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      一種WiFi指紋室內(nèi)定位方法與流程

      文檔序號:12380408閱讀:642來源:國知局
      本發(fā)明涉及一種定位方法,具體地說,是涉及一種WiFi指紋室內(nèi)定位方法。
      背景技術(shù)
      :針對室內(nèi)定位系統(tǒng)的研究,已經(jīng)有典型的室內(nèi)定位系統(tǒng)如RADAT系統(tǒng)、HORUS系統(tǒng)、LANDMARC系統(tǒng)等。RADAR室內(nèi)定位系統(tǒng)是基于RSSI(ReceivedSignalStrengthIndication)室內(nèi)傳播模型的方法,通過分析室內(nèi)采樣點與RSSI的相關(guān)性,引入墻壁帶來的衰減,并通過線性回歸的方法估計出衰減因子,用于補償室內(nèi)傳播損耗模型。通過這個補償模型,計算RSSI接收器與發(fā)射器之間的角度,結(jié)合三角定位算法定位出接收器的位置。HORUS無線定位系統(tǒng),包括分簇模塊、離散空間估計模塊、相關(guān)及處理模塊、連續(xù)空間估計器。HORUS系統(tǒng)具有高于RADAR系統(tǒng)的定位精度,但是由于結(jié)構(gòu)復(fù)雜,處理模塊較多,定位系統(tǒng)的計算復(fù)雜度較大。LANDMARC定位系統(tǒng)是基于主動RFID校驗的動態(tài)定位識別系統(tǒng),它采用定位參考標簽來輔助定位,這些參考標簽充當系統(tǒng)的定位參考點。目前的WiFi指紋定位算法有兩大階段,數(shù)據(jù)庫建立和定位階段。在位置估計過程中,現(xiàn)在使用的最近鄰算法,將實測指紋與指紋庫中相似度最大的指紋作為定位結(jié)果,算法比較簡單,但是由于參考的位置單一,沒有排除無關(guān)項的干擾,存在很多的噪音,會對位置指紋的匹配造成極大誤差影響。技術(shù)實現(xiàn)要素:本發(fā)明為了解決現(xiàn)有WiFi指紋室內(nèi)定位使用的最近鄰算法,將實測指紋與指紋庫中相似度最大的指紋作為定位結(jié)果,算法比較簡單,但是由于參考的位置單一,沒有排除無關(guān)項的干擾,存在很多的噪音,會對位置指紋的匹配造成極大誤差影響的問題,提出了一種WiFi指紋室內(nèi)定位方法,可以解決上述問題。為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案予以實現(xiàn):一種WiFi指紋室內(nèi)定位方法,包括以下步驟:離線處理步驟,包括:(11)、劃定定位區(qū)域,并且在定位區(qū)域內(nèi)布設(shè)n個WiFi發(fā)射裝置,在所述定位區(qū)域內(nèi)選定L個采樣點,計算各采樣點所接收到的所述n個WiFi發(fā)射裝置發(fā)射信號的強度RSSI,在每個采樣點可以觀測到n個RSSI值(rssi1,rssi2,...,rssin),并將該n個RSSI值作為該采樣點的指紋,采樣點的位置坐標為(x,y),每一個指紋與其采樣點的位置一一對應(yīng),建立所述L個采樣點的位置指紋庫LFDB:LFDB=x1,y1,rssi11,rssi12,...,rssi1nx2,y2,rssi21,rssi22,...,rssi2n......xL,yL,rssiL1,rssiL2,...,rssiLnL×(n+2);]]>(12)、將所述位置指紋庫LFDB進行k-mean聚類,以歐式距離作為相似度的評價準則,指紋庫劃分為具有k個子類的指紋庫KFp,其中,n,L,k均為正整數(shù);在線定位步驟,包括:(21)、將實測指紋lf=(rssi1,rssi2,…,rssin)與聚類之后的指紋庫KFp進行匹配,計算lf與每個類中心的距離,記為DIS=[d1,d2,…,dk];(22)、尋找DIS中最小值所對應(yīng)的類,記為GSPECIAL;(23)、計算實測指紋lf與GSPECIAL中的每個指紋的距離,記為其中p表示GSPECIAL中的指紋的個數(shù),為正整數(shù);(24)、將DIS中的數(shù)據(jù)按照從小到大的順序排列,取前m個值,并將所述m個值對應(yīng)的指紋選定作為參考指紋,其對應(yīng)的位置坐標作為參考坐標;(25)、計算每個參考指紋的權(quán)重系數(shù)ωi(i=1,2,…,m);(26)、根據(jù)各參考指紋的權(quán)重系數(shù)及參考坐標計算實測指紋的位置坐標(xestimate,yestimate)。進一步的,步驟(12)中,將指紋庫進行k-mean聚類包括以下步驟:(121)、輸入L個指紋和聚類個數(shù)k(0<k≤L),從L個指紋中任意選擇k個指紋作為初始的聚類中心(122)、對于剩下的L-k個指紋,計算每個指紋到每個聚類中心的距離Distance={duvu=1,2,…,(L-k);v=1,2,…,k},其中duv表示剩下的L-k個指紋中第u個指紋到第v個聚類中心的距離,找到Distance中的最小值,將第u個指紋分類到Distance中的最小值所對應(yīng)的聚類中,得到新的聚類結(jié)果,將剩下的指紋分配完成,形成k個聚類G1,G2,…,Gv,…Gk,每個聚類Gv都包含其聚類中心,和屬于該類的指紋成員及其個數(shù)nv;(123)、重新計算每個類的聚類中心,得到新的聚類中心(124)、將新的聚類中心與前一次的聚類中心做比較,若兩者相同,即相鄰兩次的聚類中心相同,即分類趨于穩(wěn)定,聚類結(jié)束,當前G1,G2,…,Gv,…Gk代表了最終形成的聚類,否則令C=C*,即更新類中心,返回步驟(122),繼續(xù)執(zhí)行聚類過程。進一步的,步驟(123)中,根據(jù)公式重新計算每個類的聚類中心,其中rssiq表示Gv類中的第q個RSSI值,其中,0<q<nv。進一步的,步驟(25)中,權(quán)重系數(shù)的計算與指紋庫的指紋相關(guān),通過對相似度最大的m個指紋進行相關(guān)運算,計算每個指紋的貢獻程度,并把這個貢獻程度映射到對應(yīng)的位置信息,進行位置的估算:假設(shè)與實測指紋相似度最大的指紋空間Fp*有m個指紋:Fp*=rssi11,rssi12,...,rssi1nrssi21,rssi22,...,rssi2n...rssim1,rssim2,...,rssimnm×n]]>計算Fp*中每個指紋的權(quán)重系數(shù)ωi,將Fp*進行轉(zhuǎn)置(Tp*)T;分別計算每個參考點指紋的均值和標準差:rssii‾=1nΣa=1nrssiia]]>si=1n-1Σa=1n(rssiia-rssii‾)2]]>其中,i=1,2,…,m,令則權(quán)重系數(shù)為ωi=υi/Σi=1nυi.]]>進一步的,步驟(26)中,實測指紋的位置坐標為:xestimate=Σi=1mωixi]]>yestimate=Σi=1mωiyi;]]>其中,xi,yi為第i個參考指紋的參考坐標。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的優(yōu)點和積極效果是:本發(fā)明用k-mean算法對數(shù)據(jù)離線采樣階段采集的RSSI值進行聚類,剔除粗大偏差的RSSI信息,利用剩下的相對準備的RSSI組建新的指紋庫,降低指紋匹配過程的計算量;在在線定位階段,使用了分治處理的方法,對實際位置進行逐步排除,從而減少數(shù)據(jù)的篩選量,同時將測試范圍縮小。采用實測指紋與指紋庫匹配的思想,對最近鄰算法進行改進,加入信號衰減模型,對數(shù)據(jù)進行加權(quán)處理,這樣在對未知位置進行估算,減小了定位誤差。結(jié)合附圖閱讀本發(fā)明實施方式的詳細描述后,本發(fā)明的其他特點和優(yōu)點將變得更加清楚。附圖說明為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本發(fā)明所提出的WiFi指紋室內(nèi)定位方法的一種實施例流程圖。具體實施方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。實施例一,本實施例提出了一種WiFi指紋室內(nèi)定位方法,如圖1所示,包括以下步驟:離線處理步驟,包括:S11、劃定定位區(qū)域,并且在定位區(qū)域內(nèi)布設(shè)n個WiFi發(fā)射裝置,在所述定位區(qū)域內(nèi)選定L個采樣點,計算各采樣點所接收到的所述n個WiFi發(fā)射裝置發(fā)射信號的強度RSSI,在每個采樣點可以觀測到n個RSSI值(rssi1,rssi2,...,rssin),并將該n個RSSI值作為該采樣點的指紋,采樣點的位置坐標為(x,y),每一個指紋與其采樣點的位置一一對應(yīng),建立所述L個采樣點的位置指紋庫LFDB:LFDB=x1,y1,rssi11,rssi12,...,rssi1nx2,y2,rssi21,rssi22,...,rssi2n......xL,yL,rssiL1,rssiL2,...,rssiLnL×(n+2);]]>S12、將所述位置指紋庫LFDB進行k-mean聚類,以歐式距離作為相似度的評價準則,指紋庫劃分為具有k個子類的指紋庫KFp,其中,n,L,k均為正整數(shù);用k-mean算法對數(shù)據(jù)離線采樣階段采集的RSSI值進行聚類,剔除粗大偏差的RSSI信息,利用剩下的相對準備的RSSI組建新的指紋庫,降低指紋匹配過程的計算量;在線定位步驟,包括:S21、將實測指紋lf=(rssi1,rssi2,…,rssin)與聚類之后的指紋庫KFp進行匹配,計算lf與每個類中心的距離,記為DIS=[d1,d2,…,dk];S22、尋找DIS中最小值所對應(yīng)的類,記為GSPECIAL;S23、計算實測指紋lf與GSPECIAL中的每個指紋的距離,記為其中p表示GSPECIAL中的指紋的個數(shù),為正整數(shù);S24、將DIS中的數(shù)據(jù)按照從小到大的順序排列,取前m個值,并將所述m個值對應(yīng)的指紋選定作為參考指紋,其對應(yīng)的位置坐標作為參考坐標;S25、計算每個參考指紋的權(quán)重系數(shù)ωi(i=1,2,…,m);S26、根據(jù)各參考指紋的權(quán)重系數(shù)及參考坐標計算實測指紋的位置坐標(xestimate,yestimate)。在在線定位階段,使用了分治處理的方法,對實際位置進行逐步排除,從而減少數(shù)據(jù)的篩選量,同時將測試范圍縮小。采用實測指紋與指紋庫匹配的思想,對最近鄰算法進行改進,加入信號衰減模型,對數(shù)據(jù)進行加權(quán)處理,這樣在對未知位置進行估算,減小了定位誤差。作為一個優(yōu)選的實施例,步驟S12中,將指紋庫進行k-mean聚類包括以下步驟:S121、輸入L個指紋和聚類個數(shù)k(0<k≤L),從L個指紋中任意選擇k個指紋作為初始的聚類中心S122、對于剩下的L-k個指紋,計算每個指紋到每個聚類中心的距離Distance={duvu=1,2,…,(L-k);v=1,2,…,k},其中duv表示剩下的L-k個指紋中第u個指紋到第v個聚類中心的距離,找到Distance中的最小值,將第u個指紋分類到Distance中的最小值所對應(yīng)的聚類中,得到新的聚類結(jié)果,將剩下的指紋分配完成,形成k個聚類G1,G2,…,Gv,…Gk,每個聚類Gv都包含其聚類中心,和屬于該類的指紋成員及其個數(shù)nv;S123、重新計算每個類的聚類中心,得到新的聚類中心S124、將新的聚類中心與前一次的聚類中心做比較,若兩者相同,即相鄰兩次的聚類中心相同,即分類趨于穩(wěn)定,聚類結(jié)束,當前G1,G2,…,Gv,…Gk代表了最終形成的聚類,否則令C=C*,即更新類中心,返回步驟S122,繼續(xù)執(zhí)行聚類過程。步驟S123中,根據(jù)公式重新計算每個類的聚類中心,其中rssiq表示Gv類中的第q個RSSI值,其中,0<q<nv。由于初始計算時是任意選擇k個指紋作為初始的聚類中心,當計算進行后按照歐式距離作為相似度的評價準則,距相似的指紋聚集在一個子類,距離較大的指紋彼此遠離,子類里面的數(shù)據(jù)發(fā)生了變化,因此聚類中心相應(yīng)發(fā)生變化,為了提高精度,應(yīng)相適應(yīng)的重新計算每個類的聚類中心。步驟S25中,權(quán)重系數(shù)的計算與指紋庫的指紋相關(guān),通過對相似度最大的m個指紋進行相關(guān)運算,計算每個指紋的貢獻程度,并把這個貢獻程度映射到對應(yīng)的位置信息,進行位置的估算:假設(shè)與實測指紋相似度最大的指紋空間Fp*有m個指紋:Fp*=rssi11,rssi12,...,rssi1nrssi21,rssi22,...,rssi2n...rssim1,rssim2,...,rssimnm×n]]>計算Fp*中每個指紋的權(quán)重系數(shù)ωi,將Fp*進行轉(zhuǎn)置(Tp*)T;分別計算每個參考點指紋的均值和標準差:rssii‾=1nΣa=1nrssiia]]>si=1n-1Σa=1n(rssiia-rssii‾)2]]>其中,i=1,2,…,m,令則權(quán)重系數(shù)為ωi=υi/Σi=1nυi.]]>本申請中權(quán)重系數(shù)的選擇是與指紋庫的指紋相關(guān)的,是通過對相似度最大的k個指紋進行相關(guān)的運算,計算每個指紋的貢獻程度,并把這個貢獻程度映射到對應(yīng)的位置信息,進行位置的估算。步驟S26中,實測指紋的位置坐標為:xestimate=Σi=1mωixi]]>yestimate=Σi=1mωiyi;]]>其中,xi,yi為第i個參考指紋的參考坐標。當然,上述說明并非是對本發(fā)明的限制,本發(fā)明也并不僅限于上述舉例,本
      技術(shù)領(lǐng)域
      的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的實質(zhì)范圍內(nèi)所做出的變化、改型、添加或替換,也應(yīng)屬于本發(fā)明的保護范圍。當前第1頁1 2 3 
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