子。數(shù)據(jù)端子96是能夠輸入用于輸送向存儲(chǔ)器60寫(xiě)入的特性數(shù)據(jù)的特性數(shù)據(jù)信號(hào)DAT的端子，時(shí)鐘端子97是能夠輸入時(shí)鐘信號(hào)CL的端子。
[0064]讀寫(xiě)控制電路80根據(jù)特性數(shù)據(jù)信號(hào)DAT和時(shí)鐘信號(hào)CL，控制向存儲(chǔ)器60的特性數(shù)據(jù)的寫(xiě)入。此外，讀寫(xiě)控制電路80控制被寫(xiě)入到存儲(chǔ)器60的特性數(shù)據(jù)的讀出。
[0065]保護(hù)電路120通過(guò)具備數(shù)據(jù)端子96、時(shí)鐘端子97、讀寫(xiě)控制電路80，例如能夠在保護(hù)電路120的模壓封裝后出貨前檢查中將特性數(shù)據(jù)寫(xiě)入到存儲(chǔ)器60中。并且，由于能夠在封裝之后將特性數(shù)據(jù)寫(xiě)入到存儲(chǔ)器60，因此能夠抑制由封裝產(chǎn)生的保護(hù)特性的變動(dòng)。
[0066]此外，保護(hù)裝置110為了向存儲(chǔ)器60中寫(xiě)入特性數(shù)據(jù)，還可以具備數(shù)據(jù)輸入端子14和時(shí)鐘輸入端子15。數(shù)據(jù)輸入端子14和時(shí)鐘輸入端子15是用于寫(xiě)入特性數(shù)據(jù)的輸入端子。數(shù)據(jù)輸入端子14是能夠輸入特性數(shù)據(jù)信號(hào)DAT的端子，從保護(hù)電路120的外側(cè)連接到數(shù)據(jù)端子96。時(shí)鐘輸入端子15是能夠輸入時(shí)鐘信號(hào)CL的端子，從保護(hù)電路120的外側(cè)而連接到時(shí)鐘端子97。
[0067]保護(hù)裝置110具備數(shù)據(jù)輸入端子14和時(shí)鐘輸入端子15，因此，例如能夠在將保護(hù)電路120和晶體管11、12安裝于基板后的保護(hù)裝置110的出貨檢查中，將特性數(shù)據(jù)寫(xiě)入存儲(chǔ)器60。并且，由于能夠在基板安裝之后將特性數(shù)據(jù)寫(xiě)入到存儲(chǔ)器60，因此，能夠抑制由基板安裝產(chǎn)生的保護(hù)特性的變動(dòng)。
[0068]保護(hù)動(dòng)作電路98具備:檢測(cè)二次電池200的電流或電壓的異常的異常檢測(cè)電路21、根據(jù)異常檢測(cè)電路21的異常檢測(cè)結(jié)果來(lái)控制晶體管11、12的導(dǎo)通關(guān)斷的邏輯電路44。異常檢測(cè)電路21例如具備:過(guò)充電檢測(cè)電路22、過(guò)放電檢測(cè)電路27、放電過(guò)電流檢測(cè)電路32、充電過(guò)電流檢測(cè)電路35和短路檢測(cè)電路38。
[0069]保護(hù)動(dòng)作電路98例如進(jìn)行保護(hù)二次電池200免受過(guò)充電損害的動(dòng)作(過(guò)充電保護(hù)動(dòng)作)。例如，過(guò)充電檢測(cè)電路22通過(guò)電阻23、24來(lái)檢測(cè)電源端子91和接地端子92之間的電壓，由此監(jiān)視二次電池200的電池電壓(單元電壓)。過(guò)充電檢測(cè)電路22檢測(cè)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的閾值電壓數(shù)據(jù)而設(shè)定的過(guò)充電檢測(cè)電壓Vdetl以上的單元電壓，由此，作為檢測(cè)出了二次電池200的過(guò)充電，輸出過(guò)充電檢測(cè)信號(hào)。通過(guò)基準(zhǔn)電壓26和比較器25來(lái)進(jìn)行過(guò)充電檢測(cè)電壓Vdetl以上的單元電壓的檢測(cè)和過(guò)充電檢測(cè)信號(hào)的輸出。
[0070]檢測(cè)出過(guò)充電檢測(cè)信號(hào)的邏輯電路44等待經(jīng)過(guò)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的延遲時(shí)間數(shù)據(jù)而設(shè)定的過(guò)充電檢測(cè)延遲時(shí)間tVdetl，執(zhí)行從充電控制端子93輸出使晶體管11關(guān)斷的低電平控制信號(hào)的過(guò)充電保護(hù)動(dòng)作。通過(guò)使晶體管11關(guān)斷，不管晶體管12的導(dǎo)通關(guān)斷狀態(tài)如何，均能夠防止二次電池200過(guò)充電。邏輯電路44通過(guò)使晶體管46關(guān)斷并且使晶體管47導(dǎo)通，使晶體管11關(guān)斷。
[0071]另一方面，過(guò)充電檢測(cè)電路22檢測(cè)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的閾值電壓數(shù)據(jù)而設(shè)定的過(guò)充電恢復(fù)電壓Vrell以下的單元電壓，由此，作為二次電池200從過(guò)充電狀態(tài)恢復(fù)為通常狀態(tài)，輸出過(guò)充電恢復(fù)信號(hào)(也可以“停止過(guò)充電檢測(cè)信號(hào)的輸出”)。過(guò)充電恢復(fù)電壓Vrell低于過(guò)充電檢測(cè)電壓Vdetl。
[0072]檢測(cè)出過(guò)充電恢復(fù)信號(hào)的邏輯電路44(或檢測(cè)出過(guò)充電檢測(cè)信號(hào)的輸出的停止的邏輯電路44)，從充電控制端子93輸出使晶體管11導(dǎo)通的高電平控制信號(hào)。通過(guò)晶體管11的導(dǎo)通，結(jié)束過(guò)充電保護(hù)動(dòng)作。邏輯電路44通過(guò)使晶體管46導(dǎo)通并且使晶體管47關(guān)斷，使晶體管11導(dǎo)通。
[0073]保護(hù)動(dòng)作電路98例如進(jìn)行保護(hù)二次電池200免受過(guò)放電損害的動(dòng)作(過(guò)放電保護(hù)動(dòng)作)。例如，過(guò)放電檢測(cè)電路27通過(guò)電阻28、29來(lái)檢測(cè)電源端子91和接地端子92之間的電壓，由此監(jiān)視二次電池200的電池電壓(單元電壓)。過(guò)放電檢測(cè)電路27檢測(cè)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的閾值電壓數(shù)據(jù)而設(shè)定的過(guò)放電檢測(cè)電壓Vdet2以下的單元電壓，由此，作為檢測(cè)出了二次電池200的過(guò)放電，輸出過(guò)放電檢測(cè)信號(hào)。通過(guò)基準(zhǔn)電壓31和比較器30來(lái)進(jìn)行過(guò)放電檢測(cè)電壓Vdet2以下的單元電壓的檢測(cè)和過(guò)放電檢測(cè)信號(hào)的輸出。
[0074]檢測(cè)出過(guò)放電檢測(cè)信號(hào)的邏輯電路44等待經(jīng)過(guò)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的延遲時(shí)間數(shù)據(jù)而設(shè)定的過(guò)放電檢測(cè)延遲時(shí)間tVdet2，執(zhí)行從放電控制端子94輸出使晶體管12關(guān)斷的低電平控制信號(hào)的過(guò)放電保護(hù)動(dòng)作。通過(guò)使晶體管12關(guān)斷，不管晶體管11的導(dǎo)通關(guān)斷狀態(tài)如何，均能夠防止二次電池200過(guò)放電。邏輯電路44通過(guò)使晶體管48關(guān)斷并且使晶體管49導(dǎo)通，使晶體管12關(guān)斷。
[0075]另一方面，過(guò)放電檢測(cè)電路27檢測(cè)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的閾值電壓數(shù)據(jù)而設(shè)定的過(guò)放電恢復(fù)電壓Vrel2以上的單元電壓，由此，作為二次電池200從過(guò)放電狀態(tài)恢復(fù)為通常狀態(tài)，輸出過(guò)放電恢復(fù)信號(hào)(也可以“停止過(guò)放電檢測(cè)信號(hào)的輸出”)。過(guò)放電恢復(fù)電壓Vrel2高于過(guò)放電檢測(cè)電壓Vdet2。
[0076]檢測(cè)出過(guò)放電恢復(fù)信號(hào)的邏輯電路44(或檢測(cè)出過(guò)放電檢測(cè)信號(hào)的輸出停止的邏輯電路44)從放電控制端子94輸出使晶體管12導(dǎo)通的高電平控制信號(hào)。通過(guò)晶體管12的導(dǎo)通，結(jié)束過(guò)放電保護(hù)動(dòng)作。邏輯電路44通過(guò)使晶體管48導(dǎo)通并且使晶體管49關(guān)斷，使晶體管12導(dǎo)通。
[0077]保護(hù)動(dòng)作電路98例如進(jìn)行保護(hù)二次電池200免受放電過(guò)電流損害的動(dòng)作(放電過(guò)電流保護(hù)動(dòng)作)。例如，放電過(guò)電流檢測(cè)電路32通過(guò)檢測(cè)電流檢測(cè)端子95和接地端子92之間的電壓，監(jiān)視負(fù)載連接端子6與單元連接端子4之間的電壓P-。放電過(guò)電流檢測(cè)電路32檢測(cè)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的閾值電壓數(shù)據(jù)而設(shè)定的放電過(guò)電流檢測(cè)電壓Vdet3以上的電壓P-，由此，作為將放電過(guò)電流檢測(cè)為流過(guò)負(fù)載連接端子6的異常電流，輸出放電過(guò)電流檢測(cè)信號(hào)。通過(guò)基準(zhǔn)電壓34和比較器33來(lái)進(jìn)行放電過(guò)電流檢測(cè)電壓Vdet3以上的電壓P-的檢測(cè)和放電過(guò)電流檢測(cè)信號(hào)的輸出。
[0078]檢測(cè)出放電過(guò)電流檢測(cè)信號(hào)的邏輯電路44等待經(jīng)過(guò)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的延遲時(shí)間數(shù)據(jù)而設(shè)定的放電過(guò)電流檢測(cè)延遲時(shí)間tVdet3，執(zhí)行從放電控制端子94輸出使晶體管12關(guān)斷的低電平控制信號(hào)的放電過(guò)電流保護(hù)動(dòng)作。通過(guò)使晶體管12關(guān)斷，不管晶體管11的導(dǎo)通關(guān)斷狀態(tài)如何，均能夠防止過(guò)電流在使二次電池200放電的方向上流過(guò)。
[0079]這里，至少在晶體管12導(dǎo)通的狀態(tài)下，流過(guò)使二次電池200進(jìn)行放電的放電電流，由此電壓P-升高，這是由于產(chǎn)生了基于晶體管12的導(dǎo)通電阻的電壓升高。
[0080]保護(hù)動(dòng)作電路98例如進(jìn)行保護(hù)二次電池200免受充電過(guò)電流損害的動(dòng)作(充電過(guò)電流保護(hù)動(dòng)作)。例如，充電過(guò)電流檢測(cè)電路35通過(guò)檢測(cè)電流檢測(cè)端子95和接地端子92之間的電壓，監(jiān)視負(fù)載連接端子6與單元連接端子4之間的電壓P-。充電過(guò)電流檢測(cè)電路35檢測(cè)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的閾值電壓數(shù)據(jù)而設(shè)定的充電過(guò)電流檢測(cè)電壓Vdet4以下的電壓P-，由此，作為將檢測(cè)出的充電過(guò)電流作為流過(guò)負(fù)載連接端子6的異常電流，輸出充電過(guò)電流檢測(cè)信號(hào)。通過(guò)基準(zhǔn)電壓37和比較器36來(lái)進(jìn)行充電過(guò)電流檢測(cè)電壓Vdet4以下的電壓P-的檢測(cè)和充電過(guò)電流檢測(cè)信號(hào)的輸出。
[0081 ] 檢測(cè)出充電過(guò)電流檢測(cè)信號(hào)的邏輯電路44等待經(jīng)過(guò)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的延遲時(shí)間數(shù)據(jù)而設(shè)定的充電過(guò)電流檢測(cè)延遲時(shí)間tVdet4，執(zhí)行從充電控制端子93輸出使晶體管11關(guān)斷的低電平控制信號(hào)的充電過(guò)電流保護(hù)動(dòng)作。通過(guò)使晶體管11關(guān)斷，不管晶體管12的導(dǎo)通關(guān)斷狀態(tài)如何，均能夠防止在對(duì)二次電池200進(jìn)行充電的方向上流過(guò)
[0082]這里，至少在晶體管11導(dǎo)通的狀態(tài)下，使對(duì)二次電池200進(jìn)行充電的充電電流流過(guò)，由此電壓P-下降，這是由于產(chǎn)生了基于晶體管11的導(dǎo)通電阻的電壓下降。
[0083]保護(hù)動(dòng)作電路98例如進(jìn)行保護(hù)二次電池200免受短路電流損害的動(dòng)作(短路保護(hù)動(dòng)作)。例如，短路檢測(cè)電路38通過(guò)檢測(cè)電流檢測(cè)端子95和接地端子92之間的電壓，監(jiān)視負(fù)載連接端子6與單元連接端子4之間的電壓P-。短路檢測(cè)電路38檢測(cè)根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的閾值電壓數(shù)據(jù)而設(shè)定的短路檢測(cè)電壓Vshort以上的電壓P-，由此，作為檢測(cè)出了負(fù)載連接端子5和負(fù)載連接端子6之間的短路，輸出短路檢測(cè)信號(hào)。通過(guò)基準(zhǔn)電壓40和比較器39來(lái)進(jìn)行短路檢測(cè)電壓Vshort以上的電壓P-的檢測(cè)和短路檢測(cè)信號(hào)的輸出。
[0084]短路檢測(cè)信號(hào)從輸入到延遲電路41后，經(jīng)過(guò)短路檢測(cè)延遲時(shí)間tshort之后，從延遲電路41輸出。短路檢測(cè)延遲時(shí)間tshort是根據(jù)從存儲(chǔ)器60讀出的延遲時(shí)間數(shù)據(jù)而設(shè)定的時(shí)間。
[0085]經(jīng)由延遲電路41檢測(cè)出短路檢測(cè)信號(hào)的邏輯電路44執(zhí)行從放電控制端子94輸出使晶體