常現(xiàn)象(溫度上升異?，F(xiàn)象或者短路異?，F(xiàn)象)時，接收“H”的特定異常檢測信號S14A以及S14B，則進(jìn)行保持，并執(zhí)行保持“H”狀態(tài)的鎖存動作，直至執(zhí)行控制電源復(fù)位動作為止。雖然省略了圖示，但鎖存電路15A以及15B將從外部端子Pl獲得的電源電壓VD作為動作電壓。
[0083]晶體管Q2A在基極經(jīng)由鎖存電路15A而從異常檢測電路14A接收特定異常檢測信號S14A。異常檢測電路14A接收來自過熱檢測電路31的溫度檢測信號S31。溫度檢測信號S31是過熱保護(hù)(0T:0ver Temperature protect1n)用的檢測信號,在由搭載在IPM6的IGBT56(參照圖4)附近的溫度檢測電路(未圖示)檢測的溫度超過基準(zhǔn)溫度的情況下，成為對溫度上升異?，F(xiàn)象的發(fā)生進(jìn)行指示的“H”狀態(tài)。
[0084]異常檢測電路14A執(zhí)行第I異常檢測動作，即，在溫度檢測信號S31為“H”時，換言之，在發(fā)生3種異常現(xiàn)象中的屬于作為檢測對象的特定異?，F(xiàn)象的溫度上升異常現(xiàn)象時，輸出使晶體管Q2A變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)的“H”電平的特定異常檢測信號S14A，在未發(fā)生溫度上升異?，F(xiàn)象時，輸出使晶體管Q2A變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài)的“L”電平的特定異常檢測信號S14B。
[0085]晶體管Q2B在基極經(jīng)由鎖存電路15B而從異常檢測電路14B接收特定異常檢測信號S14B。異常檢測電路14B接收來自短路檢測電路32的電流檢測信號S32。電流檢測信號S32是短路保護(hù)(SC:Short Circuit protect1n)用的檢測信號,在由于負(fù)載短路等在IGBT56流過大于或等于基準(zhǔn)電流量的電流的情況下，成為對短路異?，F(xiàn)象的發(fā)生進(jìn)行指示的“H”狀態(tài)。
[0086]異常檢測電路14B執(zhí)行第2異常檢測動作，即，在電流檢測信號S32為“H”時，換言之，在發(fā)生3種異常現(xiàn)象中的屬于作為檢測對象的特定異?，F(xiàn)象的短路異?，F(xiàn)象時，輸出使晶體管Q2B變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)的“H”電平的特定異常檢測信號S14B，在未發(fā)生短路異?，F(xiàn)象時，輸出使晶體管Q2B變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài)的“L”電平的特定異常檢測信號S14B。
[0087]晶體管Ql的基極從綜合異常檢測電路17接收異常檢測信號SF。綜合異常檢測電路17通過或(OR)門G17的綜合檢測信號S17的“H”/ “L”輸出“H”/ “L”的異常檢測信號SF。
[0088]或門G17在第I輸入部接收溫度檢測信號S31，在第2輸入部接收電流檢測信號S32，在第3輸入部接收電源檢測信號S33。電源檢測信號S33是電源電壓下降保護(hù)(UV:Under Voltage)用的檢測信號，在電源電壓VD(準(zhǔn)確而言為電源電壓VD、接地電位GND間的電位差)小于或等于設(shè)定值的情況下，成為對電源電壓下降異?，F(xiàn)象的發(fā)生進(jìn)行指示的“H”狀態(tài)。
[0089]因此，綜合異常檢測電路17在如下情況下輸出“H”的異常檢測信號SF，S卩，在檢測信號S31?S33中的至少一個為“H”，也就是在發(fā)生3種異?，F(xiàn)象即溫度常用異?，F(xiàn)象、短路異?，F(xiàn)象以及電源電壓下降異?，F(xiàn)象中至少一個異常現(xiàn)象時。
[0090]如果作為異常輸出部的晶體管Ql根據(jù)“H”的異常檢測信號SF而成為導(dǎo)通狀態(tài)，則如實(shí)施方式I中所說明的那樣，外部端子P2(的異常輸出信號F0)被設(shè)定為“L”，正極、負(fù)極間產(chǎn)生能夠引起發(fā)光的電位差，因此發(fā)光二極管D22以大于或等于基準(zhǔn)值的強(qiáng)度進(jìn)行發(fā)光。
[0091]關(guān)于以如上述方式構(gòu)成的第I異常履歷設(shè)定部(熔斷器13A、電阻R2A、晶體管Q2A以及鎖存電路15A)，如果由于將對溫度上升異常現(xiàn)象的發(fā)生進(jìn)行指示的“H”的特定異常檢測信號S14A向鎖存電路15A鎖存，晶體管Q2A變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)，則執(zhí)行如下第I異常履歷動作，即，外部端子P1、外部端子P3間經(jīng)由熔斷器13A、電阻R2A以及晶體管Q2A而電氣連接，在熔斷器13A流過超過斷線水平的電流，使熔斷器13A斷線。
[0092]同樣地，關(guān)于第2異常履歷設(shè)定部(熔斷器13B、電阻R2B、晶體管Q2B以及鎖存電路15B)，如果由于將對短路異?，F(xiàn)象的發(fā)生進(jìn)行指示的“H”的特定異常檢測信號S14B向鎖存電路15B鎖存，晶體管Q2B變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)，則執(zhí)行如下第2異常履歷動作，即，外部端子P1、外部端子P3間經(jīng)由熔斷器13B、電阻R2B以及晶體管Q2B而電氣連接，在熔斷器13B流過超過斷線水平的電流，使熔斷器13B斷線。
[0093]此外，關(guān)于鎖存電路15A以及15B，對確保熔斷器13A以及13B可靠地斷線的時間方面是有效的，但即使將其省略而構(gòu)成為將特定異常檢測信號S14A以及S14B直接施加在晶體管Q2A以及Q2B的基極的結(jié)構(gòu)，也能夠執(zhí)行上述的第I以及第2異常履歷設(shè)定動作。
[0094]這樣，由于實(shí)施方式6的IPM6的第I以及第2異常履歷設(shè)定部分別獨(dú)立地進(jìn)行第I以及第2異常履歷動作，因此能夠根據(jù)熔斷器13A以及13B的斷線的有無，使與溫度上升異?，F(xiàn)象以及短路異?，F(xiàn)象各自是否發(fā)生相關(guān)的履歷以可在溫度上升異常現(xiàn)象以及短路異?，F(xiàn)象間進(jìn)行區(qū)分識別的方式保留下來。即，通過對熔斷器13A和熔斷器13B的斷線進(jìn)行識別，能夠準(zhǔn)確地識別在IPM6中發(fā)生了 2個特定異?，F(xiàn)象中的哪一個異?，F(xiàn)象。
[0095]此外，對于熔斷器13A以及13B的斷線的有無，通過對IPM6的內(nèi)部的控制電路(未圖示)設(shè)置熔斷器13A以及13B的導(dǎo)通檢查功能，能夠比較容易地在IPM6內(nèi)部進(jìn)行確認(rèn)。
[0096]其結(jié)果，在發(fā)生溫度上升異?，F(xiàn)象或者短路異常現(xiàn)象之后，能夠迅速分別對溫度上升異常現(xiàn)象以及短路異?，F(xiàn)象進(jìn)行解析、對策，通過一邊對錯誤實(shí)施適當(dāng)?shù)膶Σ咭贿吺褂肐PM6，能夠?qū)崿F(xiàn)裝置的長壽命化。
[0097]另外，IPM6的異常輸出部(晶體管Q1、電阻Rl)基于或門G17的綜合檢測信號S17，接收由綜合異常檢測電路17生成的異常檢測信號SF，因此當(dāng)發(fā)生3種異?，F(xiàn)象(溫度上升異?，F(xiàn)象、短路異常現(xiàn)象以及電源電壓下降異?，F(xiàn)象)中的至少一個異?，F(xiàn)象時，從外部端子P2輸出對異常現(xiàn)象進(jìn)行指示的“L”電平的錯誤輸出信號F0。
[0098]因此，通過外部端子P2檢測出錯誤輸出信號FO為“L”電平，能夠從外部比較容易地識別發(fā)生了多種異?，F(xiàn)象的哪一個。
[0099]此外，在實(shí)施方式6中，示出了存在2個異常履歷設(shè)定部的情況，當(dāng)然，使實(shí)施方式6的IPM6擴(kuò)展而由大于或等于3個異常履歷設(shè)定部構(gòu)成的結(jié)構(gòu)，也可以實(shí)現(xiàn)。
[0100]S卩，也可以構(gòu)成為，特定異常檢測信號包含對第I?第N(N彡2)的特定異?，F(xiàn)象進(jìn)行檢測的第I?第N特定異常檢測信號，異常檢測動作包含第I?第N異常檢測動作，熔斷器包含第I?第N熔斷器，異常履歷動作包含第I?第N異常履歷動作。
[0101]此時，異常檢測電路包含第I?第N異常檢測電路，該第I?第N異常檢測電路執(zhí)行輸出第I?第N異常檢測信號的第I?第N異常檢測動作，其中，該第I?第N異常檢測信號對多種異?，F(xiàn)象所包含的第I?第N異?，F(xiàn)象的有無進(jìn)行指示。
[0102]異常履歷設(shè)定部包含第I?第N異常履歷設(shè)定部，該第I?第N異常履歷設(shè)定部與第I?第N異常檢測電路相對應(yīng)而設(shè)置，且具備上述第I?第N熔斷器。并且，上述第I?第N異常履歷設(shè)定部在上述第I?第N異常檢測信號對異常現(xiàn)象的發(fā)生進(jìn)行指示時，執(zhí)行使電流流過上述第I?第N熔斷器并使該第I?第N熔斷器斷線的上述第I?第N異常履歷動作。
[0103]<實(shí)施方式7>
[0104]圖8是示意性表示本發(fā)明的實(shí)施方式7即IPM7的異常輸出部以及異常履歷設(shè)定部和其周邊的電路圖。此外，對結(jié)構(gòu)與圖7中示出的結(jié)構(gòu)相同的部分(異常輸出部、異常檢測電路14A以及14B、鎖存電路15A以及15B、綜合異常檢測電路17、或門G17、電源21以及光耦合器22、過熱檢測電路31、短路檢測電路32、電壓下降檢測電路33以及外部端子Pl?P3等)，標(biāo)注相同標(biāo)號而適當(dāng)省略說明。
[0105]IPM7的第I異常履歷設(shè)定部由結(jié)構(gòu)與實(shí)施方式6相同的熔斷器13A、電阻R2A以及晶體管Q2A和鎖存電路15A構(gòu)成。IPM7還具備外部端子P4A(第I熔斷器斷線告知端子)、與外部端子P4A連接的發(fā)光二極管D4A (LED;第I發(fā)光元件)和在內(nèi)部由電阻R3A、晶體管Q2A以及鎖存電路15A構(gòu)成的第I熔斷器斷線告知部。
[0106]同樣地，第2異常履歷設(shè)定部由結(jié)構(gòu)與實(shí)施方式6相同的熔斷器13B、電阻R2B以及晶體管Q2B和鎖存電路15B構(gòu)成。IPM7還具備:外部端子P4B(第2熔斷器斷線告知端子)；與外部端子P4B連接的發(fā)光二極管D4B (LED;第2發(fā)光元件)；以及在內(nèi)部具有電阻R3B、晶體管Q2B以及鎖存電路15的第2熔斷器斷線告知部。
[0107]因此，晶體管Q2A以及鎖存電路15A由第I異常履歷設(shè)定部以及第I熔斷器斷線告知部間共用，晶體管Q2B以及鎖存電路15B由第2異常履歷設(shè)定部以及第2熔斷器斷線告知部間共用。
[0108]S卩，發(fā)光二極管D4A以及D4B的正極共通地與電源21的正極連接，負(fù)極與外部端子P4A以及P4B連接，在外部端子P4A以及P4B上連接電阻R3A以及R3B的一端，電阻R3A以及R3B的另一端與電阻R2A以及R2B的另一端(晶體管Q2A以及Q2B的集電極)連接。
[0109]以這種方式構(gòu)成的實(shí)施方式7的第I異常履歷設(shè)定部在發(fā)生溫度上升異?，F(xiàn)象時以“H”的特定異常檢測信號S14A由鎖存電路15A進(jìn)行鎖存作為觸發(fā)，而執(zhí)行與實(shí)施方式6的第I異常履歷設(shè)定部相同的第I異常履歷動作，因此能夠使熔斷器13A斷線。
[0110]此時，利用鎖存電路15A鎖存了特定異常檢測信號S14A的“H”電平，因此在發(fā)生溫度上升異?，F(xiàn)象時的熔斷器13A的斷線時以及其后，向發(fā)光二極管D4A以及電阻R3A的電流路徑流過來自電源21的電流。
[0111]其結(jié)果，由于發(fā)光二極管D4A發(fā)光，因此能夠根據(jù)發(fā)光二極管D4A的發(fā)光的有無，可視覺識別地向外部告知是否發(fā)生了溫度上升異?，F(xiàn)象。
[0112]同樣地，第2異常履歷設(shè)定部在發(fā)生短路異?，F(xiàn)象時，以“H”的特定異常檢測信號S14B由鎖存電路15B進(jìn)行鎖存作為觸發(fā)，而執(zhí)行與實(shí)施方式6的第2異常履歷設(shè)定部相同的第2異常履歷動作，因此能夠使熔斷器13B斷線。
[0113]此時，利用鎖存電路15B鎖存了特定異常檢測信號S14B的“H”電平，因此在發(fā)生短路異?，F(xiàn)象時的熔斷器13B的斷線時以及其后，向發(fā)光二極管D4B以及電阻R3B的電流路徑流過來自電源21的電流。
[0114]其結(jié)果，由于發(fā)光二極管D4B發(fā)光，因此能夠根據(jù)發(fā)光二極管D4B的發(fā)光的有無，可視覺識別地向外部告知是否發(fā)生了短路異?，F(xiàn)象。
[0115]這樣，實(shí)施方式7的IPM7與實(shí)施方式6的IPM6相同，能夠根據(jù)因第I以及第2異常履歷設(shè)定部的上述第I以及第2異常履歷動作引起的熔斷器13A以及13B的斷線的有無，以可在溫度上升異?，F(xiàn)象以及短路異?，F(xiàn)象間進(jìn)行區(qū)分識別的方式保留與是否發(fā)生了作為檢測對象的異?，F(xiàn)象相關(guān)的履