本發(fā)明涉及無(wú)線通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種噪聲檢測(cè)系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

現(xiàn)在生活中配置了無(wú)線網(wǎng)絡(luò)功能的智能無(wú)線終端產(chǎn)品越來(lái)越多，給人們的生活提供了便利。同時(shí)我們對(duì)智能無(wú)線終端產(chǎn)品的無(wú)線接收性能提出了更高的要求，希望產(chǎn)品傳輸速率快、吞吐量高、傳輸距離遠(yuǎn)及靈敏度高。所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品在與其他通訊設(shè)備通信時(shí)是通過(guò)天線到天線的形式進(jìn)行信號(hào)的傳輸，在信號(hào)傳輸過(guò)程中所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品會(huì)接收到本身產(chǎn)生的近場(chǎng)的通信噪聲。現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)智能無(wú)線終端產(chǎn)品在不同頻段的近場(chǎng)的通信噪聲檢測(cè)通過(guò)連接無(wú)線通信綜合測(cè)試儀以及高性能頻譜分析儀后，分別在不同的頻段測(cè)量所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品的通信噪聲。此種方式存在檢測(cè)效率低，耗費(fèi)人力的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種噪聲檢測(cè)系統(tǒng)及方法，可以方便地檢測(cè)智能無(wú)線終端產(chǎn)品工作在不同頻段時(shí)的噪聲信號(hào)。

一種噪聲檢測(cè)方法，應(yīng)用于電子裝置中，該電子裝置通過(guò)無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀與智能無(wú)線終端產(chǎn)品連接，該方法包括：提供一高性能頻譜分析儀與一射頻開(kāi)關(guān)，其中，高性能頻譜分析儀用于連接電子裝置與射頻開(kāi)關(guān)，射頻開(kāi)關(guān)用于提供多個(gè)測(cè)試通路于智能無(wú)線終端產(chǎn)品；接收步驟，接收用戶輸入的測(cè)試模式信息；控制步驟一，根據(jù)所 述測(cè)試模式控制所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品進(jìn)行通信；控制步驟二，根據(jù)所述測(cè)試模式導(dǎo)通所述射頻開(kāi)關(guān)與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品之間的測(cè)試通路；以及反饋步驟，接收所述高性能頻譜分析儀反饋的當(dāng)前測(cè)試通路下的噪聲信號(hào)。

一種噪聲檢測(cè)系統(tǒng)，包括電子裝置、無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀與智能無(wú)線終端產(chǎn)品，該系統(tǒng)還包括：一高性能頻譜分析儀及一射頻開(kāi)關(guān)，其中，所述高性能頻譜分析儀用于連接所述電子裝置與射頻開(kāi)關(guān)，所述射頻開(kāi)關(guān)用于提供多個(gè)測(cè)試通路于所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品；所述電子裝置，用于接收用戶輸入的測(cè)試模式信息；所述電子裝置，還用于根據(jù)所述測(cè)試模式控制所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品進(jìn)行通信；所述電子裝置，還用于根據(jù)所述測(cè)試模式導(dǎo)通所述射頻開(kāi)關(guān)與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品之間的測(cè)試通路；以及所述電子裝置，還用于接收所述高性能頻譜分析儀反饋的當(dāng)前測(cè)試通路下的噪聲信號(hào)。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的噪聲檢測(cè)系統(tǒng)及方法，可以通過(guò)電子裝置接收用戶輸入的測(cè)試模式，并根據(jù)所述測(cè)試模式來(lái)測(cè)試所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品工作在不同頻段下的噪聲信號(hào)，提高噪聲檢測(cè)效率。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明噪聲檢測(cè)系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境示意圖。

圖2是本發(fā)明噪聲檢測(cè)方法的較佳實(shí)施例的流程圖。

主要元件符號(hào)說(shuō)明

電子裝置 1

噪聲檢測(cè)系統(tǒng) 10

顯示屏 11

輸入設(shè)備 12

存儲(chǔ)器 13

處理器 14

無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀 2

智能無(wú)線終端產(chǎn)品 3

路由器 4

高性能頻譜分析儀 5

驅(qū)動(dòng)器 6

射頻開(kāi)關(guān) 7

如下具體實(shí)施方式將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明。

具體實(shí)施方式

參閱圖1所示，是本發(fā)明噪聲檢測(cè)系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境示意圖。在本實(shí)施例中，所述噪聲檢測(cè)系統(tǒng)10包括，但不僅限于，電子裝置1、無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2、智能無(wú)線終端產(chǎn)品3、路由器4、高性能頻譜分析儀5、驅(qū)動(dòng)器6及射頻開(kāi)關(guān)7。

在本實(shí)施例中，所述電子裝置1通過(guò)無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2與智能無(wú)線終端產(chǎn)品3連接，所述電子裝置1還通過(guò)路由器4與高性能頻譜分析儀5和驅(qū)動(dòng)器6連接，所述高性能頻譜分析儀5和驅(qū)動(dòng)器6通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)7與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3連接。所述射頻開(kāi)關(guān)7可以與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3實(shí)現(xiàn)多路連接，從而可以檢測(cè)所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3工作在不同頻段時(shí)產(chǎn)生的噪聲。所述電子裝置1還與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3連接，用于發(fā)出控制信號(hào)以控制所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3的測(cè)試模式。

在本實(shí)施例中，所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3還與電源(圖中未示出)連接，所述電源用于給所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3供電。

在本實(shí)施例中，所述電子裝置1通過(guò)通用串行總線(Universal Serial Bus，USB)與無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2的通用接口總線(General Purpose Interface Bus，GPIB)端口連接。所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2通過(guò)GPIB線纜與電源連接。所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2還通過(guò)射頻線纜與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3連接。所述電子裝置1通過(guò)網(wǎng)絡(luò)線纜與路由器4連接，所述路由器4又通過(guò)網(wǎng)絡(luò)線纜與所述高性能頻譜分析儀5和所述驅(qū)動(dòng)器6連接。所述高性能頻譜分析儀5通過(guò)射頻線纜與所述射頻開(kāi)關(guān)7連接，所述射頻開(kāi)關(guān)7又通過(guò)射頻線纜與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3連接。所述驅(qū)動(dòng)器6通過(guò)控制線纜與所述射頻開(kāi)關(guān)7連接。所述電子裝置1通過(guò)USB線與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3連接。

在本實(shí)施例中，所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2用于模擬所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3和基站或者路由器4之間的無(wú)線通信。所述高性能頻譜分析儀5用于測(cè)量所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3與所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2通過(guò)不同地?zé)o線通信模式通信時(shí)的噪聲信息。所述驅(qū)動(dòng)器6用于驅(qū)動(dòng)所述射頻開(kāi)關(guān)7，驅(qū)動(dòng)器6的好壞是影響射頻開(kāi)關(guān)7速度的主要因素之一。在本實(shí)施例中，所述驅(qū)動(dòng)器6為射頻開(kāi)關(guān)驅(qū)動(dòng)器。所述射頻開(kāi)關(guān)7用于控制射頻信號(hào)傳輸路徑及信號(hào)大小。在本實(shí)施例中，所述射頻開(kāi)關(guān)7為射頻同軸開(kāi)關(guān)。

在本實(shí)施例中，所述電子裝置1包括，但不限于，顯示屏11、輸入設(shè)備12、存儲(chǔ)器13及處理器14。上述各個(gè)元件之間電氣連接。在本實(shí)施例中，所述顯示屏11可以是液晶(Liquid Crystal Display，LCD)顯示屏或有機(jī)發(fā)光二極管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)顯示屏。所述輸入設(shè)備12可以是鼠標(biāo)、鍵盤(pán)等。在本實(shí)施例中，所述的電子裝置1可以是計(jì)算機(jī)、平板電腦、個(gè)人數(shù)字助理及筆記型電腦等裝置。

所述存儲(chǔ)器13可以是電子裝置1本身的內(nèi)存，也可以是安全數(shù)字卡、智能媒體卡等外部存儲(chǔ)設(shè)備。所述存儲(chǔ)器13中存儲(chǔ)有程序代碼及數(shù)據(jù)。所述處理器14可以為中央處理單元(Central Processing Unit,CPU)，微處理器或其他數(shù)據(jù)處理芯片，該處理器14用于執(zhí)行軟件程序代碼或運(yùn)算數(shù)據(jù)。

所述噪聲檢測(cè)系統(tǒng)10用于接收用戶輸入的測(cè)試模式，根據(jù)所述測(cè)試模式來(lái)測(cè)試所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3在不同測(cè)試模式下的噪聲信號(hào)，并將所述噪聲信號(hào)反饋至所述電子裝置1的顯示屏11，提高噪聲檢測(cè)效率，具體過(guò)程參見(jiàn)圖2的描述。

參閱圖2所示，是本發(fā)明噪聲檢測(cè)方法較佳實(shí)施例的流程圖。根據(jù)不同需求，該流程圖中步驟的順序可以改變，某些步驟可以省略或合并。

步驟S01，所述電子裝置1的處理器14接收用戶輸入的測(cè)試模式信息。

在本實(shí)施例中，所述處理器14通過(guò)所述輸入設(shè)備2接收用戶輸入的測(cè)試模式信息。所述測(cè)試模式為測(cè)試所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3通過(guò)不同頻段與其他設(shè)備進(jìn)行無(wú)線通信的模式。例如，所述測(cè)試模式包括，但不僅限于，所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3通過(guò)Wi-Fi與其他設(shè)備進(jìn)行無(wú)線通信的模式，所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3通過(guò)BT與其他設(shè)備進(jìn)行無(wú)線通信的模式，所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3通過(guò)3G與其他設(shè)備進(jìn)行無(wú)線通信的模式，所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3通過(guò)LTE與其他設(shè)備進(jìn)行無(wú)線通信的模式，所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3通過(guò)Zigbee與其他設(shè)備進(jìn)行無(wú)線通信的模式。

步驟S02，所述處理器14根據(jù)所述測(cè)試模式控制所述無(wú)線通訊綜合測(cè)試儀2與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3進(jìn)行通信。

步驟S03，所述處理器14根據(jù)所述測(cè)試模式導(dǎo)通所述射頻開(kāi)關(guān)7與所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3之間的測(cè)試通路。在本實(shí)施例中，所述處理器14發(fā)送控制信號(hào)至驅(qū)動(dòng)器6，所述驅(qū)動(dòng)器6驅(qū)動(dòng)所述射頻開(kāi)關(guān)7導(dǎo)通所述測(cè)試通路。所述測(cè)試模式與所述射頻開(kāi)關(guān)7和所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3之間的測(cè)試通路存在對(duì)應(yīng)關(guān)系。

步驟S04，所述處理器14接收所述高性能頻譜分析儀5反饋的當(dāng)前測(cè)試通路下的噪聲信號(hào)。在本實(shí)施例中，通過(guò)所述高性能頻譜分 析儀5測(cè)試所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3在當(dāng)前測(cè)試通路下測(cè)試的噪聲信號(hào)，并通過(guò)所述處理器14反饋至電子裝置1的顯示屏11。

通過(guò)以上步驟S01至步驟S04，可以通過(guò)電子裝置1接收用戶輸入的測(cè)試模式，并根據(jù)所述測(cè)試模式來(lái)測(cè)試所述智能無(wú)線終端產(chǎn)品3在不同頻段下的噪聲信號(hào)，提高噪聲檢測(cè)效率。

最后所應(yīng)說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照以上較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換都不應(yīng)脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。