本發(fā)明涉及印制電路板技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種繞線(xiàn)設(shè)計(jì)方法及PCB(Printed Circuit Board，印制電路板)。

背景技術(shù)：

伴隨著云計(jì)算的到來(lái)，服務(wù)器的發(fā)展迅速崛起，在服務(wù)器的設(shè)計(jì)中，信號(hào)速率越來(lái)越高，高速信號(hào)對(duì)主板的空間設(shè)計(jì)需求及成本也在不斷提升。差分信號(hào)作為一種廣泛使用的高速信號(hào)傳輸方式有很多優(yōu)點(diǎn)：1、抗干擾能力強(qiáng)。干擾噪聲一般會(huì)等值、同時(shí)的被加載到差分信號(hào)線(xiàn)的正線(xiàn)(Positive)和負(fù)線(xiàn)(Negative)上，由于正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)上對(duì)應(yīng)的差值為0，因此，噪聲對(duì)信號(hào)的邏輯意義不會(huì)產(chǎn)生影響。2、能有效抑制電磁干擾。由于正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)靠得很近且信號(hào)幅值相等，正線(xiàn)、負(fù)線(xiàn)分別與地線(xiàn)之間的耦合電磁場(chǎng)的幅值也相等，且他們的信號(hào)極性相反，因此，其產(chǎn)生的電磁場(chǎng)將相互抵消，從而對(duì)外界產(chǎn)生較小的電磁干擾。3、時(shí)序定位準(zhǔn)確。

在PCB設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)時(shí)，由于結(jié)構(gòu)限制或器件擺放位置原因，差分信號(hào)線(xiàn)在布線(xiàn)時(shí)，常會(huì)遇到正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)的長(zhǎng)度不等長(zhǎng)的問(wèn)題。在正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)不等長(zhǎng)時(shí)，會(huì)導(dǎo)致正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)上同時(shí)傳播的信號(hào)無(wú)法同時(shí)到達(dá)終端，從而會(huì)影響到高速信號(hào)的質(zhì)量。在現(xiàn)有技術(shù)中，通常會(huì)以3W2S繞線(xiàn)方式將正線(xiàn)進(jìn)行繞線(xiàn)，以使繞線(xiàn)后的正線(xiàn)的長(zhǎng)度與負(fù)線(xiàn)的長(zhǎng)度盡可能的等長(zhǎng)。

然而，對(duì)于一些面積較小的電路板，沒(méi)有足夠空間來(lái)實(shí)現(xiàn)3W2S的繞線(xiàn)方式，因此，在面積較小的電路板上存在較多差分信號(hào)線(xiàn)不匹配長(zhǎng)度的情況，給信號(hào)傳輸質(zhì)量帶來(lái)影響。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提出了一種繞線(xiàn)設(shè)計(jì)方法及PCB，以實(shí)現(xiàn)在面積較小的電路板上繞線(xiàn)時(shí)保證信號(hào)傳輸質(zhì)量。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種繞線(xiàn)設(shè)計(jì)方法，該方法包括以下步驟：

確定差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)所需實(shí)現(xiàn)的繞線(xiàn)總長(zhǎng)度；

確定將正線(xiàn)一3W2S繞線(xiàn)方式進(jìn)行繞線(xiàn)時(shí)進(jìn)行仿真得到的參考眼圖值；

根據(jù)所述繞線(xiàn)總長(zhǎng)度和所述參考眼圖值，對(duì)正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起長(zhǎng)度在(0,3W)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，以及對(duì)凸起高度在(0,S)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，并對(duì)每一次繞線(xiàn)進(jìn)行仿真，確定仿真的眼圖值不小于所述參考眼圖值的目標(biāo)調(diào)整結(jié)果，將所述正線(xiàn)按照所述目標(biāo)調(diào)整結(jié)果進(jìn)行繞線(xiàn)；

其中，W為所述差分信號(hào)線(xiàn)的線(xiàn)寬，S為所述差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)之間的間距。

優(yōu)選地，所述凸起長(zhǎng)度為2W。

優(yōu)選地，所述正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)包括：至少一個(gè)凸起；每一個(gè)凸起包括：第一支線(xiàn)、第二支線(xiàn)、第三支線(xiàn)和第四支線(xiàn)；

所述第一支線(xiàn)、所述第三支線(xiàn)均與所述負(fù)線(xiàn)平行；

所述第二支線(xiàn)、所述第四支線(xiàn)分別與所述第一支線(xiàn)的夾角均為具有(0,90°]。

優(yōu)選地，在所述將所述正線(xiàn)按照所述目標(biāo)調(diào)整結(jié)果進(jìn)行繞線(xiàn)之前，進(jìn)一步包括：利用第一公式確定所述正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起個(gè)數(shù)：

所述第一公式包括：

其中，N用于表征所述凸起個(gè)數(shù)；L用于表征所述繞線(xiàn)總長(zhǎng)度；h用于表征所述凸起高度；l用于表征所述凸起長(zhǎng)度；m用于表征所述第一支線(xiàn)的長(zhǎng)度；α用于表征所述第二支線(xiàn)與所述第一支線(xiàn)的夾角。

第二方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種PCB，包括：差分信號(hào)線(xiàn)；其中，所述差分信號(hào)線(xiàn)包括正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)；

所述正線(xiàn)包括至少一個(gè)凸起，每一個(gè)凸起對(duì)應(yīng)的凸起長(zhǎng)度處于(0,3W)的范圍內(nèi)，每一個(gè)凸起對(duì)應(yīng)的凸起高度處于(0,S)的范圍內(nèi)；對(duì)所述差分信號(hào)線(xiàn)的信號(hào)傳輸在仿真時(shí)得到的眼圖值，不小于在將所述正線(xiàn)按照3W2S繞線(xiàn)方式進(jìn)行繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的參考眼圖值；

其中，W為所述差分信號(hào)線(xiàn)的線(xiàn)寬，S為所述差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)之間的間距。

優(yōu)選地，所述凸起長(zhǎng)度為2W。

優(yōu)選地，所述正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)包括：至少一個(gè)凸起；每一個(gè)凸起包括：第一支線(xiàn)、第二支線(xiàn)、第三支線(xiàn)和第四支線(xiàn)；

所述第一支線(xiàn)、所述第三支線(xiàn)均與所述負(fù)線(xiàn)平行；

所述第二支線(xiàn)、所述第四支線(xiàn)分別與所述第一支線(xiàn)的夾角均為具有(0,90°]。

優(yōu)選地，所述正線(xiàn)包括的凸起個(gè)數(shù)利用第一公式確定：

所述第一公式包括：

其中，N用于表征所述凸起個(gè)數(shù)；L用于表征所述繞線(xiàn)總長(zhǎng)度；h用于表征所述凸起高度；l用于表征所述凸起長(zhǎng)度；m用于表征所述第一支線(xiàn)的長(zhǎng)度；α用于表征所述第二支線(xiàn)與所述第一支線(xiàn)的夾角。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種繞線(xiàn)設(shè)計(jì)方法及PCB，通過(guò)將正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起長(zhǎng)度在(0,3W)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，以及對(duì)凸起高度在(0,S)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，可以保證正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)占用的面積相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)較小，且通過(guò)對(duì)繞線(xiàn)結(jié)果進(jìn)行仿真，以確定仿真的眼圖值不小于現(xiàn)有技術(shù)繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的參考眼圖值，從而可以使得在較小占用面積上保證較高的信號(hào)傳輸質(zhì)量。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種方法流程圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種方法流程圖；

圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種繞線(xiàn)示意圖；

圖4是現(xiàn)有的3W2S繞線(xiàn)方式對(duì)應(yīng)的繞線(xiàn)示意圖；

圖5是現(xiàn)有的3W2S繞線(xiàn)方式對(duì)應(yīng)的眼圖；

圖6是本發(fā)明實(shí)施例提供的凸起長(zhǎng)度為2W、凸起高度為0.5S對(duì)應(yīng)的繞線(xiàn)示意圖；

圖7是本發(fā)明實(shí)施例提供的凸起長(zhǎng)度為2W、凸起高度為0.5S對(duì)應(yīng)的眼圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例，基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

實(shí)施例一

如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種繞線(xiàn)設(shè)計(jì)方法，該方法可以包括以下步驟：

步驟101：確定差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)所需實(shí)現(xiàn)的繞線(xiàn)總長(zhǎng)度。

步驟102：確定將正線(xiàn)一3W2S繞線(xiàn)方式進(jìn)行繞線(xiàn)時(shí)進(jìn)行仿真得到的參考眼圖值。

步驟103：根據(jù)所述繞線(xiàn)總長(zhǎng)度和所述參考眼圖值，對(duì)正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起長(zhǎng)度在(0,3W)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，以及對(duì)凸起高度在(0,S)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，并對(duì)每一次繞線(xiàn)進(jìn)行仿真，確定仿真的眼圖值不小于所述參考眼圖值的目標(biāo)調(diào)整結(jié)果，將所述正線(xiàn)按照所述目標(biāo)調(diào)整結(jié)果進(jìn)行繞線(xiàn)。

其中，W為所述差分信號(hào)線(xiàn)的線(xiàn)寬，S為所述差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)之間的間距。

根據(jù)上述方案，通過(guò)將正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起長(zhǎng)度在(0,3W)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，以及對(duì)凸起高度在(0,S)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，可以保證正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)占用的面積相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)較小，且通過(guò)對(duì)繞線(xiàn)結(jié)果進(jìn)行仿真，以確定仿真的眼圖值不小于現(xiàn)有技術(shù)繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的參考眼圖值，從而可以使得在較小占用面積上保證較高的信號(hào)傳輸質(zhì)量。

為了保證差分信號(hào)線(xiàn)正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)之間差分阻抗的連續(xù)性，減少傳輸信號(hào)的反射，應(yīng)盡可能使正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)平行，因此，在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，所示繞線(xiàn)方法，正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)包括：至少一個(gè)凸起；每一個(gè)凸起包括：第一支線(xiàn)、第二支線(xiàn)、第三支線(xiàn)和第四支線(xiàn)；將所述第一支線(xiàn)、所述第三支線(xiàn)均與所述負(fù)線(xiàn)平行；以及所述第二支線(xiàn)、所述第四支線(xiàn)分別與所述第一支線(xiàn)的夾角均為具有(0,90°]。

實(shí)施例二

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。

請(qǐng)參考圖2，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種繞線(xiàn)設(shè)計(jì)方法，該方法可以包括以下步驟：

步驟201：確定差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)的線(xiàn)寬W和間距S。

請(qǐng)參考圖3，為一種正線(xiàn)繞線(xiàn)設(shè)計(jì)圖，線(xiàn)寬W和間距S如圖3所示。其中，正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)的線(xiàn)寬相等。

其中，W和S可以根據(jù)SI(signal integrity，信號(hào)完整性)工程師的疊層文件來(lái)確定。

步驟202：確定差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)所需實(shí)現(xiàn)的繞線(xiàn)總長(zhǎng)度。

在實(shí)際的PCB布線(xiàn)過(guò)程中，由于元器件的位置關(guān)系，可能導(dǎo)致差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)與負(fù)線(xiàn)不等長(zhǎng)的問(wèn)題，因此，為了盡可能的減少正線(xiàn)與負(fù)線(xiàn)之間的長(zhǎng)度差距，需要將正線(xiàn)進(jìn)行繞線(xiàn)，該正線(xiàn)所需實(shí)現(xiàn)的繞線(xiàn)總長(zhǎng)度可以根據(jù)正線(xiàn)的當(dāng)前長(zhǎng)度和負(fù)線(xiàn)的當(dāng)前長(zhǎng)度的差值來(lái)確定。例如，負(fù)線(xiàn)的當(dāng)前長(zhǎng)度為100mil，正線(xiàn)的當(dāng)前長(zhǎng)度為80mil，那么正線(xiàn)所需實(shí)現(xiàn)的繞線(xiàn)總長(zhǎng)度為20mil。

步驟203：將正線(xiàn)按照3W2S方式進(jìn)行繞線(xiàn)，并對(duì)結(jié)果進(jìn)行仿真，得到參考眼圖值。

為了保證可以在較小占用面積上保證較高的信號(hào)傳輸質(zhì)量，可以將目前常用的3W2S繞線(xiàn)方式對(duì)應(yīng)的眼圖值作為參考標(biāo)準(zhǔn)，以將該3W2S繞線(xiàn)方式對(duì)應(yīng)的信號(hào)傳輸質(zhì)量確定為正線(xiàn)繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的最低信號(hào)傳輸質(zhì)量。

請(qǐng)參考圖4，為現(xiàn)有的3W2S繞線(xiàn)方式對(duì)應(yīng)的繞線(xiàn)示意圖。在該圖4中，凸起長(zhǎng)度(即第三支線(xiàn)的長(zhǎng)度)為3W，凸起高度為S。

差分信號(hào)線(xiàn)傳輸信號(hào)的質(zhì)量可以根據(jù)眼圖來(lái)確定，眼圖越大，表明信號(hào)傳輸質(zhì)量越好，因此，可以利用仿真軟件對(duì)以3W2S的繞線(xiàn)方式繞線(xiàn)后的差分信號(hào)線(xiàn)的信號(hào)傳輸質(zhì)量進(jìn)行仿真，請(qǐng)參考圖5，為現(xiàn)有的3W2S繞線(xiàn)方式對(duì)應(yīng)的眼圖。其中，圖5的左側(cè)為相應(yīng)的眼圖，圖5的右側(cè)為對(duì)左側(cè)眼圖測(cè)量的眼圖值。根據(jù)圖5可知，該眼圖值為：寬度：4.292E-11；高度：0.168。

在本實(shí)施例中，將圖5中的眼圖值作為參考眼圖值。

步驟204：對(duì)正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起長(zhǎng)度在(0,3W)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，以及對(duì)凸起高度在(0,S)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，分別得到相應(yīng)的調(diào)整結(jié)果。

為了盡可能的得到最優(yōu)選的繞線(xiàn)方式，可以將凸起長(zhǎng)度在(0,3W)范圍內(nèi)的任一值與凸起高度在(0,S)范圍內(nèi)的任一值進(jìn)行組合，得到多個(gè)調(diào)整結(jié)果。并針對(duì)每一個(gè)調(diào)整結(jié)果繼續(xù)執(zhí)行步驟205。

在本實(shí)施例中，以選擇出的凸起長(zhǎng)度為2W，凸起高度為0.5S為例進(jìn)行說(shuō)明。

步驟205：根據(jù)正線(xiàn)所需實(shí)現(xiàn)的繞線(xiàn)總長(zhǎng)度，確定正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起個(gè)數(shù)。

為了保證差分信號(hào)線(xiàn)正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)之間差分阻抗的連續(xù)性，減少傳輸信號(hào)的反射，應(yīng)盡可能使正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)平行。因此，在本實(shí)施例中，在對(duì)差分信號(hào)正線(xiàn)進(jìn)行繞線(xiàn)時(shí)，第一支線(xiàn)、所述第三支線(xiàn)均與所述負(fù)線(xiàn)平行；所述第二支線(xiàn)、所述第四支線(xiàn)分別與所述第一支線(xiàn)的夾角α均為具有(0,90°]，請(qǐng)參考圖3。

在本實(shí)施例中，在確定出第一支線(xiàn)、第三支線(xiàn)的長(zhǎng)度和α之后，可以根據(jù)公式(1)來(lái)計(jì)算正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起個(gè)數(shù)。

其中，N用于表征所述凸起個(gè)數(shù)，L用于表征所述繞線(xiàn)總長(zhǎng)度，h用于表征所述凸起高度，l用于表征所述凸起長(zhǎng)度，m用于表征所述第一支線(xiàn)的長(zhǎng)度，α用于表征所述第二支線(xiàn)與所述第一支線(xiàn)的夾角。步驟206：根據(jù)確定的凸起個(gè)數(shù)以及凸起長(zhǎng)度、凸起高度，將正線(xiàn)進(jìn)行繞線(xiàn)。

在本實(shí)施例中，對(duì)于正線(xiàn)的繞線(xiàn)設(shè)計(jì)可以使用Altium Designer軟件來(lái)進(jìn)行模擬。

請(qǐng)參考圖6，為凸起長(zhǎng)度為2W、凸起高度為0.5S對(duì)應(yīng)的繞線(xiàn)示意圖。

步驟207：對(duì)繞線(xiàn)后的差分信號(hào)線(xiàn)進(jìn)行仿真，得到仿真后的目標(biāo)眼圖值。

請(qǐng)參考圖7，為得到的眼圖。其中，圖7的左側(cè)為相應(yīng)的眼圖，圖7的右側(cè)為對(duì)應(yīng)左側(cè)眼圖測(cè)量的眼圖值。根據(jù)圖7可知，該眼圖值為：寬度：5.167E-11；高度：0.193。

步驟208：比較仿真得到的目標(biāo)眼圖值與參考眼圖值，在目標(biāo)眼圖值不小于參考眼圖值時(shí)，執(zhí)行步驟209；否則，執(zhí)行步驟210。

根據(jù)步驟203中可知參考眼圖值為寬度：4.292E-11；高度：0.168。因此，比較結(jié)果為目標(biāo)眼圖值大于參考眼圖值，表明該目標(biāo)眼圖值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)調(diào)整結(jié)果，在進(jìn)行信號(hào)傳輸時(shí)其信號(hào)傳輸質(zhì)量比3W2S繞線(xiàn)方式的信號(hào)傳輸質(zhì)量好。

步驟209：將該仿真得到的眼圖值對(duì)應(yīng)的調(diào)整結(jié)果確定為正線(xiàn)繞線(xiàn)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)調(diào)整結(jié)果，結(jié)束。

由于目標(biāo)調(diào)整結(jié)果中的凸起高度和凸起長(zhǎng)度均比3W2S繞線(xiàn)方式中的凸起高度、凸起長(zhǎng)度小，因此，該目標(biāo)調(diào)整結(jié)果對(duì)應(yīng)的繞線(xiàn)方式占用空間更小。

步驟210：放棄該調(diào)整結(jié)果對(duì)應(yīng)的凸起高度和凸起長(zhǎng)度，并繼續(xù)執(zhí)行步驟204。

如果步驟207得到的眼圖值的WidthAtBER和HeightAtBER，有任一一項(xiàng)低于步驟203中得到的參考眼圖值，表明該調(diào)整結(jié)果對(duì)應(yīng)的信號(hào)傳輸質(zhì)量比3W2S繞線(xiàn)方式的信號(hào)傳輸質(zhì)量差，那么應(yīng)該重新回到步驟204，以重新選擇凸起高度和凸起長(zhǎng)度的組合。

在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，還可以選擇出所有滿(mǎn)足目標(biāo)眼圖值不小于參考眼圖值的目標(biāo)調(diào)整結(jié)果，并在所有的目標(biāo)調(diào)整結(jié)果中選擇出眼圖值最大的繞線(xiàn)方式，以將該眼圖值最大的繞線(xiàn)方式作為最優(yōu)選的繞線(xiàn)方式。

實(shí)施例三

本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種PCB，包括：差分信號(hào)線(xiàn)；其中，所述差分信號(hào)線(xiàn)包括正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)；

所述正線(xiàn)包括至少一個(gè)凸起，每一個(gè)凸起對(duì)應(yīng)的凸起長(zhǎng)度處于(0,3W)的范圍內(nèi)，每一個(gè)凸起對(duì)應(yīng)的凸起高度處于(0,S)的范圍內(nèi)；對(duì)所述差分信號(hào)線(xiàn)的信號(hào)傳輸在仿真時(shí)得到的眼圖值，不小于在將所述正線(xiàn)按照3W2S繞線(xiàn)方式進(jìn)行繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的參考眼圖值；

其中，W為所述差分信號(hào)線(xiàn)的線(xiàn)寬，S為所述差分信號(hào)線(xiàn)中正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)之間的間距。

在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，所述凸起長(zhǎng)度為2W。

在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，所述正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)包括：至少一個(gè)凸起；每一個(gè)凸起包括：第一支線(xiàn)、第二支線(xiàn)、第三支線(xiàn)和第四支線(xiàn)；所述第一支線(xiàn)、所述第三支線(xiàn)均與所述負(fù)線(xiàn)平行；所述第二支線(xiàn)、所述第四支線(xiàn)分別與所述第一支線(xiàn)的夾角均為具有(0,90°]。

在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中，所述正線(xiàn)包括的凸起個(gè)數(shù)利用第一公式確定：

所述第一公式包括：

其中，N用于表征所述凸起個(gè)數(shù)；L用于表征所述繞線(xiàn)總長(zhǎng)度；h用于表征所述凸起高度；l用于表征所述凸起長(zhǎng)度；m用于表征所述第一支線(xiàn)的長(zhǎng)度；α用于表征所述第二支線(xiàn)與所述第一支線(xiàn)的夾角。

綜上所述，本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例至少可以包括如下有益效果：

1、在本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)將正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的凸起長(zhǎng)度在(0,3W)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，以及對(duì)凸起高度在(0,S)的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，可以保證正線(xiàn)在繞線(xiàn)時(shí)占用的面積相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)較小，且通過(guò)對(duì)繞線(xiàn)結(jié)果進(jìn)行仿真，以確定仿真的眼圖值不小于現(xiàn)有技術(shù)繞線(xiàn)時(shí)對(duì)應(yīng)的參考眼圖值，從而可以使得在較小占用面積上保證較高的信號(hào)傳輸質(zhì)量。

2、在本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)將所述第一支線(xiàn)、所述第三支線(xiàn)均與所述負(fù)線(xiàn)平行，可以保證差分信號(hào)線(xiàn)正線(xiàn)和負(fù)線(xiàn)之間差分阻抗的連續(xù)性，減少傳輸信號(hào)的反射。

需要說(shuō)明的是，在本文中，諸如第一和第二之類(lèi)的關(guān)系術(shù)語(yǔ)僅僅用來(lái)將一個(gè)實(shí)體或者操作與另一個(gè)實(shí)體或操作區(qū)分開(kāi)來(lái)，而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語(yǔ)“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒(méi)有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒(méi)有更多限制的情況下，由語(yǔ)句“包括一個(gè)······”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同因素。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解：實(shí)現(xiàn)上述方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過(guò)程序指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，前述的程序可以存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，執(zhí)行包括上述方法實(shí)施例的步驟；而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：ROM、RAM、磁碟或者光盤(pán)等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)中。

最后需要說(shuō)明的是：以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，僅用于說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。