本發(fā)明涉及一種連續(xù)偽隨機序列檢測光網(wǎng)絡故障的測量裝置及方法，屬于光通信網(wǎng)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：
光纖通信是現(xiàn)代通信網(wǎng)的主要傳輸手段，它的誕生和發(fā)展是電信史上的一次重要革命，與衛(wèi)星通信、移動通信并列為20世紀90年代的技術(shù)。進入21世紀后，由于因特網(wǎng)業(yè)務的迅速發(fā)展和音頻、視頻、數(shù)據(jù)、多媒體應用的增長，對大容量(超高速和超長距離)光波傳輸系統(tǒng)和網(wǎng)絡有了更為迫切的需求。隨著光纖通信技術(shù)的成熟發(fā)展和“三網(wǎng)融合”服務需求的不斷推動，大到省與省，國家與國家之間的主干網(wǎng)絡，小到普通的城市內(nèi)部的主干網(wǎng)基本都是采用光纖做主干線。主干網(wǎng)是構(gòu)建企業(yè)網(wǎng)的一個重要的體系結(jié)構(gòu)元素。它為不同局域網(wǎng)或子網(wǎng)間的信息交換提供了路徑。通常情況下，主干網(wǎng)的容量要大于與之相連的網(wǎng)絡的容量。主干網(wǎng)是一種大型的傳輸網(wǎng)路，它用于連接小型傳輸網(wǎng)絡，并傳送數(shù)據(jù)。FTTB(FibertoTheBuilding，光纖到樓)、FTTH((FiberToTheHome，光纖到家)也已經(jīng)成為解決接入網(wǎng)帶寬瓶頸問題的最佳手段，而無源光網(wǎng)絡技術(shù)以其高帶寬、遠距離傳輸以及點到多點拓撲等優(yōu)勢備受青睞，已經(jīng)成為各國部署FTTH、FTTB的主要應用架構(gòu)。PON(PassiveOpticalNetwork，無源光纖網(wǎng)絡)是一種采用點到多點拓撲結(jié)構(gòu)的無源光接入技術(shù)。當前，xPON系統(tǒng)已經(jīng)在國內(nèi)外大量部署商用，與此同時，PON網(wǎng)絡的運營維護技術(shù)也不斷發(fā)展壯大。在光纖故障診斷方面，借助OTDR(光時域反射計)進行光纖故障診斷仍然是PON系統(tǒng)的首選方案，主干網(wǎng)上也可以應用。目前常用的OTDR測量方法有單脈沖法和互補序列法，主要的指標有動態(tài)范圍、空間分辨率和盲區(qū)等。在實際應用中，對于單脈沖式OTDR，測量脈沖寬度的增加可以增加測量的動態(tài)范圍，但與空間分辨率是矛盾關(guān)系，如需要更高的空間分辨率(如1m)及更小的盲區(qū)，則必須減小測量脈沖寬度；而高帶寬的激光器發(fā)射功率受限，減小測量脈沖寬度，即降低了注入光纖的能量，噪聲卻沒有變化，這樣就降低了信噪比，從而降低了測量的動態(tài)范圍，因此為了兼顧分辨率和動態(tài)范圍，單脈沖式OTDR只能提高測量脈沖的光功率，受當前技術(shù)的限制，發(fā)射光功率不能做得過高。另外，A/D(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)的分辨率也是限定其動態(tài)范圍的一個重要因素。用互補序列式OTDR可以有效解決單脈沖式OTDR帶來的信噪比惡化的問題，也能突破AD分辨率的限制，大大提高測量的動態(tài)范圍。但和單脈沖OTDR一樣，要實現(xiàn)高空間分辨率，需要更窄的測量脈沖，在硬件電路上的實現(xiàn)的難度相對較大，需要把要識別的微弱光信號轉(zhuǎn)成電信號，再放大到足夠大，才達到AD的采樣范圍。為了兼顧測量強光信號與弱光信號，需要較寬的可調(diào)增益放大器。另外，眾所周知，窄脈沖的帶寬高，因此硬件接收電路系統(tǒng)需要上百兆的帶寬，這樣綜合起來，設計難度增加了，其成本也不會降得很低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種檢測光網(wǎng)絡故障的測量方法及裝置，以為克服用單脈沖式OTDR及互補序列式OTDR時要求的高空間分辨率帶來的弱信號、高帶寬，要將這種弱信號用高帶寬放大器放大足夠高增益的缺點，用連續(xù)偽隨機序列式OTDR，增大接收光功率，減少增益級數(shù)，解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的設計難度大、成本高的問題。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種檢測光網(wǎng)絡故障的測量方法，包括：設置產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)，根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生偽隨機序列，并連續(xù)發(fā)射所述偽隨機序列；根據(jù)所述偽隨機序列產(chǎn)生光信號，發(fā)送至待測光纖進行光時域反射測量。進一步地，上述方法還具有下面特點：所述根據(jù)所述偽隨機序列產(chǎn)生光信號包括：將所述偽隨機序列直接轉(zhuǎn)換為光信號；將所述偽隨機序列處理成極性相反的偽隨機序列后，再轉(zhuǎn)換為光信號，所述進行光時域反射測量的過程中包括：將接收到的兩種不同極性的偽隨機序列的測量數(shù)據(jù)求差后得到的序列，與所述偽隨機序列進行相關(guān)。進一步地，上述方法還具有下面特點：所述進行光時域反射測量的過程中包括：將接收到的所述偽隨機序列的測量數(shù)據(jù)，與所述偽隨機序列與其極性相反的偽隨機序列之差的序列進行相關(guān)。進一步地，上述方法還具有下面特點：所述產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)包括：測量脈沖的寬度和產(chǎn)生偽隨機序列寄存器的個數(shù)m。進一步地，上述方法還具有下面特點：m滿足以下條件：其中，Lmax為估算出的從測量點到光網(wǎng)絡的最遠點的距離；T為脈沖寬度，其中，x為空間分辨率，v為光在光纖中的傳播速度。進一步地，上述方法還具有下面特點：根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生的偽隨機序列之后，還包括：在所述偽隨機序列中的每個碼元前或后插入n個連續(xù)的0。進一步地，上述方法還具有下面特點：所述產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)包括：測量脈沖的寬度和產(chǎn)生偽隨機序列寄存器的個數(shù)m，其中，m滿足以下條件：其中，Lmax為估算出的從測量點到光網(wǎng)絡的最遠點的距離；T為脈沖寬度，其中，x為空間分辨率，v為光在光纖中的傳播速度。為了解決上述問題，本發(fā)明還提供了一種檢測光網(wǎng)絡故障的測量裝置，包括：第一模塊，用于設置產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)，根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生偽隨機序列，并連續(xù)發(fā)射所述偽隨機序列；第二模塊，用于根據(jù)所述偽隨機序列產(chǎn)生光信號，發(fā)送至待測光纖進行光時域反射測量。進一步地，上述裝置還具有下面特點：還包括第三模塊，所述第二模塊，具體用于將所述偽隨機序列直接轉(zhuǎn)換為光信號，發(fā)送至待測光纖進行光時域反射測量；將所述偽隨機序列處理成極性相反的偽隨機序列后，再轉(zhuǎn)換為光信號，發(fā)送至待測光纖進行光時域反射測量；所述第三模塊，用于進行光時域反射測量的過程中，將接收到的兩種不同極性的偽隨機序列的測量數(shù)據(jù)求差后得到的序列，與所述偽隨機序列進行相關(guān)。進一步地，上述裝置還具有下面特點：還包括：第四模塊，用于對所述偽隨機序列與其極性相反的偽隨機序列進行求差操作；第五模塊，用于將接收到的所述偽隨機序列的測量數(shù)據(jù)與所述第四模塊求差后的序列進行相關(guān)。進一步地，上述裝置還具有下面特點：所述產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)包括：測量脈沖的寬度和產(chǎn)生偽隨機序列寄存器的個數(shù)m，其中，m滿足以下條件：其中，Lmax為估算出的從測量點到光網(wǎng)絡的最遠點的距離；T為脈沖寬度，其中，x為空間分辨率，v為光在光纖中的傳播速度。進一步地，上述裝置還具有下面特點：所述第一模塊，在根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生偽隨機序列之后還用于：在所述偽隨機序列中的每個碼元前或后插入n個連續(xù)的0，所述產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)包括：測量脈沖的寬度和產(chǎn)生偽隨機序列寄存器的個數(shù)m，其中，m滿足以下條件：其中，Lmax為估算出的從測量點到光網(wǎng)絡的最遠點的距離；T為脈沖寬度，其中，x為空間分辨率，v為光在光纖中的傳播速度。本發(fā)明提供一種檢測光網(wǎng)絡故障的測量方法及裝置，以為克服用單脈沖式OTDR及互補序列式OTDR時要求的高空間分辨率帶來的弱信號、高帶寬，要將這種弱信號用高帶寬放大器放大足夠高增益的缺點，用連續(xù)偽隨機序列式OTDR，增大接收光功率，減少增益級數(shù)，解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的設計難度大、成本高的問題。附圖說明圖1為本發(fā)明實施例的檢測光網(wǎng)絡故障的測量裝置的示意圖；圖2為本發(fā)明應用示例的檢測光網(wǎng)絡故障的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖；圖3為本發(fā)明實施例的檢測光網(wǎng)絡故障的測量方法的流程圖；圖4為偽隨機序列的變換波形圖；圖5為偽隨機序列經(jīng)過變換處理后相關(guān)的波形圖。具體實施方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例進行詳細說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互任意組合。圖1是本發(fā)明實施例的檢測光網(wǎng)絡故障的測量裝置的示意圖，如圖1所示，本實施例的裝置包括以下模塊：第一模塊，用于設置產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)，根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生偽隨機序列，并連續(xù)發(fā)射所述偽隨機序列；第二模塊，用于根據(jù)所述偽隨機序列產(chǎn)生光信號，發(fā)送至待測光纖進行光時域反射測量。在一優(yōu)選實施例中，所述裝置還可以包括第三模塊，所述第二模塊，具體用于將所述偽隨機序列直接轉(zhuǎn)換為光信號，發(fā)送至待測光纖進行光時域反射測量；將所述偽隨機序列處理成極性相反的偽隨機序列后，再轉(zhuǎn)換為光信號，發(fā)送至待測光纖進行光時域反射測量；所述第三模塊，用于進行光時域反射測量的過程中，將接收到的兩種不同極性的偽隨機序列的測量數(shù)據(jù)求差后得到的序列，與所述偽隨機序列進行相關(guān)。在一優(yōu)選實施例中，所述裝置還可以包括：第四模塊，用于對所述偽隨機序列與其極性相反的偽隨機序列進行求差操作；第五模塊，用于將接收到的所述偽隨機序列的測量數(shù)據(jù)與所述第四模塊求差后的序列進行相關(guān)。其中，所述產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)包括：測量脈沖的寬度和產(chǎn)生偽隨機序列寄存器的個數(shù)m，其中，m滿足以下條件：其中，Lmax為估算出的從測量點到光網(wǎng)絡的最遠點的距離；T為脈沖寬度，其中，x為空間分辨率，v為光在光纖中的傳播速度。在一優(yōu)選實施例中，所述第一模塊，在根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生偽隨機序列之后還用于：在所述偽隨機序列中的每個碼元前或后插入n個連續(xù)的0，所述產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)包括：測量脈沖的寬度和產(chǎn)生偽隨機序列寄存器的個數(shù)m，其中，m滿足以下條件：其中，Lmax為估算出的從測量點到光網(wǎng)絡的最遠點的距離；T為脈沖寬度，其中，x為空間分辨率，v為光在光纖中的傳播速度。圖2為本發(fā)明一應用示例的測量系統(tǒng)的示意圖，如圖2所示，本應用示例的測量系統(tǒng)包括以下部分：激光器104、光環(huán)行或耦合器105、待測光纖106、光電二極管107、放大器108、時鐘發(fā)生器109、ADC110、平均器112、相關(guān)器113和后續(xù)處理電路114，還包括：偽隨機序列發(fā)生器101、信號變換處理器102、2選1開關(guān)103和多路開關(guān)111。時鐘發(fā)生器109為測試系統(tǒng)提供時鐘；也是為了實現(xiàn)發(fā)送及接收的同步。偽隨機序列發(fā)生器101根據(jù)所配置的參數(shù)，產(chǎn)生偽隨機序列，一旦測試開始，偽隨機序列將連接發(fā)送；由偽隨機序列發(fā)生器101產(chǎn)生的序列，經(jīng)過信號變換處理器102變成極性相反的兩種序列P、1-P，用2選1開關(guān)103選擇其中一種，送給激光器104；激光器接收到偽隨機序列后，立即把電序列變成光序列，實現(xiàn)電光轉(zhuǎn)換，最后通過光環(huán)行器或耦合器進入待測光纖。發(fā)送出去的光信號，由于瑞利散射或事件點反射，會有光信號返回到光環(huán)行器或耦合器，進入光電二極管107；光電二極管107用于實現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換，把光信號變成電路能識別的電信號；由于光信號很弱，通過光電二極管107后的電信號還是很弱，所以要經(jīng)過放大器108進行放大，這樣后端的ADC110才能采樣到。ADC110采樣后的值經(jīng)過加減開關(guān)，進入平均器112，多次平均后，將數(shù)據(jù)送到相關(guān)器113中，跟P序列進行相關(guān)，將相關(guān)的結(jié)果送給后續(xù)處理電路114。后續(xù)處理電路114對所測得的OTDR曲線數(shù)據(jù)進行分析，分析光纖中衰減及反射事件，以判斷是否要派人去維修。發(fā)送是連續(xù)發(fā)送序列，接收時，需要從第二組序列以后開始采樣，累加；當發(fā)送端103切換到P序列時，接收端多路開關(guān)切換到加法累加器；當發(fā)送端103切換到1-P序列時，接收瑞多路開關(guān)切換到減法累加器上；只有發(fā)送及接收完所有的數(shù)據(jù)時，平均器再取平均，平均后，把數(shù)據(jù)送給相關(guān)器。偽隨機序列發(fā)生器101連續(xù)產(chǎn)生一定長度的偽隨機序列，由于瑞利散射是與光強和脈寬成正比，一串序列進入光纖時，相當于脈寬增加了，這樣通過激光器注入光纖的能量就很強，使得瑞利散射后向返回的光也就大大增強，再加上菲涅耳反射光，照射到光電二極管107端的光就已經(jīng)非常強了，光電二極管產(chǎn)生的電流也很強，這就大大提高了信噪比，對后端放大器108的增益要求大大降低。偽隨機序列發(fā)生器101產(chǎn)生的P序列(如100010011010111)，通過信號變換處理分成兩路，一路是P(100010011010111)，另一路是1-P(011101100101000)。當2選1開關(guān)103切換為P時，多路開關(guān)111切換到加法累加，相反，當2選1開關(guān)切換到1-P時，多路開關(guān)111切換到減法累加。本發(fā)明實施例提供一種檢測光網(wǎng)絡故障的測量方法，主要是：利用偽隨機序列自相關(guān)具有二值特性，通過對偽隨機序列進行簡單變換處理，提高相關(guān)后的峰值，可以把旁瓣大小降到0，這樣可以解決由于旁瓣的問題造成測量波形不規(guī)則、事件點分析困難的問題。圖3為本發(fā)明實施例的檢測光網(wǎng)絡故障的測量方法的流程圖，如圖3所示，本實施例的測量方法包括下面步驟：S10、設置產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)，根據(jù)所述參數(shù)產(chǎn)生偽隨機序列，并連續(xù)發(fā)射所述偽隨機序列；S20、根據(jù)所述偽隨機序列產(chǎn)生光信號，發(fā)送至待測光纖進行光時域反射測量。以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例1、實施例2和實施3進行說明，應當理解，此處所描述的實施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。實施例1：步驟101、測量之前要先設置產(chǎn)生偽隨機序列的參數(shù)，包括測量脈沖的寬度、偽隨機序列的長度。計算偽隨機序列的長度時需要估算出光纖最遠距離，偽隨機序列要求具有二值相關(guān)特性。圖4是偽隨機序列的變換波形圖，測量所用的序列是利用偽隨機序列自相關(guān)后具有二值的特性，如15位的m序列100010011010111由連續(xù)偽隨機序列發(fā)生器101產(chǎn)生，經(jīng)過信號變換處理102變換成兩種序列P及1-P，連續(xù)的P序列用f1(n)來表示，連續(xù)的1-P序列用f2(n)表示，與前者的關(guān)系為f2(n)＝1-f1(n)，f1(n)-f2(n)得到一組雙極性的連續(xù)序列f3(n)，它與f1(n)相關(guān)后也是雙值，如圖5所示。其中，m為產(chǎn)生偽隨機序列寄存器的個數(shù)，k為任何整數(shù)。發(fā)送偽隨機序列要有兩個參數(shù)，一是脈沖寬度；二是序列長度(2m-1)，或是產(chǎn)生偽隨機序列寄存器的個數(shù)m。根據(jù)需要的空間分辨率來設置脈沖寬度T，設空間分辨率為x，v為光在光纖中的傳播速度，則另外需要估算出從測量點到光網(wǎng)絡的最遠點的距離Lmax。Lmax可以人為估算，或多次測量，從測量波形中看出光纖的最長距離。為了降低測量時間、減少計算復雜度，需要計算出最少所需寄存器的個數(shù)，設m為寄存器的個數(shù)，則符合的m值，稱為最佳優(yōu)選值。前兩個參數(shù)設置完了，可以測量了。在開始測量時，連續(xù)發(fā)送偽隨機序列P，前一組序列與后一組序列不能有時間間隔，或時間間隔為0，這樣才能保證相關(guān)的二值特性不被破壞。步驟102、為了去除直流分量的影響，這里采用雙極性測量序列進行測量，而光脈沖沒有負信號，故需要變換成0或1的單極性序列，即由原偽隨機序列變換成兩種序列，分成兩種連續(xù)的測量序列進行測量，接收機將接收的光信號轉(zhuǎn)成電信號，并進行放大，再同步采樣放大后的測量信號。接收機為由圖1中的光電二極管107、放大器108、AD采樣器110組成。如果第一種序列測量N次，那么第二種序列也要測量N次，將兩種序列測量的數(shù)據(jù)相減后，再求平均。若平均后再相減，也可以，這時兩種序列的測量次數(shù)可以不完全一致。這里以從連續(xù)的序列中采樣一組完整的序列算一次測量，也可以采樣多組完整的序列算一次測量。將2選1開關(guān)104撥到P序列，把多路開關(guān)111撥到加法累加器上進行測量；測量時要注意要從發(fā)送完第一組P序列之后，開始發(fā)送第二組P序列時開始同步啟動AD采樣110進行采樣，發(fā)完一組序列P，采樣到一組數(shù)據(jù)，算一次測量，再發(fā)送完另一組序列P，又采樣到另一組數(shù)據(jù)，算另一次測量。后一組數(shù)據(jù)要和前面測的數(shù)據(jù)進行對應加法累加。測量N次之后，將2選1開關(guān)104撥到1-P序列上，把多路開關(guān)111撥到減法累加器上進行測量，根據(jù)前面所述的方法進行測量，把測量的數(shù)據(jù)對應累加到測量前一種序列P的數(shù)據(jù)上，也測量N次。實際上就是將兩種不同序列的測量數(shù)據(jù)進行相減的操作，再求平均，平均后的數(shù)據(jù)為序列S。步驟103、為了方便相關(guān)運算，在相關(guān)運算之前，對于采樣一組完整的序列算一次測量的數(shù)據(jù)，可以擴展成兩組相同的序列，與原偽隨機序列進行相關(guān)；或?qū)⒃瓊坞S機序列至少擴展成兩組相同的序列，與所測的數(shù)據(jù)進行相關(guān)。如果在步驟102中，以采樣多組完整的序列算一次測量的話，這里就可以直接與原偽隨機序列進行相關(guān)，無需要再擴展。S序列和P序列相關(guān)時，至少需要將S或P擴展成兩組完全相同的序列，再和另一組序列進行相關(guān)。具體相關(guān)計算方法如下：或P2是由兩個P序列擴展而成，S2是由兩個S序列擴展而成。步驟104、將相關(guān)結(jié)果送到后續(xù)電路處理，結(jié)束測量。實施例2：與實施例1的區(qū)別是，偽隨機序列發(fā)生器在偽隨機序列中每個碼元前(或后)插入“0”，可以插一個“0”，也可以插多個連續(xù)的“0”，以更好地分辨出弱信號事件，需要拉開強光事件與弱光事件在時間上的距離，為了保證相關(guān)的二值特性，需要做一些處理。這里為了說明方便，以插入一個“0”為例，詳細介紹與實施例1處理的不同點。還以前面說的15位m序列為例，產(chǎn)生的偽隨機序列經(jīng)過信號變換處理102進行插“0”，15位的P序列(100010011010111)變換為30位的P’序列(10-00-00-00-10-00-00-10-10-00-10-00-10-10-10)，15位的1-P序列(011101100101000)變換為30位的(1-P)’序列(00-10-10-10-00-10-10-00-00-10-00-10-00-00-00)。發(fā)送測量序列時就連續(xù)發(fā)送這兩種序列P’和(1-P)’，接收電路AD采樣時鐘需要與此序列發(fā)送時鐘同步。接收電路部分相關(guān)器113進行相關(guān)處理前，也要預先把P序列變成P’序列，其它的操作步驟與實施例1一樣。對產(chǎn)生偽隨機序列的寄存器個數(shù)，其計算方式同樣也需要調(diào)整一下。設光在光纖中的速度為v，脈沖寬度為T，m為寄存器的個數(shù)，每位碼插入連續(xù)“0”的個數(shù)為n，則最佳優(yōu)選值為符合不等式的m值。這種方法可以在時間上拉開強光與弱光之間的距離，有利于對弱光事件的測量和識別。實施例3：為了說明與實施例1的區(qū)別，這里還以15位的m序列為例，發(fā)射端只發(fā)送連續(xù)的P(100010011010111)序列，即實施例1中的f1(n)，接收端也只接收一種序列，進行累加平均之后送給相關(guān)器113。從連續(xù)偽隨機序列發(fā)生器101出來給相關(guān)器113的序列要做一下變換，變成連續(xù)的2P-1(1-1-1-11-1-111-11-1111)，即與實施例1中的f3(n)，其他的方法步驟同實施例1。這種方法測量時，只要發(fā)送一種連續(xù)的偽隨機序列，簡化了發(fā)送和接收器的復雜度。由于，光能量＝光強度*光脈寬，采用序列法相當于增大發(fā)送的脈寬，而且還能保證的系統(tǒng)的分辨率，因此，采用本發(fā)明實施例所述的裝置和方法，與現(xiàn)有技術(shù)相比，達到了增強接收光信號的能量及信噪比的效果，大大減少了高帶寬放大器的級數(shù)，降低了系統(tǒng)設計的難度，提高了系統(tǒng)設計的可靠性。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述方法中的全部或部分步驟可通過程序來指令相關(guān)硬件完成，所述程序可以存儲于計算機可讀存儲介質(zhì)中，如只讀存儲器、磁盤或光盤等?？蛇x地，上述實施例的全部或部分步驟也可以使用一個或多個集成電路來實現(xiàn)。相應地，上述實施例中的各模塊/單元可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實現(xiàn)。本發(fā)明不限制于任何特定形式的硬件和軟件的結(jié)合。以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，當然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。