1.一種射頻電路測試方法，其特征在于，應(yīng)用于移動終端中，所述方法包括：
產(chǎn)生測試指令，并將所述測試指令發(fā)送給綜測儀；
向所述移動終端內(nèi)的基帶處理器發(fā)送射頻控制指令，所述射頻控制指令用于控制所述基帶處理器收發(fā)射頻信號；
與所述綜測儀之間傳輸射頻信號，進行射頻電路測試，并存儲測試數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若所述方法運行在所述移動終端的應(yīng)用程序?qū)?，則在所述移動終端的操作系統(tǒng)完成啟動之后，執(zhí)行所述產(chǎn)生測試指令，并將所述測試指令發(fā)送給綜測儀的步驟。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若所述方法運行在所述移動終端的應(yīng)用程序框架層，則在所述移動終端的應(yīng)用程序框架層啟動后，執(zhí)行所述產(chǎn)生測試指令，并將所述測試指令發(fā)送給綜測儀的步驟。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若所述方法運行在所述移動終端的Linux內(nèi)核層，則在所述移動終端的Linux內(nèi)核層啟動后，執(zhí)行所述產(chǎn)生測試指令，并將所述測試指令發(fā)送給綜測儀的步驟。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項所述的方法，其特征在于，所述測試指令基于通用接口總線GPIB通信協(xié)議，或者，基于通用串行總線USB通信協(xié)議，或者，基于傳輸控制協(xié)議/因特互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議TCP/IP通信協(xié)議。
6.一種射頻電路測試裝置，其特征在于，應(yīng)用于移動終端中，所述裝置包括：
指令產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生測試指令，所述測試指令用于控制綜測儀的工作狀態(tài)；
第一發(fā)送模塊，用于產(chǎn)生測試指令，并將所述測試指令發(fā)送給所述綜測儀；
第二發(fā)送模塊，用于向所述移動終端內(nèi)的基帶處理器發(fā)送射頻控制指令，所述射頻控制指令用于控制所述基帶處理器收發(fā)射頻信號；
傳輸模塊，用于與所述綜測儀之間傳輸射頻信號，進行射頻電路測試；
存儲模塊，用于存儲射頻電路測試得到的測試數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，若所述裝置運行在所述移動終端的應(yīng)用程序?qū)?，則所述指令產(chǎn)生模塊，用于在所述移動終端的操作系統(tǒng)完成啟動之后，產(chǎn)生測試指令。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，若所述裝置運行在所述移動終端的應(yīng)用程序框架層，則所述指令產(chǎn)生模塊，用于在所述移動終端的應(yīng)用程序框架層啟動后，產(chǎn)生測試指令。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，若所述裝置運行在所述移動終端的Linux內(nèi)核層，則所述指令產(chǎn)生模塊，用于在所述移動終端的Linux內(nèi)核層啟動后，產(chǎn)生測試指令。
10.根據(jù)權(quán)利要求6至9任一項所述的裝置，其特征在于，所述測試指令基于通用接口總線GPIB通信協(xié)議，或者，基于通用串行總線USB通信協(xié)議，或者，基于傳輸控制協(xié)議/因特互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議TCP/IP通信協(xié)議。
11.一種射頻電路測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：綜測儀、直流電源和移動終端主板，所述移動終端主板包括應(yīng)用處理器和基帶處理器；
所述直流電源通過電源線與所述移動終端主板連接；
所述應(yīng)用處理器通過第一通信線連接所述綜測儀，所述應(yīng)用處理器產(chǎn)生測試指令，并通過所述第一通信線將所述測試指令發(fā)送給所述綜測儀；
所述基帶處理器與所述應(yīng)用處理器連接，所述基帶處理器接收所述應(yīng)用處理器發(fā)送的射頻控制指令，所述射頻控制指令用于控制所述基帶處理器收發(fā)射頻信號；
所述基帶處理器通過射頻線連接所述綜測儀，所述基帶處理器與所述綜測儀之間通過所述射頻線傳輸射頻信號，進行射頻電路測試；
所述移動終端主板存儲射頻電路測試得到的測試數(shù)據(jù)。
12.一種移動終端，其特征在于，包括：
處理器；
用于存儲處理器可執(zhí)行指令的存儲器；
其中，所述處理器被配置為：
產(chǎn)生測試指令，并將所述測試指令發(fā)送給綜測儀；
向所述移動終端內(nèi)的基帶處理器發(fā)送射頻控制指令，所述射頻控制指令用于控制所述基帶處理器收發(fā)射頻信號；
與所述綜測儀之間傳輸射頻信號，進行射頻電路測試，并存儲測試數(shù)據(jù)。