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      提高GaN基LED抗靜電性能的外延結(jié)構(gòu)及其制備方法

      文檔序號:9549660閱讀:206來源:國知局
      提高GaN基LED抗靜電性能的外延結(jié)構(gòu)及其制備方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及半導(dǎo)體發(fā)光器件技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種GaN基LED外延結(jié)構(gòu)及其制備方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]發(fā)光二極管(LED)作為一種高效、環(huán)保和綠色新型固態(tài)照明光源,具有體積小、重量輕、壽命長、可靠性高及使用功耗低等優(yōu)點(diǎn),得以廣泛應(yīng)用,特別是在照明領(lǐng)域的應(yīng)用所占比例越來越高,在技術(shù)上對大功率LED芯片發(fā)光效率的要求與日倶增。
      [0003]要提高大功率LED芯片發(fā)光效率,需要提高其光電轉(zhuǎn)換效率,主要通過提高內(nèi)量子效率和外量子效率來實(shí)現(xiàn)。目前內(nèi)量子效率的提高已經(jīng)接近理論的極限狀態(tài),而提升LED器件的光取出效率成為技術(shù)發(fā)展的熱點(diǎn),通過設(shè)計(jì)新的芯片結(jié)構(gòu)來改善出光效率,進(jìn)而提升發(fā)光效率(或外量子效率)。η型區(qū)是制造GaN (氮化鎵)型LED器件必不可少的環(huán)節(jié),N型GaN結(jié)構(gòu)及其外延生長方法是提高GaN基LED光取出效率和降低串聯(lián)電阻的關(guān)鍵。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明的目的在于提供一種提高GaN基LED抗靜電性能的外延結(jié)構(gòu)及其制備方法。
      [0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明一實(shí)施方式提供一種GaN基LED外延結(jié)構(gòu),所述LED外延結(jié)構(gòu)從下向上依次包括:
      襯底,N型GaN層,MQW有源層,P型AlGaN層,P型GaN層;
      所述N型GaN層包括依次排布的第一 GaN層、高摻雜N型GaN層和第二 GaN層;
      所述第一 GaN層和第二 GaN層分別由若干非摻雜層和摻雜層交替排列組成,且所述高摻雜N型GaN層摻雜濃度不小于所述摻雜層。
      [0006]作為本實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),第一 GaN層中,非摻雜層厚度逐漸遞增,摻雜層厚度逐漸遞減,第二 GaN層中,非摻雜層厚度逐漸遞減,摻雜層厚度逐漸遞增。
      [0007]作為本實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),第一 GaN層中,摻雜層摻雜濃度保持不變,且每一對上下相鄰的摻雜層與非摻雜層總厚度保持不變。
      [0008]作為本實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),第二 GaN層中,摻雜層摻雜濃度保持不變,且每一對上下相鄰的摻雜層與非摻雜層總厚度保持不變。
      [0009]作為本實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),第一 GaN層中,摻雜層摻雜濃度為5E18-1.5E19cm 3,且所述每一對上下相鄰的摻雜層與非摻雜層總厚度為10nm-50nm。
      [0010]作為本實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),第二 GaN層中,摻雜層摻雜濃度為5E18-1.5E19cm 3,且所述每一對上下相鄰的摻雜層與非摻雜層總厚度為10nm-50nm。
      [0011]作為本實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),高摻雜N型GaN層的摻雜濃度保持不變。
      [0012]作為本實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),高摻雜N型GaN層的摻雜濃度為1.5E19-3E19cm 3,厚度為 600nm-1200nm。
      [0013]為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的之一,本實(shí)施方式的一種GaN基LED外延結(jié)構(gòu)的制備方法,包括:提供一襯底;
      在襯底上生長N型GaN層;
      在N型GaN層上生長MQW有源層;
      在MQW有源層上生長P型AlGaN層;
      在P型AlGaN層上生長P型GaN層;
      其中,N型GaN層包括依次排布的第一 GaN層、高摻雜N型GaN層和第二 GaN層,且按以下步驟依次生長:
      第一 GaN層中交替生長非摻雜層和摻雜層,其中非摻雜層厚度逐漸遞增,摻雜層厚度逐漸減,摻雜層摻雜濃度保持不變,每一對上下相鄰的摻雜層與非摻雜層總厚度保持不變;
      高摻雜N型GaN層,其摻雜濃度保持不變;
      第二 GaN層中交替生長非摻雜層和摻雜層,其中非摻雜層厚度逐漸遞減,摻雜層厚度逐漸增,摻雜層摻雜濃度保持不變,每一對上下相鄰的摻雜層與非摻雜層總厚度保持不變。
      [0014]作為本實(shí)施方式的進(jìn)一步改進(jìn),N型GaN層的生長溫度的取值范圍為900°C -1120°C,其生長壓力為 100Torr-300Torro
      [0015]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明采用漸變的N型GaN層結(jié)構(gòu),能減少位錯密度,有利電流擴(kuò)展,提高材料的抗靜電能力,同時對低電流密度的LED芯片有利于提高亮度;另一方面,此結(jié)構(gòu)可以提高電子濃度,從而提高電子迀移率,降低發(fā)光電壓,LED芯片電壓比正常電壓低3%-5%,提高了抗靜電能力。
      【附圖說明】
      [0016]圖1是本發(fā)明一實(shí)施方式中GaN基LED外延結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;
      圖2是本發(fā)明一實(shí)施方式中GaN基LED外延結(jié)構(gòu)的制備方法的流程示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0017]以下將結(jié)合附圖所示的【具體實(shí)施方式】對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。但這些實(shí)施方式并不限制本發(fā)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)這些實(shí)施方式所做出的結(jié)構(gòu)、方法、或功能上的變換均包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
      [0018]如圖1所示,本發(fā)明提供的GaN基LED外延結(jié)構(gòu),該LED外延結(jié)構(gòu)從下向上依次包括:襯底10,N型GaN層20,超晶格MQW(多量子阱)有源層30,P型AlGaN層40和P型GaN層50。
      [0019]本發(fā)明一實(shí)施方式中,襯底10的材料為藍(lán)寶石襯底,當(dāng)然,在本發(fā)明的其他實(shí)施方式中,襯底10也可以為其他襯底材料,如S1、SiC等。
      [0020]本發(fā)明一實(shí)施方式中,N型GaN層20自下而上包括三部分:
      a.第一 GaN層201,其由若干非摻雜層(uGaN) 2011和摻雜層(nGaN) 2012交替排列組成。每一對上下相鄰的摻雜層2012與非摻雜層2011構(gòu)成一組交替層2010。其中,非摻雜層2011厚度自下而上逐漸遞增,摻雜層2012厚度自下而上逐漸遞減。摻雜層2012的摻雜濃度保持不變,摻雜濃度范圍為5E18-1.5E19cm 3。每一組交替層2010的總厚度保持不變,厚度范圍為10nm-50nmo
      [0021]b.HD-nGaN層203,即高摻雜N型GaN層,用于與芯片N型電極接觸。HD_nGaN層203的N型摻雜濃度保持不變,摻雜濃度范圍為1.5E19-3E19 cm3,該層厚度范圍為600nm_1200nmo
      [0022]c.第二 GaN層205,其由若干非摻雜層2051和摻雜層2052交替排列組成。每一對上下相鄰的摻雜層2052與非摻雜層2051構(gòu)成一組交替層2050。其中,非摻雜層2051自下而上逐漸遞減,摻雜層2052厚度自下而上逐漸遞增。摻雜層2052的摻雜濃度保持不變,摻雜濃度范圍為5E18-1.5E19cm 3。每一組交替層2050的總厚度保持不變,厚度范圍為10nm_50nmo
      [0023]N型GaN層內(nèi)的摻雜均是指N型摻雜。
      [0024]本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施方式中,非摻雜層2011、2051為非摻雜高溫uGaN層。
      [0025]此結(jié)構(gòu)能減少位錯密度,有利電流擴(kuò)展,提高材料的抗靜電能力,同時對低電流密度的LED芯片有利于提尚殼度?’另一方面,此結(jié)構(gòu)可以提尚電子濃度,從而提尚電子遷移率,降低發(fā)光電壓,LED芯片電壓比正常電壓低3%-5%,提高了抗靜電能力。
      [0026]本發(fā)明一實(shí)施方式中,P型GaN層40優(yōu)選高溫P型GaN。
      [0027]在上述圖1所示LED外延結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,本發(fā)明一實(shí)施方式中,LED外延結(jié)構(gòu)還包括:生長于襯底10和N型GaN層20之間的成核層701。
      [0028]其中,成核層701優(yōu)選低溫GaN成核層,并將TMGa作為Ga源。
      [0029]在上述圖1所示LED外延結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,本發(fā)明一實(shí)施方式中,LED外延結(jié)構(gòu)還包括:生長于襯底10和GaN層20之間的氮化物緩沖層703。
      [0030]氮化物緩沖層703可為GaN緩沖層或A1N緩沖層;本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施方式中,氮化物緩沖層703為厚度為0.5-lum間的高溫GaN緩沖層;當(dāng)然,在本發(fā)明的其他實(shí)施方式中,GaN緩沖層還可以包括高溫條件下生長的高溫GaN緩沖層和低溫條件下生長的低溫GaN緩沖層,在此不做詳細(xì)贅述。
      [0031]在上述圖1所示LED外延結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,本發(fā)明一實(shí)施方式中,LED外延結(jié)構(gòu)還包括:生長于P型GaN層50上的歐姆接觸層60,本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施方式中,歐姆接觸層60為P型GaN接觸層,進(jìn)一步的,歐姆接觸層60為高壓P型InGaN層,在此不做詳細(xì)贅述。
      [0032]結(jié)合圖2所不,本發(fā)明一實(shí)施方式中,公開一種GaN基LED外延結(jié)構(gòu)的制備方法,所述方法包括:
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