微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置、方法和微波爐的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及家用電器技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置、方法和微波爐。
【背景技術(shù)】
[0002]微波爐因其突出的烹飪效果，早已被用戶廣泛接受。然而微波爐中的磁控管因其自身結(jié)構(gòu)、與腔體的匹配情況和散熱受限等的影響，容易發(fā)生溫度過(guò)高或結(jié)構(gòu)損壞等異常情況。
[0003]目前，在部分微波爐的控制電路中加入了電流檢測(cè)電路，用于檢測(cè)磁控管的工作狀態(tài)。但由于控制電路中還存在其它元器件失效的情況，因此，不能夠準(zhǔn)確檢測(cè)磁控管的工作狀態(tài)，而且還存在成本高、接線復(fù)雜等缺點(diǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問(wèn)題之一。為此，本發(fā)明的一個(gè)目的在于提出一種微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置，能夠準(zhǔn)確檢測(cè)出微波爐中磁控管的工作狀態(tài)，且實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單，成本較低。
[0005]本發(fā)明的第二個(gè)目的在于提出一種微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)方法。
[0006]本發(fā)明的第三個(gè)目的在于提出一種微波爐。
[0007]根據(jù)本發(fā)明第一方面實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置，包括:磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)磁控管的陽(yáng)極電流并生成陽(yáng)極電流當(dāng)前值；控制模塊，用于根據(jù)所述陽(yáng)極電流當(dāng)前值和預(yù)存的陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值獲取所述磁控管的工作狀態(tài)。
[0008]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置，通過(guò)檢測(cè)磁控管的陽(yáng)極電流，并根據(jù)磁控管的陽(yáng)極電流和預(yù)存的陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值獲取磁控管的工作狀態(tài)，從而能夠?qū)崟r(shí)并準(zhǔn)確地判斷出磁控管溫度過(guò)高或發(fā)生損壞等異常狀況，以便能夠及時(shí)采取必要的保護(hù)措施，而且實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單方便，成本較低。
[0009]另外，根據(jù)本發(fā)明上述實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置，還可具有如下附加的技術(shù)特征:
[0010]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，如果所述陽(yáng)極電流當(dāng)前值大于所述陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值的兩倍，則判斷所述磁控管處于陽(yáng)極溫度過(guò)高狀態(tài)；如果所述陽(yáng)極電流當(dāng)前值小于所述陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值的一半，則判斷所述磁控管處于磁芯破裂狀態(tài)。
[0011]進(jìn)一步地，在判斷所述磁控管處于陽(yáng)極溫度過(guò)高狀態(tài)之后，還控制所述磁控管停止工作或降低所述磁控管的輸出功率；在判斷所述磁控管處于磁芯破裂狀態(tài)之后，還控制所述磁控管停止工作。
[0012]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊具體包括:第一電阻，所述第一電阻的一端與所述磁控管的陽(yáng)極相連；第二電阻，所述第二電阻的一端與所述第一電阻的另一端相連，所述第二電阻的另一端接地，其中，所述第一電阻和第二電阻之間具有第一節(jié)點(diǎn)；第三電阻，所述第三電阻的一端與所述第一節(jié)點(diǎn)相連，所述第三電阻的另一端為所述磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊的輸出端。
[0013]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置還包括:上位機(jī)，所述上位機(jī)與所述磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊相連，所述上位機(jī)通過(guò)通信線將所述磁控管的陽(yáng)極電流發(fā)送至所述控制模塊。
[0014]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置還包括:連接在所述磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊和所述控制模塊之間的光耦，所述磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊通過(guò)所述光耦將所述磁控管的陽(yáng)極電流發(fā)送至所述控制模塊。
[0015]根據(jù)本發(fā)明第二方面實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟:檢測(cè)磁控管的陽(yáng)極電流并生成陽(yáng)極電流當(dāng)前值；根據(jù)所述陽(yáng)極電流當(dāng)前值和預(yù)存的陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值獲取所述磁控管的工作狀態(tài)。
[0016]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)方法，通過(guò)檢測(cè)磁控管的陽(yáng)極電流，并根據(jù)磁控管的陽(yáng)極電流和預(yù)存的陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值獲取磁控管的工作狀態(tài)，從而能夠?qū)崟r(shí)并準(zhǔn)確地判斷出磁控管溫度過(guò)高或發(fā)生損壞等異常狀況，以便能夠及時(shí)采取必要的保護(hù)措施，同時(shí)，其實(shí)現(xiàn)方法簡(jiǎn)單方便，成本較低。
[0017]另外，根據(jù)本發(fā)明上述實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)方法，還可具有如下附加的技術(shù)特征:
[0018]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，如果所述陽(yáng)極電流當(dāng)前值大于所述陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值的兩倍，則判斷所述磁控管處于陽(yáng)極溫度過(guò)高狀態(tài)；如果所述陽(yáng)極電流當(dāng)前值小于所述陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值的一半，則判斷所述磁控管處于磁芯破裂狀態(tài)。
[0019]進(jìn)一步地，在判斷所述磁控管處于陽(yáng)極溫度過(guò)高狀態(tài)之后，還控制所述磁控管停止工作或降低所述磁控管的輸出功率；在判斷所述磁控管處于磁芯破裂狀態(tài)之后，還控制所述磁控管停止工作。
[0020]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，通過(guò)上位機(jī)反饋所述磁控管的陽(yáng)極電流。
[0021 ] 在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，通過(guò)光耦反饋所述磁控管的陽(yáng)極電流。
[0022]根據(jù)本發(fā)明第三方面實(shí)施例的微波爐，具有本發(fā)明第一方面實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置。
[0023]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的微波爐，通過(guò)檢測(cè)磁控管的陽(yáng)極電流，并根據(jù)磁控管的陽(yáng)極電流和預(yù)存的陽(yáng)極電流標(biāo)準(zhǔn)值獲取磁控管的工作狀態(tài)，從而能夠?qū)崟r(shí)并準(zhǔn)確地判斷出磁控管溫度過(guò)高或發(fā)生損壞等異常狀況，以便能夠及時(shí)采取必要的保護(hù)措施，如控制微波爐停止工作等，而且具有實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單、成本較低等優(yōu)點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0024]圖1為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0025]圖2為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)的電路圖；
[0026]圖3為根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)的電路圖；
[0027]圖4為根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0028]圖5為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0029]下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，所述實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號(hào)表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過(guò)參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
[0030]圖1為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
[0031]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例的微波爐中磁控管工作狀態(tài)的檢測(cè)裝置，包括:磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊10和控制模塊20。
[0032]其中，磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊10用于檢測(cè)磁控管的陽(yáng)極電流并生成陽(yáng)極電流當(dāng)前值。
[0033]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，如圖2所示，磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊10具體包括:第一電阻R1、第二電阻R2和第三電阻R3。其中，第一電阻Rl的一端與磁控管MGT的陽(yáng)極相連，第二電阻R2的一端與第一電阻Rl的另一端相連，第二電阻R2的另一端接地GND，其中，第一電阻Rl和第二電阻R3之間具有第一節(jié)點(diǎn)J1，第三電阻R3的一端與第一節(jié)點(diǎn)Jl相連，第三電阻R3的另一端為磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊10的輸出端。該電路可用于變頻微波爐中。
[0034]由圖2可知，變壓器T的一個(gè)次級(jí)繞組連接到倍壓電路，經(jīng)倍壓后的高壓，一端連接到磁控管MGT的陽(yáng)極，另一端與第二電阻R2的一端相連，經(jīng)第二電阻R2后再連接到磁控管MGT。當(dāng)供給磁控管MGT的陽(yáng)極電壓(-4000V)經(jīng)第二電阻R2時(shí)會(huì)形成一定的電壓降，該電壓降的大小正比于流過(guò)磁控管陽(yáng)極的電流大小，通過(guò)第三電阻R3對(duì)該電壓降進(jìn)行采樣即可獲得磁控管MGT的陽(yáng)極電流IB。
[0035]根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例，如圖3所示，磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊10具體包括:第四電阻R4和第五電阻R5，其中，第四電阻R4的一端通過(guò)第三二極管D3與磁控管MGT的陽(yáng)極相連，并且，第四電阻R4的一端與第三二極管D3的陰極相連，第四電阻R4的另一端接地GND，第五電阻R5的一端分別與第四電阻R4的一端、第三二極管D3的陰極相連，第五電阻R5的另一端為磁控管陽(yáng)極電流檢測(cè)模塊10的輸出端。該電路可用于定頻微波爐中，當(dāng)供給磁控管MGT的陽(yáng)極電壓(-4000V)經(jīng)第四電阻R4時(shí)會(huì)形成一定的電壓降，該電壓降的大小正比于流過(guò)磁控管陽(yáng)極的電流大小，通過(guò)第五電阻R5對(duì)該電壓降進(jìn)行采