本說明書涉及電路，尤其涉及一種濾波電路及電子設備。

背景技術(shù)：

1、一些系統(tǒng)可能會包括多個電子設備。例如，車輛系統(tǒng)中包括雷達、相機、聲納等電子設備。電子設備在工作時，可能會產(chǎn)生干擾信號，會對其他電子設備形成干擾。比如雷達內(nèi)部有多個開關(guān)電路，以支持部分零部件高頻的開與關(guān)，這樣就導致雷達工作時產(chǎn)生了高頻的噪聲。舉個例子，激光雷達發(fā)射端所發(fā)的激光脈沖的脈寬在ns量級，為了產(chǎn)生這樣的脈沖信號，激光器的驅(qū)動端需要被高頻地驅(qū)動和關(guān)閉，這就會產(chǎn)生高頻噪聲信號。因此，電子設備在出廠前需要經(jīng)過傳導發(fā)射(conducted?emission，ce)測試。ce測試是電磁兼容性(electro?magnetic?compatibility，emc)測試中的其中一個測試項，用于檢測電子設備對其他電子設備的干擾是否在預設范圍內(nèi)。

2、一些相關(guān)技術(shù)可以在電子設備中設置濾波電路。濾波電路的作用是濾除或衰減干擾信號，以便降低對其他電子設備的干擾。例如，濾波電路中可以設置共模電感或共模電容，以濾除電子設備產(chǎn)生的共模干擾。又例如，濾波電路中可以設置差模電感或差模電容，以濾除電子設備產(chǎn)生的差模干擾。

3、然而，上述濾除電路的濾波效果不佳，使得電子設備在某些頻段對其他電子設備的干擾依然較大，從而無法通過ce測試。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本說明書提供一種濾波電路及電子設備，能夠降低電子設備對其他電子設備的干擾，從而使得電子設備通過ce測試。

2、第一方面，本說明書提供一種濾波電路，包括：第一端口、第二端口以及至少一個濾波組件，其中，所述第一端口用于同第一電子設備的負載連接，所述第二端口用于同第二電子設備連接，其中，所述第一電子設備工作時，所述第一端口和所述第二端口之間存在干擾，所述干擾包括共模干擾和差模干擾；所述至少一個濾波組件連接所述第一端口和所述第二端口，所述至少一個濾波組件包括：第一濾波組件和第二濾波組件，所述第一濾波組件單獨工作時被配置為將所述干擾中除了至少一個目標頻段下的差模干擾之外的其余干擾濾除至閾值之下，所述第二濾波組件與所述第一濾波組件配合形成目標濾波組件，所述目標濾波組件的濾波階數(shù)高于所述第一濾波組件的濾波階數(shù)，所述目標濾波組件被配置為將所述至少一個目標頻段之下的差模干擾濾除至所述閾值之下。

3、在一些實施例中，所述干擾由所述負載產(chǎn)生，所述至少一個濾波組件將所述第二電子設備接收到的所述干擾濾除至所述閾值之下。

4、在一些實施例中，所述第二濾波組件包括：第一電容。

5、在一些實施例中，所述第一濾波組件的濾波階數(shù)為一階，所述目標濾波組件的濾波階數(shù)為二階；以及所述第一濾波組件包括：共模電感和一階π型濾波器，所述共模電感被配置為將所述共模干擾濾除至所述閾值之下，所述一階π型濾波器被配置為將所述差模干擾中除了所述至少一個目標頻段下的差模干擾之外的其他差模干擾濾除至閾值之下，其中，所述第一電容與所述共模電感的漏感、所述一階π型濾波器配合形成所述目標濾波組件。

6、在一些實施例中，在所述至少一個目標頻段下，所述共模電感的漏感的阻抗與所述第一電容的阻抗之間的比值大于或等于10。

7、在一些實施例中，所述目標濾波組件包括：第一階π型濾波器和第二階π型濾波器。

8、在一些實施例中，所述一階π型濾波器包括：第二電容、第三電容和差模電感；以及所述第一電容位于所述共模電感和所述差模電感之間，所述第一電容、所述第三電容和所述差模電感形成所述第一階π型濾波器，所述第一電容、所述第二電容和所述共模電感的漏感形成所述第二階π型濾波器。

9、在一些實施例中，所述第一端口與所述第二端口之間包括正極導線和負極導線；所述共模電感包括繞制在磁芯上的第一線圈和第二線圈，且所述第一線圈和第二線圈的纏繞方向相反，所述第一線圈的兩端與所述正極導線連接，所述第二線圈的兩端與所述負極導線連接；所述第一電容、所述第二電容和所述第三電容的兩端分別與所述正極導線和所述負極導線連接；以及所述差模電感設置在所述正極導線上。

10、在一些實施例中，在所述至少一個目標頻段下：所述共模電感的漏感的阻抗與所述第二電容的阻抗之間的比值大于或等于10，以及所述差模電感的阻抗與所述第三電容的阻抗之間的比值大于或等于10。

11、第二方面，本說明書還提供一種雷達，包括：信號發(fā)射器、信號接收器和濾波電路，其中，所述信號發(fā)射器被配置為發(fā)射探測信號，所述信號接收器被配置為接收所述探測信號經(jīng)物體反射后的回波信號，所述濾波電路被配置為對所述信號發(fā)射器或所述信號接收器中至少一個產(chǎn)生的干擾進行濾波，所述濾波電路包括：第一端口、第二端口和至少一個濾波組件，其中，所述第一端口用于同所述信號發(fā)射器或所述信號接收器中的至少一個連接，所述第二端口用于同第二電子設備連接，其中，在所述雷達工作時，所述第一端口和所述第二端口之間存在干擾，所述干擾包括共模干擾和差模干擾；所述至少一個濾波組件連接所述第一端口和所述第二端口，所述至少一個濾波組件包括：第一濾波組件和第二濾波組件，所述第一濾波組件單獨工作時被配置為將所述干擾中除了至少一個目標頻段下的差模干擾之外的其余干擾濾除至閾值之下，所述第二濾波組件與所述第一濾波組件配合形成目標濾波組件，所述目標濾波組件的濾波階數(shù)高于所述第一濾波組件的濾波階數(shù)，所述目標濾波組件被配置為將所述至少一個目標頻段之下的差模干擾濾除至所述閾值之下。

12、在一些實施例中，所述干擾由所述信號發(fā)射器或所述信號接收器中的至少一個產(chǎn)生，所述至少一個濾波組件將所述第二電子設備接收到的所述干擾濾除至所述閾值之下。

13、在一些實施例中，所述第二濾波組件包括：第一電容。

14、在一些實施例中，所述第一濾波組件的濾波階數(shù)為一階，所述目標濾波組件的濾波階數(shù)為二階；以及所述第一濾波組件包括：共模電感和一階π型濾波器，所述共模電感被配置為將所述共模干擾濾除至所述閾值之下，所述一階π型濾波器被配置為將所述差模干擾中除了所述至少一個目標頻段下的差模干擾之外的其他差模干擾濾除至閾值之下，其中，所述第一電容與所述共模電感的漏感、所述一階π型濾波器配合形成所述目標濾波組件。

15、在一些實施例中，在所述至少一個目標頻段下，所述共模電感的漏感的阻抗與所述第一電容的阻抗之間的比值大于或等于10。

16、在一些實施例中，所述目標濾波組件包括：第一階π型濾波器和第二階π型濾波器。

17、在一些實施例中，所述一階π型濾波器包括：第二電容、第三電容和差模電感；以及所述第一電容位于所述共模電感和所述差模電感之間，所述第一電容、所述第三電容和所述差模電感形成所述第一階π型濾波器，所述第一電容、所述第二電容和所述共模電感的漏感形成所述第二階π型濾波器。

18、在一些實施例中，所述第一端口與所述第二端口之間包括正極導線和負極導線；所述共模電感包括繞制在磁芯上的第一線圈和第二線圈，且所述第一線圈和第二線圈的纏繞方向相反，所述第一線圈的兩端與所述正極導線連接，所述第二線圈的兩端與所述負極導線連接；所述第一電容、所述第二電容和所述第三電容的兩端分別與所述正極導線和所述負極導線連接；以及所述差模電感設置在所述正極導線上。

19、在一些實施例中，在所述至少一個目標頻段下：所述共模電感的漏感的阻抗與所述第二電容的阻抗之間的比值大于或等于10，以及所述差模電感的阻抗與所述第三電容的阻抗之間的比值大于或等于10。

20、在一些實施例中，所述信號發(fā)射器被配置為發(fā)射激光探測信號；以及所述信號接收器被配置為接收所述激光探測信號經(jīng)物體反射回的激光回波信號。

21、第三方面，本說明書還提供一種電子設備，包括如第一方面任一項所述的濾波電路，所述濾波電路與所述電子設備的負載連接，并被配置為對所述負載產(chǎn)生的干擾進行濾波。

22、由以上技術(shù)方案可知，本說明書提供的濾波電路及電子設備中，濾波電路包括第一端口、第二端口和至少一個濾波組件，其中，第一端口用于同第一電子設備的負載連接，第二端口用于同第二電子設備連接，在第一電子設備工作時，第一端口和第二端口之間存在干擾，所述至少一個濾波組件連接所述第一端口和所述第二端口，所述至少一個濾波組件包括第一濾波組件和第二濾波組件，第一濾波組件單獨工作時被配置為將所述干擾中除了至少一個目標頻段下的差模干擾之外的其余干擾濾除至閾值之下，第二濾波組件與第一濾波組件配合形成目標濾波組件，目標濾波組件的濾波階數(shù)高于第一濾波組件的濾波階數(shù)，該目標濾波組件被配置為將所述至少一個目標頻段之下的差模干擾濾除至所述閾值之下。由此可見，本技術(shù)方案在第一濾波組件的基礎(chǔ)上，通過將第二濾波組件與第一濾波組件配合形成更高階的濾波組件，能夠濾除第一濾波組件單獨工作情況下所不能濾除的干擾，從而提升濾波效果，使得電子設備能夠通過ce測試。

23、本說明書提供的濾波電路及電子設備的其他功能將在以下說明中部分列出。本說明書提供的濾波電路及電子設備的創(chuàng)造性方面可以通過實踐或使用下面詳細示例中所述的方法、裝置和組合得到充分解釋。