振蕩電路、振蕩器、振蕩器制造方法、電子設(shè)備及移動體的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及振蕩電路、振蕩器、振蕩器制造方法、電子設(shè)備及移動體。
【背景技術(shù)】
[0002]石英振子(壓電振子)或MEMS(Micro Electro Mechanical Systems:微機電系統(tǒng))振子等振子需要進行如下檢查來檢查振子的特性,該檢查包括:施加較大的電流、電壓或電力的AC(交流)信號驅(qū)動振子來檢查振子的頻率特性等的過驅(qū)動(overdrive)檢查、施加使較大的電流、電壓或電力的AC信號階段性地增減的信號驅(qū)動振子來檢查振子的頻率特性等的變動的驅(qū)動等級檢查等。
[0003]另一方面，為了振蕩器的小型化，開發(fā)了在同一收容容器內(nèi)收容石英振子和振蕩電路的振蕩器。因此，為了在同一收容容器內(nèi)安裝石英振子和振蕩電路之后檢查振子的特性，考慮了各種方法。
[0004]在專利文獻I中公開了這樣的石英振蕩器:通過將振蕩器的功能端子兼用為石英振子的檢查用端子，與獨立設(shè)置檢查用端子的情況相比，能夠?qū)崿F(xiàn)小型化。
[0005]專利文獻1:日本特開2009-201097號公報
[0006]但是，專利文獻I所記載的石英振蕩器例如在過驅(qū)動檢查或驅(qū)動等級檢查等中，有時對內(nèi)置于振蕩電路的可變電容元件的兩端施加高電壓，可變電容元件可能損壞。尤其，在頻率根據(jù)控制電壓而變化的振蕩器中，為了提高頻率的電壓靈敏度(頻率相對于控制電壓變化量的變化量)，有時使用柵極氧化膜的膜厚較薄或者L尺寸較小的MOS來實現(xiàn)可變電容元件，這樣的可變電容元件耐壓較低，當對其兩端施加高電壓時，更容易損壞或者產(chǎn)品的耐用年數(shù)變短。此問題不限于可變電容元件，也會也同樣在電容值固定的電容元件或電感器等各種電子元件中產(chǎn)生。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明是鑒于以上這樣的問題點而完成的，根據(jù)本發(fā)明的幾個方式，可提供能夠降低在過驅(qū)動檢查或驅(qū)動等級檢查等檢查時可變電容元件等電子元件被損壞的可能性的振蕩電路、振蕩器、振蕩器的制造方法、電子設(shè)備及移動體。
[0008]本發(fā)明是為了解決上述課題的至少一部分而完成的，可作為以下的方式或應(yīng)用例來實現(xiàn)。
[0009][應(yīng)用例I]
[0010]本應(yīng)用例的振蕩電路具備:與振子的一端連接的第I端子；與所述振子的另一端連接的第2端子；和與所述第I端子以及所述第2端子電連接的振蕩部，所述振蕩部包含一端與所述第I端子或所述第2端子電連接的至少I個第I電子元件，具有第I模式和第2模式，在該第I模式中，對所述第I端子與所述第2端子之間施加第I振幅的信號，在該第2模式中，對所述第I端子與所述第2端子之間施加第2振幅的信號，進行如下控制:所述第2振幅的信號的振幅大于所述第I振幅的信號的振幅，在所述第2模式中對所述第I電子元件的兩端之間施加的電壓低于所述第I電子元件的最大額定電壓。
[0011]振蕩部例如可以是皮爾斯振蕩電路、反相型振蕩電路、考比茲振蕩電路、哈托萊振蕩電路等各種振蕩電路。
[0012]第I電子元件例如可以是可變電容二極管之類的可變電容元件、電容等的電容值固定的電容元件、電感器、電阻等各種元件。
[0013]本應(yīng)用例的振蕩電路的至少一部分可由集成電路構(gòu)成，第I電子元件可形成為集成電路的一部分，或者可以是集成電路的外設(shè)部件。
[0014]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，在第2模式下，對與振子連接的第I電子元件的一端輸入振幅比第I模式的第I振幅的信號大的第2振幅的信號，而且被控制為對第I電子元件的兩端之間施加的電壓低于最大額定電壓的狀態(tài)。因此，在第2模式中，在對第I電子元件的兩端之間施加的電壓低于最大額定電壓的狀態(tài)下，例如能夠進行振子的過驅(qū)動檢查或驅(qū)動等級檢查，所以能夠降低第I電子元件損壞的可能性。
[0015][應(yīng)用例2]
[0016]本應(yīng)用例的振蕩電路還包含第I電壓產(chǎn)生電路，該第I電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生在所述第I模式中對所述第I電子元件的另一端施加的第I電壓、以及在所述第2模式中對所述第I電子元件的另一端施加的第2電壓。
[0017]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，可改變在第I模式下對第I電子元件的另一端施加的電壓和在第2模式下對第I電子兀件的另一端施加的電壓。即，在第2模式下,能夠?qū)Φ贗電子元件的另一端施加與第2振幅信號的大小對應(yīng)的第I電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生的第2電壓。因此，能夠使對第I電子元件的兩端之間施加的電壓成為低于最大額定電壓的狀態(tài)。由此，在第2模式中，在對第I電子元件的兩端施加的電壓低于最大額定電壓的狀態(tài)下，例如可進行振子的過驅(qū)動檢查或驅(qū)動等級檢查，所以能夠降低第I電子元件損壞的可能性。
[0018][應(yīng)用例3]
[0019]在上述應(yīng)用例的振蕩電路中，所述第I電子元件是可變電容元件。
[0020]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，在第2模式中，對作為可變電容元件的第I電子元件的另一端施加第I電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生的第2電壓，由此在對第I電子元件的兩端施加的電壓低于最大額定電壓的狀態(tài)下，例如，可進行振子的過驅(qū)動檢查或驅(qū)動等級檢查，所以能夠降低第I電子元件損壞的可能性。
[0021]另外，根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，在第I模式中，對作為可變電容元件的第I電子元件的另一端施加第I電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生的第I電壓，由此可使第I電子元件的電容值根據(jù)第I電壓變化。從而，本應(yīng)用例的振蕩電路能夠根據(jù)第I電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生的第I電壓可變地控制頻率。
[0022][應(yīng)用例4]
[0023]上述應(yīng)用例的振蕩電路還包含產(chǎn)生第3電壓以及第4電壓的第2電壓產(chǎn)生電路，所述振蕩部還包含一端與所述第I端子或所述第2端子連接的至少I個第2電子元件，在所述第I模式中，對所述第2電子元件的另一端施加所述第3電壓，在所述第2模式中，對所述第2電子元件的另一端施加所述第4電壓，在所述第2模式中對所述第2電子元件的兩端施加的電壓低于所述第2電子元件的最大額定電壓。
[0024]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，在第2模式中，對與振子連接的第2電子元件的一端輸入振幅比第I模式的第I振幅的信號大的第2振幅的信號，而且對第2電子元件的另一端施加第2電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生的第4電壓，由此能夠成為對第2電子元件的兩端施加的電壓低于最大額定電壓的狀態(tài)。從而，在第2模式中,在對第2電子兀件的兩端施加的電壓低于最大額定電壓的狀態(tài)下，例如可進行振子的過驅(qū)動檢查或驅(qū)動等級檢查，所以能夠降低第2電子元件損壞的可能性。
[0025][應(yīng)用例5]
[0026]在上述應(yīng)用例的振蕩電路中，所述第2電子元件是可變電容元件。
[0027]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，在第2模式中，對作為可變電容元件的第2電子元件的另一端施加第2電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生的第4電壓，由此在對第2電子元件的兩端施加的電壓低于最大額定電壓的狀態(tài)下，例如，可進行振子的過驅(qū)動檢查或驅(qū)動等級檢查，所以能夠降低第2電子元件損壞的可能性。
[0028]另外，根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，在第I模式中，對作為可變電容元件的第2電子元件的另一端施加第2電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生的第3電壓，由此可使第2電子元件的電容值根據(jù)第3電壓變化。因此，本應(yīng)用例的振蕩電路可根據(jù)第2電壓產(chǎn)生電路產(chǎn)生的電壓來可變地控制頻率。
[0029][應(yīng)用例6]
[0030]上述應(yīng)用例的振蕩電路具備:第3端子；與所述第2端子連接的第4端子；以及第I切換部，所述第I切換部被控制為在所述第I模式中使所述第I端子與所述第3端子電分離，并被控制為在所述第2模式中使所述第I端子與所述第3端子電連接。
[0031]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，在第2模式中可通過對第3端子與第4端子之間供給檢查用的電壓信號，例如進行過驅(qū)動檢查或驅(qū)動等級檢查等的振子特性檢查。然后，在振蕩電路的通常動作時和振子的檢查時，可共用第3端子，所以與設(shè)置檢查專用的檢查用端子的情況相比，能夠減少用于檢查的端子數(shù)。因此，例如能夠降低產(chǎn)生用于輸入檢查用信號的探針與振蕩電路側(cè)的端子之間的電連接不良導致的檢查問題的可能性，實現(xiàn)提高了振子的檢查可靠性的振蕩電路。
[0032]另外，可不經(jīng)由振蕩部而是經(jīng)由第3端子和第4端子對振子供給電壓，所以與經(jīng)由振蕩部對振子供給電壓的情況相比，對電壓大小的限制減少。
[0033][應(yīng)用例7]
[0034]在上述應(yīng)用例的振蕩電路中，所述第3端子接地。
[0035][應(yīng)用例8]
[0036]上述應(yīng)用例的振蕩電路還具備第2切換部，所述第2切換部被控制為在所述第I模式中使所述第2端子與所述第4端子電分離，并被控制為在所述第2模式中使所述第2端子與所述第4端子電連接。
[0037]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，在振子的檢查時將第4端子用作檢查用的端子，在振蕩電路的通常動作時將第4端子用作功能端子(例如，用于控制振蕩頻率的控制信號的輸入端子等)，所以與設(shè)置檢查專用的檢查用端子的情況相比，可減少用于檢查的端子數(shù)。因此，例如能夠降低產(chǎn)生用于輸入檢查用信號的探針與振蕩電路側(cè)的端子之間的電連接不良導致的檢查問題的可能性，所以能夠?qū)崿F(xiàn)提高了振子檢查的可靠性的振蕩電路。
[0038][應(yīng)用例9]
[0039]在上述應(yīng)用例的振蕩電路中，所述第I端子與所述振蕩部的輸入端子側(cè)連接。
[0040][應(yīng)用例10]
[0041]上述應(yīng)用例的振蕩電路根據(jù)在電源電壓是基準值以上的期間內(nèi)輸入的時鐘信號，切換所述第I模式和所述第2模式。
[0042]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，基于電源電壓的大小以及時鐘信號兩個信號進行模式的切換，所以不會在僅僅是電源電壓變動的情況下切換模式，因此能夠降低模式意外地切換的誤動作的可能性。
[0043][應(yīng)用例11]
[0044]在上述應(yīng)用例的振蕩電路中，所述第2振幅的信號是過驅(qū)動檢查用的信號以及驅(qū)動等級檢查用的信號中的至少一方。
[0045]根據(jù)本應(yīng)用例的振蕩電路，即使對振子施加用于進行過驅(qū)動檢查以及驅(qū)動等級檢查中的至少一方的檢查的信號，也能夠降低第I電子元件損壞的可能性。
[0046][應(yīng)用例12]
[0047]本應(yīng)用例的振蕩器具備上述任意一個振蕩電路和振子。
[0048][應(yīng)用例13]
[0049]上述應(yīng)用例的振蕩器還可以具備收容所述振蕩電路和所述振子的封裝。
[0050]根據(jù)這些應(yīng)用例，可降低在振子檢查時第I電子元件被損壞的可能性，因此能夠?qū)崿F(xiàn)可靠性更高的振蕩器。
[0051][應(yīng)用例14]
[0052]本應(yīng)用例的振蕩器的制造方法包含以下的工序:準備振蕩電路和振子，該振蕩電路具備第I端子、第2端子、與所述第I端子以及所述