本實(shí)用新型屬于充電保護(hù)電路技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種穩(wěn)壓輸出電路。

背景技術(shù)：

現(xiàn)行大部分CPU/MCU都帶有充電管理電路，但是輸入電壓范圍窄，其輸入電壓范圍為4.75—6V，很難適用于目前市面上充電器的通用性，基本上很難適用于市面上大部分的充電器。

目前市面上為了提升CPU/MCU充電輸入端的電壓范圍，使用的是專用的穩(wěn)壓IC，但是輸入范圍大都在5—12V，專用的穩(wěn)壓IC輸入范圍還是不夠?qū)?，同時(shí)如果電源插入時(shí)產(chǎn)生浪涌高電壓會(huì)對(duì)穩(wěn)壓IC產(chǎn)生損壞。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種低成本高效率，穩(wěn)定性強(qiáng)的穩(wěn)壓輸出電路。

本實(shí)用新型的目的采用以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：

一種穩(wěn)壓輸出電路，包括PTC熱敏電阻和雙穩(wěn)壓二極管，所述雙穩(wěn)壓二極管為兩個(gè)并聯(lián)的穩(wěn)壓二極管，PTC熱敏電阻的一端與一DC電壓輸入端電性連接，且PTC熱敏電阻的另一端通過(guò)一MCU與一充電接口電連接，雙穩(wěn)壓二極管的負(fù)極均與PTC熱敏電阻的另一端電性連接，雙穩(wěn)壓二極管的正極均接地。

優(yōu)選的，所述PTC熱敏電阻為NTC貼片。其進(jìn)一步解決PTC熱敏電阻的選取的技術(shù)問(wèn)題。

優(yōu)選的，所述雙穩(wěn)壓二極管的穩(wěn)定電壓均為5.6V。其進(jìn)一步解決雙穩(wěn)壓二極管的穩(wěn)定電壓的設(shè)置的技術(shù)問(wèn)題。

優(yōu)選的，還包括測(cè)試電路，該測(cè)試電路包括電流表和電壓表，該電壓表的一端與PTC熱敏電阻的另一端電連接，該電壓表的另一端接地，該電流表安裝于MCU與充電接口之間。其進(jìn)一步解決該輸出電路的測(cè)試的技術(shù)問(wèn)題。

優(yōu)選的，該MCU的型號(hào)為AB1512。其進(jìn)一步解決MCU的型號(hào)的技術(shù)問(wèn)題。

相比現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型的有益效果在于：

本實(shí)用新型的穩(wěn)壓輸出電路，通過(guò)設(shè)置雙穩(wěn)壓二極管增加了整體電路的分流的大小，從而在提升超寬電壓范圍下保證了電路的穩(wěn)定性，增加此電路后，輸入電壓范圍為5—30V，基本上適用市面上大部分充電器。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型一種穩(wěn)壓輸出電路的電路結(jié)構(gòu)圖；

圖2為本實(shí)用新型一種穩(wěn)壓輸出電路與測(cè)試電路的電路結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

下面，結(jié)合附圖以及具體實(shí)施方式，對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步描述：

如圖1所示，本實(shí)施例提供了一種穩(wěn)壓輸出電路，包括PTC熱敏電阻和雙穩(wěn)壓二極管，所述PTC熱敏電阻為NTC貼片，圖中PTC表達(dá)的即是PTC熱敏電阻，所述雙穩(wěn)壓二極管為兩個(gè)并聯(lián)的穩(wěn)壓二極管，ZD1和ZD1表示的是兩個(gè)穩(wěn)壓二極管，所述雙穩(wěn)壓二極管的穩(wěn)定電壓均為5.6V，所述PTC熱敏電阻的一端與一DC電壓輸入端電性連接，且PTC熱敏電阻的另一端通過(guò)一MCU與一充電接口電連接，雙穩(wěn)壓二極管的負(fù)極均與PTC熱敏電阻的另一端電性連接，雙穩(wěn)壓二極管的正極均接地。本實(shí)施例當(dāng)輸入電壓超過(guò)雙穩(wěn)壓二極管額定值時(shí)，吧輸出電壓限定在一安全值的范圍內(nèi)，此穩(wěn)壓電路穩(wěn)定輸出電壓在設(shè)定的安全電壓內(nèi)以防損壞CPU和MCU等IC。

本實(shí)施例的工作原理：

第一、當(dāng)外部輸入小于等于穩(wěn)壓二極管的額定值時(shí)，穩(wěn)壓二極管不發(fā)揮作用，輸入到CPU和MCU等IC充電接口的電壓等于外部輸入電壓；第二、當(dāng)外部輸入大于穩(wěn)壓二極管的額定值時(shí)，穩(wěn)壓二極管兩端的電壓也隨之升高，引起輸入到CPU/MCU等IC充電接口的電壓也隨之升高(以下簡(jiǎn)稱負(fù)載)；由于穩(wěn)壓二級(jí)管跟負(fù)載是并聯(lián)的，只要穩(wěn)壓二級(jí)管兩端電壓有一點(diǎn)高于設(shè)定穩(wěn)壓值，就會(huì)使流過(guò)穩(wěn)壓管的電流值急劇增加，這樣通過(guò)PTC的電流也增加，PTC的溫度升高阻抗增加，PTC兩端壓降雙重增大(電流大PTC壓降大，電流大PTC溫度升高阻抗增大，壓降增大)；從而抵消穩(wěn)壓管兩端電壓的升高，保持負(fù)載電壓基本不變；若輸入電壓不變，負(fù)載電流增加，PTC電阻的壓降增加，造成負(fù)載電壓下降，負(fù)載電壓(穩(wěn)壓二極管兩端電壓)只要下降一點(diǎn)點(diǎn)，穩(wěn)壓管中的電流迅速減小，使PTC上的壓降減小下來(lái)，從而保持PTC上的壓降不變，使負(fù)載電壓得一穩(wěn)定；

綜上所述，穩(wěn)壓二極管起著電流的自動(dòng)調(diào)節(jié)作用，而PTC熱敏電阻起著雙重(溫度升高調(diào)節(jié)和電流升高調(diào)節(jié))電壓調(diào)整作用；

如圖2所示，本實(shí)施例還包括測(cè)試電路，該測(cè)試電路包括電流表和電壓表，該電壓表的一端與PTC熱敏電阻的另一端電連接，該電壓表的另一端接地，該電流表安裝于MCU與充電接口之間，該MCU的型號(hào)為AB1512。該測(cè)試電路主要用于檢測(cè)該穩(wěn)壓輸出電路的穩(wěn)定性。通過(guò)檢測(cè)在充電過(guò)程中的狀態(tài)和充電完成的狀態(tài)，則可以知道該穩(wěn)壓輸出電路的穩(wěn)定性的好壞。

通過(guò)測(cè)試可以得到充電過(guò)程中的狀態(tài)的數(shù)據(jù)表，如下：

通過(guò)測(cè)試可以得到充電完成的狀態(tài)的數(shù)據(jù)表，如下：

由上述兩個(gè)表可以明確知道本實(shí)施例的穩(wěn)壓輸出電路的穩(wěn)壓效果是比較好。

對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可根據(jù)以上描述的技術(shù)方案以及構(gòu)思，做出其它各種相應(yīng)的改變以及形變，而所有的這些改變以及形變都應(yīng)該屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。