晶體管109，以接收觸發(fā)信號TR0觸發(fā)晶體管109根據(jù)觸發(fā)信號TR導(dǎo)通，并觸發(fā)電流鏡。當(dāng)電流鏡被觸發(fā)時，參考路徑105將產(chǎn)生參考電流Iref，而輸出路徑107將產(chǎn)生充電電流Ich。因此，充電電流Ich將產(chǎn)生至輸出端O。
[0038]輸出電容106電性連接于輸出端0，以自輸出端O接收充電電流Ich，并使輸出端O的輸出電壓Vo逐步上升。在一實施例中，由于電流鏡是由觸發(fā)晶體管109所觸發(fā)，而觸發(fā)晶體管109是響應(yīng)每隔預(yù)設(shè)時間周期產(chǎn)生的觸發(fā)信號TR所導(dǎo)通，因此輸出電壓Vo是步階式地上升。
[0039]比較器108電性連接于輸出端0，以接收輸出電壓Vo以及參考電壓Vref。比較器108對輸出電壓Vo以及參考電壓Vref進(jìn)行比較。當(dāng)輸出電壓Vo大于參考電壓Vref時，比較器108產(chǎn)生測試模式啟動信號AT至功能電路12，以使得功能電路12由運(yùn)作模式切換至測試模式。
[0040]因此，在本發(fā)明的功能裝置I中，測試模式啟動電路10可僅在脈沖信號CLK產(chǎn)生時，啟動功能電路12的測試模式，以避免功能電路12的測試模式被直流噪聲或是接地噪聲錯誤地啟動。
[0041]圖2為本發(fā)明一實施例中，測試模式啟動方法200的流程圖。測試模式啟動方法200可應(yīng)用于如圖1繪示的功能裝置1，特別是功能裝置I包含的測試模式啟動電路10中。測試模式啟動方法200包含下列步驟(應(yīng)了解到，在本實施方式中所提及的步驟，除特別敘明其順序者外，均可依實際需要調(diào)整其前后順序，甚至可同時或部分同時執(zhí)行)。
[0042]在步驟201，由脈沖信號產(chǎn)生模塊100產(chǎn)生脈沖信號CLK至輸入端IN。
[0043]在步驟202，由容阻電路102接收脈沖信號CLK，并每隔預(yù)設(shè)時間周期產(chǎn)生觸發(fā)信號TR。
[0044]在步驟203，由電流產(chǎn)生模塊104響應(yīng)觸發(fā)信號TR產(chǎn)生充電電流Ich至輸出端O。
[0045]在步驟204，由輸出電容106接收充電電流Ich，并使輸出端O的輸出電壓Vo逐步上升。
[0046]在步驟205，由比較器108接收輸出電壓Vo以及參考電壓Vref，并由比較器108比較輸出電壓Vo以及參考電壓Vref，并判斷輸出電壓Vo是否大于參考電壓Vref。
[0047]當(dāng)輸出電壓Vo不大于參考電壓Vref時，流程將回至步驟205，以繼續(xù)對輸出電壓Vo及參考電壓Vref進(jìn)行比較。而另一方面，當(dāng)輸出電壓Vo大于參考電壓Vref時，比較器108將在步驟206產(chǎn)生測試模式啟動信號AT。
[0048]接著在步驟207，功能電路12由運(yùn)作模式切換至測試模式。
[0049]雖然本揭示內(nèi)容已以實施方式揭示如上，然其并非用以限定本揭示內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本揭示內(nèi)容的精神和范圍內(nèi)，可作各種的更動與潤飾，因此本揭示內(nèi)容的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以本申請的權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
【主權(quán)項】
1.一種測試模式啟動電路,包含: 一脈沖信號產(chǎn)生模塊，用以產(chǎn)生一脈沖信號至一輸入端； 一容阻電路，電性連接于該輸入端，以接收該脈沖信號，并每隔一預(yù)設(shè)時間周期產(chǎn)生一觸發(fā)信號； 一電流產(chǎn)生模塊，用以響應(yīng)該觸發(fā)信號產(chǎn)生一充電電流至一輸出端； 一輸出電容，電性連接于該輸出端，以接收該充電電流，并使該輸出端的一輸出電壓逐步上升；以及 一比較器，電性連接于該輸出端，以接收該輸出電壓以及一參考電壓，其中該比較器比較該輸出電壓以及該參考電壓，以在該輸出電壓大于該參考電壓時產(chǎn)生一測試模式啟動信號。2.如權(quán)利要求1所述的測試模式啟動電路，其中該容阻電路包含: 一電容，具有一第一端以及一第二端，其中該第一端電性連接于該脈沖信號產(chǎn)生模塊，以接收該脈沖信號，該第二端電性連接至該電流產(chǎn)生模塊；以及 一電阻，電性連接于該電容的該第二端以及一接地電位間。3.如權(quán)利要求1所述的測試模式啟動電路，其中該電流產(chǎn)生模塊包含一電流鏡，該電流鏡還包含具有一觸發(fā)晶體管的一參考路徑以及電性連接至該輸出端的一輸出路徑，其中該觸發(fā)晶體管電性連接于該容阻電路，以根據(jù)該觸發(fā)信號導(dǎo)通，并觸發(fā)該電流鏡以于該參考路徑產(chǎn)生一參考電流以及于該輸出路徑產(chǎn)生該充電電流。4.如權(quán)利要求1所述的測試模式啟動電路，其中該輸入端為一功能裝置的一功能電路提供的一腳位。5.如權(quán)利要求4所述的測試模式啟動電路，其中該測試模式啟動信號將該功能電路由一運(yùn)作模式切換至一測試模式。6.一種功能裝置，包含: 一功能電路；以及 一測試模式啟動電路，包含: 一脈沖信號產(chǎn)生模塊，用以產(chǎn)生一脈沖信號至一輸入端； 一容阻電路，電性連接于該輸入端，以接收該脈沖信號，并每隔一預(yù)設(shè)時間周期產(chǎn)生一觸發(fā)信號； 一電流產(chǎn)生模塊，用以響應(yīng)該觸發(fā)信號產(chǎn)生一充電電流至一輸出端； 一輸出電容，電性連接于該輸出端，以接收該充電電流，并使該輸出端的一輸出電壓逐步上升；以及 一比較器，電性連接于該輸出端，以接收該輸出電壓以及一參考電壓，其中該比較器比較該輸出電壓以及該參考電壓，以在該輸出電壓大于該參考電壓時產(chǎn)生一測試模式啟動信號至該功能電路，以使得該功能電路由一運(yùn)作模式切換至一測試模式。7.如權(quán)利要求6所述的功能裝置，其中該容阻電路包含: 一電容，具有一第一端以及一第二端，其中該第一端電性連接于該脈沖信號產(chǎn)生模塊，以接收該脈沖信號，該第二端電性連接至該電流產(chǎn)生模塊；以及 一電阻，電性連接于該電容的該第二端以及一接地電位間。8.如權(quán)利要求6所述的功能裝置，其中該電流產(chǎn)生模塊包含一電流鏡，該電流鏡還包含具有一觸發(fā)晶體管的一參考路徑以及電性連接至該輸出端的一輸出路徑，其中該觸發(fā)晶體管電性連接于該容阻電路，以根據(jù)該觸發(fā)信號導(dǎo)通，并觸發(fā)該電流鏡以于該參考路徑產(chǎn)生一參考電流以及于該輸出路徑產(chǎn)生該充電電流。9.如權(quán)利要求6所述的功能裝置，其中該輸入端為該功能電路提供的一腳位。10.一種測試模式啟動方法，應(yīng)用于包含一功能電路以及一測試模式啟動電路的一功能裝置中，該測試模式啟動方法包含: 由一脈沖信號產(chǎn)生模塊產(chǎn)生一脈沖信號至一輸入端； 由電性連接于該輸入端的一容阻電路接收該脈沖信號，并每隔一預(yù)設(shè)時間周期產(chǎn)生一觸發(fā)信號； 由一電流產(chǎn)生模塊響應(yīng)該觸發(fā)信號產(chǎn)生一充電電流至一輸出端； 由電性連接于該輸出端的一輸出電容接收該充電電流，并使該輸出端的一輸出電壓逐步上升; 由電性連接于該輸出端的一比較器接收該輸出電壓以及一參考電壓；以及 由該比較器比較該輸出電壓以及該參考電壓，以在該輸出電壓大于該參考電壓時產(chǎn)生一測試模式啟動信號，以使得該功能電路由一運(yùn)作模式切換至一測試模式。11.如權(quán)利要求10所述的測試模式啟動方法，其中該電流產(chǎn)生模塊包含一電流鏡，該電流鏡還包含具有一觸發(fā)晶體管的一參考路徑以及電性連接至該輸出端的一輸出路徑，其中該觸發(fā)晶體管電性連接于該容阻電路，該測試模式啟動方法包含: 使該觸發(fā)晶體管根據(jù)該觸發(fā)信號導(dǎo)通，并觸發(fā)該電流鏡；以及 由該電流鏡在該參考路徑產(chǎn)生一參考電流以及在該輸出路徑產(chǎn)生該充電電流。12.如權(quán)利要求10所述的測試模式啟動方法，其中該脈沖信號持續(xù)由該脈沖信號產(chǎn)生模塊產(chǎn)生，直到該輸出電壓大于該參考電壓為止。
【專利摘要】一種功能裝置及其測試模式啟動電路與方法。該測試模式啟動電路，包含：脈沖信號產(chǎn)生模塊、容阻電路、電流產(chǎn)生模塊、輸出電容以及比較器。脈沖信號產(chǎn)生模塊產(chǎn)生脈沖信號至輸入端。容阻電路電性連接于輸入端，以接收脈沖信號，并每隔預(yù)設(shè)時間周期產(chǎn)生觸發(fā)信號。電流產(chǎn)生模塊響應(yīng)觸發(fā)信號產(chǎn)生充電電流至輸出端。輸出電容電性連接于輸出端，以接收充電電流，并使輸出端的輸出電壓逐步上升。比較器電性連接于輸出端，以接收輸出電壓以及參考電壓，其中比較器比較輸出電壓以及參考電壓，以在輸出電壓大于參考電壓時產(chǎn)生測試模式啟動信號。
【IPC分類】H01L23/58
【公開號】CN105575949
【申請?zhí)枴緾N201410527425
【發(fā)明人】李秋平
【申請人】原景科技股份有限公司
【公開日】2016年5月11日
【申請日】2014年10月9日