本發(fā)明涉及射頻技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方法和一種射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置。
背景技術(shù):
在射頻PCB(Printed Circuit Board,印制電路板)的布線過程中,經(jīng)常遇到由于空間或者其它布線的限制導(dǎo)致某一段較短的傳輸線不能處于理想狀態(tài),進(jìn)而會造成該傳輸線的阻抗失配。比如:由于射頻收發(fā)器的射頻端口輸出端和微帶線到帶狀線過渡的通孔、錯孔、參考地不完整等會導(dǎo)致傳輸線存在失配的問題。
通過增加匹配元件(如電容、電感、電阻等)來解決傳輸線失配的問題時,由于匹配元件的值較大,以及離散分布和寄生參數(shù)等原因,反而會導(dǎo)致傳輸線失配更加嚴(yán)重。并且增加匹配元件也使得在PCB上占用的空間較大,若匹配元件在PCB上的位置與傳輸線失配的地方越遠(yuǎn),效果越不明顯。
目前,PCB工程師一般是通過規(guī)避的方式來解決傳輸線失配的問題,這樣會導(dǎo)致生產(chǎn)出來的產(chǎn)品(如手機(jī)等)的射頻指標(biāo)較差,影響了產(chǎn)品的品質(zhì)。
因此,如何能夠優(yōu)化射頻傳輸線的匹配,有效避免射頻傳輸線失配成為亟待解決的技術(shù)問題。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明正是基于上述技術(shù)問題至少之一,提出了一種新的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方案,可以通過添加傳輸線的方式來補(bǔ)償射頻傳輸線在其工作頻段上失配的阻抗,有效解決了射頻傳輸線的失配問題。
有鑒于此,根據(jù)本發(fā)明的第一方面,提出了一種射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方法,包括:提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);根據(jù)所述散射參數(shù)計算所述射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?;基于所述需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?,確定需要在所述射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),以基于添加的所述開路傳輸線對所述射頻傳輸線進(jìn)行失配補(bǔ)償。
在該技術(shù)方案中,通過提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù),并根據(jù)散射參數(shù)計算射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪担M(jìn)而基于需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪荡_定需要在射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),使得能夠通過添加傳輸線的方式來補(bǔ)償射頻傳輸線在其工作頻段上失配的阻抗,有效解決了射頻傳輸線的失配問題,避免了通過添加匹配元件來解決射頻傳輸線失配的問題而可能出現(xiàn)射頻傳輸線的失配更加嚴(yán)重、效果不明顯的問題,優(yōu)化了射頻傳輸線的阻抗匹配,確保了射頻傳輸線的射頻指標(biāo)符合規(guī)范。
其中,開路傳輸線的參數(shù)包括長度和寬度,開路傳輸線可以通過并聯(lián)的方式連接在射頻傳輸線的后端。
在上述技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)的步驟,具體包括:通過軟件仿真的方式在所述射頻傳輸線所在的電路圖中提取所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在所述射頻傳輸線所在的電路板中提出所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)。
在該技術(shù)方案中,一方面可以直接在射頻傳輸線所在的電路圖(如PCB電路圖)中提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);另一方面也可以直接在射頻傳輸線所在的電路板(如PCB電路板)中提出射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù),以保證提取到更加準(zhǔn)確的散射參數(shù)。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,當(dāng)在所述射頻傳輸線上添加所述開路傳輸線之后,還包括:提取所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù);根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求。
在該技術(shù)方案中,通過在射頻傳輸線上添加開路傳輸線之后,提取射頻傳輸線和開路傳輸線在射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),并基于此驗證射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,使得能夠?qū)ι漕l傳輸線的補(bǔ)償結(jié)果進(jìn)行驗證,以確保添加的開路傳輸線能夠有效解決射頻傳輸線的阻抗失配的問題。
在上述技術(shù)方案中,優(yōu)選地,還包括:若確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值不符合要求,則調(diào)整所述開路傳輸線的參數(shù),并再次驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求為止。
在該技術(shù)方案中,通過在確定射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值不符合要求時,對開路傳輸線的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,并再次驗證射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值符合要求為止,可以保證添加的開路傳輸線能夠有效解決射頻傳輸線的阻抗失配的問題。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求的步驟,具體包括:根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值;在所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值處于預(yù)定阻抗值范圍內(nèi)時,確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求。
其中,所述的阻抗值即為電阻值和電抗值。
根據(jù)本發(fā)明的第二方面,還提出了一種射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置,包括:提取單元,用于提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);計算單元,用于根據(jù)所述散射參數(shù)計算所述射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?;處理單元,用于基于所述需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?,確定需要在所述射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),以基于添加的所述開路傳輸線對所述射頻傳輸線進(jìn)行失配補(bǔ)償。
在該技術(shù)方案中,通過提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù),并根據(jù)散射參數(shù)計算射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?,進(jìn)而基于需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪荡_定需要在射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),使得能夠通過添加傳輸線的方式來補(bǔ)償射頻傳輸線在其工作頻段上失配的阻抗,有效解決了射頻傳輸線的失配問題,避免了通過添加匹配元件來解決射頻傳輸線失配的問題而可能出現(xiàn)射頻傳輸線的失配更加嚴(yán)重、效果不明顯的問題,優(yōu)化了射頻傳輸線的阻抗匹配,確保了射頻傳輸線的射頻指標(biāo)符合規(guī)范。
其中,開路傳輸線的參數(shù)包括長度和寬度,開路傳輸線可以通過并聯(lián)的方式連接在射頻傳輸線的后端。
在上述技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述提取單元具體用于:通過軟件仿真的方式在所述射頻傳輸線所在的電路圖中提取所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在所述射頻傳輸線所在的電路板中提出所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)。
在該技術(shù)方案中,一方面可以直接在射頻傳輸線所在的電路圖(如PCB電路圖)中提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);另一方面也可以直接在射頻傳輸線所在的電路板(如PCB電路板)中提出射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù),以保證提取到更加準(zhǔn)確的散射參數(shù)。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述提取單元還用于,當(dāng)在所述射頻傳輸線上添加所述開路傳輸線之后,提取所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù);所述失配補(bǔ)償裝置還包括:驗證單元,用于根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求。
在該技術(shù)方案中,通過在射頻傳輸線上添加開路傳輸線之后,提取射頻傳輸線和開路傳輸線在射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),并基于此驗證射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,使得能夠?qū)ι漕l傳輸線的補(bǔ)償結(jié)果進(jìn)行驗證,以確保添加的開路傳輸線能夠有效解決射頻傳輸線的阻抗失配的問題。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述驗證單元還用于:若確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值不符合要求,則調(diào)整所述開路傳輸線的參數(shù),并再次驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求為止。
在該技術(shù)方案中,通過在確定射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值不符合要求時,對開路傳輸線的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,并再次驗證射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值符合要求為止,可以保證添加的開路傳輸線能夠有效解決射頻傳輸線的阻抗失配的問題。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述驗證單元具體用于:根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值,在所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值處于預(yù)定阻抗值范圍內(nèi)時,確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求。
其中,所述的阻抗值即為電阻值和電抗值。
通過以上技術(shù)方案,使得能夠通過添加傳輸線的方式來補(bǔ)償射頻傳輸線在其工作頻段上失配的阻抗,有效解決了射頻傳輸線的失配問題。
附圖說明
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的第一個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方法的流程示意圖;
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的第二個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方法的流程示意圖;
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的射頻傳輸線的失配阻抗的仿真結(jié)果示意圖;
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的射頻傳輸線的失配阻抗的施密特圓圖示意圖;
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的射頻傳輸線在添加開路枝節(jié)之后的失配阻抗的仿真結(jié)果示意圖;
圖6示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的在PCB電路圖中添加開路枝節(jié)的示意圖;
圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的射頻傳輸線在添加開路枝節(jié)之后的施密特圓圖示意圖;
圖8示出了根據(jù)本發(fā)明的第一個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置的示意框圖;
圖9示出了根據(jù)本發(fā)明的第二個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置的示意框圖;
圖10示出了根據(jù)本發(fā)明的第三個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置的示意框圖。
具體實施方式
為了能夠更清楚地理解本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點,下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)描述。需要說明的是,在不沖突的情況下,本申請的實施例及實施例中的特征可以相互組合。
在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明,但是,本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其他方式來實施,因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍并不受下面公開的具體實施例的限制。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的第一個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方法的流程示意圖。
如圖1所示,根據(jù)本發(fā)明的第一個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方法,包括:
步驟S10,提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)。
在本發(fā)明的一個實施例中,步驟S10具體包括如下實施方式:
實施方式一:
通過軟件仿真的方式在所述射頻傳輸線所在的電路圖中提取所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)。即可以直接在射頻傳輸線所在的電路圖(如PCB電路圖)中提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)
實施方式二:
通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在所述射頻傳輸線所在的電路板中提出所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)。即直接在射頻傳輸線所在的電路板(如PCB電路板)中提出射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù),以保證提取到更加準(zhǔn)確的散射參數(shù)。
步驟S12,根據(jù)所述散射參數(shù)計算所述射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?。其中,所述的阻抗值即為電阻值和電抗值?/p>
步驟S14,基于所述需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?,確定需要在所述射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),以基于添加的所述開路傳輸線對所述射頻傳輸線進(jìn)行失配補(bǔ)償。
其中,開路傳輸線的參數(shù)包括長度和寬度,開路傳輸線可以通過并聯(lián)的方式連接在射頻傳輸線的后端。
具體地,通過提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù),并根據(jù)散射參數(shù)計算射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?,進(jìn)而基于需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪荡_定需要在射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),使得能夠通過添加傳輸線的方式來補(bǔ)償射頻傳輸線在其工作頻段上失配的阻抗,有效解決了射頻傳輸線的失配問題,避免了通過添加匹配元件來解決射頻傳輸線失配的問題而可能出現(xiàn)射頻傳輸線的失配更加嚴(yán)重、效果不明顯的問題,優(yōu)化了射頻傳輸線的阻抗匹配,確保了射頻傳輸線的射頻指標(biāo)符合規(guī)范。
進(jìn)一步地,當(dāng)在所述射頻傳輸線上添加所述開路傳輸線之后,還包括:提取所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù);根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求。
在該技術(shù)方案中,通過在射頻傳輸線上添加開路傳輸線之后,提取射頻傳輸線和開路傳輸線在射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),并基于此驗證射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,使得能夠?qū)ι漕l傳輸線的補(bǔ)償結(jié)果進(jìn)行驗證,以確保添加的開路傳輸線能夠有效解決射頻傳輸線的阻抗失配的問題。
進(jìn)一步地,若確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值不符合要求,則調(diào)整所述開路傳輸線的參數(shù),并再次驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求為止。
在該技術(shù)方案中,通過在確定射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值不符合要求時,對開路傳輸線的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,并再次驗證射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值符合要求為止,可以保證添加的開路傳輸線能夠有效解決射頻傳輸線的阻抗失配的問題。
進(jìn)一步地,驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求的步驟,具體包括:根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值;在所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值處于預(yù)定阻抗值范圍內(nèi)時,確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求。
以下結(jié)合圖2至圖6進(jìn)一步說明本發(fā)明的技術(shù)方案。
如圖2所示,根據(jù)本發(fā)明的第二個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方法,包括:
步驟S20,提取射頻傳輸線的S參數(shù)(即散射參數(shù))。
具體地,若沒有現(xiàn)成的PCB電路板,只有PCB電路圖,則對于失配傳輸線的頻段后端,將無法避免且影響嚴(yán)重的射頻頻段的傳輸線所在的PCB電路圖提取出來,然后通過軟件仿真的方式提取S參數(shù)。若已經(jīng)有現(xiàn)成的電路板,則可以通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀實際測量電路板上的PCB來提取S參數(shù)。其中,S參數(shù)可以轉(zhuǎn)換為電阻值和電抗值。
步驟S22,通過提取出的S參數(shù)計算射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪怠?/p>
步驟S24,基于計算出的需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?,確定需要在射頻傳輸線的后端添加的傳輸線的參數(shù)。然后在射頻傳輸線的后端添加一小段傳輸線進(jìn)行補(bǔ)償。其中,傳輸線的參數(shù)包括長度和寬度。
步驟S26,在射頻傳輸線的后端添加傳輸線之后,對添加傳輸線的PCB電路圖進(jìn)行仿真。
步驟S28,判斷在添加傳輸線之后,射頻傳輸線和添加的傳輸線的阻抗是否滿足要求,若是,則執(zhí)行步驟S32;否則,執(zhí)行步驟S30。
步驟S30,調(diào)整補(bǔ)償值,即對添加的傳輸線的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,然后返回步驟S26。
步驟S32,將補(bǔ)償機(jī)制加入到PCB電路圖中,以在下一次投板時使用。具體地,若沒有現(xiàn)成的PCB電路板,只有PCB電路圖,則在第一次投板時就可以加入補(bǔ)償機(jī)制;若已經(jīng)有現(xiàn)成的電路板,則在下一次投板時加入補(bǔ)償機(jī)制。
以下以具體的實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行說明:
如圖3所示,假設(shè)射頻收發(fā)器輸出端口的某一段微帶線(傳輸線的一種)的參數(shù)為:介電參數(shù)3.3,從射頻收發(fā)器輸出的失配小段傳輸線(TL1)的寬度為2.9mil,長度為100mil,其后端未失配理想傳輸線(TL5)的50Ω阻抗寬度為6.9mil,該阻抗下長度為1000mil。其中,mil為千分之一英尺,1mil=0.0254mm。
若該傳輸線的頻段為LTE B7頻段(2.5GHz~2.57GHz),即只需關(guān)注2.5GHz~2.57GHz頻段內(nèi)的失配問題,如圖4所示,通過simith(施密特)圓圖可以看出,其失配阻抗如下:
2.5GHz時,Z=40.964-j×1.637;
2.57GHz時,Z=40.629-j×0.603。
基于本發(fā)明的技術(shù)方案,可以在失配傳輸線的后端添加開路枝節(jié),以解決傳輸線的失配問題,具體如圖5所示:
通過計算可知,需要在失配傳輸線的后端添加的開路枝節(jié)的尺寸為:長度L=100mil,寬度W=4mil。其PCB電路圖中的示意結(jié)構(gòu)如圖6所示,其中,傳輸線602為失配的傳輸線,傳輸線606為添加的開路傳輸線,傳輸線604為后端50Ω線。
在添加開路傳輸線之后,如圖7所示,通過simith(施密特)圓圖可以看出,在傳輸線失配端增加一個開路枝節(jié),L=100mil,W=4mil,最后阻抗接近50Ω,即解決了阻抗失配的問題。
可見,本發(fā)明的技術(shù)方案通過傳輸線的L型匹配枝節(jié)有效補(bǔ)償了射頻傳輸線的阻抗失配問題。
圖8示出了根據(jù)本發(fā)明的第一個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置的示意框圖。
如圖8所示,根據(jù)本發(fā)明的第一個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置800,包括:提取單元802、計算單元804和處理單元806。
其中,提取單元802用于提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);計算單元804用于根據(jù)所述散射參數(shù)計算所述射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?;處理單?06用于基于所述需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪担_定需要在所述射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),以基于添加的所述開路傳輸線對所述射頻傳輸線進(jìn)行失配補(bǔ)償。
在該技術(shù)方案中,通過提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù),并根據(jù)散射參數(shù)計算射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪?,進(jìn)而基于需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪荡_定需要在射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),使得能夠通過添加傳輸線的方式來補(bǔ)償射頻傳輸線在其工作頻段上失配的阻抗,有效解決了射頻傳輸線的失配問題,避免了通過添加匹配元件來解決射頻傳輸線失配的問題而可能出現(xiàn)射頻傳輸線的失配更加嚴(yán)重、效果不明顯的問題,優(yōu)化了射頻傳輸線的阻抗匹配,確保了射頻傳輸線的射頻指標(biāo)符合規(guī)范。
其中,開路傳輸線的參數(shù)包括長度和寬度,開路傳輸線可以通過并聯(lián)的方式連接在射頻傳輸線的后端。
在上述技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述提取單元802具體用于:通過軟件仿真的方式在所述射頻傳輸線所在的電路圖中提取所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在所述射頻傳輸線所在的電路板中提出所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)。
在該技術(shù)方案中,一方面可以直接在射頻傳輸線所在的電路圖(如PCB電路圖)中提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);另一方面也可以直接在射頻傳輸線所在的電路板(如PCB電路板)中提出射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù),以保證提取到更加準(zhǔn)確的散射參數(shù)。
進(jìn)一步地,如圖9所示,根據(jù)本發(fā)明的第二個實施例的失配補(bǔ)償裝置900在包括圖8中所示的提取單元802、計算單元804和處理單元806的基礎(chǔ)上,還包括:驗證單元902。
其中,提取單元802還用于,當(dāng)在所述射頻傳輸線上添加所述開路傳輸線之后,提取所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù);驗證單元902用于根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求。
在該技術(shù)方案中,通過在射頻傳輸線上添加開路傳輸線之后,提取射頻傳輸線和開路傳輸線在射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),并基于此驗證射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,使得能夠?qū)ι漕l傳輸線的補(bǔ)償結(jié)果進(jìn)行驗證,以確保添加的開路傳輸線能夠有效解決射頻傳輸線的阻抗失配的問題。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述驗證單元902還用于:若確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值不符合要求,則調(diào)整所述開路傳輸線的參數(shù),并再次驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求為止。
在該技術(shù)方案中,通過在確定射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值不符合要求時,對開路傳輸線的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,并再次驗證射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到射頻傳輸線和開路傳輸線的阻抗值符合要求為止,可以保證添加的開路傳輸線能夠有效解決射頻傳輸線的阻抗失配的問題。
在上述任一技術(shù)方案中,優(yōu)選地,所述驗證單元902具體用于:根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值,在所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值處于預(yù)定阻抗值范圍內(nèi)時,確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求。
其中,所述的阻抗值即為電阻值和電抗值。
本發(fā)明的技術(shù)方案可以優(yōu)化的常見問題包括:雙工器的公共端匹配無法調(diào)節(jié)收斂,即發(fā)射的ACLR不平坦或不達(dá)標(biāo),靈敏度指標(biāo)不平坦或不達(dá)標(biāo)的問題。
圖10示出了根據(jù)本發(fā)明的第三個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置的示意框圖。
如圖10所示,根據(jù)本發(fā)明的第三個實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置,包括:處理器1、輸入裝置2和存儲器3。在本發(fā)明的一些實施例中,處理器1、輸入裝置2和存儲器3可以通過總線4或其他方式連接,圖10中以通過總線4連接為例。
其中,存儲器3用于存儲一組程序代碼,處理器1調(diào)用存儲器3中存儲的程序代碼,用于執(zhí)行以下操作:
通過輸入裝置2提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);
根據(jù)所述散射參數(shù)計算所述射頻傳輸線需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪担?/p>
基于所述需要補(bǔ)償?shù)淖杩怪担_定需要在所述射頻傳輸線上添加的開路傳輸線的參數(shù),以基于添加的所述開路傳輸線對所述射頻傳輸線進(jìn)行失配補(bǔ)償。
作為一種可選的實施方式,處理器1調(diào)用存儲器3中存儲的程序代碼,通過輸入裝置2提取射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)的操作具體為:
通過軟件仿真的方式在所述射頻傳輸線所在的電路圖中提取所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù);
通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在所述射頻傳輸線所在的電路板中提出所述射頻傳輸線在其工作頻段上的散射參數(shù)。
作為一種可選的實施方式,處理器1調(diào)用存儲器3中存儲的程序代碼,還用于執(zhí)行以下操作:
當(dāng)在所述射頻傳輸線上添加所述開路傳輸線之后,提取所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù);
根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求。
作為一種可選的實施方式,處理器1調(diào)用存儲器3中存儲的程序代碼,還用于執(zhí)行以下操作:
若確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值不符合要求,則調(diào)整所述開路傳輸線的參數(shù),并再次驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求,直到所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求為止。
作為一種可選的實施方式,處理器1調(diào)用存儲器3中存儲的程序代碼,驗證所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值是否符合要求的操作,具體包括:
根據(jù)所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線在所述射頻傳輸線的工作頻段上的散射參數(shù),確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值;
在所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值處于預(yù)定阻抗值范圍內(nèi)時,確定所述射頻傳輸線和所述開路傳輸線的阻抗值符合要求。
本發(fā)明實施例的方法中的步驟可以根據(jù)實際需要進(jìn)行順序調(diào)整、合并和刪減。
本發(fā)明實施例的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償裝置中的單元可以根據(jù)實際需要進(jìn)行合并、劃分和刪減。
本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實施例的各種方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成,該程序可以存儲于一計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中,存儲介質(zhì)包括只讀存儲器(Read-Only Memory,ROM)、隨機(jī)存儲器(Random Access Memory,RAM)、可編程只讀存儲器(Programmable Read-only Memory,PROM)、可擦除可編程只讀存儲器(Erasable Programmable Read Only Memory,EPROM)、一次可編程只讀存儲器(One-time Programmable Read-Only Memory,OTPROM)、電子抹除式可復(fù)寫只讀存儲器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)、只讀光盤(Compact Disc Read-Only Memory,CD-ROM)或其他光盤存儲器、磁盤存儲器、磁帶存儲器、或者能夠用于攜帶或存儲數(shù)據(jù)的計算機(jī)可讀的任何其他介質(zhì)。
以上結(jié)合附圖詳細(xì)說明了本發(fā)明的技術(shù)方案,本發(fā)明提出了一種新的射頻傳輸線的失配補(bǔ)償方案,可以通過添加傳輸線的方式來補(bǔ)償射頻傳輸線在其工作頻段上失配的阻抗,有效解決了射頻傳輸線的失配問題。
以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已,并不用于限制本發(fā)明,對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說,本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。