電壓(V)圖;
      [0013]圖7是根據(jù)隧穿層的厚度的填充因數(shù)圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0014]下面將詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施方式,在附圖中例示出了其示例。然而,本發(fā)明可以許多不同的形式實(shí)施,而不應(yīng)解釋為限于本文所闡述的實(shí)施方式;
      [0015]在附圖中僅例示了構(gòu)成本發(fā)明的特征的元件,并且為了清楚描述,不構(gòu)成本發(fā)明的特征的其它元件將不在此描述并且在附圖中省略。類(lèi)似的附圖標(biāo)記通篇指代類(lèi)似的要素。在附圖中,為了例示的清楚和方便,組成元件的厚度、面積等可以夸大或縮小。本發(fā)明的實(shí)施方式不限于所例示的厚度、面積等。
      [0016]應(yīng)理解的是在本說(shuō)明書(shū)中,當(dāng)一個(gè)元件被稱(chēng)為“包括”或“包含”另一個(gè)元件時(shí),“包括”或“包含”規(guī)定另一個(gè)元件的存在,但不排除其它附加元件的存在,除非上下文清楚地相反指示。另外,將理解的是,當(dāng)諸如層、區(qū)域或板之類(lèi)的元件被稱(chēng)為“位于”另一元件“上”時(shí),該一個(gè)元件可以直接位于另一元件上,或也可以存在一個(gè)或更多個(gè)中間元件。相反,當(dāng)諸如層、區(qū)域或板之類(lèi)的元件被稱(chēng)為“直接在”另一個(gè)元件上時(shí),不存在一個(gè)或更多個(gè)中間元件。
      [0017]在下文,將參照附圖詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于制造太陽(yáng)能電池的方法。將描述通過(guò)根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于制造太陽(yáng)能電池的方法制造的太陽(yáng)能電池的示例,接著,將描述根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于制造太陽(yáng)能電池的方法。
      [0018]圖1是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的用于制造太陽(yáng)能電池的方法制造的太陽(yáng)能電池的示例的截面圖;并且圖2是圖1例示的太陽(yáng)能電池的部分后視平面圖。
      [0019]參照?qǐng)D1和圖2,根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的太陽(yáng)能電池100包括:包括基底區(qū)域110的半導(dǎo)體襯底10、在半導(dǎo)體襯底10上的隧穿層20、包括導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和34的在隧穿層20上的半導(dǎo)體層30、以及連接到導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和34的電極42和電極44。在此例子中,半導(dǎo)體層30可以包括第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32、第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34和屏障區(qū)域36。第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32具有第一導(dǎo)電類(lèi)型,并且第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34具有第二導(dǎo)電類(lèi)型。屏障區(qū)域36可以定位在第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34之間,并且屏障區(qū)域36是本征的。電極42和44包括連接到第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32的第一電極42和連接到第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34的第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34。太陽(yáng)能電池100可以還包括鈍化層24、防反射層26、絕緣層40等。這將在下面更詳細(xì)地描述。
      [0020]半導(dǎo)體襯底10可以包括基底區(qū)域110,其包括處于相對(duì)低的摻雜濃度的第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì),以具有第二導(dǎo)電類(lèi)型?;讌^(qū)域110可以包括包括第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的結(jié)晶半導(dǎo)體。例如,基底區(qū)域110可以包括包括第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的單晶或多晶半導(dǎo)體(例如,單晶或多晶硅)。具體地,基底區(qū)域110可以是包括第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的單晶硅半導(dǎo)體(例如,單晶晶圓,更具體地,單晶硅晶圓)。當(dāng)基底區(qū)域110包括單晶硅時(shí),太陽(yáng)能電池100是單晶硅太陽(yáng)能電池。太陽(yáng)能電池100是基于基底區(qū)域100或包括具有高程度的晶體和低程度的缺陷的單晶硅的半導(dǎo)體區(qū)域10,并且因此,太陽(yáng)能電池100具有增強(qiáng)的電氣屬性。
      [0021]第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)可以是η型或p型。例如,當(dāng)基底區(qū)域110是η型時(shí),形成結(jié)(例如,ρη結(jié),之間設(shè)置隧穿層20)(其通過(guò)光電轉(zhuǎn)換形成載流子)的ρ型的第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32具有寬面積并且因而光電轉(zhuǎn)換面積可以增大。另外,在此例子中,具有寬面積的第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32有效地收集具有相對(duì)慢的運(yùn)動(dòng)速率的空穴并且因此可以進(jìn)一步貢獻(xiàn)于提高光電轉(zhuǎn)換效率。然而,本發(fā)明的實(shí)施方式不限于以上示例。
      [0022]另外,半導(dǎo)體襯底10可以包括位于其前表面的前表面場(chǎng)區(qū)域130。前表面場(chǎng)區(qū)域130可以具有與基底區(qū)域110相同的導(dǎo)電類(lèi)型和比基底區(qū)域110高的摻雜濃度。
      [0023]在本發(fā)明的實(shí)施方式中,前表面場(chǎng)區(qū)域130是通過(guò)用第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)在相對(duì)高的摻雜濃度對(duì)半導(dǎo)體襯底10摻雜而形成的摻雜區(qū)域。因此,前表面場(chǎng)區(qū)域130構(gòu)成包括第二導(dǎo)電類(lèi)型的晶體(單晶或多晶)半導(dǎo)體的半導(dǎo)體襯底10。例如,前表面場(chǎng)區(qū)域130可以被形成為第二導(dǎo)電類(lèi)型的單晶半導(dǎo)體襯底(例如,單晶硅晶圓襯底)的一部分。然而,本發(fā)明的實(shí)施方式不限于以上示例。因此,前表面場(chǎng)區(qū)域130可以通過(guò)用第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)摻雜與半導(dǎo)體襯底10分開(kāi)的半導(dǎo)體層(例如,非晶半導(dǎo)體層、微晶半導(dǎo)體層或多晶半導(dǎo)體層)來(lái)形成。在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方式中,前表面場(chǎng)區(qū)域130可以是類(lèi)似于通過(guò)用雜質(zhì)對(duì)與半導(dǎo)體襯底10相鄰地形成的層(例如,鈍化層24和/或防反射層26)摻雜而形成的區(qū)域起作用的場(chǎng)區(qū)域例如,當(dāng)基底區(qū)域110是η型時(shí),鈍化層24可以包括具有固定負(fù)電荷的氧化物(例如,氧化鋁)以在基底區(qū)域110的表面處形成反轉(zhuǎn)層。反轉(zhuǎn)層可以用作場(chǎng)區(qū)域。在此例子中,半導(dǎo)體襯底10不包括附加摻雜區(qū)域并且因此,半導(dǎo)體襯底10的缺陷可以被最小化。具有各種結(jié)構(gòu)的前表面場(chǎng)區(qū)域130可以使用各種其它方法形成。
      [0024]在本發(fā)明的實(shí)施方式中,半導(dǎo)體襯底10的前表面可以被紋理化以具有不平坦表面(或突出部分和/或凹進(jìn)部分)以形成棱錐等。通過(guò)紋理化處理,在半導(dǎo)體襯底10的前表面處形成不平坦部分,并且因此其表面粗糙度增加,因而入射在半導(dǎo)體襯底10的前表面上的光的反射可以減少。因此,到達(dá)由基底區(qū)域110和第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32形成的ρη結(jié)的光的量可以增加,并且因此,光損耗可以最小化。
      [0025]另外,半導(dǎo)體襯底10的后表面可以具有由鏡面拋光等而形成并且具有比半導(dǎo)體襯底10的前表面低的表面粗糙度的相對(duì)平滑和平坦的表面。如在本發(fā)明的實(shí)施方式中,當(dāng)?shù)谝话雽?dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34在半導(dǎo)體襯底10的后表面上形成在一起時(shí),根據(jù)半導(dǎo)體襯底10的后表面的特性,太陽(yáng)能電池100的特性可以較大地改變。由于在半導(dǎo)體襯底10的后表面處不通過(guò)紋理化形成不平坦部分,所以可以增強(qiáng)鈍化特性,因此,可以增強(qiáng)太陽(yáng)能電池100的特性。然而,本發(fā)明的實(shí)施方式不限于以上示例。在一些示例中,通過(guò)紋理化,可以在半導(dǎo)體襯底10的后表面處形成不平坦部分。另外,可能進(jìn)行各種修改。
      [0026]隧穿層20形成在半導(dǎo)體襯底10的后表面上,在半導(dǎo)體襯底10和導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和34之間。半導(dǎo)體襯底10的后表面的界面屬性可以由隧穿層20增強(qiáng),并且隧穿層20使得由光電轉(zhuǎn)換形成的載流子通過(guò)隧穿效應(yīng)順利地傳遞。隧穿層20可以包括使得載流子隧穿的各種材料,例如氧化物。例如,隧穿層20可以具有包括氧化硅等的熱氧化物層。就此而言,隧穿層20可以形成在半導(dǎo)體襯底10的整個(gè)后表面上。因此,隧穿層20可以使得半導(dǎo)體襯底10的后表面完全鈍化,并且在沒(méi)有單獨(dú)構(gòu)圖的情況下容易形成。
      [0027]隧穿層20可以具有厚度Τ1,其小于半導(dǎo)體層30和絕緣層40的厚度的每個(gè)。在本發(fā)明的實(shí)施方式中,隧穿層20在高于室溫的溫度和低于大氣壓力的壓力下形成,并且以此,隧穿層20被均勻地形成以具有小的厚度。例如,隧穿層20的厚度Τ1可以是約2nm或更小,例如,1.0nm到1.5nm。當(dāng)隧穿層20的厚度T1具有約2nm或更小的小厚度時(shí),載流子的隧穿概率可以增大并且太陽(yáng)能電池100的填充因數(shù)FF可以增強(qiáng)。具體地,當(dāng)隧穿層20的厚度T1是1.5nm或更小時(shí),具體地,約1.4nm或更小,并且更具體地,約1.3nm或更小,太陽(yáng)能電池100的填充因數(shù)可以進(jìn)一步增強(qiáng)。然而,當(dāng)隧穿層20的厚度T1是小于1.0nm時(shí),會(huì)難以均勻地形成隧穿層20。并且,半導(dǎo)體層30的雜質(zhì)通過(guò)穿透隧穿層20會(huì)擴(kuò)散到半導(dǎo)體襯底10,并且會(huì)引起復(fù)合。此外,隧穿層20的鈍化屬性會(huì)降低,因?yàn)樗泶?0受到半導(dǎo)體襯底10的晶體屬性影響。因此,暗含的開(kāi)路電壓會(huì)降低。
      [0028]將更詳細(xì)描述隧穿層20的制造方法和隧穿層20的厚度T1。然而,本發(fā)明不限于此,并且因此,隧穿層20可以具有不同于以上的厚度T1。
      [0029]包括導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和34和屏障區(qū)域36的半導(dǎo)體層30可以設(shè)置在隧穿層20上。半導(dǎo)體層30的導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和34可以包括包括第一導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)或第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的半導(dǎo)體(例如,硅)。屏障區(qū)域36可以包括不包括第一導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)和第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的半導(dǎo)體(例如,硅)。
      [0030]更具體地,導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和34可以包括包括第一導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32因而具有第一導(dǎo)電類(lèi)型以及包括第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34因而具有第二導(dǎo)電類(lèi)型。屏障區(qū)域36是本征的,可以設(shè)置在第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32和第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34之間。
      [0031 ]作為半導(dǎo)體層30的一部分的第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32與基底區(qū)域110形成pn結(jié)(或
      pn隧道結(jié))同時(shí)在之間沉積隧穿層20并且因而構(gòu)成通過(guò)光電轉(zhuǎn)換產(chǎn)生載流子的發(fā)射極區(qū)域。就此而言,與基底區(qū)域110相反,第一導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域32可以包括包括第一導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的半導(dǎo)體(例如,硅)。第一導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)可以在形成半導(dǎo)體層30時(shí)被包括在半導(dǎo)體層30中,或可以在形成半導(dǎo)體層30之后通過(guò)諸如熱擴(kuò)散、粒子植入等摻雜方法而被包括在半導(dǎo)體層30中。
      [0032]就此而言,第一導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)可以是具有與基底區(qū)域110相反的導(dǎo)電類(lèi)型的任何雜質(zhì)。也就是說(shuō),當(dāng)?shù)谝粚?dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)是P型的時(shí),第一導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)可以是諸如B、A1、GA、In等的III族元素。當(dāng)?shù)谝粚?dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)是η型的時(shí),第一導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)可以是諸如P、As、B1、Sb等的V族元素。
      [0033]作為半導(dǎo)體層30的一部分的第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34形成后表面場(chǎng)并且因而形成后表面場(chǎng)區(qū)域,其防止通過(guò)在半導(dǎo)體襯底10的表面(更具體地,后表面)處的復(fù)合而損失載流子。
      [0034]與基底區(qū)域110的相同,第二導(dǎo)電類(lèi)型區(qū)域34可以包括包括第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)的半導(dǎo)體(例如,硅)。第二導(dǎo)電類(lèi)型雜質(zhì)可以在形成半導(dǎo)體層30時(shí)被包括在半導(dǎo)體層30中,或可以在形成半導(dǎo)體層30之后通過(guò)諸如熱擴(kuò)散、粒子植入等摻雜方法而被包括在半導(dǎo)體層中。
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