本發(fā)明涉及數(shù)字技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種矢量調(diào)制器的增益控制方法。

背景技術(shù)：

目前，正交調(diào)制器已廣泛應(yīng)用于雷達(dá)、導(dǎo)航、儀器儀表及衛(wèi)星通信等領(lǐng)域，具有結(jié)構(gòu)小、功耗低和調(diào)制損耗低等特點(diǎn)，通過改變自身調(diào)制衰減電路的控制電壓來改變調(diào)制信號(hào)的幅度，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)信號(hào)的移相和變幅。

一個(gè)正交矢量調(diào)制器具有一對(duì)控制電路，兩個(gè)控制信號(hào)I和Q構(gòu)成了一個(gè)二維平面，在同一頻點(diǎn)上，將不同的控制電壓組合可以產(chǎn)生不同的增益與相位數(shù)據(jù)組合，可用來定義射頻信號(hào)增益的幅度與增益的相位。對(duì)于能夠正常工作的矢量調(diào)制器，如果控制電壓精度足夠小，且該電壓處在正常的工作范圍內(nèi)，那么測(cè)試出所有的增益相位特性在極坐標(biāo)中表現(xiàn)成一個(gè)類似方形的封閉區(qū)域。最大等增益圓就是該區(qū)域的內(nèi)切圓，其增益值等于區(qū)域邊界上的點(diǎn)增益最小值，圓上的點(diǎn)也處在封閉區(qū)域的線性空間內(nèi)。

現(xiàn)有矢量調(diào)制器在很多方面總會(huì)偏離理想的模型，如加工誤差、矢量調(diào)制器本身的限制、測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差以及測(cè)試誤差等，由此導(dǎo)致了最大等增益圓上的增益值存在一個(gè)波動(dòng)范圍，相鄰的兩個(gè)點(diǎn)之間存在相位差，這個(gè)增益值的波動(dòng)范圍就是增益平坦度，最大的相位差叫做相位偏移量。

為了取得高精度的增益平坦度以及相位偏移量，在實(shí)際應(yīng)用中，需要對(duì)一個(gè)矢量調(diào)制器在不同的頻率、溫度和功率等環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試數(shù)據(jù)極其繁多并且需要消耗大量的時(shí)間。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，本發(fā)明目的在于提供一種矢量調(diào)制器的增益控制方法，用以提高矢量調(diào)制器性能。

本發(fā)明通過以下方案實(shí)現(xiàn)的：

本發(fā)明提供一種矢量調(diào)制器的增益控制方法，所述方法包括粗校準(zhǔn)測(cè)試和細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試；

所述粗校準(zhǔn)測(cè)試包括：步驟10，設(shè)定用于粗校準(zhǔn)測(cè)試用的I路校準(zhǔn)邊界和Q路校準(zhǔn)邊界；

步驟11，選取I路和Q路的粗校準(zhǔn)步進(jìn)；

步驟12，根據(jù)本次測(cè)試的I路校準(zhǔn)邊界和粗校準(zhǔn)步進(jìn)，以及Q路校準(zhǔn)邊界和粗校準(zhǔn)步進(jìn)，對(duì)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試；

步驟13，驗(yàn)證本次測(cè)試得到的I路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓是否滿足預(yù)先設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)；

步驟14，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果為滿足時(shí)，輸出本次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓；

步驟15，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果為不滿足時(shí)，進(jìn)行細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試。

進(jìn)一步，所述細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試包括：

步驟20，根據(jù)前次對(duì)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓，設(shè)定用于本次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試用的I路校準(zhǔn)邊界和Q路校準(zhǔn)邊界；

步驟21，選取本次測(cè)試的I路和Q路的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)；

步驟22，根據(jù)本次測(cè)試的I路校準(zhǔn)邊界和細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)，以及Q路校準(zhǔn)邊界和細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)，對(duì)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試；

步驟23，驗(yàn)證本次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓是否滿足預(yù)先設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)；

步驟24，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果為滿足時(shí)，輸出I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電 壓；

步驟25，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果為不滿足時(shí)，判斷本次測(cè)試細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)是否小于矢量調(diào)制器電壓可控的最小刻度，當(dāng)小于時(shí)，輸出前次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓，當(dāng)大于時(shí)，執(zhí)行步驟20。

進(jìn)一步，，步驟13或步驟23具體包括：

利用二分法方式得到本次測(cè)試I路和Q路的最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓；

根據(jù)最大增益圓法則，驗(yàn)證本次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓是否滿足預(yù)先設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)。

進(jìn)一步，，利用二分法方式得到本次測(cè)試I路和Q路的最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓的步驟，具體包括：

固定校準(zhǔn)電壓V_i為I路校準(zhǔn)邊界控制電壓的中點(diǎn)，根據(jù)粗校準(zhǔn)步進(jìn)或細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)得到若干個(gè)Q路校準(zhǔn)電壓V_q，將V_q從小到大進(jìn)行遍歷測(cè)試，得到Q路增益最小值值對(duì)應(yīng)的控制電壓V_mq；

固定校準(zhǔn)電壓V_mq，根據(jù)粗校準(zhǔn)步進(jìn)或細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)得到若干個(gè)I路校準(zhǔn)電壓V_i，將V_i從小到大進(jìn)行遍歷測(cè)試，得到I路增益最小值值對(duì)應(yīng)的控制電壓V_mi。

進(jìn)一步，，根據(jù)最大增益圓法則，驗(yàn)證本次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓是否滿足預(yù)先設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)的步驟，具體包括：

根據(jù)V_mq和V_mi，在極坐標(biāo)系內(nèi)計(jì)算最大增益圓相應(yīng)的圓心和半徑；

選取至少兩個(gè)校準(zhǔn)電壓，對(duì)選取的校準(zhǔn)電壓進(jìn)行測(cè)試，得到各校準(zhǔn)電壓對(duì)應(yīng)的增益和相位；

比對(duì)各校準(zhǔn)電壓對(duì)應(yīng)的增益的最大值和最小值的差與預(yù)先設(shè)定的增益平坦度指標(biāo)，以及比對(duì)各校準(zhǔn)電壓對(duì)應(yīng)的相位的最大值和最小值的差與預(yù)先設(shè)定的相位偏移量指標(biāo)。

進(jìn)一步，I路和Q路的粗校準(zhǔn)步進(jìn)相同；每次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的I路和Q路的 細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)相同。

進(jìn)一步，第一次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)小于粗校準(zhǔn)步進(jìn)；本次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)小于前次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)。

進(jìn)一步，根據(jù)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試的時(shí)長(zhǎng)和精度選取粗校準(zhǔn)步進(jìn)和每次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)。

本發(fā)明有益效果如下：本發(fā)明實(shí)現(xiàn)最大增益圓的自動(dòng)測(cè)試，精確實(shí)現(xiàn)矢量調(diào)制器的增益控制，最大限度的減少相位偏移和幅度偏移帶來的誤差，獲取調(diào)制器的最大增益值，提高增益平坦度，從而對(duì)合成矢量信號(hào)進(jìn)行修正，提高了矢量調(diào)制器的性能以及校準(zhǔn)效率。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)中矢量調(diào)制器的功能框圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例中矢量調(diào)制器最大等增益圓示意圖；

圖3是本發(fā)明實(shí)施例中非理想矢量調(diào)制器增益矢量示意圖；

圖4是本發(fā)明實(shí)施例中一種矢量調(diào)制器的增益控制方法的詳細(xì)流程圖；

圖5是本發(fā)明實(shí)施例中校準(zhǔn)過程的流程圖；

圖6是本發(fā)明實(shí)施例中增益圓驗(yàn)證流程圖。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明提供了一種矢量調(diào)制器的增益控制方法，通過實(shí)現(xiàn)基于最大增益圓的自動(dòng)測(cè)試，精確實(shí)現(xiàn)矢量調(diào)制器的增益控制，最大限度的減少相位偏移和幅度偏移帶來的誤差，獲取調(diào)制器的最大增益值，提高增益平坦度，從而對(duì)合成矢量信號(hào)進(jìn)行修正，提高了矢量調(diào)制器的性能以及校準(zhǔn)效率。以下結(jié)合附圖以及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不限定本發(fā)明。

本發(fā)明實(shí)施例提供一種矢量調(diào)制器的增益控制方法，所述方法包括粗校準(zhǔn) 測(cè)試和細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試；

所述粗校準(zhǔn)測(cè)試包括：步驟10，設(shè)定用于粗校準(zhǔn)測(cè)試用的I路校準(zhǔn)邊界和Q路校準(zhǔn)邊界；

步驟11，選取I路和Q路的粗校準(zhǔn)步進(jìn)；

步驟12，根據(jù)本次測(cè)試的I路校準(zhǔn)邊界和粗校準(zhǔn)步進(jìn)，以及Q路校準(zhǔn)邊界和粗校準(zhǔn)步進(jìn)，對(duì)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試；

步驟13，驗(yàn)證本次測(cè)試得到的I路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓是否滿足預(yù)先設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)；

步驟14，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果為滿足時(shí)，輸出本次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓；

步驟15，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果為不滿足時(shí)，進(jìn)行細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試。

本發(fā)明實(shí)施例實(shí)現(xiàn)最大增益圓的自動(dòng)測(cè)試，精確實(shí)現(xiàn)矢量調(diào)制器的增益控制，最大限度的減少相位偏移和幅度偏移帶來的誤差，獲取調(diào)制器的最大增益值，提高增益平坦度，從而對(duì)合成矢量信號(hào)進(jìn)行修正，提高了矢量調(diào)制器的性能以及校準(zhǔn)效率。

本發(fā)明實(shí)施例還基于最大增益圓理論，通過將I、Q兩路偏置電壓與極坐標(biāo)空間的對(duì)應(yīng)，尋找理想狀態(tài)下調(diào)制器的增益圓點(diǎn)(增益設(shè)置最小值)與非理想狀態(tài)下的增益圓點(diǎn)的細(xì)微差別，采用迭代法不斷確定以及修正圓點(diǎn)位置，從而實(shí)現(xiàn)調(diào)制器的最大增益控制。同時(shí)通過測(cè)試，將粗校準(zhǔn)方式與細(xì)校準(zhǔn)方式相結(jié)合，不斷改變測(cè)試電壓邊界，最大限度的減少了測(cè)試時(shí)間。

用戶還可以自行設(shè)定增益平坦度和相位偏移量指標(biāo)，以適應(yīng)不同矢量調(diào)制器的測(cè)試校準(zhǔn)需求。因此本發(fā)明實(shí)施例方法還包括：

所述細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試包括：

步驟20，根據(jù)前次對(duì)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓，設(shè)定用于本次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試用的I路校準(zhǔn)邊界和Q路校準(zhǔn)邊界；本步驟中前次對(duì)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試具體的可以為粗校 準(zhǔn)測(cè)試，也可以為細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試。

步驟21，選取本次測(cè)試的I路和Q路的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)；

步驟22，根據(jù)本次測(cè)試的I路校準(zhǔn)邊界和細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)，以及Q路校準(zhǔn)邊界和細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)，對(duì)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試；

步驟23，驗(yàn)證本次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓是否滿足預(yù)先設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)；

步驟24，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果為滿足時(shí)，輸出I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓；

步驟25，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果為不滿足時(shí)，判斷本次測(cè)試細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)是否小于矢量調(diào)制器電壓可控的最小刻度，當(dāng)小于時(shí)，輸出前次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓，當(dāng)大于時(shí)，執(zhí)行步驟20。

其中，步驟13或步驟23具體包括：

利用二分法方式得到本次測(cè)試I路和Q路的最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓；

根據(jù)最大增益圓法則，驗(yàn)證本次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓是否滿足預(yù)先設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)。

利用二分法方式得到本次測(cè)試I路和Q路的最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓的步驟，具體包括：

固定校準(zhǔn)電壓V_i為I路校準(zhǔn)邊界控制電壓的中點(diǎn)，根據(jù)粗校準(zhǔn)步進(jìn)或細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)得到若干個(gè)Q路校準(zhǔn)電壓V_q，將V_q從小到大進(jìn)行遍歷測(cè)試，得到Q路增益最小值值對(duì)應(yīng)的控制電壓V_mq；

固定校準(zhǔn)電壓V_mq，根據(jù)粗校準(zhǔn)步進(jìn)或細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)得到若干個(gè)I路校準(zhǔn)電壓V_i，將V_i從小到大進(jìn)行遍歷測(cè)試，得到I路增益最小值值對(duì)應(yīng)的控制電壓V_mi。

根據(jù)最大增益圓法則，驗(yàn)證本次測(cè)試得到的I路和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓是否滿足預(yù)先設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)的步驟，具體包括：

根據(jù)V_mq和V_mi，在極坐標(biāo)系內(nèi)計(jì)算最大增益圓相應(yīng)的圓心和半徑；

選取至少兩個(gè)校準(zhǔn)電壓，對(duì)選取的校準(zhǔn)電壓進(jìn)行測(cè)試，得到各校準(zhǔn)電壓對(duì)應(yīng)的增益和相位；

比對(duì)各校準(zhǔn)電壓對(duì)應(yīng)的增益的最大值和最小值的差與預(yù)先設(shè)定的增益平坦度指標(biāo)，以及比對(duì)各校準(zhǔn)電壓對(duì)應(yīng)的相位的最大值和最小值的差與預(yù)先設(shè)定的相位偏移量指標(biāo)。

以下結(jié)合附圖詳細(xì)描述本發(fā)明實(shí)施例方法。

圖1為本發(fā)明所適用的任意一種矢量調(diào)制器的功能框圖。如圖所示，射頻輸入信號(hào)進(jìn)入調(diào)制器后被一分為二成兩路信號(hào)，在調(diào)制電路中它們分別與相差90°的同相信號(hào)I和正交信號(hào)Q相乘，之后再組合為一路信號(hào)輸出。在這一過程中，信號(hào)的增益控制可理解為是在I和Q構(gòu)成的二維平面中實(shí)現(xiàn)的，因此增益(增益設(shè)置)可視為一個(gè)“矢量”。

圖2為本發(fā)明所適用的調(diào)制器最大等增益圓示意圖。理想矢量調(diào)制器增益設(shè)置的最小值在圓心處(增益原點(diǎn))，而增益設(shè)置的最大值落于圓環(huán)上，增益矢量的幅度集合是以增益原點(diǎn)為中心的一系列同心圓。理想條件下的矢量調(diào)制器最大增益圓的，半徑是(V_{mi_max}-V_{mi_min})/2＝(V_{mq_max}-V_{mq_min})/2，V_{mi_max}、V_{mi_min}、V_{mq_max}、V_{mq_min}分別為信號(hào)I、Q控制電壓范圍的最大值、最小值。

圖3為本發(fā)明所涉及的非理想矢量調(diào)制器增益矢量示意圖。在實(shí)際的調(diào)制過程中，包括輸入信號(hào)在內(nèi)的四路信號(hào)不可避免會(huì)出現(xiàn)諸如直流偏置、I/Q幅度不平衡以及相位不正交等對(duì)調(diào)制指標(biāo)有直接影響的誤差，在極坐標(biāo)系中表現(xiàn)如圖3所示：增益圓的矢量圓點(diǎn)會(huì)出現(xiàn)輕微的偏移；增益的相位也會(huì)產(chǎn)生固有偏差；實(shí)際的最大增益圓也會(huì)發(fā)生偏移，但總會(huì)落在最大增益圓的范圍內(nèi)。

圖4為本發(fā)明實(shí)施例方法流程圖。如圖4所示，本發(fā)明實(shí)施例方法包括：

步驟1，根據(jù)矢量調(diào)制器的相關(guān)性能，在程序入口設(shè)定控制電壓參數(shù)，即I、Q控制電壓范圍的最大值、最小值V_{mi_max}、V_{mi_min}、V_{mq_max}、V_{mq_min}。根據(jù)V_{mi_max}和V_{mi_min}確定I控制電壓的掃描范圍(校準(zhǔn)邊界)，根據(jù)V_{mq_max}和V_{mq_min}確定Q控 制電壓的掃描范圍，可選取(V_{mi_max}-V_{mi_min})/10和(V_{mq_max}-V_{mq_min})/10作為校準(zhǔn)步進(jìn)。

步驟2，進(jìn)入粗校準(zhǔn)模式，對(duì)矢量調(diào)制器進(jìn)行增益測(cè)試。

步驟3，利用二分法的思想可最快確定I路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓V_mi和Q路最小增益值對(duì)應(yīng)的控制電壓V_mq。

步驟4，將此數(shù)據(jù)送入增益圓驗(yàn)證模塊，根據(jù)最大增益圓法則驗(yàn)證此數(shù)據(jù)是否滿足用戶所設(shè)定的幅度平坦度和相位偏移量指標(biāo)；

步驟5，若滿足直接輸出結(jié)果；

步驟6，若不滿足則進(jìn)入細(xì)校準(zhǔn)環(huán)節(jié)；

同粗校準(zhǔn)模式類似，在細(xì)校準(zhǔn)環(huán)節(jié)同樣對(duì)矢量調(diào)制器進(jìn)行增益測(cè)試，掃描邊界I的控制電壓為V_mi-(V_{mi_max}-V_{mi_min})/10和V_mi+(V_{mi_max}-V_{mi_min})/10，Q為V_mq-(V_{mq_max}-V_{mq_min})/10和V_mq+(V_{mq_max}-V_{mq_min})/10，步進(jìn)可選取(V_{mi_max}-V_{mi_min})/50和(V_{mq_max}-V_{mq_min})/50甚至更小，步進(jìn)的大小選取與測(cè)試過程的時(shí)長(zhǎng)有一定關(guān)系，可根據(jù)實(shí)際情況精度和復(fù)雜程度進(jìn)行取舍；也就是說根據(jù)矢量調(diào)制器的增益控制進(jìn)行測(cè)試的時(shí)長(zhǎng)和精度選取粗校準(zhǔn)步進(jìn)和每次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)。

步驟7，細(xì)校準(zhǔn)；

步驟8，在得到新的最小增益值及其控制電壓V_mi和V_mq后，進(jìn)入增益圓驗(yàn)證環(huán)節(jié)進(jìn)行判定。

步驟9，判定若滿足則直接輸出結(jié)果；若不滿足，執(zhí)行步驟6，則根據(jù)新的控制電壓V_mi和V_mq進(jìn)行再次細(xì)校準(zhǔn)。也就是說經(jīng)過一次或多次迭代判斷后，直至步進(jìn)變?yōu)槭噶空{(diào)制器電壓可控的最小刻度為止，最后得到的即為最終所需數(shù)據(jù)。

除了校準(zhǔn)邊界以及校準(zhǔn)步進(jìn)不同之外，也就是說，I路和Q路的粗校準(zhǔn)步進(jìn)相同；每次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的I路和Q路的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)相同。第一次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)小于粗校準(zhǔn)步進(jìn)；本次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)小于前次細(xì)校準(zhǔn)測(cè)試的細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)。粗校準(zhǔn)模式與細(xì)校準(zhǔn)模式的工作流程一致，圖5是本發(fā)明 實(shí)施例中校準(zhǔn)過程的流程圖，如圖5所示，具體描述如下：

步驟1，將校準(zhǔn)電壓V_i固定為校準(zhǔn)邊界I電壓的中點(diǎn)，根據(jù)粗校準(zhǔn)步進(jìn)或細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)得到若干個(gè)Q路校準(zhǔn)電壓V_q；

步驟2，將V_q從小到大進(jìn)行遍歷測(cè)試，得到增益最小值所在的電壓，記V_mq＝V_q；

步驟3，固定校準(zhǔn)電壓V_mq；

步驟4，將V_i從小到大進(jìn)行遍歷測(cè)試，得到增益最小值所在的電壓，記V_mi＝V_i，由此得到此次校準(zhǔn)所得值。

圖6為本發(fā)明涉及到的增益圓驗(yàn)證環(huán)節(jié)流程圖。如圖6所示，包括：

步驟1，在得到粗(細(xì))校準(zhǔn)數(shù)據(jù)即控制電壓V_mi和V_mq后，在極坐標(biāo)系內(nèi)計(jì)算其最大增益圓相應(yīng)的圓心和半徑，然后選取N個(gè)樣本點(diǎn)，如V_i1/V_q1、V_i2/V_q2、V_i3/V_q3等(為方便起見，可選取相位特殊的點(diǎn)進(jìn)行驗(yàn)證，例如30、45、90、180度的點(diǎn)等等)。

步驟2，將這N個(gè)校準(zhǔn)電壓進(jìn)行測(cè)試，得到各個(gè)控制電壓所對(duì)應(yīng)的增益和相位。

步驟3，將最大值和最小值的差與要求的增益平坦度以及相位偏移量進(jìn)行對(duì)比，若滿足指標(biāo)要求即為通過，若不滿足則提示未能通過。其中，樣本點(diǎn)的個(gè)數(shù)至少大于2個(gè)，具體個(gè)數(shù)可以根據(jù)實(shí)際情況設(shè)置。

整個(gè)測(cè)試過程在顯示通過或者在最后一次細(xì)校準(zhǔn)步進(jìn)為最小時(shí)截止。

本發(fā)明實(shí)施例基于最大等增益圓的思想，采用粗校準(zhǔn)方式與細(xì)校準(zhǔn)方式相結(jié)合測(cè)試方法，不斷改變測(cè)試電壓邊界，最大限度的減少了測(cè)試時(shí)間。用戶可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)定邊界、步進(jìn)、樣本點(diǎn)等信息來取得測(cè)試時(shí)間與測(cè)試精度的平衡，還可以自行設(shè)定增益平坦度和相位偏移量指標(biāo)，以適應(yīng)不同矢量調(diào)制器的測(cè)試校準(zhǔn)需求。

盡管為示例目的，以上已經(jīng)公開了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員將意識(shí)到各種改進(jìn)、增加和取代也是可能的，因此，本發(fā)明的范圍應(yīng)當(dāng)不限于上述實(shí)施例。