本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光傳送網(wǎng)(Optical Transport Network，OTN)業(yè)務(wù)測試方法、終端及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

OTN系統(tǒng)中涉及多種業(yè)務(wù)類型，包括同步數(shù)字體系(Synchronous Digital Hierarchy，SDH)，如同步傳輸模塊(Synchronous Transfer Module)1、STM4、STM16等多種顆粒度，以及通用電氣(General Electric，GE)等業(yè)務(wù)類型。

在進(jìn)行OTN業(yè)務(wù)接入測試時(shí)，一般都對(duì)其中某一路SDH或者GE業(yè)務(wù)進(jìn)行誤碼性能驗(yàn)證，并且不同業(yè)務(wù)類型會(huì)復(fù)用到不同的光通路數(shù)據(jù)單元(Optical channel Data Unit，ODU)中，涉及到不同的交叉組合，只測試其中一路或者幾路并不能代表所有通路的誤碼性能均正常，所以在嚴(yán)格測試要求下應(yīng)該是所有的業(yè)務(wù)類型均需要驗(yàn)證，并且還需要考慮不同業(yè)務(wù)類型復(fù)用到不同時(shí)隙的情況。

為此，現(xiàn)有技術(shù)通常采用如圖1所示的OTN業(yè)務(wù)測試環(huán)境進(jìn)行測試。然而，由于該測試方法需要對(duì)被測設(shè)備101的每個(gè)支路接口連接數(shù)據(jù)測試儀102，使得測試復(fù)雜成本高，而且因?yàn)槭侨斯な謩?dòng)操作數(shù)據(jù)測試儀發(fā)包進(jìn)行測試，所以需要大量的時(shí)間，從而影響整體工作效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例的目的是提供一種OTN業(yè)務(wù)測試方法、終端及系統(tǒng)，用于提高OTN業(yè)務(wù)測試效率和效果。

本發(fā)明實(shí)施例的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：

一種光傳送網(wǎng)OTN業(yè)務(wù)測試方法，應(yīng)用于由一個(gè)測試終端、一個(gè)第一被測設(shè)備、M個(gè)第二被測設(shè)備、一個(gè)數(shù)據(jù)測試儀以及OTN網(wǎng)絡(luò)所構(gòu)成的測試架構(gòu)中；其中，所述第一被測設(shè)備、各所述第二被測設(shè)備和所述數(shù)據(jù)測試儀均與所述測試終端建立連接；所述第一被測設(shè)備與所述第二被測設(shè)備分別設(shè)置于OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)，以通過OTN網(wǎng)絡(luò)交互OTN業(yè)務(wù)；所述數(shù)據(jù)測試儀與所述M個(gè)第二被測設(shè)備連接；該方法由所述測試終端執(zhí)行，包括：

從預(yù)先設(shè)置的多種OTN業(yè)務(wù)類型中選擇一種未被測試的業(yè)務(wù)類型，作為當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型；

確定當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型中，所述第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)所述第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；

遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的光通路數(shù)據(jù)單元ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制所述數(shù)據(jù)測試儀和所述第一被測設(shè)備和所述第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

較佳地，該方法還包括：

所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，檢測雙向測試通道的物理連接是否正常；

如果檢測到物理連接異常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，并確定停止對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試，以及其它未被測試的業(yè)務(wù)類型的傳輸測試；

如果檢測到物理連接正常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位，并確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未被測試的業(yè)務(wù)類型在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

較佳地，遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制所述數(shù)據(jù)測試儀和所述第一被測設(shè)備和所述第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試之前，該方法還包括：

檢測雙向測試通道的物理連接是否正常；

如果檢測到物理連接異常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，并確定停止所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型以及其它未被測試的業(yè)務(wù)類型的傳輸測試；

如果檢測到物理連接正常，則遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制所述數(shù)據(jù)測試儀和所述第一被測設(shè)備和所述第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位。

較佳地，所述進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，包括：

檢測各支路接口在業(yè)務(wù)流傳輸過程中的收發(fā)光狀態(tài)；如果支路接口的收發(fā)光狀態(tài)正常，則確定該支路接口的物理連接正常；如果支路接口的收發(fā)光狀態(tài)異常，則確定該支路接口的物理連接異常。

較佳地，所述進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位，包括：

按照所述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序?qū)條雙向鏈路分成K組，其中，K為不大于N的正整數(shù)；

從第1組開始檢測，將當(dāng)前參與檢測的組的各條雙向鏈路按照所述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向檢測通道，并控制所述數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，檢測傳輸是否出現(xiàn)異常；

如果檢測到傳輸正常，當(dāng)已檢測組數(shù)小于K時(shí)，則基于當(dāng)前參與檢測的組按所述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序增加1組雙向鏈路，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于K時(shí)，停止檢測；

如果檢測到傳輸異常，則將當(dāng)前參與檢測的組中序號(hào)最大的一組雙向鏈路中，每條雙向鏈路與順序在前的所有雙向鏈路按照所述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向檢測通道，并控制所述數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，直到檢測到異常的雙向鏈路；當(dāng)已檢測組數(shù)小于K時(shí)，從異常的雙向鏈路所在組的下一組開始，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于K時(shí)，停止檢測。

較佳地，所述第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)所述第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道，包括：

一個(gè)所述第一被測設(shè)備和M個(gè)所述第二被測設(shè)備分別與OTN網(wǎng)絡(luò)連接；

所述第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口，按照順序每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，M個(gè)所述第二被測設(shè)備的N個(gè)支路接口，按照與所述第一被測設(shè)備相同的順序，從第二個(gè)支路接口開始，每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，最后一個(gè)支路接口自環(huán)，第一個(gè)支路接口與所述數(shù)據(jù)測試儀連接。

較佳地，N＝8n；M＝1；遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制所述數(shù)據(jù)測試儀和所述第一被測設(shè)備和所述第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試，包括：

控制所述數(shù)據(jù)測試儀發(fā)送所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流，控制所述第一被測設(shè)備與M個(gè)所述第二被測設(shè)備在OTN網(wǎng)絡(luò)兩側(cè)分別進(jìn)行如下操作：

如果所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為同步傳輸模塊STM1、STM4或者通用電氣GE，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行一次第一傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將每8個(gè)ODU0跨級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；以及至少進(jìn)行一次第二傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將每2個(gè)ODU0逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU1中封裝，再將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；

如果所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM16，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行一次第三傳送操作：將N個(gè)支路接口中的N/2個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N/2個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；以及至少進(jìn)行一次第四傳送操作：將N個(gè)支路接口中的其余N/2個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N/2個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)。

較佳地，N＝8n；1＜M≤N；遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制所述數(shù)據(jù)測試儀和所述第一被測設(shè)備和所述第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試，包括：

控制所述數(shù)據(jù)測試儀發(fā)送所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流，控制所述第一被測設(shè)備和M個(gè)所述第二被測設(shè)備在OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)分別進(jìn)行如下操作：

如果所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM1、STM4或者GE，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行M次第五傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將各ODU0跨級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第五傳送操作遍歷M個(gè)所述第二被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU0；以及進(jìn)行至少M(fèi)次第六傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將每2個(gè)ODU0逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU1中封裝，各OUD1信號(hào)逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第六傳送操作遍歷M個(gè)所述第二被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU1；

如果所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM16，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行M次第七傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)，每4個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到同一被測設(shè)備的4個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將各ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第七傳送操作遍歷M個(gè)所述第二被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU1。

較佳地，預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式中，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系包括正序、倒序和隨機(jī)其中的一種或者兩種以上映射關(guān)系。

較佳地，如果當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系為正序映射關(guān)系；

該方法還包括：所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

一種OTN業(yè)務(wù)的測試終端，應(yīng)用于由所述測試終端，一個(gè)第一被測設(shè)備、M個(gè)第二被測設(shè)備、一個(gè)數(shù)據(jù)測試儀以及OTN網(wǎng)絡(luò)所構(gòu)成的測試架構(gòu)中；其中，所述第一被測設(shè)備、各所述第二被測設(shè)備和所述數(shù)據(jù)測試儀均與所述測試終端建立連接；所述第一被測設(shè)備與所述第二被測設(shè)備分別設(shè)置于OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)，以通過OTN網(wǎng)絡(luò)交互OTN業(yè)務(wù)；所述數(shù)據(jù)測試儀與所述M個(gè)第二被測設(shè)備連接；該測試終端包括：

目標(biāo)業(yè)務(wù)類型確定模塊，用于：從預(yù)先設(shè)置的多種OTN業(yè)務(wù)類型中選擇一種未被測試的業(yè)務(wù)類型，作為當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型；

物理連接確定模塊，用于：確定當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型中，所述第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)所述第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；

測試模塊，用于：遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制所述數(shù)據(jù)測試儀和所述第一被測設(shè)備和所述第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

較佳地，所述測試模塊還用于：

所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，檢測雙向測試通道的物理連接是否正常；

如果檢測到物理連接異常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，并確定停止對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試，以及其它未被測試的業(yè)務(wù)類型的傳輸測試；

如果檢測到物理連接正常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位，并確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未被測試的業(yè)務(wù)類型在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

較佳地，所述測試模塊還用于：

檢測雙向測試通道的物理連接是否正常；

如果檢測到物理連接異常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，并確定停止所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型以及其它未被測試的業(yè)務(wù)類型的傳輸測試；

如果檢測到物理連接正常，則遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制所述數(shù)據(jù)測試儀和所述第一被測設(shè)備和所述第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位。

較佳地，所述測試模塊具體用于：

檢測各支路接口在業(yè)務(wù)流傳輸過程中的收發(fā)光狀態(tài)；如果支路接口的收發(fā)光狀態(tài)正常，則確定該支路接口的物理連接正常；如果支路接口的收發(fā)光狀態(tài)異常，則確定該支路接口的物理連接異常。

較佳地，所述測試模塊具體用于：

按照所述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序?qū)條雙向鏈路分成k組，其中，k為不大于N的正整數(shù)；

從第1組開始檢測，將當(dāng)前參與檢測的組的各條雙向鏈路按照所述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向檢測通道，并控制所述數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，檢測傳輸是否出現(xiàn)異常；

如果檢測到傳輸正常，當(dāng)已檢測組數(shù)小于k時(shí)，則基于當(dāng)前參與檢測的組按所述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序增加1組雙向鏈路，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于k時(shí)，停止檢測；

如果檢測到傳輸異常，則將當(dāng)前參與檢測的組中序號(hào)最大的一組雙向鏈路中，每條雙向鏈路與順序在前的所有雙向鏈路按照所述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向檢測通道，并控制所述數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，直到檢測到異常的雙向鏈路；當(dāng)已檢測組數(shù)小于k時(shí)，從異常的雙向鏈路所在組的下一組開始，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于k時(shí)，停止檢測。

較佳地，所述第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)所述第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路串聯(lián)形成一條自環(huán)的雙向測試通道，包括：

一個(gè)所述第一被測設(shè)備和M個(gè)所述第二被測設(shè)備分別與OTN網(wǎng)絡(luò)連接；

所述第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口，按照順序每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，M個(gè)所述第二被測設(shè)備的N個(gè)支路接口，按照與所述第一被測設(shè)備相同的順序，從第二個(gè)支路接口開始，每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，最后一個(gè)支路接口自環(huán)，第一個(gè)支路接口與所述數(shù)據(jù)測試儀連接。

較佳地，預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式中，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系包括正序、倒序和隨機(jī)其中的一種或者兩種以上映射關(guān)系。

較佳地，如果當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的關(guān)系為正序映射關(guān)系；

所述測試模塊還用于：所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

一種OTN業(yè)務(wù)測試系統(tǒng)，包括一個(gè)測試終端、一個(gè)第一被測設(shè)備、M個(gè)第二被測設(shè)備、一個(gè)數(shù)據(jù)測試儀以及OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，所述第一被測設(shè)備、各所述第二被測設(shè)備和所述數(shù)據(jù)測試儀均與所述測試終端建立連接；所述第一被測設(shè)備與所述第二被測設(shè)備分別設(shè)置于OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)，以通過OTN網(wǎng)絡(luò)交互OTN業(yè)務(wù)測試；所述數(shù)據(jù)測試儀與所述M個(gè)第二被測設(shè)備連接；

所述測試終端，用于從預(yù)先設(shè)置的多種OTN業(yè)務(wù)類型中選擇一種未被測試的業(yè)務(wù)類型，作為當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型；確定當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型中，所述第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與所述M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制所述數(shù)據(jù)測試儀、所述第一被測設(shè)備和所述第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；

所述第一被測設(shè)備，用于：提供N個(gè)支路接口，與所述M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；在所述測試終端的控制下，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；

所述M個(gè)第二被測設(shè)備，用于：提供N個(gè)支路接口，與所述第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；在所述測試終端的控制下，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；

所述數(shù)據(jù)測試儀，用于在所述測試終端的控制下發(fā)送業(yè)務(wù)流。

本發(fā)明實(shí)施例的有益效果如下：

本發(fā)明實(shí)施例提供的OTN業(yè)務(wù)測試方法、終端及系統(tǒng)中，對(duì)于選擇的未被測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型，將相應(yīng)的各鏈路串聯(lián)形成自環(huán)的雙向測試通道，智能控制數(shù)據(jù)測試儀、第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下進(jìn)行傳輸測試，這樣，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)各鏈路在不同的業(yè)務(wù)類型、在不同的ODU時(shí)隙映射及復(fù)用情況下進(jìn)行的業(yè)務(wù)傳輸同時(shí)覆蓋測試，確定OTN系統(tǒng)的穩(wěn)定和時(shí)延情況，提高了測試效率和測試效果。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的一種OTN業(yè)務(wù)測試環(huán)境示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種OTN業(yè)務(wù)測試方法流程圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種OTN業(yè)務(wù)測試架構(gòu)示意圖之一；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種OTN業(yè)務(wù)測試架構(gòu)示意圖之二；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的光交叉處理裝置定位異常的接口連接示意圖之一；

圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的光交叉處理裝置定位異常的接口連接示意圖之二；

圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的光交叉處理裝置定位異常的接口連接示意圖之三；

圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種OTN業(yè)務(wù)測試架構(gòu)示意圖之三；

圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種OTN業(yè)務(wù)測試架構(gòu)示意圖之四；

圖10為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種OTN業(yè)務(wù)的測試終端示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明提供的一種OTN業(yè)務(wù)測試方法、終端及系統(tǒng)進(jìn)行更詳細(xì)地說明。

本發(fā)明實(shí)施例提供一種OTN業(yè)務(wù)測試方法，應(yīng)用于由一個(gè)測試終端、一個(gè)第一被測設(shè)備、M個(gè)第二被測設(shè)備、一個(gè)數(shù)據(jù)測試儀以及OTN網(wǎng)絡(luò)所構(gòu)成的測試架構(gòu)中；其中，第一被測設(shè)備、各第二被測設(shè)備和數(shù)據(jù)測試儀均與測試終端建立連接；第一被測設(shè)備與第二被測設(shè)備分別設(shè)置于OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)，以通過OTN網(wǎng)絡(luò)交互OTN業(yè)務(wù)；數(shù)據(jù)測試儀與M個(gè)第二被測設(shè)備連接。其中，該方法由測試終端執(zhí)行，如圖2所示，該方法至少包括如下步驟210～步驟230。

步驟210、從預(yù)先設(shè)置的多種OTN業(yè)務(wù)類型中選擇一種未被測試的業(yè)務(wù)類型，作為當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型。

其中，多種OTN業(yè)務(wù)類型至少包括：STM1、STM4、STM16以及GE業(yè)務(wù)類型。

步驟220、確定當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型中，第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道。

其中，N，M均為正整數(shù)。

其中，一條雙向鏈路是由第一被測設(shè)備的一個(gè)支路接口與第二被測設(shè)備中對(duì)應(yīng)的一個(gè)支路接口形成的鏈路，業(yè)務(wù)流從第一被測設(shè)備的支路接口發(fā)送，由該鏈路中第二被測設(shè)備的支路接口接收，并且業(yè)務(wù)流從第二被測設(shè)備的支路接口發(fā)送，由該鏈路中第一被測設(shè)備的支路接口接收。

步驟230、遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀、第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。該測試過程，可具體包括：控制數(shù)據(jù)測試儀向雙向測試通道發(fā)送目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流，并在業(yè)務(wù)流在雙向測試通道傳輸?shù)倪^程中控制各被測設(shè)備將傳輸至本被測設(shè)備上的支路接口的業(yè)務(wù)流按照當(dāng)前所遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式通過ODU進(jìn)行傳送。

在OTN系統(tǒng)中，以O(shè)DU傳送業(yè)務(wù)流，包括ODU0，ODU1，ODU2，定義的ODU0的容量是1.25Gb/s，ODU1的容量是2.5Gb/s，ODU2的容量是10Gb/s，2個(gè)ODU0可以逐級(jí)復(fù)用1個(gè)ODU1，4個(gè)ODU1可以逐級(jí)復(fù)用1個(gè)OUD2，8個(gè)ODU0可以跨級(jí)復(fù)用1個(gè)ODU2。

其中，ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式是指，對(duì)各支路接口的業(yè)務(wù)傳送時(shí)所采用的ODU，相應(yīng)的時(shí)隙，ODU復(fù)用方式。

本發(fā)明實(shí)施例中，對(duì)于選擇的未被測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型，將相應(yīng)的各鏈路串聯(lián)形成自環(huán)的雙向測試通道，智能控制數(shù)據(jù)測試儀、第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下進(jìn)行傳輸測試，這樣，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)各鏈路在不同的業(yè)務(wù)類型、在不同的ODU時(shí)隙映射及復(fù)用情況下進(jìn)行的業(yè)務(wù)傳輸同時(shí)覆蓋測試，確定OTN系統(tǒng)的穩(wěn)定和時(shí)延情況，提高了測試效率和測試效果。

具體實(shí)施時(shí)，較佳地，本發(fā)明實(shí)施例提供的方法還包括：目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，檢測雙向測試通道的物理連接是否正常；

如果檢測到物理連接異常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，并確定停止對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試，以及其它未被測試的業(yè)務(wù)類型的傳輸測試；

如果檢測到物理連接正常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位，并確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未被測試的業(yè)務(wù)類型在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

本實(shí)施例的方案中，不僅能夠準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)異常定位，而且可以實(shí)時(shí)的基于前面測試過程的測試結(jié)果，動(dòng)態(tài)地調(diào)整后續(xù)的測試流程，減少部分不必要的測試操作，在不影響測試效果的前提下大大提高了測試效率。

以上實(shí)施例的方案中，在測試過程中出現(xiàn)異常后，再進(jìn)行物理連接的檢測，當(dāng)然，也可以是先檢測物理連接，基于此，相應(yīng)的，上述步驟230，遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀、第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試之前，本發(fā)明實(shí)施例提供的方法還包括：

檢測雙向測試通道的物理連接是否正常；

如果檢測到物理連接異常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，并確定停止目標(biāo)業(yè)務(wù)類型以及其它未被測試的業(yè)務(wù)類型的傳輸測試；

如果檢測到物理連接正常，則遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀、第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位。

以上相關(guān)實(shí)施例中，較佳地，進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，具體實(shí)現(xiàn)方式可以是：檢測各支路接口在業(yè)務(wù)流傳輸過程中的收發(fā)光狀態(tài)；如果支路接口的收發(fā)光狀態(tài)正常，則確定該支路接口的物理連接正常；如果支路接口的收發(fā)光狀態(tài)異常，則確定該支路接口的物理連接異常。

由于被測設(shè)備在通過支路接口發(fā)送或者接收業(yè)務(wù)流的過程中，會(huì)記錄收發(fā)光狀態(tài)，因此，以上檢測各支路接口在業(yè)務(wù)流傳輸過程中的收發(fā)光狀態(tài)，具體實(shí)現(xiàn)方式可以是：獲取第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備記錄的各支路接口的收發(fā)光狀態(tài)，根據(jù)獲取的各支路接口的收發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行檢測。

需要說明的是，以上相關(guān)實(shí)施例中，如果是先檢測物理連接，則需要單獨(dú)發(fā)送業(yè)務(wù)流對(duì)各支路接口的收發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行檢測。

本發(fā)明實(shí)施例中，只是列舉了其中一種物理連接異常的定位的方式，也可以采用其它的方式，此處不再一一列舉。

以上相關(guān)實(shí)施例中，較佳地，進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位，具體實(shí)現(xiàn)方式可以是：

按照上述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序?qū)條雙向鏈路分成K組，其中，K為不大于N的正整數(shù)；

從第1組開始檢測，將當(dāng)前參與檢測的組的各條雙向鏈路按照上述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向檢測通道，并控制數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，檢測傳輸是否出現(xiàn)異常；

如果檢測到傳輸正常，當(dāng)已檢測組數(shù)小于K時(shí)，則基于當(dāng)前參與檢測的組按預(yù)設(shè)串聯(lián)順序增加1組雙向鏈路，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于K時(shí)，停止檢測；

如果檢測到傳輸異常，則將當(dāng)前參與檢測的組中序號(hào)最大的一組雙向鏈路中，每條雙向鏈路與順序在前的所有雙向鏈路按照上述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向檢測通道，并控制數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，直到檢測到異常的雙向鏈路；當(dāng)已檢測組數(shù)小于K時(shí)，從異常的雙向鏈路所在組的下一組開始，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于K時(shí)，停止檢測。

本實(shí)施例的方案中，可以進(jìn)一步快速定位出異常的鏈路，提高測試效率。實(shí)施中，也可以采用其它的方式進(jìn)行異常鏈路的定位。

具體實(shí)施時(shí)，較佳地，上述步驟220中，第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道，具體實(shí)現(xiàn)方式可以是：

一個(gè)第一被測設(shè)備和M個(gè)第二被測設(shè)備分別與OTN網(wǎng)絡(luò)連接；

第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口，按照順序每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，M個(gè)第二被測設(shè)備的N個(gè)支路接口，按照與第一被測設(shè)備相同的順序，從第二個(gè)支路接口開始，每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，最后一個(gè)支路接口自環(huán)，第一個(gè)支路接口與數(shù)據(jù)測試儀連接。本實(shí)施例中，列舉了其中一種物理連接方式，也可以采用其它的物理連接方式實(shí)現(xiàn)自環(huán)的雙向測試通道。

本發(fā)明實(shí)施例的方案，可以應(yīng)用于點(diǎn)對(duì)點(diǎn)(即一個(gè)第一被測設(shè)備對(duì)應(yīng)一個(gè)第二被測設(shè)備)的場景，也可以應(yīng)用于點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)(即一個(gè)第一被測設(shè)備對(duì)應(yīng)多個(gè)第二被測設(shè)備)的場景。下面基于以上列舉的實(shí)現(xiàn)自環(huán)的雙向測試通道的物理連接方式，分別對(duì)這兩種場景進(jìn)行舉例說明。

一、如圖3所示，第一被測設(shè)備(Device under test，DUT)301對(duì)應(yīng)M＝1個(gè)第二被測設(shè)備302，物理連接情況是：測試終端300分別與第一被測設(shè)備301、第二被測設(shè)備302、數(shù)據(jù)測試儀303電連接；第一被測設(shè)備DUT1中的N個(gè)支路接口，按照順序每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第二被測設(shè)備DUT2中的N個(gè)支路接口，按照與DUT1相同的順序，從第二個(gè)支路接口開始，每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，最后一個(gè)支路接口自環(huán)，第一個(gè)支路接口與數(shù)據(jù)測試儀303連接，形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路串聯(lián)形成一條自環(huán)的雙向測試通道。本實(shí)施例中，DUT2中的N個(gè)支路接口是通過設(shè)置的光交叉處理裝置304進(jìn)行連接的，DUT2的所有的支路接口與光交叉處理裝置304分別互連，然后，光交叉處理裝置304將N個(gè)支路接口進(jìn)行連接。本發(fā)明實(shí)施例中，光交叉處理裝置用于調(diào)整光纖的連接方式，可以實(shí)現(xiàn)與其連接的被測設(shè)備的支路接口的自環(huán)、支路接口之間的串聯(lián)及任意支路接口與數(shù)據(jù)測試儀的連接。其中，光交叉處理裝置304與測試終端300電連接。

一般，被測設(shè)備中的支路接口的數(shù)量N＝8n，n為正整數(shù)；遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀和第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試，具體實(shí)現(xiàn)方式可以是：控制數(shù)據(jù)測試儀發(fā)送目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流，控制第一被測設(shè)備與M個(gè)第二被測設(shè)備在OTN網(wǎng)絡(luò)兩側(cè)分別進(jìn)行如下操作：

如果目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM1、STM4或者GE，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行一次第一傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將每8個(gè)ODU0跨級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；以及至少進(jìn)行一次第二傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將每2個(gè)ODU0逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU1中封裝，再將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；

如果目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM16，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行一次第三傳送操作：將N個(gè)支路接口中的N/2個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N/2個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；以及至少進(jìn)行一次第四傳送操作：將N個(gè)支路接口中的其余N/2個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N/2個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)。

二、如圖4所示，第一被測設(shè)備對(duì)應(yīng)1＜M≤N個(gè)第二被測設(shè)備，物理連接情況是：測試終端300分別與第一被測設(shè)備301、第二被測設(shè)備302、數(shù)據(jù)測試儀303電連接；第一被測設(shè)備DUT1的N個(gè)支路接口中，按照順序每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第二被測設(shè)備DUT2～DUTM+1中的N個(gè)支路接口中，按照與DUT1相同的順序，從第二個(gè)支路接口開始，每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，最后一個(gè)支路接口自環(huán)，第一個(gè)支路接口與數(shù)據(jù)測試儀303連接，形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路串聯(lián)形成一條自環(huán)的雙向測試通道。本實(shí)施例中，M個(gè)第二被測設(shè)備的支路接口的連接同樣通過光交叉處理裝置304實(shí)現(xiàn)，DUT2～DUTM+1所有的支路接口分別與光交叉處理裝置互連，然后，光交叉處理裝置304將其中的N個(gè)支路接口進(jìn)行連接。其中，光交叉處理裝置304與測試終端300電連接。

一般，被測設(shè)備中的支路接口的數(shù)量N＝8n，n為正整數(shù)；遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀和第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試，具體實(shí)現(xiàn)方式可以是：

控制數(shù)據(jù)測試儀發(fā)送目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流，控制第一被測設(shè)備和M個(gè)第二被測設(shè)備在OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)分別進(jìn)行如下操作：

如果目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM1、STM4或者GE，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行M次第五傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將各ODU0跨級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第五傳送操作遍歷M個(gè)被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU0；以及至少進(jìn)行至少M(fèi)次第六傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將每2個(gè)ODU0逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU1中封裝，各OUD1信號(hào)逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第六傳送操作遍歷M個(gè)第二被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU1；

如果目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM16，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行M次第七傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)，每4個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到同一被測設(shè)備的4個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將各ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第七傳送操作遍歷M個(gè)第二被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU1。

本實(shí)施例中，由于STM1、STM4，GE可以利用相同的ODU的顆粒度，因而可以采用相同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式進(jìn)行測試。

以上相關(guān)實(shí)施例中，進(jìn)行一次傳送操作，也就是完成了一種預(yù)設(shè)的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。在實(shí)施中，對(duì)于每個(gè)支路接口來說，每種ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下，所覆蓋的時(shí)隙都是不同的，設(shè)置的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式種類越多，當(dāng)然測試覆蓋越全面，但是會(huì)影響測試效率，為了提高測試效率，可以選擇具有代表性的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式進(jìn)行測試，只要能夠覆蓋各個(gè)時(shí)隙即可。本發(fā)明實(shí)施例中，預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式中，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系包括正序、倒序和隨機(jī)其中的一種或者兩種以上映射關(guān)系。對(duì)于N個(gè)支路接口、N個(gè)時(shí)隙的ODUk來說；正序映射關(guān)系是指支路接口i與時(shí)隙i的ODUk映射，i＝1，2，……，N；倒序映射關(guān)系是指支路接口i與時(shí)隙N-i+1的ODUk映射，i＝1，2，……，N；隨機(jī)映射關(guān)系是指，支路接口i與任意時(shí)隙j的ODUk映射，i＝1，2，……，N，j＝1，2，……，N。其中，k的取值可以是0，1，2。

為了進(jìn)一步提高測試效率，較佳地，如果當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系為正序映射關(guān)系；本發(fā)明實(shí)施例提供的方法還包括：目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。如果預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式中，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系至少包括正序、倒序和隨機(jī)三種映射關(guān)系，則本實(shí)施例中，其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式至少包括倒序映射關(guān)系和隨機(jī)映射關(guān)系對(duì)應(yīng)的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式。

較佳地，基于圖3的測試架構(gòu)，進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位，具體的實(shí)現(xiàn)方式可以是：按照上述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序?qū)條雙向鏈路分成N/2組，每組2條雙向鏈路，從第1組開始檢測，將當(dāng)前參與檢測的組的最后一條雙向鏈路對(duì)應(yīng)的第二被測設(shè)備的支路接口自環(huán)，以將參與檢測的組的各條雙向鏈路按照上述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成自環(huán)的雙向檢測通道，并控制數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，檢測傳輸是否出現(xiàn)異常。如果檢測到傳輸正常，當(dāng)已檢測組數(shù)小于N/2時(shí)，則基于當(dāng)前參與檢測的組，按上述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序增加2條雙向鏈路，繼續(xù)進(jìn)行檢測；如果檢測到傳輸異常，則對(duì)當(dāng)前參與檢測的組中序號(hào)最大的一組雙向鏈路中，第奇數(shù)條雙向鏈路對(duì)應(yīng)的第一被測設(shè)備的支路接口自環(huán)并進(jìn)行檢測，第偶數(shù)條雙向鏈路對(duì)應(yīng)的第二被測設(shè)備的支路接口自環(huán)并進(jìn)行檢測，直到檢測到異常的雙向鏈路；當(dāng)已檢測組數(shù)小于N/2時(shí)，將下一組雙向鏈路中順序在前的一條雙向鏈路對(duì)應(yīng)的第二被測設(shè)備的支路接口與數(shù)據(jù)測試儀直連，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于N/2時(shí)，停止檢測。

對(duì)于第二被測設(shè)備的支路接口自環(huán)，可以結(jié)合上述光交叉處理裝置實(shí)現(xiàn)，例如，圖5所示，將第2個(gè)支路接口自環(huán)，這樣，實(shí)現(xiàn)了第1～2條雙向鏈路串聯(lián)，以形成自環(huán)的雙向檢測通道，如圖6中，將第4個(gè)支路接口自環(huán)，這樣，實(shí)現(xiàn)了第1～4條雙向鏈路串聯(lián)，以形成自環(huán)的雙向檢測通道。另外，如圖7所示，如果檢測到第1組中第2條雙向鏈路異常，則將第2組雙向鏈路中的第3條雙向鏈路對(duì)應(yīng)的第二被測設(shè)備的支路端口更改為與數(shù)據(jù)測試儀303直連的支路接口。

下面以N＝8為例，對(duì)以上方案進(jìn)行舉例說明。

本實(shí)施例中，1個(gè)第一被測設(shè)備對(duì)應(yīng)1個(gè)第二被測設(shè)備，假設(shè)被測設(shè)備包括：8個(gè)支路接口；8個(gè)不同的時(shí)隙的ODU0，即ODU0-j(j＝1，2，……，8)；4個(gè)OUD1，即ODU1-m(m＝1，2，3，4)；1個(gè)ODU2，即ODU2-1，對(duì)于STM1、STM4和GE業(yè)務(wù)類型來說，均可以按照表1所示的四種ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式進(jìn)行測試，該表中，包括正序、倒序、隨機(jī)三組支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系、ODU跨級(jí)復(fù)用關(guān)系，需要進(jìn)行三次第一傳送操作，以及包括一組支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系、ODU逐級(jí)復(fù)用關(guān)系，需要進(jìn)行一次第二傳送操作。

表1

其中，支路接口1～8分別與時(shí)隙1～8的ODU0一一映射，為正序映射，支路接口1～8分別與時(shí)隙8，7，……，2，1的ODU0一一映射，為倒序映射。支路接口1～8與任意時(shí)隙的ODU0映射，為隨機(jī)映射，最好與正序映射和倒序映射完全不同。以表1中的正序映射為例對(duì)傳送操作進(jìn)行說明，8個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)分別封裝到8個(gè)不同時(shí)隙的ODU0-1～ODU0～8中，然后將ODU0-1～ODU0-8跨級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2發(fā)送至OTN網(wǎng)絡(luò)即可。本實(shí)施例中，配置了四組支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射、ODU逐級(jí)/跨級(jí)復(fù)用關(guān)系，也可以配置更多的支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系、ODU逐級(jí)/跨級(jí)復(fù)用關(guān)系，測試覆蓋更加全面。

對(duì)于STM16業(yè)務(wù)類型來說，所需顆粒度較大，支路接口需要直接通過ODU1進(jìn)行傳送，只需要將四個(gè)支路接口進(jìn)行連接即可，因此，將8個(gè)支路接口分兩組進(jìn)行測試，可以分別按照表2所示的三種ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式和表3所示的三種ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式進(jìn)行測試，表2中，前4個(gè)支路接口處于激活狀態(tài)，后4個(gè)支路接口處于空閑狀態(tài)(Not applicable，N/A)，包括正序、倒序、隨機(jī)三組支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系、ODU跨級(jí)復(fù)用關(guān)系，需要進(jìn)行三次第三傳送操作，表3中，前4個(gè)支路接口處于空閑狀態(tài)，后4個(gè)支路接口處于激活狀態(tài)，包括正序、倒序、隨機(jī)三組支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系、ODU逐級(jí)復(fù)用關(guān)系，需要進(jìn)行三次第四傳送操作。

表2

表3

基于此，測試終端進(jìn)行自動(dòng)測試的過程如下：

步驟一、從預(yù)先設(shè)置的多種OTN業(yè)務(wù)類型中選擇一種未被測試的類型，作為當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型。

步驟二、確定第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照上述預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道。

具體的，測試STM1、STM4或者GE業(yè)務(wù)類型時(shí)，參照表1進(jìn)行傳送測試，如圖8所示，OTN網(wǎng)路的一側(cè)，將DUT1的8個(gè)支路接口，第1個(gè)支路接口1和第2個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第3個(gè)支路接口和第4個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第5個(gè)支路接口和第6個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第7個(gè)支路接口和第8個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，OTN網(wǎng)路的另一側(cè)，DUT2的8個(gè)支路接口，第2個(gè)支路接口和第3個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第4個(gè)支路接口和第5個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第6個(gè)支路接口和第7個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第8個(gè)支路接口自環(huán)，第1個(gè)支路接口與數(shù)據(jù)測試儀303，形成8條雙向鏈路，該8條雙向鏈路串聯(lián)形成一條自環(huán)的雙向測試通道。測試STM16業(yè)務(wù)類型時(shí)，參照表2進(jìn)行傳送測試，需要將DUT1的前4個(gè)支路接口進(jìn)行連接，同樣將DUT2的前4個(gè)支路接口進(jìn)行連接并連接數(shù)據(jù)測試儀303，形成4條雙向鏈路，該4條雙向鏈路串聯(lián)形成一條自環(huán)的雙向測試通道；參照表3進(jìn)行傳送測試，需要將DUT1的后4個(gè)支路接口進(jìn)行連接，同樣將DUT2的后4個(gè)支路接口進(jìn)行連接，形成4條雙向鏈路，該4條雙向鏈路串聯(lián)形成一條自環(huán)的雙向測試通道。

步驟三、檢測雙向測試通道的物理連接是否正常。對(duì)各支路接口的收發(fā)光狀態(tài)進(jìn)行檢測，通過該檢測結(jié)果，確定在本次所遍歷到的支路接口是否異常。如果檢測到物理連接正常，執(zhí)行步驟四；如果檢測出異常，執(zhí)行步驟五。

步驟四、遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀向雙向測試通道發(fā)送目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流，并控制第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下通過ODU進(jìn)行傳送。

具體的，測試STM1、STM4或者GE業(yè)務(wù)類型時(shí)，依次遍歷表1所示的四種ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式。

測試STM16業(yè)務(wù)類型時(shí)，參照表2進(jìn)行傳送測試，依次遍歷表2所示的三種ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，參照表3進(jìn)行傳送測試，依次遍歷表3所示的三種ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式。

其中，利用數(shù)據(jù)測試儀303向所連接的DUT2的支路接口1發(fā)送業(yè)務(wù)流時(shí)，以STM1、STM4和GE業(yè)務(wù)類型為例，業(yè)務(wù)流依次發(fā)送到DUT2的支路接口1-DUT1的支路接口1，再通過線纜連接發(fā)送到DUT1的支路接口2-DUT2的支路接口2，依次類推，直至發(fā)送到DUT2的支路接口8，支路接口8自環(huán)，業(yè)務(wù)流重新反向發(fā)送到數(shù)據(jù)測試儀303接收側(cè)。

步驟五、輸出測試報(bào)告。

步驟六、根據(jù)測試報(bào)告判斷測試結(jié)果是否正常；

如果正常，判斷是否全部測試完畢，如果是，停止測試；否則，按照步驟四對(duì)預(yù)先設(shè)置的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式進(jìn)行下一次遍歷。

如果不正常，停止測試，執(zhí)行步驟七、進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位，并確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未被測試的業(yè)務(wù)類型在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。具體的定位方式可以參照以上相關(guān)實(shí)施例。

對(duì)于一種業(yè)務(wù)類型異常時(shí)跳出測試，輸出報(bào)告后需繼續(xù)執(zhí)行其他未被測試的業(yè)務(wù)類型的測試。

在測試過程中，對(duì)于某些異常情況按照如下方式進(jìn)行處理：

如果測試以上正序映射關(guān)系異常，確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

本實(shí)施例中，1個(gè)第一被測設(shè)備(中心設(shè)備)對(duì)應(yīng)2個(gè)第二被測設(shè)備。假設(shè)被測設(shè)備包括：8個(gè)支路接口；8個(gè)不同的時(shí)隙的ODU0，即ODU0-j(j＝1，2，……，8)；4個(gè)OUD1，即ODU1-m(m＝1，2，3，4)；1個(gè)ODU2，即ODU2-1。

如圖9所示，DUT1與DUT2通過線纜Line1連接到OTN網(wǎng)絡(luò)，DUT1與DUT3通過線纜Line2連接到OTN網(wǎng)絡(luò)，在OTN網(wǎng)絡(luò)的一側(cè)，DUT1的8個(gè)支路接口中，第1個(gè)支路接口和第2個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第3個(gè)支路接口和第4個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第5個(gè)支路接口和第6個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第7個(gè)支路接口和第8個(gè)支路接口雙向串聯(lián)；在OTN網(wǎng)絡(luò)的另一側(cè)，由DUT2的前4個(gè)支路接口和DUT3的后4個(gè)支路接口組成8個(gè)支路接口，其中，第2個(gè)支路接口1和第3個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第4個(gè)支路接口和第5個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第6個(gè)支路接口和第7個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，第1個(gè)支路接口與數(shù)據(jù)測試儀303連接，第8個(gè)支路接口自環(huán)，形成8條雙向鏈路，該8條雙向鏈路串聯(lián)形成了一條自環(huán)的雙向測試通道?；蛘?，在OTN網(wǎng)絡(luò)的另一側(cè)，由DUT2的后4個(gè)支路接口和DUT3的前4個(gè)支路接口組成8個(gè)支路接口。

對(duì)于STM1、STM4和GE業(yè)務(wù)類型來說，均可以按照表4所示的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式進(jìn)行測試，該表中，包括正序、倒序、隨機(jī)三組支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系、ODU跨級(jí)復(fù)用關(guān)系，需要進(jìn)行三次第五傳送操作，以及包括支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系、ODU逐級(jí)復(fù)用關(guān)系，需要進(jìn)行一次第六傳送操作。

表4

對(duì)于STM16業(yè)務(wù)類型來說，可以按照表5所示的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式進(jìn)行測試，包括正序、倒序、隨機(jī)三組支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系、ODU跨級(jí)復(fù)用關(guān)系，需要進(jìn)行三次第七傳送操作。

表5

基于此，測試終端對(duì)于一種業(yè)務(wù)類型進(jìn)行自動(dòng)測試的過程可參照以上實(shí)施例。

其中，測試STM1、STM4或者GE業(yè)務(wù)類型時(shí)，參照表4進(jìn)行測試，在OTN網(wǎng)絡(luò)的一側(cè)，需要將DUT1的8個(gè)支路接口連接，在OTN網(wǎng)絡(luò)的另一側(cè)，DUT2的前4個(gè)支路接口和DUT3的后4個(gè)支路接口連接并連接數(shù)據(jù)測試儀，或者DUT2的后4個(gè)支路接口和DUT3的前4個(gè)支路接口連接并連接數(shù)據(jù)測試儀，形成8條雙向鏈路，該8條雙向鏈路串聯(lián)形成一條自環(huán)的雙向測試通道。測試STM16業(yè)務(wù)類型時(shí)，參照表5進(jìn)行傳送操作，需要將DUT1的8個(gè)支路接口進(jìn)行連接，同樣將DUT2的前4個(gè)支路接口與DUT3的后4個(gè)支路接口進(jìn)行連接并連接數(shù)據(jù)測試儀，形成8條雙向鏈路，該8條雙向鏈路串聯(lián)形成一條自環(huán)的雙向測試通道。

如果將DUT1的8個(gè)支路接口連接，DUT2的前4個(gè)支路接口和DUT3的后4個(gè)支路接口連接并連接數(shù)據(jù)測試儀，數(shù)據(jù)測試儀發(fā)送的業(yè)務(wù)流依次發(fā)送到DUT2支路接口1-DUT1支路接口1，再通過線纜連接發(fā)送到DUT1支路接口2-DUT2支路接口2，依次類推，直至發(fā)送到DUT2支路接口4，通過線纜達(dá)到DUT3支路接口5-DUT2支路接口5，依次類推，直到DUT3支路接口8，支路接口8自環(huán)，業(yè)務(wù)流重新反向發(fā)送到數(shù)據(jù)測試儀303接收側(cè)。

本發(fā)明實(shí)施例中，測試終端按照以上方案進(jìn)行自動(dòng)測試，并可以將以上測試方式封裝成腳本，每次測試時(shí)，直接調(diào)用腳本，根據(jù)腳本對(duì)第一被測設(shè)備、第二被測設(shè)備、數(shù)據(jù)測試儀、光交叉處理裝置進(jìn)行調(diào)用和配置即可。

基于同樣的發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種OTN業(yè)務(wù)的測試終端，應(yīng)用于由測試終端，一個(gè)第一被測設(shè)備、M個(gè)第二被測設(shè)備、一個(gè)數(shù)據(jù)測試儀以及OTN網(wǎng)絡(luò)所構(gòu)成的測試架構(gòu)中；其中，第一被測設(shè)備、各第二被測設(shè)備和數(shù)據(jù)測試儀均與測試終端建立連接；第一被測設(shè)備與第二被測設(shè)備分別設(shè)置于OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)，以通過OTN網(wǎng)絡(luò)交互OTN業(yè)務(wù)；數(shù)據(jù)測試儀與M個(gè)第二被測設(shè)備連接；如圖10所示，該測試終端包括：

目標(biāo)業(yè)務(wù)類型確定模塊1001，用于：從預(yù)先設(shè)置的多種OTN業(yè)務(wù)類型中選擇一種未被測試的業(yè)務(wù)類型，作為當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型；

物理連接確定模塊1002，用于：確定當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型中，第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；

測試模塊1003，用于：遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀和第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

較佳地，測試模塊還用于：

目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，檢測雙向測試通道的物理連接是否正常；

如果檢測到物理連接異常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，并確定停止對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試，以及其它未被測試的業(yè)務(wù)類型的傳輸測試；

如果檢測到物理連接正常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位，并確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未被測試的業(yè)務(wù)類型在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

較佳地，測試模塊還用于：

檢測雙向測試通道的物理連接是否正常；

如果檢測到物理連接異常，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各支路接口的物理連接異常的定位，并確定停止目標(biāo)業(yè)務(wù)類型以及其它未被測試的業(yè)務(wù)類型的傳輸測試；

如果檢測到物理連接正常，則遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀和第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，則進(jìn)行構(gòu)建雙向測試通道的各條雙向鏈路的ODU傳輸錯(cuò)誤定位。

較佳地，測試模塊具體用于：

檢測各支路接口在業(yè)務(wù)流傳輸過程中的收發(fā)光狀態(tài)；如果支路接口的收發(fā)光狀態(tài)正常，則確定該支路接口的物理連接正常；如果支路接口的收發(fā)光狀態(tài)異常，則確定該支路接口的物理連接異常。

較佳地，測試模塊具體用于：

按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序?qū)條雙向鏈路分成k組，其中，k為不大于N的正整數(shù)；

從第1組開始檢測，將當(dāng)前參與檢測的組的各條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向檢測通道，并控制數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，檢測傳輸是否出現(xiàn)異常；

如果檢測到傳輸正常，當(dāng)已檢測組數(shù)小于k時(shí)，則基于當(dāng)前參與檢測的組按預(yù)設(shè)串聯(lián)順序增加1組雙向鏈路，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于k時(shí)，停止檢測；

如果檢測到傳輸異常，則將當(dāng)前參與檢測的組中序號(hào)最大的一組雙向鏈路中，每條雙向鏈路與順序在前的所有雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向檢測通道，并控制數(shù)據(jù)測試儀向該雙向檢測通道發(fā)送業(yè)務(wù)流，直到檢測到異常的雙向鏈路；當(dāng)已檢測組數(shù)小于k時(shí)，從異常的雙向鏈路所在組的下一組開始，繼續(xù)進(jìn)行檢測；當(dāng)已檢測組數(shù)等于k時(shí)，停止檢測。

較佳地，第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道，包括：

一個(gè)第一被測設(shè)備和M個(gè)第二被測設(shè)備分別與OTN網(wǎng)絡(luò)連接；

第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口，按照順序每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，M個(gè)第二被測設(shè)備的N個(gè)支路接口，按照與第一被測設(shè)備相同的順序，從第二個(gè)支路接口開始，每兩個(gè)支路接口為一組，每組中兩個(gè)支路接口雙向串聯(lián)，最后一個(gè)支路接口自環(huán)，第一個(gè)支路接口與數(shù)據(jù)測試儀連接。

較佳地，N＝8n；M＝1；測試模塊，具體用于：

控制數(shù)據(jù)測試儀發(fā)送目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流，控制第一被測設(shè)備與M個(gè)第二被測設(shè)備在OTN網(wǎng)絡(luò)兩側(cè)分別進(jìn)行如下操作：

如果目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM1、STM4或者GE，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行一次第一傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同的時(shí)隙的ODU0中，然后，將每8個(gè)ODU0跨級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；以及至少進(jìn)行一次第二傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將每2個(gè)ODU0逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU1中封裝，再將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；

如果目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM16，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行一次第三傳送操作：將N個(gè)支路接口中的N/2個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N/2個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；以及至少進(jìn)行一次第四傳送操作：將N個(gè)支路接口中的其余N/2個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N/2個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將每4個(gè)ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)。

較佳地，N＝8n；1＜M≤N；測試模塊，具體用于：

控制數(shù)據(jù)測試儀發(fā)送目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流，控制第一被測設(shè)備和M個(gè)第二被測設(shè)備在OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)分別進(jìn)行如下操作：

如果目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM1、STM4或者GE，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行M次第五傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將各ODU0跨級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第五傳送操作遍歷M個(gè)第二被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU0；以及進(jìn)行至少M(fèi)次第六傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到N個(gè)不同時(shí)隙的ODU0中，然后，將每2個(gè)ODU0逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU1中封裝，各OUD1信號(hào)逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第六傳送操作遍歷M個(gè)第二被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU1；

如果目標(biāo)業(yè)務(wù)類型為STM16，按照支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的不同的映射關(guān)系進(jìn)行不同次的傳送操作，其中，至少進(jìn)行M次第七傳送操作：將N個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)，每4個(gè)支路接口的業(yè)務(wù)先分別封裝到同一被測設(shè)備的4個(gè)不同時(shí)隙的ODU1中，然后，將各ODU1逐級(jí)復(fù)用到1個(gè)ODU2中封裝，將該ODU2傳送至OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，該M次第七傳送操作遍歷M個(gè)第二被測設(shè)備的所有時(shí)隙的ODU1。

較佳地，預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式中，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的映射關(guān)系包括正序、倒序和隨機(jī)其中的一種或者兩種以上映射關(guān)系。

較佳地，如果當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下，支路接口的順序與ODU時(shí)隙的順序的關(guān)系為正序映射關(guān)系；

測試模塊還用于：目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下傳輸出現(xiàn)異常后，確定不再對(duì)雙向測試通道進(jìn)行其它未遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試。

基于同樣的發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種OTN業(yè)務(wù)測試系統(tǒng)，包括一個(gè)測試終端、一個(gè)第一被測設(shè)備、M個(gè)第二被測設(shè)備、一個(gè)數(shù)據(jù)測試儀以及OTN網(wǎng)絡(luò)；其中，第一被測設(shè)備、各第二被測設(shè)備和數(shù)據(jù)測試儀均與測試終端建立連接；第一被測設(shè)備與第二被測設(shè)備分別設(shè)置于OTN網(wǎng)絡(luò)的兩側(cè)，以通過OTN網(wǎng)絡(luò)交互OTN業(yè)務(wù)測試；數(shù)據(jù)測試儀與M個(gè)第二被測設(shè)備連接；

測試終端，用于從預(yù)先設(shè)置的多種OTN業(yè)務(wù)類型中選擇一種未被測試的業(yè)務(wù)類型，作為當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型；確定當(dāng)前測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型中，第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口與M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；遍歷預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式，控制數(shù)據(jù)測試儀和第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；

第一被測設(shè)備，用于：提供N個(gè)支路接口，與M個(gè)第二被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；在測試終端的控制下，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；

M個(gè)第二被測設(shè)備，用于：提供N個(gè)支路接口，與第一被測設(shè)備中的N個(gè)支路接口通過OTN網(wǎng)絡(luò)一一對(duì)應(yīng)形成N條雙向鏈路，該N條雙向鏈路按照預(yù)設(shè)串聯(lián)順序形成一條自環(huán)的雙向測試通道；在測試終端的控制下，對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在當(dāng)前遍歷到的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下的傳輸測試；

數(shù)據(jù)測試儀，用于在測試終端的控制下發(fā)送業(yè)務(wù)流。

本發(fā)明實(shí)施例所提供的OTN測試系統(tǒng)具體可參見以上相關(guān)實(shí)施例示例的測試架構(gòu)。

本發(fā)明實(shí)施例提供的OTN業(yè)務(wù)測試方法、終端及系統(tǒng)中，對(duì)于選擇的未被測試的目標(biāo)業(yè)務(wù)類型，將相應(yīng)的各鏈路串聯(lián)形成自環(huán)的雙向測試通道，智能控制數(shù)據(jù)測試儀、第一被測設(shè)備和第二被測設(shè)備對(duì)雙向測試通道進(jìn)行目標(biāo)業(yè)務(wù)類型的業(yè)務(wù)流在預(yù)先設(shè)置的各種不同的ODU時(shí)隙映射和復(fù)用方式下進(jìn)行傳輸測試，這樣，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)各鏈路在不同的業(yè)務(wù)類型、在不同的ODU時(shí)隙映射及復(fù)用情況下進(jìn)行的業(yè)務(wù)傳輸同時(shí)覆蓋測試，確定OTN系統(tǒng)的穩(wěn)定和時(shí)延情況，提高了測試效率和測試效果。

本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明的實(shí)施例可提供為方法、系統(tǒng)、或計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。因此，本發(fā)明可采用完全硬件實(shí)施例、完全軟件實(shí)施例、或結(jié)合軟件和硬件方面的實(shí)施例的形式。而且，本發(fā)明可采用在一個(gè)或多個(gè)其中包含有計(jì)算機(jī)可用程序代碼的計(jì)算機(jī)可用存儲(chǔ)介質(zhì)(包括但不限于磁盤存儲(chǔ)器、CD-ROM、光學(xué)存儲(chǔ)器等)上實(shí)施的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的形式。

本發(fā)明是參照根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的方法、設(shè)備(系統(tǒng))、和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的流程圖和/或方框圖來描述的。應(yīng)理解可由計(jì)算機(jī)程序指令實(shí)現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結(jié)合?？商峁┻@些計(jì)算機(jī)程序指令到通用計(jì)算機(jī)、專用計(jì)算機(jī)、嵌入式處理機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器以產(chǎn)生一個(gè)機(jī)器，使得通過計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的裝置。

這些計(jì)算機(jī)程序指令也可存儲(chǔ)在能引導(dǎo)計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備以特定方式工作的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中，使得存儲(chǔ)在該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中的指令產(chǎn)生包括指令裝置的制造品，該指令裝置實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能。

這些計(jì)算機(jī)程序指令也可裝載到計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備上，使得在計(jì)算機(jī)或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的處理，從而在計(jì)算機(jī)或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的步驟。

盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對(duì)這些實(shí)施例作出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實(shí)施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。