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      帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路及仿真方法

      文檔序號(hào):8433411閱讀:872來(lái)源:國(guó)知局
      帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路及仿真方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)及制造領(lǐng)域,特別是指一種帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路,本發(fā)明還涉及所述帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路的仿真方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]高壓場(chǎng)效應(yīng)管LDMOS在模擬電路中的電源電路設(shè)計(jì)中有著廣泛的應(yīng)用,其應(yīng)用電壓范圍較高,因此LDMOS的結(jié)構(gòu)同普通MOS相比較為特殊,往往根據(jù)不同的應(yīng)用要求,其結(jié)構(gòu)也有各式各樣。往往會(huì)代入一些在普通MOS器件中看不到的特殊寄生特性。如圖1所示,該圖為一種特殊的圓形N型場(chǎng)效應(yīng)管的版圖結(jié)構(gòu),其圓環(huán)中心I為L(zhǎng)DMOS的漏端,整個(gè)漂移區(qū)以漏端中心向外延伸。圖中最中心的圓形區(qū)域是該器件的漏端N+雜質(zhì)注入,外部的圓形區(qū)域2為該器件的漂移區(qū),同樣該區(qū)域也是由N型,并且為了降低該區(qū)域的N型雜質(zhì),還注入了 P型雜質(zhì)作為補(bǔ)償,形成了一個(gè)電阻值非常高的區(qū)域。再外面一圈區(qū)域3是多晶硅柵,從多晶硅柵3外圍一圈是P阱,多晶柵有一部分交疊覆蓋在P阱上形成了底部溝道,最外面的圓環(huán)4為源端N型雜質(zhì)注入。
      [0003]該結(jié)構(gòu)的好處在與既有足夠的驅(qū)動(dòng)電流和耐壓,又能做到版圖面積最小。它的缺點(diǎn)也很明顯,在于散熱較差,一旦器件開啟進(jìn)入工作狀態(tài),由于是大功率器件,晶體管馬上進(jìn)入發(fā)熱狀態(tài),隨著晶體管溫度的提升,溝道電流也隨著溫度減小,也就是業(yè)界所稱的自熱效應(yīng)。并且由于漂移區(qū)有P雜質(zhì)補(bǔ)償,在溝道與漂移區(qū)邊緣,容易濃度分布不均,導(dǎo)致溝道分段開啟。在自熱效應(yīng)與溝道濃度不均勻的共同作用下,會(huì)導(dǎo)致晶體管Id-Vg曲線特性呈現(xiàn)出特別的形狀,如圖2,當(dāng)該種LDMOS工作在線性區(qū)的時(shí)候,隨著柵電壓的提高,同常規(guī)器件不同,漏端電流會(huì)出現(xiàn)凹陷的特性,如果將Id-Vg曲線對(duì)應(yīng)的gm (柵跨導(dǎo))同Vg的關(guān)系,如圖3,會(huì)發(fā)現(xiàn)圖中存在兩個(gè)gm的峰值,普通MOS器件只存在一個(gè)gm峰值。由于SPICE仿真器中的MOS模型都是建立在對(duì)稱結(jié)構(gòu)上的理想器件模型,因此該器件由于結(jié)構(gòu)特殊,帶入的寄生特性通過普通的器件模型已無(wú)法描述,當(dāng)電路設(shè)計(jì)仿真時(shí)器件應(yīng)用在該工作范圍就無(wú)法得到實(shí)際應(yīng)有的精度。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路。
      [0005]本發(fā)明所要解決的另一技術(shù)問題是提供所述帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路的仿真方法。
      [0006]為解決上述問題,本發(fā)明所述的帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路,包含一個(gè)基于BSIM3標(biāo)準(zhǔn)的LDMOS管,一個(gè)MOS管,第一電阻及第二電阻,以及一個(gè)電壓控制電壓源,所述各元件的連接關(guān)系為:
      [0007]所述LDMOS管的漏端連接第一電阻的第一端,LDMOS管的源端連接第二電阻的第一端,LDMOS管的柵極直接引出;
      [0008]所述MOS管的柵極連接電壓控制電壓源的正極,MOS管的源極接電壓控制電壓源的負(fù)極,MOS管的漏極接所述第二電阻的第二端;
      [0009]所述第一電阻的第二端引出為等效電路的漏極,第二電阻的第二端引出為等效電路的源極。
      [0010]進(jìn)一步地,所述的MOS管基于BSM3標(biāo)準(zhǔn)模型,描述LDMOS管的寄生MOS管,其柵寬及柵長(zhǎng)分別作為一個(gè)擬合數(shù)值放在宏模型中,并且該MOS管還具有開啟電壓、遷移率、襯偏效應(yīng)參數(shù)、源/漏阻抗、溫度特性參數(shù)、ute參數(shù),作為MOS管模型擬合參數(shù)。
      [0011]進(jìn)一步地,所述的第一電阻描述LDMOS管漏端寄生電阻系數(shù),第二電阻描述LDMOS管源端寄生電阻系數(shù);第一電阻和第二電阻均包含BSM3標(biāo)準(zhǔn)模型所含的溫度和電壓的修正系數(shù)。
      [0012]進(jìn)一步地,所述的電壓控制電壓源受LDMOS管的柵源電壓控制,具有電壓控制系數(shù),其輸出電壓加在所述MOS管的柵源端。
      [0013]本發(fā)明所述的帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路的仿真方法,包含如下工藝步驟:
      [0014]第I步,構(gòu)建所述帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管的等效電路;
      [0015]第2步,根據(jù)構(gòu)建的帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管的等效電路,進(jìn)行仿真。
      [0016]進(jìn)一步地,所述的帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管的等效電路,包含一個(gè)基于BSIM3標(biāo)準(zhǔn)的LDMOS管,一個(gè)MOS管,第一電阻及第二電阻,以及一個(gè)電壓控制電壓源,所述各元件的連接關(guān)系為:
      [0017]所述LDMOS管的漏端連接第一電阻的第一端,LDMOS管的源端連接第二電阻的第一端,LDMOS管的柵極直接引出;
      [0018]所述MOS管的柵極連接電壓控制電壓源的正極,MOS管的源極接電壓控制電壓源的負(fù)極,MOS管的漏極接所述第二電阻的第二端;
      [0019]所述第一電阻的第二端引出為等效電路的漏極,第二電阻的第二端引出為等效電路的源極。
      [0020]進(jìn)一步地,所述的MOS管基于BSM3標(biāo)準(zhǔn)模型,描述LDMOS管的寄生MOS管,其柵寬及柵長(zhǎng)分別作為一個(gè)擬合數(shù)值放在宏模型中,并且該MOS管還具有開啟電壓、遷移率、襯偏效應(yīng)參數(shù)、源/漏阻抗、溫度特性參數(shù)、ute參數(shù),作為MOS管模型擬合參數(shù)。
      [0021]進(jìn)一步地,所述的第一電阻描述LDMOS管漏端寄生電阻系數(shù),第二電阻描述LDMOS管源端寄生電阻系數(shù);第一電阻和第二電阻均包含BSM3標(biāo)準(zhǔn)模型所含的溫度和電壓的修正系數(shù)。
      [0022]進(jìn)一步地,所述的電壓控制電壓源受LDMOS管的柵源電壓控制,具有電壓控制系數(shù),其輸出電壓加在所述MOS管的柵源端。
      [0023]本發(fā)明所述的帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路及仿真方法,通過添加描述源漏寄生電阻的第一及第二電阻,寄生MOS管以及電壓控制電壓源,構(gòu)建LDMOS管的等效電路,通過對(duì)各類器件參數(shù)同測(cè)試數(shù)據(jù)的擬合,得到同實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)吻合的Id-Vg曲線以及gm-Vg特性曲線,提高了仿真的精度。
      【附圖說明】
      [0024]圖1是圓形聞壓場(chǎng)效應(yīng)管的結(jié)構(gòu)不意圖。
      [0025]圖2是圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管的Id-Vg曲線圖。
      [0026]圖3是圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管的gm-Vg曲線圖。
      [0027]圖4是本發(fā)明圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管的等效電路圖。
      [0028]圖5是基于本發(fā)明圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管的等效電路的Id-Vg仿真曲線圖。
      [0029]圖6是基于本發(fā)明圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管的等效電路的gm-Vg仿真曲線圖。
      [0030]圖7是本發(fā)明仿真流程圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0031]首先對(duì)線性區(qū)電流特性中的寄生效應(yīng)進(jìn)行分析,從圖2中可以看到,當(dāng)Vgs增大到一定程度后,電流曲線開始出現(xiàn)一個(gè)凹陷的特性,由于器件特性上分析較為復(fù)雜,較為簡(jiǎn)便的方法可以假設(shè)為器件在柵極電壓的條件下有某個(gè)寄生效應(yīng)出現(xiàn)了類似與MOS管的開啟狀態(tài),該曲線可以看作寄生晶體管和本身LDMOS的電特性疊加后可以得到的結(jié)果。圓形LDMOS本身的柵極從版圖上看并沒有寄生的并聯(lián)器件,但是從版圖的漂移區(qū)和漏端區(qū)域看,為了提高漂移區(qū)的耐壓,在漂移區(qū)還專門加了一層P型的淡摻雜注入。假定把整個(gè)多晶柵下溝道區(qū)域反型特性看成是兩個(gè)并聯(lián)的MOS晶體管并聯(lián)在高壓場(chǎng)效應(yīng)管邊。
      [0032]基于上述考慮,本發(fā)明給出了帶寄生效應(yīng)的圓形高壓場(chǎng)效應(yīng)管等效電路,如圖4所示,包含一個(gè)基于BSM3標(biāo)準(zhǔn)的LDMOS管,一個(gè)MOS管,第一電阻RD及第二電阻RS,以及一個(gè)電壓控制電壓源EX,所述各元件的連接關(guān)系為:
      [0033]所述LDMOS管的漏端連接第一電阻RD的第一端,LDMOS管的源端連接第二電阻RS的第一端,LDMOS管的柵極直接引出;
      [0034]所述MOS管的柵極連接電壓控制電壓源E
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