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      電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置和具備該電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置的相機(jī)模塊的制作方法

      文檔序號(hào):11459962閱讀:426來源:國(guó)知局
      電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置和具備該電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置的相機(jī)模塊的制造方法

      本發(fā)明涉及一種用于驅(qū)動(dòng)電機(jī)的電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置和具備此的相機(jī)模塊。



      背景技術(shù):

      最近,大部分的移動(dòng)通信終端中包含有相機(jī)模塊,相機(jī)模塊具有能夠自動(dòng)對(duì)被攝體進(jìn)行對(duì)焦的自動(dòng)調(diào)焦(autofocusing,af)功能或者防抖校正(imagestabilization)功能。

      自動(dòng)調(diào)焦表示使配備于相機(jī)模塊中的透鏡在可移動(dòng)范圍內(nèi)移動(dòng)而使透鏡位于各個(gè)透鏡位置中的針對(duì)被攝體的清晰度最高的位置,防抖校正表示對(duì)在獲得圖像時(shí)的抖動(dòng)引起的圖像的晃動(dòng)進(jìn)行補(bǔ)償,防抖校正包括光學(xué)穩(wěn)像(opticalimagestabilizaion;ois)或者電子穩(wěn)像(electronicalimagestabilization;eis)等。

      為了移動(dòng)透鏡,通過諸如控制音圈電機(jī)(voicecoilmotor;vcm)等電機(jī)的驅(qū)動(dòng)而進(jìn)行自動(dòng)調(diào)焦或者防抖校正。

      為了控制所述電機(jī)的驅(qū)動(dòng)電流,需要檢測(cè)電流,為此,主要使用電阻值較低的電阻,但是由于所述電阻中流動(dòng)的電流而產(chǎn)生電壓降,因此在電源的電壓電平低的時(shí)候以及驅(qū)動(dòng)電流的電平高的時(shí)候,由于所述電壓降而產(chǎn)生電壓范圍減少的問題。

      [現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)]

      [專利文獻(xiàn)]

      (專利文獻(xiàn)1)日本公開專利公報(bào)第2003-235293號(hào)



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例,提供一種在檢測(cè)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)電流時(shí),不使用電阻的電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置和具備該電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置的相機(jī)模塊。

      為了解決上述的本發(fā)明的課題,根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置和相機(jī)模塊可以包括:電機(jī)驅(qū)動(dòng)部,向電機(jī)供應(yīng)驅(qū)動(dòng)電流而驅(qū)動(dòng)電機(jī);電流鏡部,復(fù)制所述驅(qū)動(dòng)電流;檢測(cè)部,通過使基于所述驅(qū)動(dòng)電流的第一電壓以及基于經(jīng)由所述電流鏡部流動(dòng)的鏡像電流的第二電壓彼此維持相同來輸出對(duì)應(yīng)于所述鏡像電流的檢測(cè)電流;電流比較部,比較來自所述檢測(cè)部的所述檢測(cè)電流與基于接收的控制信號(hào)的基準(zhǔn)電流,而控制所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)部的電機(jī)驅(qū)動(dòng)。

      根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例,具有能夠擴(kuò)大施加到電機(jī)的電壓的范圍的效果。

      附圖說明

      圖1是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的相機(jī)模塊的示意性框圖。

      圖2是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置的示意性框圖。

      圖3是圖2中示出的根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置的示意性電路圖。

      符號(hào)說明

      100:相機(jī)模塊110:電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置

      111:電機(jī)驅(qū)動(dòng)部111a:驅(qū)動(dòng)控制部

      111b:晶體管部111c:開關(guān)部

      112:電流鏡部113:檢測(cè)部

      113a:第一檢測(cè)器113b:第二檢測(cè)器

      114:電流比較部120:電機(jī)

      130:透鏡140:控制部

      150:圖像處理部

      具體實(shí)施方式

      以下,為了使在本發(fā)明的所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有基本知識(shí)的人員能夠容易地實(shí)施本發(fā)明而參照附圖對(duì)優(yōu)選的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的說明。

      圖1是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的相機(jī)模塊的示意性框圖。

      參照?qǐng)D1,根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的相機(jī)模塊100可以包括:電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置110、電機(jī)120、透鏡130、控制部140和圖像處理部150。

      電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置110可以根據(jù)控制部140的控制信號(hào)而驅(qū)動(dòng)電機(jī)120,從而使透鏡130移動(dòng)至所期望的位置。

      控制部140可以基于檢測(cè)透鏡130的位置的透鏡位置信號(hào)而控制電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置110的電機(jī)驅(qū)動(dòng)。透鏡130的位置檢測(cè)可以借助于霍爾傳感器而實(shí)施。進(jìn)一步,控制部140可以基于抖動(dòng)檢測(cè)信號(hào)而控制電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置110的電機(jī)驅(qū)動(dòng)。抖動(dòng)檢測(cè)可以借助于陀螺儀傳感器而實(shí)施。

      借助于透鏡130獲得的圖像信息可以在圖像處理部150中被信號(hào)處理。

      電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置110可以向電機(jī)120供應(yīng)驅(qū)動(dòng)電流而驅(qū)動(dòng)電機(jī)120,為了精細(xì)地控制電機(jī)120的驅(qū)動(dòng),電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置110可以檢測(cè)供應(yīng)至電機(jī)120的驅(qū)動(dòng)電流而得到反饋。此時(shí),在利用電阻檢測(cè)驅(qū)動(dòng)電流的情況下,產(chǎn)生電阻引起的電壓降,從而產(chǎn)生相當(dāng)于電壓降的電力損失,并且會(huì)減少用于施加供應(yīng)至電機(jī)120的驅(qū)動(dòng)電流的驅(qū)動(dòng)電源的電壓電平的范圍。

      據(jù)此,電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置110可以得到檢測(cè)供應(yīng)至電機(jī)120的驅(qū)動(dòng)電流的檢測(cè)電流的反饋,并基于此而精細(xì)地控制電機(jī)120的驅(qū)動(dòng)。

      圖2是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置的示意性框圖,圖3是圖2中示出的根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置的示意性電路圖。

      參照?qǐng)D2和圖3,根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置110可以包括電機(jī)驅(qū)動(dòng)部111、電流鏡部112、檢測(cè)部113和電流比較部114。

      電機(jī)驅(qū)動(dòng)部111可以驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述電機(jī)可以是音圈電機(jī)(voicecoilmotor;vcm)。

      電機(jī)驅(qū)動(dòng)部111可以包括驅(qū)動(dòng)控制部111a、晶體管部111b和開關(guān)部111c。

      驅(qū)動(dòng)控制部111a可以根據(jù)控制信號(hào)而控制晶體管部111b的導(dǎo)通。

      晶體管部111b具有分別包括在操作電源vdd端和接地之間堆疊的兩個(gè)晶體管(m1、m3或者m2、m4)的兩組晶體管組,各個(gè)晶體管組的兩個(gè)晶體管的連接點(diǎn)可以分別連接到所述電機(jī)。

      例如,晶體管部111b可以包括第一至第四n溝道金屬氧化物半導(dǎo)體(nmos)晶體管m1、m2、m3、m4,在操作電源vdd端和接地之間可以堆疊有第三nmos晶體管m3和第一nmos晶體管m1,并且可以堆疊有第四nmos晶體管m4和第二nmos晶體管m2。

      第三nmos晶體管m3和第一nmos晶體管m1的連接點(diǎn)可以連接到電機(jī)線圈的一端,第四nmos晶體管m4和第二nmos晶體管m2的連接點(diǎn)可以連接到電機(jī)線圈的另一端。

      開關(guān)部111c可以包括第一開關(guān)s1和第二開關(guān)s2。

      為了根據(jù)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)方向而使對(duì)應(yīng)的晶體管導(dǎo)通,第一開關(guān)s1和第二開關(guān)s2可以將電流比較部114的柵極電壓傳遞給對(duì)應(yīng)的晶體管。

      例如,為了將所述電機(jī)向單方向驅(qū)動(dòng),可以通過使第一和第四n-mos晶體管m1、m4不導(dǎo)通,而使第二和第三n-mos晶體管m2、m3導(dǎo)通,從而可以使在電機(jī)線圈中流動(dòng)的電流為向沿著右側(cè)方向箭頭的方向流動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電流ivcm。為此,根據(jù)驅(qū)動(dòng)控制部111a的控制,第一開關(guān)s1可以閉合(short),且第二開關(guān)s2可以斷開(open)。據(jù)此,電流比較部114的柵極電壓可以被施加到第二nmos晶體管m2的柵極。

      相反地,例如,為了使所述電機(jī)向所述一方向的相反方向的另一方向驅(qū)動(dòng),可以使第一nmos晶體管m1和第四nmos晶體管m4導(dǎo)通,而使第二和第三n-mos不導(dǎo)通m2、m3,從而可以使電機(jī)線圈中流動(dòng)的電流為向左側(cè)方向箭頭的方向流動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電流ivcm。為此,根據(jù)驅(qū)動(dòng)控制部111a的控制,第二開關(guān)s2可以閉合(short),且第一開關(guān)s1可以斷開(open)。據(jù)此,電流比較部114的柵極電壓可以被傳遞到第一nmos晶體管m1的柵極。

      電流鏡部112可以包括第一鏡像nmos晶體管mc1和第二鏡像nmos晶體管mc2。

      第一鏡像nmos晶體管mc1的柵極可以與第一nmos晶體管m1的柵極一同通過第二開關(guān)s2而接收來自電流比較部114的比較結(jié)果,第二鏡像nmos晶體管mc2的柵極可以與第二nmos晶體管m2的柵極一同通過第一開關(guān)s1而接收來自電流比較部114的柵極電壓。

      檢測(cè)部113可以包括第一檢測(cè)器113a和第二檢測(cè)器113b,第一檢測(cè)器113a和第二檢測(cè)器113b可以分別包括pmos晶體管(m5或m6),第一檢測(cè)器113a和第二檢測(cè)器113b的各個(gè)pmos晶體管(m5或m6)可以與第一鏡像nmos晶體管mc1或第二鏡像nmos晶體管mc2堆疊在操作電源vdd端和接地之間。

      據(jù)此,第一鏡像nmos晶體管mc1或者第二鏡像nmos晶體管mc2可以借助于第一nmos晶體管m1或者第二nmos晶體管m2的導(dǎo)通而接收流動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電流ivcm的鏡像。

      在驅(qū)動(dòng)電機(jī)的第一nmos晶體管m1或第二nmos晶體管m2中流動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電流ivcm可以通過第一鏡像nmos晶體管mc1或者第二鏡像nmos晶體管mc2而使電流電平縮小至1/k倍而被復(fù)制。為了使驅(qū)動(dòng)電流和鏡像電流的比例成為k:1,第一鏡像nmos晶體管mc1或第二鏡像nmos晶體管mc2的尺寸相對(duì)第一nmos晶體管m1或第二nmos晶體管m2的尺寸的比例可以是1/k。

      為了使驅(qū)動(dòng)電流和鏡像電流的比例精確地維持在k:1,需要使第一nmos晶體管m1和第二nmos晶體管m2的漏極電壓(第一電壓)與第一鏡像nmos晶體管mc1和第二鏡像nmos晶體管mc2的漏極電壓(第二電壓)維持相同。

      據(jù)此,在第一檢測(cè)器113a和第二比較器113b中,比較器ea1和ea2分別將第一nmos晶體管m1或第二nmos晶體管m2的漏極電壓(第一電壓)與第一鏡像nmos晶體管mc1和第二鏡像nmos晶體管mc2的漏極電壓(第二電壓)進(jìn)行比較之后,可以根據(jù)該比較結(jié)果而分別控制pmos晶體管m5、m6的柵極電壓。

      進(jìn)而,第一檢測(cè)器113a和第二檢測(cè)器113b可以分別包括鏡像pmos晶體管m5c、m6c,鏡像pmos晶體管m5c、m6c各自的柵極電壓可以與pmos晶體管m5、m6的柵極電壓一同根據(jù)比較器ea1、ea2的比較結(jié)果而被控制,從而使被第一鏡像nmos晶體管mc1和第二鏡像nmos晶體管mc2鏡像的電流被鏡像pmos晶體管mc5、mc6精確地鏡像,并使驅(qū)動(dòng)電流ivcm以k:1的比例被精確地檢測(cè),從而使檢測(cè)電流ivcm/k被傳遞至電流比較部114。

      電流比較部114可以包括電流轉(zhuǎn)換器114a和電流比較器114b,電流轉(zhuǎn)換器114a可以轉(zhuǎn)換控制信號(hào)而輸出基準(zhǔn)電流ivref,電流比較器114b可以將基準(zhǔn)電流ivref和檢測(cè)電流ivcm/k之差放大而將該比較結(jié)果傳遞至開關(guān)部111c,從而使電極以預(yù)定的電流被驅(qū)動(dòng)。

      進(jìn)而,例如,可以提高所述k值以減少第一鏡像-mos晶體管m1c和第二鏡像nmos晶體管m2c中流動(dòng)的額外電流的消耗。

      如上所述,根據(jù)本發(fā)明,在檢測(cè)電機(jī)驅(qū)動(dòng)電流時(shí),因?yàn)椴皇褂秒娮瓒鴽]有電壓降,因此可以增大施加到電機(jī)的電壓的范圍。

      在本發(fā)明的所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有基本知識(shí)的人員可以理解到,以上說明的本發(fā)明不限于上述實(shí)施例和附圖,而根據(jù)權(quán)利要求書而界定,在不脫離本發(fā)明的技術(shù)思想的范圍內(nèi),可以對(duì)本發(fā)明的構(gòu)成進(jìn)行多樣地變更和改造。

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