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      雜散測試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):12409601閱讀:622來源:國知局
      雜散測試系統(tǒng)的制作方法與工藝

      本實(shí)用新型涉及信號(hào)測試領(lǐng)域,具體而言,涉及一種雜散測試系統(tǒng)。



      背景技術(shù):

      物聯(lián)網(wǎng)被稱為是繼計(jì)算機(jī)、互聯(lián)網(wǎng)之后的世界信息產(chǎn)業(yè)的第三浪潮,是實(shí)現(xiàn)物物相連,智能化的一種網(wǎng)絡(luò),物聯(lián)網(wǎng)具備發(fā)展成為新經(jīng)濟(jì)增長點(diǎn)的巨大潛能,世界上越來越多的國家將物聯(lián)網(wǎng)作為后金融危機(jī)時(shí)代的重要戰(zhàn)略部署。全球正在掀起物聯(lián)網(wǎng)發(fā)展的熱潮。在我國,隨著物聯(lián)網(wǎng)在自然災(zāi)害監(jiān)測、邊防監(jiān)控、重大活動(dòng)的安全保衛(wèi)等領(lǐng)域越來越廣泛的應(yīng)用,物聯(lián)網(wǎng)已被列為國家新興戰(zhàn)略產(chǎn)業(yè)。

      物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用中的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)為RFID(射頻識(shí)別)技術(shù),所謂的RFID標(biāo)簽和RFID讀卡器其實(shí)也是傳感器技術(shù),常用的RFID標(biāo)簽可以分為有源和無源兩種;讀卡器可以分為手持式讀卡器和臺(tái)式讀卡器,并且有些讀卡器具有外置天線端口,有些讀卡器具有一體化天線。RFID技術(shù)是融合了無線射頻技術(shù)和嵌入式技術(shù)為一體的綜合技術(shù)。RFID技術(shù)作為物聯(lián)網(wǎng)的重要組成部分,在自動(dòng)識(shí)別、物品物流管理等具有廣闊的應(yīng)用前景。

      雜散發(fā)射(spurious emission)指必要帶寬之外的一個(gè)或多個(gè)頻率的發(fā)射,其發(fā)射電平可以降低而不致影響相應(yīng)信息的傳遞;雜散發(fā)射包含諧波發(fā)射、寄生發(fā)射、互調(diào)產(chǎn)物及變頻產(chǎn)物,但帶外發(fā)射除外。通俗的說雜散就是除去工作頻率意外的無用信號(hào)功率。雜散不僅干擾其他設(shè)備正常工作,嚴(yán)重時(shí)還會(huì)危及人的身體健康。因此各國都制訂了嚴(yán)格的電子產(chǎn)品輻射標(biāo)準(zhǔn)。電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)或定型后,通常都要經(jīng)過電磁兼容測試,以檢驗(yàn)產(chǎn)品是否符合標(biāo)準(zhǔn),“雜散測試”是電磁兼容測試的一部分。

      圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的一種傳統(tǒng)的EMC雜散測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。傳統(tǒng)的EMC雜散測試系統(tǒng)主要是針對(duì)傳統(tǒng)電子設(shè)備進(jìn)行雜散測試。隨著無線技術(shù)的發(fā)展,傳統(tǒng)EMC雜散測試系統(tǒng)升級(jí)為支持無線通信設(shè)備的雜散測試系統(tǒng),以無線通信設(shè)備作為待測設(shè)備,在電波暗室中,天線接收信號(hào)通過無線射頻接口箱路徑切換,系統(tǒng)平臺(tái)控制無線綜測儀及EMI接收機(jī)對(duì)雜散信號(hào)分析測量。

      現(xiàn)有的雜散測試系統(tǒng)針對(duì)無線通信設(shè)備的電磁兼容(EMC)雜散測試,在EMC測試中雜散干擾是一項(xiàng)重要的測試項(xiàng)目,雜散干擾主要是指一個(gè)系統(tǒng)頻段外的雜散輻射落入另外一個(gè)系統(tǒng)的接收頻段內(nèi)的干擾,待測設(shè)備需要工作在指定工作頻點(diǎn),工作狀態(tài)。現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)于RFID設(shè)備的雜散測試具有如下缺陷:

      (1)RFID測試設(shè)備需要通過激勵(lì)工作在指定工作頻點(diǎn)、工作狀態(tài)上進(jìn)行雜散測試,現(xiàn)有技術(shù)通常采用手動(dòng)的方式使RFID工作于指定頻點(diǎn);

      (2)現(xiàn)有無線雜散測試系統(tǒng)濾波器一般針對(duì)無線工作頻段進(jìn)行設(shè)置,不能滿足RFID設(shè)備在840-825MHz,帶寬250kHz;920-925MHz,帶寬250kHz;2405-2480MHz,帶寬5MHz的指標(biāo)要求。

      (3)RFID雜散測量需要按照規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)(非無線標(biāo)準(zhǔn))進(jìn)行,現(xiàn)有ITE、無線雜散測試系統(tǒng)的測量限值、測量帶寬要求與RFID雜散不一致。

      針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中,通過用戶對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行手動(dòng)配置,使RFID設(shè)備工作于固定頻點(diǎn),導(dǎo)致測試效率低的問題,目前尚未提出有效的解決方案。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種雜散測試系統(tǒng),以至少解決現(xiàn)有技術(shù)中,通過用戶對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行手動(dòng)配置使RFID設(shè)備工作于固定頻點(diǎn),導(dǎo)致測試效率低的技術(shù)問題。

      根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一個(gè)方面,提供了一種雜散測試系統(tǒng),包括:協(xié)議分析儀,與被測設(shè)備連接,用于激勵(lì)被測設(shè)備,使被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn),并使被測設(shè)備工作于最大發(fā)射功率狀態(tài);濾波器單元組,與無線射頻接口箱連接,用于抑制被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)時(shí)所產(chǎn)生的信號(hào)的幅度;頻譜儀,與無線射頻接口箱連接,用于測量被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào);無線射頻接口箱,分別與被測設(shè)備、濾波器單元組以及頻譜儀相連,用于進(jìn)行射頻路徑切換,其中,射頻路徑包括:輻射雜散發(fā)射路徑、傳導(dǎo)雜散發(fā)射路徑以及濾波器單元組路徑。

      進(jìn)一步地,系統(tǒng)還包括:控制臺(tái),分別與協(xié)議分析儀相連,用于控制協(xié)議分析儀激勵(lì)被測設(shè)備;控制臺(tái)還與無線射頻接口箱相連,用于控制無線射頻接口箱進(jìn)行路徑切換;控制臺(tái)還與濾波器單元組相連,用于根據(jù)被測設(shè)備的工作頻點(diǎn)調(diào)整濾波器單元組切換至與工作頻點(diǎn)對(duì)應(yīng)的濾波通道;控制臺(tái)還與頻譜儀相連,用于分析頻譜儀檢測到的信號(hào),得到雜散測試的測試結(jié)果。

      進(jìn)一步地,系統(tǒng)還包括:電磁屏蔽室,設(shè)置于協(xié)議分析儀、被測設(shè)備、濾波器、頻譜儀以及控制臺(tái)之外,用于為測量被測設(shè)備的傳導(dǎo)雜散提供測試環(huán)境。

      進(jìn)一步地,系統(tǒng)還包括:信號(hào)源,與無線射頻接口箱相連,用于在進(jìn)行路徑校準(zhǔn)時(shí)代替被測設(shè)備發(fā)射信號(hào)。

      進(jìn)一步地,系統(tǒng)還包括:測量接收天線,與放大器相連,用于接收被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào);放大器,連接于測量接收天線與無線射頻接口箱之間,用于放大被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào)。

      進(jìn)一步地,系統(tǒng)還包括:轉(zhuǎn)臺(tái),用于放置被測設(shè)備并旋轉(zhuǎn);天線塔,與測量接收天線相連,用于調(diào)整測量接收天線的高度。

      進(jìn)一步地,系統(tǒng)還包括:電波暗室,設(shè)置于被測設(shè)備、測量接收天線以及放大器之外,用于為測量被測設(shè)備的輻射雜散提供測試環(huán)境。

      進(jìn)一步地,控制臺(tái)還與天線塔和轉(zhuǎn)臺(tái)相連,用于控制天線塔的升降以及轉(zhuǎn)臺(tái)的旋轉(zhuǎn)。

      進(jìn)一步地,濾波器單元組的中心頻點(diǎn)為如下任意一種:842.625MHz、922.625MHz和2440MHz。

      進(jìn)一步地,協(xié)議分析儀為UHF或2.4G協(xié)議分析儀。

      在本實(shí)用新型實(shí)施例中,通過使用協(xié)議分析儀對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行激勵(lì),使其工作于指定頻點(diǎn),并采用設(shè)置于被測設(shè)備指定工作頻點(diǎn)對(duì)應(yīng)的工作頻率的濾波器,解決了現(xiàn)有技術(shù)中,通過用戶對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行手動(dòng)配置,使被測設(shè)備工作于固定頻點(diǎn),導(dǎo)致測試效率低的技術(shù)問題,提出了專門針對(duì)指定被測設(shè)備的雜散測試系統(tǒng),從而達(dá)到了提高測試效率的技術(shù)效果,實(shí)現(xiàn)了被測設(shè)備的自激勵(lì)控制功能的全自動(dòng)雜散測試的技術(shù)目的。

      附圖說明

      此處所說明的附圖用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解,構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分,本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型,并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:

      圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的一種傳統(tǒng)的EMC雜散測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖2是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種雜散測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖3是根據(jù)本實(shí)用新型的一種可選的用于測試讀卡器的傳導(dǎo)雜散的雜散測試系統(tǒng);

      圖4是根據(jù)本實(shí)用新型的一種可選的用于測試標(biāo)簽板的傳導(dǎo)雜散的雜散測試系統(tǒng);

      圖5是根據(jù)本實(shí)用新型的一種可選的校準(zhǔn)配置圖;

      圖6是根據(jù)本實(shí)用新型的一種可選的應(yīng)用于RFID測試設(shè)備的雜散測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

      具體實(shí)施方式

      為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本實(shí)用新型方案,下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分的實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都應(yīng)當(dāng)屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

      需要說明的是,本實(shí)用新型的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象,而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換,以便這里描述的本實(shí)用新型的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤?。此外,術(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形,意圖在于覆蓋不排他的包含,例如,包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元,而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。

      圖2是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種雜散測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖2所示,該系統(tǒng)包括:

      協(xié)議分析儀20,與被測設(shè)備22連接,用于激勵(lì)被測設(shè)備,使被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)。

      具體的,上述待測設(shè)備可以是應(yīng)用RFID技術(shù)的讀卡器或標(biāo)簽,上述工作頻點(diǎn)為上述讀卡器或標(biāo)簽的工作頻點(diǎn),可以為900M、2.45G等,上述協(xié)議分析儀可以是開放、可控、集應(yīng)用功能及測試功能于一體的測試用協(xié)議分析儀,可實(shí)現(xiàn)對(duì)RFID標(biāo)簽進(jìn)行訪問、讀取、寫入等操作;本協(xié)議分析儀開放RFID協(xié)議參數(shù)、非協(xié)議參數(shù)、指令控制等接口,為用戶提供物理層以及協(xié)議層的編輯過程,可輕松實(shí)現(xiàn)任意協(xié)議信號(hào)的產(chǎn)生與通信過程;本協(xié)議分析儀具有讀卡器仿真和標(biāo)簽仿真的雙模功能,通過協(xié)議分析儀,用戶可以研究RFID物理層、協(xié)議層和應(yīng)用層的數(shù)據(jù)的具體交互過程。

      濾波器單元組24,與無線射頻接口箱連接,用于抑制被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)時(shí)所產(chǎn)生的信號(hào)的幅度。

      具體的,上述濾波器單元組包括多個(gè)載波抑制模塊,多個(gè)載波抑制模塊安裝在同一個(gè)機(jī)箱中,構(gòu)成一個(gè)濾波器單元組,能夠?qū)崿F(xiàn)無限個(gè)帶寬的無線濾波路徑的自動(dòng)切換。

      此處需要說明的是,由于被測設(shè)備具有不同的工作頻點(diǎn),所以設(shè)置濾波器單元組,對(duì)工作于不同頻點(diǎn)的被測設(shè)備進(jìn)行測量。

      此處還需要說明的是,濾波器單元組可以根據(jù)被測設(shè)備的工作頻點(diǎn)進(jìn)行設(shè)置,已達(dá)到專門針對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行濾波的技術(shù)效果。

      使用濾波器單元組抑制信號(hào)幅度,起到保護(hù)測試系統(tǒng)中其他設(shè)備的技術(shù)效果。

      頻譜儀26,與無線射頻接口箱連接,用于測量被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào)。

      具體的,上述頻譜儀可以通過射頻電纜與無線射頻接口箱連接。

      無線射頻接口箱28,分別與協(xié)議分析儀、濾波器單元組以及頻譜儀相連,用于進(jìn)行射頻路徑切換,其中,射頻路徑包括:輻射雜散發(fā)射路徑、傳導(dǎo)雜散發(fā)射路徑以及濾波器單元組路徑。

      具體的,上述無線射頻接口箱主要作用是能夠?qū)崿F(xiàn)多種射頻路徑的自動(dòng)切換,其中包括無線通信設(shè)備輻射雜散發(fā)射(RSE)路徑、無線通信設(shè)備傳導(dǎo)雜散發(fā)射(CSE)路徑、濾波器單元組(如果不與從射頻信號(hào)處理單元級(jí)聯(lián)的話)的自動(dòng)切換。

      此處需要說明的是,上述無線射頻接口箱不限于進(jìn)行上述任意一種路徑切換,例如,在系統(tǒng)中包括無線通信綜測儀的情況下,上述無線射頻接口箱也能夠進(jìn)行無線通信測試儀路徑的路徑切換。

      在一種可選的實(shí)施例中,上述系統(tǒng)可以是單獨(dú)測試被測設(shè)備的傳導(dǎo)雜散的系統(tǒng),在被測設(shè)備為讀卡器的情況下,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖如圖3所示的示例,傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng)由協(xié)議分析儀、讀卡器、濾波器、頻譜儀和控制電腦組成,其中,協(xié)議分析儀和讀卡器均通過網(wǎng)線與控制電腦相連,以使得電腦能夠控制讀寫器和協(xié)議分析儀發(fā)送指定的協(xié)議指令,由于采用傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng)的待測件具有外置天線端口,因此不需要天線塔及轉(zhuǎn)臺(tái)進(jìn)行多角度測量。在被測設(shè)備為標(biāo)簽板的情況下,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖如圖4所示的示例,傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng)由協(xié)議分析儀、標(biāo)簽板、濾波器、頻譜儀和控制電腦組成,其中,協(xié)議分析儀通過網(wǎng)線與電腦相連,以使得電腦能夠控制協(xié)議分析儀激勵(lì)標(biāo)簽板,通過協(xié)議分析儀和頻譜儀同時(shí)獲取標(biāo)簽板的反向信號(hào),完成測試。由于采用傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng)的待測件具有外置天線端口,因此不需要天線塔及轉(zhuǎn)臺(tái)進(jìn)行多角度測量。

      在另一種可選的實(shí)施例中,上述系統(tǒng)還可以是單獨(dú)測試被測的輻射雜散的系統(tǒng),系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖如圖6所示的示例。

      在又一種可選的實(shí)施例中,上述系統(tǒng)還可以是既能夠測量傳導(dǎo)雜散,又能夠測量輻射雜散的系統(tǒng),在這一示例中,可以通過無線射頻接口箱來進(jìn)行測試種類的切換。

      在一種可選的實(shí)施例中,上述雜散測試系統(tǒng)可以針對(duì)超高頻段RFID讀卡器或標(biāo)簽的雜散測試,利用UHF(ultra high frequency,特高頻無線電波)協(xié)議分析儀控制待測試設(shè)備自激勵(lì)的全自動(dòng)測試系統(tǒng),測試覆蓋全面支持UHF 840-845頻段的中間信道、支持UHF920-925頻段的中間信道,支持2.45G中間信道,考慮到讀卡器具有外置天線和一體化天線,因此針對(duì)不同類型的讀卡器采用不同的測試方式,前者采用傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng),后者采用將采用輻射雜散測試系統(tǒng),標(biāo)簽采用的是輻射雜散測試。

      本系統(tǒng)的測試對(duì)象可以是RFID標(biāo)簽或讀卡器,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):840MHz~845MHz或920MHz~925MHz的讀卡器的空中接口符合性測試,按照GJB7378.1-2011的相關(guān)規(guī)定執(zhí)行,雜散測試頻率范圍:30MHz-12.75MHz,800/900MH工作頻率為840~845MHz和920~925MHz,載波信道帶寬250kHz??梢栽?40和920制式每個(gè)頻段選取高、中、低三個(gè)載波頻點(diǎn)進(jìn)行測量,同時(shí)支持2.45GHz雜散測量,2.45G采用中心頻點(diǎn)進(jìn)行測量,具體如下:

      (1)在被測設(shè)備的工作頻段為840~845MHz的情況下,中心工作頻點(diǎn)為842.625MHz(載波信道帶寬:250kHz)

      (2)在被測設(shè)備的工作頻段為920~925MHz的情況下,中心工作頻點(diǎn)為922.625MHz(載波信道帶寬:250kHz)

      (2)在被測設(shè)備的工作頻段為2.45G的情況下,中心工作頻點(diǎn)為2440MHz(載波信道帶寬:12.5MHz)

      此處需要說明的是,在被測設(shè)備為RFID設(shè)備的情況下,RFID設(shè)備的雜散測試可以分為輻射雜散和傳導(dǎo)雜散,但無論進(jìn)行輻射雜散測試還是傳到雜散測試,上述應(yīng)用于RFID的雜散測試系統(tǒng)均包括上述設(shè)備,在進(jìn)行輻射雜散測試和傳到雜散時(shí),系統(tǒng)的區(qū)別在于各個(gè)設(shè)備的通信方式,系統(tǒng)接收被測設(shè)備發(fā)出的信號(hào)的方式等,但其測試原理都在于,使用協(xié)議分析儀激勵(lì)被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn),使用濾波器單元組對(duì)被測設(shè)備的工作信號(hào)進(jìn)行抑制,然后使用頻譜儀測量經(jīng)過濾波后的信號(hào)。

      此處還需要說明的是,上述雜散測試系統(tǒng)可以專用于RFID設(shè)備的雜散測試,但不限于對(duì)RFID設(shè)備的雜散測試,需要手動(dòng)設(shè)置使被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)的設(shè)備,均可以通過上述雜散測試系統(tǒng),通過使用協(xié)議分析儀的激勵(lì),來達(dá)到自激勵(lì)控制功能的全自動(dòng)雜散測試的技術(shù)效果。

      由上可知,本申請(qǐng)上述實(shí)施例提供的方案通過使用協(xié)議分析儀對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行激勵(lì),使其工作于指定頻點(diǎn),并采用設(shè)置于被測設(shè)備指定工作頻點(diǎn)對(duì)應(yīng)的工作頻率的濾波器,解決了現(xiàn)有技術(shù)中,通過用戶對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行手動(dòng)配置,使被測設(shè)備工作于固定頻點(diǎn),導(dǎo)致測試效率低的技術(shù)問題,提出了專門針對(duì)指定被測設(shè)備的雜散測試系統(tǒng),從而達(dá)到了提高測試效率的技術(shù)效果,實(shí)現(xiàn)了被測設(shè)備的自激勵(lì)控制功能的全自動(dòng)雜散測試的技術(shù)目的。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,上述系統(tǒng)還包括:

      控制臺(tái),分別與協(xié)議分析儀相連,用于控制協(xié)議分析儀激勵(lì)被測設(shè)備。

      控制臺(tái)還與無線射頻接口箱相連,用于控制無線射頻接口箱進(jìn)行路徑切換。

      控制臺(tái)還與濾波器單元組相連,用于根據(jù)被測設(shè)備的工作頻點(diǎn)調(diào)整濾波器單元組切換至與工作頻點(diǎn)對(duì)應(yīng)的濾波通道。

      控制臺(tái)還與頻譜儀相連,用于分析頻譜儀檢測到的信號(hào),得到雜散測試的測試結(jié)果。

      圖3是根據(jù)本實(shí)用新型的一種可選的用于測試讀卡器的傳導(dǎo)雜散的雜散測試系統(tǒng),在一種可選的實(shí)施例中,結(jié)合圖3所示的示例,傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng)由協(xié)議分析儀、讀卡器、濾波器、頻譜儀和電腦組成,其中,協(xié)議分析儀和讀卡器均通過網(wǎng)線與控制電腦相連,以使得電腦能夠控制讀寫器和協(xié)議分析儀發(fā)送指定的協(xié)議指令,由于采用傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng)的待測件具有外置天線端口,因此不需要天線塔及轉(zhuǎn)臺(tái)進(jìn)行多角度測量。

      圖4是根據(jù)本實(shí)用新型的一種可選的用于測試標(biāo)簽板的傳導(dǎo)雜散的雜散測試系統(tǒng),在另一種可選的實(shí)施例中,結(jié)合圖4所示的示例,傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng)由協(xié)議分析儀、標(biāo)簽板、濾波器、頻譜儀和電腦組成,其中,協(xié)議分析儀通過網(wǎng)線與電腦相連,以使得電腦能夠控制協(xié)議分析儀激勵(lì)標(biāo)簽板,通過協(xié)議分析儀和頻譜儀同時(shí)獲取標(biāo)簽板的反向信號(hào),完成測試。由于采用傳導(dǎo)雜散測試系統(tǒng)的待測件具有外置天線端口,因此不需要天線塔及轉(zhuǎn)臺(tái)進(jìn)行多角度測量。

      系統(tǒng)校準(zhǔn):打開RE軟件(輻射發(fā)射測試系統(tǒng)),并且點(diǎn)擊進(jìn)入校準(zhǔn),開始校準(zhǔn);

      系統(tǒng)測試:按照?qǐng)D5進(jìn)行試驗(yàn)布置,并且點(diǎn)擊進(jìn)入測試,填寫測量參數(shù)或選擇測試模板,選擇校準(zhǔn)文件,開始測試。

      雜散測量說明:

      Ps,f=Pr,f+kms,f–Gf+20lgf+20lgd–27.6

      說明:①該公式只適用于自由空間(全電波暗室)測量環(huán)境。

      ②Ps,f為被測設(shè)備在頻率f上實(shí)際發(fā)射的雜散功率(e.i.r.p,dBm)。

      ③Pr,f為接收機(jī)/頻譜儀在頻率f上讀到的雜散發(fā)射功率(dBm)。

      ④kms,f為測量系統(tǒng)在頻率f上的校準(zhǔn)因子,即從天線輸出端口到接收機(jī)/頻譜儀輸入端口之間的路徑損耗(dB)。

      ⑤Gf為測量接收天線在頻率f上的增益(dBi)。

      ⑥f為雜散發(fā)射的頻率(MHz)。

      ⑦d為測量接收天線與EUT發(fā)射天線之間的距離。

      如果在開闊場(半電波暗室)中測量,則要考慮接地平板的反射增益,上述公式就變?yōu)椋?/p>

      Ps,f=Pr,f+kms,f–Gf+20lgf+20lgd–27.6–Gr

      其中,Gr為半電波暗室接地平板的反射增益(dB)。

      對(duì)于低增益天線,其增益Gf與天線系數(shù)AF之間存在一個(gè)換算公式,即:

      Gf=20lgf-29.78-AF

      說明:①Gf為天線增益(dBi)。

      ②f為頻率(MHz)。

      ③AF為天線系數(shù)(dB/m)。

      綜上,測量方法既有用于全電波暗室的“直接法”又有用于半電波暗室的“直接法”,只是采用的公式不同而已。

      此處需要說明的是,天線增益Gf和接地平板反射增益Gr均允許測量前由人工輸入。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,上述系統(tǒng)還包括:電磁屏蔽室,設(shè)置于協(xié)議分析儀、被測設(shè)備、濾波器、頻譜儀以及控制臺(tái)之外,用于為測量被測設(shè)備的傳導(dǎo)雜散提供測試環(huán)境。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,系統(tǒng)還包括:

      無線射頻接口箱,分別與協(xié)議分析儀、濾波器單元組以及頻譜儀相連,用于進(jìn)行路徑切換。

      傳導(dǎo)與輻射的切換,通過手動(dòng)控制無線射頻接口箱做路徑切換,進(jìn)行輻射和傳導(dǎo)的切換,輻射雜散測試RFID待測件(EUT)在暗室中測量,傳導(dǎo)雜散測試RFID待測件不需要暗室環(huán)境。待測設(shè)備通過協(xié)議分析儀激勵(lì)設(shè)置在指定工作狀態(tài)下,其信號(hào)經(jīng)過信號(hào)線傳輸入射頻接口箱,再經(jīng)過路徑轉(zhuǎn)換至指定工作濾波器組進(jìn)行信號(hào)過濾,再將信號(hào)輸入到頻譜儀中進(jìn)行信號(hào)分析。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,系統(tǒng)還包括:

      信號(hào)源,與無線射頻接口箱相連,用于在進(jìn)行路徑校準(zhǔn)時(shí)代替被測設(shè)備發(fā)射信號(hào)。

      由于測量路徑對(duì)信號(hào)具有衰減作用,因此在雜散測量之前,必須進(jìn)行路徑校準(zhǔn),計(jì)算出相應(yīng)測量路徑的損耗。

      在進(jìn)行路徑校準(zhǔn)之前首先需要校準(zhǔn)布置。

      校準(zhǔn)布置:校準(zhǔn)路徑是從天線輸出端開始,之后經(jīng)過射頻電纜、接口箱、濾波器箱,最后到頻譜儀的輸入端口;信號(hào)源替代被測設(shè)備發(fā)射信號(hào)。

      圖4是根據(jù)本實(shí)用新型的一種可選的校準(zhǔn)配置圖,結(jié)合圖4所示,路徑校準(zhǔn)需要如下步驟:

      a.需要校準(zhǔn)的測量路徑起始于天線輸出端D,通過天線電纜到地面接口板轉(zhuǎn)接頭C,再由C通過暗室預(yù)埋的電纜到屏蔽墻接口板轉(zhuǎn)接頭B,再由B在控制室的那一端通過電纜連接到射頻箱輸入口T3,經(jīng)過射頻箱內(nèi)的路徑切換,最后由T3到達(dá)頻譜儀的輸入端。

      b.由于信號(hào)源等測量儀器都在控制室中,為了將信號(hào)源輸出的校準(zhǔn)信號(hào)從天線電纜的D點(diǎn)輸入,我們需要做一些變通,即將天線電纜從天線輸出端旋出,轉(zhuǎn)而連接到屏蔽墻接口板轉(zhuǎn)接頭A(假定天線電纜有足夠的長度)。信號(hào)源從射頻箱T1口輸入后到達(dá)射頻箱輸出口T2,用一根同軸電纜將T2和接口板轉(zhuǎn)接頭A在控制室的那一端連接起來。設(shè)置信號(hào)源輸出信號(hào)的功率電平(dBm值)、起止頻率及頻率步進(jìn),逐個(gè)頻點(diǎn)地讀取頻譜儀測得的數(shù)值(dBm值),將結(jié)果保存。

      c.將T2與A之間的連接電纜從A旋出,轉(zhuǎn)而連接到頻譜儀的輸入端T4上。將信號(hào)源的參數(shù)設(shè)置成與上述步驟b中的完全一樣,逐個(gè)頻點(diǎn)地讀取頻譜儀測得的數(shù)值(dBm值),將結(jié)果保存。

      d.將步驟c中保存的讀數(shù)逐個(gè)頻點(diǎn)與步驟b中保存讀數(shù)相減,差值即為所選的測量路徑的路徑損耗(正dB值),將結(jié)果保存。

      需要指出的是,路徑校準(zhǔn)后得到的路徑損耗包含了由于頻譜儀的精度誤差所引起的誤差,因此在實(shí)際測量時(shí),頻譜儀需要使用校準(zhǔn)時(shí)所使用的頻譜儀,才能達(dá)到消除頻譜儀的精度誤差的技術(shù)效果。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,系統(tǒng)還包括:

      測量接收天線,與放大器相連,用于接收被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào)。

      放大器,連接于測量接收天線與無線射頻接口箱之間,用于放大被測設(shè)備工作于預(yù)設(shè)頻點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào)。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,系統(tǒng)還包括:

      轉(zhuǎn)臺(tái),用于放置被測設(shè)備并旋轉(zhuǎn)。

      天線塔,與測量接收天線相連,用于調(diào)整測量接收天線的高度。

      通過使用轉(zhuǎn)臺(tái)和天線塔,在測試過程中完成轉(zhuǎn)臺(tái)的旋轉(zhuǎn)以及天線塔的升降,使得被測設(shè)備在各個(gè)角度發(fā)射的信號(hào)都能被測量,達(dá)到了提高測試的精確度的技術(shù)效果。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,系統(tǒng)還包括:

      電波暗室,設(shè)置于被測設(shè)備、測量接收天線以及放大器之外,用于為測量被測設(shè)備的輻射雜散提供測試環(huán)境。

      此處需要說明的是,在被測設(shè)備為RFID設(shè)備的情況下,對(duì)RFID設(shè)備進(jìn)行傳導(dǎo)雜散測試時(shí)不需要暗室環(huán)境。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,控制臺(tái)還與天線塔和轉(zhuǎn)臺(tái)相連,用于控制天線塔的升降以及轉(zhuǎn)臺(tái)的旋轉(zhuǎn)。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,濾波器單元組的中心頻點(diǎn)為如下任意一種:842.625MHz、922.625MHz和2440MHz。

      關(guān)于用于進(jìn)行性能評(píng)價(jià)的帶外雜散測量,系統(tǒng)默認(rèn)在每個(gè)頻段下采用中心信道進(jìn)行測量,也可根據(jù)用戶指定頻點(diǎn)進(jìn)行調(diào)整。由于RFID測試設(shè)備最大發(fā)射功率為33dBm,為保護(hù)頻譜儀不超載或失真,需要配置專屬RFID濾波器單元組進(jìn)行信號(hào)抑制。

      可以對(duì)濾波器進(jìn)行如下設(shè)計(jì):

      在被測設(shè)備的工作頻帶為840~845MHz的情況下,中心頻點(diǎn)為842.625MHz,其載波信道帶寬:250kHz,抑制帶寬:400kHz,頻點(diǎn)可調(diào)節(jié)。

      在被測設(shè)備的工作頻帶為920~925MHz的情況下,中心頻點(diǎn)為922.625MHz,其載波信道帶寬:250kHz,抑制帶寬:400kHz,頻點(diǎn)可調(diào)節(jié)。

      在被測設(shè)備的工作頻帶為2.45G的情況下,中心頻點(diǎn)為2440MHz,其載波信道帶寬:5MHz,抑制帶寬:5MHz。

      可以通過軟件控制射頻接口箱和濾波器箱的路徑切換,頻譜儀分析雜散信號(hào),實(shí)現(xiàn)2.45G與UHF的雜散測試切換的全自動(dòng)測試系統(tǒng)。

      系統(tǒng)軟件可自定義設(shè)置RFID專屬限值要求,且系統(tǒng)軟件默認(rèn)配置了RFID專用帶寬設(shè)置和免測頻段,可減少用戶操作。

      可選的,根據(jù)本申請(qǐng)上述實(shí)施例,協(xié)議分析儀為UHF協(xié)議分析儀。

      圖6是根據(jù)本實(shí)用新型的一種可選的應(yīng)用于RFID測試設(shè)備的雜散測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖,該輻射發(fā)射RFID雜散測試系統(tǒng)用于測量機(jī)箱端口的雜散發(fā)射信號(hào)大小,由待測件(RFID標(biāo)簽或讀卡器)、天線、天線塔、轉(zhuǎn)臺(tái)、濾波器箱、預(yù)放、無線射頻接口箱、頻譜儀和控制臺(tái)組成,在進(jìn)行輻射雜散測試時(shí),信號(hào)源用于進(jìn)行路徑校準(zhǔn),頻譜儀用于測量頻域信號(hào),濾波器單元組用于抑制工作信號(hào)的幅值,協(xié)議分析儀用于激勵(lì)被測設(shè)備,使被測設(shè)備工作于指定頻點(diǎn),無線射頻接口箱用于在路徑校準(zhǔn)和測試的過程中進(jìn)行路徑切換,天線塔用于在測試過程中升降,轉(zhuǎn)臺(tái)用于在測試過程中旋轉(zhuǎn)。下面結(jié)合圖6所示的雜散測試系統(tǒng),對(duì)于上述實(shí)施例提供的雜散測試系統(tǒng)的路徑邏輯進(jìn)行詳細(xì)描述。

      首先,協(xié)議分析儀與待測讀卡器或標(biāo)簽建立通信,使標(biāo)簽或讀卡器控制在指定的工作頻點(diǎn),最大的發(fā)射狀態(tài)下,設(shè)置協(xié)議分析儀處于Reader(讀取)模式,并設(shè)置協(xié)議分析儀的工作頻率和發(fā)射功率,Sort Inventory(盤存)開始發(fā)送信號(hào),其信號(hào)經(jīng)過空間輻射傳輸被接收天線所接收,直接連接讀卡器,使讀卡器處于工作模式。然后,信號(hào)經(jīng)過無線射頻接口箱路徑轉(zhuǎn)換至指定工作濾波器單元組組進(jìn)行信號(hào)過濾。最后,再將信號(hào)輸入到頻譜儀進(jìn)行信號(hào)測量分析,測試結(jié)果由控制電腦軟件呈現(xiàn)。

      上述本實(shí)用新型實(shí)施例序號(hào)僅僅為了描述,不代表實(shí)施例的優(yōu)劣。

      在本實(shí)用新型的上述實(shí)施例中,對(duì)各個(gè)實(shí)施例的描述都各有側(cè)重,某個(gè)實(shí)施例中沒有詳述的部分,可以參見其他實(shí)施例的相關(guān)描述。

      以上僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤飾,這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。

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