本發(fā)明涉及一種振動(dòng)系統(tǒng)，尤其涉及一種運(yùn)用在移動(dòng)電子產(chǎn)品領(lǐng)域用于產(chǎn)生振動(dòng)反饋的線性振動(dòng)系統(tǒng)、電子終端及線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法。

背景技術(shù)：

隨著電子技術(shù)的發(fā)展，便攜式消費(fèi)性電子產(chǎn)品越來越受人們的追捧，如手機(jī)、掌上游戲機(jī)、導(dǎo)航裝置或掌上多媒體娛樂設(shè)備等電子終端，這些電子終端產(chǎn)品一般都會(huì)用到線性振動(dòng)電機(jī)來做系統(tǒng)反饋，比如手機(jī)的來電提示、信息提示、導(dǎo)航提示、游戲機(jī)的振動(dòng)反饋等。如此廣泛的應(yīng)用，就要求線性振動(dòng)電機(jī)的性能優(yōu)，使用壽命長。

因材料參數(shù)、生產(chǎn)設(shè)備和外界環(huán)境等因素的影響，同一型號(hào)的線性振動(dòng)電機(jī)之間不可能做到完全一致，其參數(shù)或性能表現(xiàn)上或多或少存在一些區(qū)別。

而相關(guān)技術(shù)應(yīng)用方案中，驅(qū)動(dòng)電路的參數(shù)通常只是根據(jù)線性振動(dòng)電機(jī)供應(yīng)商提供的標(biāo)稱值來設(shè)定，而不考慮器件的不一致性，因此，運(yùn)用所述線性振動(dòng)電機(jī)的終端產(chǎn)品在最終表現(xiàn)出來的振動(dòng)反饋效果上就會(huì)因所述線性振動(dòng)電機(jī)不一致性而存在區(qū)別，影響用戶體驗(yàn)，嚴(yán)重時(shí)可能導(dǎo)致所述線性振動(dòng)電機(jī)損壞。

因此，有必要提供一種新的線性振動(dòng)系統(tǒng)解決上述問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明需要解決的技術(shù)問題是提供一種振動(dòng)反饋體驗(yàn)效果好且穩(wěn)定性高的線性振動(dòng)系統(tǒng)、電子終端及線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種線性振動(dòng)系統(tǒng)，包括線性振動(dòng)電機(jī)、與所述線性振動(dòng)電機(jī)電連接的存儲(chǔ)器及配合所述存儲(chǔ)器工作的外圍電路，所述存儲(chǔ)器用于預(yù)存儲(chǔ)所述線性振動(dòng)電機(jī)的電機(jī)參數(shù)和/或產(chǎn)線測試參數(shù)。

優(yōu)選的，所述電機(jī)參數(shù)包括所述線性振動(dòng)電機(jī)的電力耦合系數(shù)、振子質(zhì)量、彈性件彈性系數(shù)、機(jī)械阻尼和諧振頻率。

優(yōu)選的，所述產(chǎn)線測試參數(shù)包括所述線性振動(dòng)電機(jī)的最大加速度、振子最大速度和振子最大位移。

優(yōu)選的，所述線性振動(dòng)電機(jī)包括FPCB，所述外圍電路與所述FPCB電連接，所述外圍電路包括向所述存儲(chǔ)器讀寫數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)傳輸端和為所述存儲(chǔ)器提供電源的供電端與接地端。

優(yōu)選的，所述線性振動(dòng)系統(tǒng)包括至少兩個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)和一個(gè)所述存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器用于按預(yù)設(shè)規(guī)則預(yù)存儲(chǔ)每個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)。

本發(fā)明還提供一種電子終端，包括終端本體、處理器和上述線性振動(dòng)系統(tǒng)，所述線性振動(dòng)系統(tǒng)裝設(shè)于所述終端本體并與所述處理器電連接，所述處理器用于按預(yù)設(shè)規(guī)則讀取所述存儲(chǔ)器中的每一個(gè)所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)，并根據(jù)讀取的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)控制相配套的驅(qū)動(dòng)信號(hào)驅(qū)動(dòng)所述線性振動(dòng)電機(jī)。

優(yōu)選的，所述處理器為DSP。

本發(fā)明同時(shí)提供一種線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法，該方法包括如下步驟：

步驟S1、提供上述線性振動(dòng)系統(tǒng)和測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)用于測試所述線性振動(dòng)電機(jī)的電機(jī)參數(shù)和/或產(chǎn)線測試參數(shù)并將其寫入所述存儲(chǔ)器，所述測試系統(tǒng)包括控制系統(tǒng)、信號(hào)發(fā)生器和測試傳感器；

步驟S2、測試參數(shù)，將待測試的所述線性振動(dòng)系統(tǒng)置于測試位置，通過所述控制系統(tǒng)控制所述信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生測試信號(hào)并利用所述測試信號(hào)驅(qū)動(dòng)所述線性振動(dòng)電機(jī)工作；

步驟S3、檢測參數(shù)，通過所述測試傳感器檢測所述線性振動(dòng)電機(jī)工作時(shí)的參數(shù)信號(hào)并將所述參數(shù)信號(hào)傳送至所述控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)接收所述參數(shù)信號(hào)并對所述參數(shù)信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理后得到所述線性振動(dòng)電機(jī)的所述電機(jī)參數(shù)和所述產(chǎn)線測試參數(shù)；

步驟S4、寫入?yún)?shù)，通過所述控制系統(tǒng)將所述線性振動(dòng)電機(jī)的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)按預(yù)設(shè)規(guī)則寫入所述存儲(chǔ)器。

優(yōu)選的，所述電機(jī)參數(shù)包括所述線性振動(dòng)電機(jī)的電力耦合系數(shù)、振子質(zhì)量、彈性件彈性系數(shù)、機(jī)械阻尼和諧振頻率；所述產(chǎn)線測試參數(shù)包括所述線性振動(dòng)電機(jī)的最大加速度、振子最大速度、振子最大位移。

優(yōu)選的，所述測試系統(tǒng)還包括串聯(lián)于所述信號(hào)發(fā)生器和所述線性振動(dòng)電機(jī)之間的功放，用于對所述信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的所述測試信號(hào)進(jìn)行功率放大處理。

與相關(guān)技術(shù)相比，本發(fā)明的線性振動(dòng)系統(tǒng)將所述線性振動(dòng)電機(jī)與所述存儲(chǔ)器結(jié)合，通過所述存儲(chǔ)器將所述線性振動(dòng)電機(jī)的電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)進(jìn)行預(yù)存，以便于所述線性振動(dòng)系統(tǒng)運(yùn)用時(shí)可根據(jù)預(yù)存的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)針對性調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以更優(yōu)的驅(qū)動(dòng)所述線性振動(dòng)電機(jī)工作。所述電子終端運(yùn)用所述線性振動(dòng)系統(tǒng)，通過其處理器讀取所述線性振動(dòng)系統(tǒng)的電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)，并根據(jù)讀取的數(shù)據(jù)針對性調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)信號(hào)，從而使所述電子終端的振動(dòng)反饋體驗(yàn)效果更優(yōu)，性能更穩(wěn)定。本發(fā)明提供的線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法操作簡單，在所述線性振動(dòng)系統(tǒng)生產(chǎn)時(shí)同步進(jìn)行，生產(chǎn)效率高。

附圖說明

圖1為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)的另一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)運(yùn)用于電子終端的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法的原理框圖；

圖5為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法的流程框圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合附圖和實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。

請參閱圖1，為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明提供一種線性振動(dòng)系統(tǒng)10，包括線性振動(dòng)電機(jī)1、與所述線性振動(dòng)電機(jī)1電連接的存儲(chǔ)器2及配合所述存儲(chǔ)器2工作的外圍電路3。所述存儲(chǔ)器2用于存儲(chǔ)所述線性振動(dòng)電機(jī)1的電機(jī)參數(shù)和/或產(chǎn)線測試參數(shù)。

本實(shí)施方式中，所述電機(jī)參數(shù)包括所述線性振動(dòng)電機(jī)1的電力耦合系數(shù)、振子質(zhì)量、彈性件彈性系數(shù)、機(jī)械阻尼和諧振頻率等。所述產(chǎn)線測試參數(shù)包括所述線性振動(dòng)電機(jī)1的最大加速度、振子最大速度和振子最大位移等。

所述存儲(chǔ)器2按預(yù)設(shè)規(guī)則預(yù)存儲(chǔ)所述線性振動(dòng)電機(jī)1的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)。

所述外圍電路3用于為所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10供電和實(shí)現(xiàn)信號(hào)傳輸。具體的，所述線性振動(dòng)電機(jī)1包括用于實(shí)現(xiàn)電連接功能的FPCB11(Flexible Printed Circuit Board，柔性線路板)，所述外圍電路3與所述FPCB 11電連接。所述外圍電路3包括向所述存儲(chǔ)器2讀寫數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)傳輸端31和為所述存儲(chǔ)器2提供電源的供電端32與接地端33。

因所述外圍電路3結(jié)構(gòu)簡單且尺寸非常小，故可將所述外圍電路3設(shè)置于所述FPCB 11的位于所述線性振動(dòng)電機(jī)1的外露的部分，而所述數(shù)據(jù)傳輸端31、所述供電端32和所述接地端33均通過所述FPCB 11引出，如圖1(a)所示。

當(dāng)然，所述外圍電路3也可設(shè)置于所述線性振動(dòng)電機(jī)1內(nèi)部的所述PFCB 11上，因其尺寸小，需要的空間也小，比如設(shè)置于所述線性振動(dòng)電機(jī)1的質(zhì)量塊(未圖示)與外殼(未圖示)間的間隙或其它部件之間的間隙內(nèi)，這些都是可行的，如圖1(b)所示。

不同一臺(tái)終端設(shè)備采用多個(gè)所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10時(shí)，若每一個(gè)所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10均包括一個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)1和一個(gè)所述存儲(chǔ)器2，該結(jié)構(gòu)運(yùn)用顯示會(huì)增加成本，該結(jié)構(gòu)雖然可行，但從生產(chǎn)角度而言卻不適合。

因此，本發(fā)明的線性振動(dòng)系統(tǒng)10還包括另一實(shí)施方式以滿足不同運(yùn)用情況，請同時(shí)參照圖2，本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)的另一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。該實(shí)施例與上述實(shí)施例基本相同，不同的是所述線性振動(dòng)電機(jī)1的數(shù)量不一樣。

本實(shí)施例中，所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10包括至少兩個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)1和一個(gè)所述存儲(chǔ)器2，比如所述線性振動(dòng)電機(jī)為三個(gè)、四個(gè)或更多，具體數(shù)量可根據(jù)實(shí)際運(yùn)用的要求設(shè)定。所述存儲(chǔ)器2僅設(shè)一個(gè)，用于按預(yù)設(shè)規(guī)則預(yù)存儲(chǔ)每個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)。也即包括一個(gè)“線性振動(dòng)電機(jī)組”和一個(gè)所述存儲(chǔ)器2，所述線性振動(dòng)電機(jī)組包括n個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)1，n為大于或等于2的整數(shù)。相當(dāng)于一個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)1與所述存儲(chǔ)器2形成一個(gè)所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10，其余所述線性振動(dòng)電機(jī)1均共用所述存儲(chǔ)器2。運(yùn)用時(shí)，多個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)1按照預(yù)定規(guī)則進(jìn)行順序編號(hào)，每一個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)1的電機(jī)參數(shù)和/或產(chǎn)線測試參數(shù)同樣按對應(yīng)的預(yù)設(shè)規(guī)則和順序存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)器2中。應(yīng)用在相關(guān)終端中時(shí)，所述終端同樣按預(yù)設(shè)規(guī)則和順序讀取所述存儲(chǔ)器2中預(yù)存的每個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)1的對應(yīng)的電機(jī)參數(shù)和/或產(chǎn)線測試參數(shù)，從而調(diào)節(jié)控制對每一個(gè)所述線性振動(dòng)電機(jī)1進(jìn)行針對性驅(qū)動(dòng)，使其振動(dòng)反饋效果更優(yōu)。

請結(jié)合參閱圖3，為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)運(yùn)用于電子終端的結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明還提供一種電子終端20，包括終端本體201、處理器202和本發(fā)明提供的所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10，所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10裝設(shè)于所述終端本體201并與所述處理器202電連接，所述處理器202用于按預(yù)設(shè)規(guī)則讀取所述存儲(chǔ)器2中的每一個(gè)所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)，并根據(jù)讀取的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)控制相配套的驅(qū)動(dòng)信號(hào)驅(qū)動(dòng)所述線性振動(dòng)電機(jī)1。

當(dāng)所述線性振動(dòng)電機(jī)1安裝到所述終端本體201后，對所述電子終端20上電，所述處理器202即可從所述存儲(chǔ)器2中將預(yù)存的所述線性振動(dòng)電機(jī)1的電機(jī)參數(shù)和/或產(chǎn)線測試參數(shù)讀取，作為驅(qū)動(dòng)所述線性振動(dòng)電機(jī)1工作的驅(qū)動(dòng)信號(hào)的參考調(diào)節(jié)。

所述處理器202可以為所述電子終端20的應(yīng)用處理器，也可為專用處理器，本實(shí)施方式中，所述處理器202為DSP(Digital Singnal Processor，數(shù)字信號(hào)處理器)。

請一并參閱圖4和圖5，其中，圖4為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法的原理框圖；圖5為本發(fā)明線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法的流程框圖。本發(fā)明同時(shí)提供一種線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法，該方法包括如下步驟：

步驟S1、提供所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10和測試系統(tǒng)30，所述測試系統(tǒng)30用于測試所述線性振動(dòng)電機(jī)1的電機(jī)參數(shù)和/或產(chǎn)線測試參數(shù)并將其寫入所述存儲(chǔ)器2，所述測試系統(tǒng)30包括控制系統(tǒng)301、信號(hào)發(fā)生器302和測試傳感器303。所述電機(jī)參數(shù)包括所述線性振動(dòng)電機(jī)1的電力耦合系數(shù)、振子質(zhì)量、彈性件彈性系數(shù)、機(jī)械阻尼和諧振頻率等；所述產(chǎn)線測試參數(shù)包括所述線性振動(dòng)電機(jī)1的最大加速度、振子最大速度和振子最大位移等。

所述控制系統(tǒng)301用于控制測試系統(tǒng)30的各環(huán)節(jié)動(dòng)作和信號(hào)流向。所述信號(hào)發(fā)生器302用于產(chǎn)生測試信號(hào)。所述測試傳感器303用于檢測所述線性振動(dòng)電機(jī)1工作時(shí)的參數(shù)信號(hào)。

具體的，所述控制系統(tǒng)301、所述信號(hào)發(fā)生器302、所述線性振動(dòng)電機(jī)1和所述測試傳感器303依次首尾電連接，所述控制系統(tǒng)301同時(shí)與所述存儲(chǔ)器2電連接。

為了提高所述測試信號(hào)的功率，所述測試系統(tǒng)30還包括串聯(lián)于所述信號(hào)發(fā)生器302和所述線性振動(dòng)電機(jī)1之間的功放304，用于對所述信號(hào)發(fā)生器302產(chǎn)生的所述測試信號(hào)進(jìn)行功率放大處理，保護(hù)所述測試信號(hào)的可靠性。

步驟S2、測試參數(shù)，將待測試的所述線性振動(dòng)系統(tǒng)10置于測試位置，通過所述控制系統(tǒng)301控制所述信號(hào)發(fā)生器302產(chǎn)生測試信號(hào)并利用所述測試信號(hào)驅(qū)動(dòng)所述線性振動(dòng)電機(jī)1工作。

步驟S3、檢測參數(shù)，通過所述測試傳感器303檢測所述線性振動(dòng)電機(jī)1工作時(shí)的參數(shù)信號(hào)并將所述參數(shù)信號(hào)傳送至所述控制系統(tǒng)301，所述控制系統(tǒng)301接收所述參數(shù)信號(hào)并對所述參數(shù)信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理后得到所述線性振動(dòng)電機(jī)1的所述電機(jī)參數(shù)和所述產(chǎn)線測試參數(shù)。

步驟S4、寫入?yún)?shù)，通過所述控制系統(tǒng)301將所述線性振動(dòng)電機(jī)1的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)按預(yù)設(shè)規(guī)則寫入所述存儲(chǔ)器2。

與相關(guān)技術(shù)相比，本發(fā)明的線性振動(dòng)系統(tǒng)將所述線性振動(dòng)電機(jī)與所述存儲(chǔ)器結(jié)合，通過所述存儲(chǔ)器將所述線性振動(dòng)電機(jī)的電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)進(jìn)行預(yù)存，以便于所述線性振動(dòng)系統(tǒng)運(yùn)用時(shí)可根據(jù)預(yù)存的所述電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)針對性調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以更優(yōu)的驅(qū)動(dòng)所述線性振動(dòng)電機(jī)工作。所述電子終端運(yùn)用所述線性振動(dòng)系統(tǒng)，通過其處理器讀取所述線性振動(dòng)系統(tǒng)的電機(jī)參數(shù)和/或所述產(chǎn)線測試參數(shù)，并根據(jù)讀取的數(shù)據(jù)針對性調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)信號(hào)，從而使所述電子終端的振動(dòng)反饋體驗(yàn)效果更優(yōu)，性能更穩(wěn)定。本發(fā)明提供的線性振動(dòng)系統(tǒng)的參數(shù)存儲(chǔ)方法操作簡單，在所述線性振動(dòng)系統(tǒng)生產(chǎn)時(shí)同步進(jìn)行，生產(chǎn)效率高。

以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其它相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。