過零檢測電路一實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖3是本實(shí)用新型電磁加熱控制系統(tǒng)的過壓過零檢測電路一實(shí)施例中諧振電路單元中IGBT管的集電極電壓和門極電壓的電壓波形示意圖。
[0027]本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。
【具體實(shí)施方式】
[0028]應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0029]本實(shí)用新型提供一種電磁加熱控制系統(tǒng)的過壓過零檢測電路。
[0030]參照圖1，圖1是本實(shí)用新型電磁加熱控制系統(tǒng)的過壓過零檢測電路一實(shí)施例的模塊結(jié)構(gòu)示意圖。
[0031]本實(shí)施例中，該電磁加熱控制系統(tǒng)的過壓過零檢測電路包括市電電源輸入端101、整流濾波電路單元102、諧振電路單元103、過壓過零檢測電路單元104、MCU 105、IGBT驅(qū)動電路106及同步電路單元107。
[0032]其中，所述市電電源輸入端101，用于輸入市電電源；
[0033]所述整流濾波電路單元102，用于對所述市電電源輸入端101輸入的市電電源進(jìn)行整流濾波并為所述諧振電路單元103提供供電電壓；
[0034]所述諧振電路單元103，用于執(zhí)行諧振加熱工作；
[0035]過壓過零檢測電路單元104，用于對所述市電電源輸入端101輸入的市電電源的過零點(diǎn)進(jìn)行檢測和對所述諧振電路單元(103)的過壓情況進(jìn)行檢測；
[0036]MCU 105，用于根據(jù)所述過壓過零檢測電路單元(104)的檢測結(jié)果執(zhí)行對所述諧振電路單元(103)的過壓保護(hù)動作及執(zhí)行市電電源過零處理工作；
[0037]所述IGBT驅(qū)動電路單元106，用于驅(qū)動所述諧振電路單元103的諧振加熱工作；
[0038]本實(shí)施例中，所述諧振電路單元103包括諧振電容(圖未示)和用于控制所述諧振電路單元103的加熱狀態(tài)的IGBT管(圖未示)；所述MCU 105的內(nèi)部設(shè)有用于根據(jù)所述過壓過零檢測電路單元(104)的檢測結(jié)果輸出相應(yīng)PffM信號以控制所述IGBT管的開關(guān)狀態(tài)PffM信號產(chǎn)生模塊1051。
[0039]本實(shí)施例中，所述同步電路單元107，用于對所述諧振電路單元103中諧振電容(圖未示)兩端的電壓進(jìn)行檢測，并將檢測到的所述諧振電容兩端的電壓輸入至所述MCU105，所述諧振電容兩端的電壓經(jīng)所述MCU 105的內(nèi)部處理后，輸出可控制的同步PffM信號(即所述PWM信號的占空比和周期均可配置)至所述IGBT管的門極，以控制所述IGBT管的開關(guān)狀態(tài)，進(jìn)而控制所述諧振電路單元103的諧振加熱工作。
[0040]具體地，本實(shí)施例中，所述整流濾波電路單元102的輸入端與所述市電電源輸入端101連接，所述整流濾波電路單元102的輸出端與所述諧振電路單元103的電源輸入端連接；所述過壓過零檢測電路單元104的檢測輸入端與所述諧振電路單元103中的所述IGBT管的集電極連接，所述過壓過零檢測電路單元104的檢測輸出端與所述MCU105內(nèi)的所述PffM產(chǎn)生模塊1051的控制輸入端連接；所述IGBT驅(qū)動電路單元106的輸入端與所述PffM產(chǎn)生模塊1051的輸出端連接，所述IGBT驅(qū)動電路單元106的輸出端與所述諧振電路單元103中的所述IGBT管的門極連接；所述同步電路單元107分別與所述諧振電路單元103中的所述諧振電容的兩端及所述MCU 105連接。
[0041]圖2是本實(shí)用新型電磁加熱控制系統(tǒng)的過壓過零檢測電路一實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
[0042]—并參照圖1和圖2，本實(shí)施例中，所述諧振電路單元103包括加熱線圈盤LHldg振電容C5和IGBT管Ql ;具體地，所述加熱線圈盤LHl的第一端OUTl及所述諧振電容C5的第一端(對應(yīng)圖中標(biāo)號為I的那端)均與所述整流濾波電路單元102的輸出端連接，所述諧振電容C5的第二端(對應(yīng)圖中標(biāo)號為2的那端)分別與所述加熱線圈盤LHl的第二端0UT2及所述IGBT管Ql的集電極C連接；所述IGBT管Ql的發(fā)射極E接地，所述IGBT管的門極G與所述IGBT驅(qū)動電路單元106的輸出端連接。本實(shí)施例中，所述整流濾波電路單元102的輸入端與所述市電電源輸入端101連接。
[0043]本實(shí)施例中，所述過壓過零檢測電路單元104包括用于對所述IGBT管Ql的集電極電壓進(jìn)行分壓的分壓電路1041、所述MCU 105內(nèi)部的用于對經(jīng)所述分壓電路1041分壓后的所述IGBT管Ql的集電極電壓進(jìn)行AD采樣的AD轉(zhuǎn)換模塊1042、所述MCU內(nèi)部的用于將經(jīng)所述分壓電路1041分壓后的所述IGBT管Ql的集電極電壓與一預(yù)設(shè)電壓進(jìn)行比較的第一電壓比較器U1、用于輸入所述預(yù)設(shè)電壓的預(yù)設(shè)電壓輸入端VCC、以及用于對所述AD轉(zhuǎn)換模塊1042所采集的電壓數(shù)據(jù)及所述第一電壓比較器Ul的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的運(yùn)算處理單元1043。
[0044]其中，所述分壓電路1041的輸入端與所述IGBT管Ql的集電極C連接，所述分壓電路1041的輸出端與所述AD轉(zhuǎn)換模塊1042的輸入端連接；所述AD轉(zhuǎn)換模塊1042的輸出端與所述運(yùn)算處理單元1043的第一輸入端連接；所述第一電壓比較器Ul的同相輸入端與所述分壓電路1041的輸出端連接，所述第一電壓比較器Ul的反相輸入端與所述預(yù)設(shè)電壓輸入端VCC連接，所述第一電壓比較器Ul的輸出端與所述運(yùn)算處理單元1043的第二輸入端連接；所述運(yùn)算處理單元1043的輸出端與所述PffM產(chǎn)生模塊1051的控制輸入端連接。
[0045]所述分壓電路包括串聯(lián)的第一電阻單元和第二電阻單元；其中所述第一電阻單元和所述第二電阻單元的公共連接端與所述AD轉(zhuǎn)換模塊1042的輸入端及所述第一電壓比較器Ul的同相輸入端連接，所述第一電阻單元的另一端與所述IGBT管的集電極連接，所述第二電阻單元的另一端接地。
[0046]具體地，本實(shí)施例中，所述第一電阻單元包括第一電阻Rl和第二電阻R2，第二電阻單元包括第三電阻R3和第四電阻R4。其中，所述第一電阻Rl的第一端與所述IGBT管Ql的集電極C連接，所述第一電阻Rl的第二端與所述第二電阻R2的第一端連接；所述第二電阻R2的第二端分別與所述AD轉(zhuǎn)換模塊1042的輸入端及所述第一電壓比較器Ul的同相輸入端連接；所述第三電阻R3的第一端與所述第二電阻R2的第二端連接，所述第三電阻R3的第二端經(jīng)所述第四電阻R4接地。
[0047]進(jìn)一步地，本實(shí)施例中，所述分壓電路1041還包括用于濾波的第一電容Cl ;所述第一電容Cl的第一端與第一電阻單元和第二電阻單元的公共連接端連接，即與所述第三電阻R3的第一端連接，所述第一電容Cl的第二端接地。
[0048]本實(shí)施例中，所述同步電路單元107包括電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8、電阻R9、電阻R10、電阻R11、電阻R12、電阻R13、電容C2、電容C3、電容C4、二極管D1、工作電壓輸入端VDD、所述MCU 105內(nèi)部的第二電壓比較器U2和所述MCU 105內(nèi)部的所述PffM信號產(chǎn)生模塊1051。
[0049]具體地，電阻R5的第一端與所述諧振電路單元103中的所述諧振電容C5的第一端連接，電阻R5的第二端經(jīng)串聯(lián)連接的電阻R6、電阻R7及電阻R8與電阻R9的