本發(fā)明涉及射頻功率檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

無線路由器等產(chǎn)品在調(diào)試、產(chǎn)測等階段，需要檢測實(shí)際發(fā)射功率、EVM性能等發(fā)射指標(biāo)。如圖1所示，現(xiàn)有技術(shù)提供的測量被測設(shè)備DUT處于實(shí)際工作狀態(tài)時的各種發(fā)射指標(biāo)的方案，具體為，以下圖中的ANT1為例，利用射頻耦合器將ANT1信號分成兩部分，一部分與ANT2、ANT3、ANT4的TX信號經(jīng)由射頻合路器、固定衰減頭與接收被測設(shè)備DUT的信號的接收設(shè)備(SUT)跑吞吐量，另一部分送入儀器進(jìn)行測量；而在測試時，測試人員手動操作測量儀器的(IQXel、WCTS等)抓取數(shù)據(jù)包，人工讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

上述方案存在的以下缺陷：

1、需要不斷手動抓包進(jìn)行檢測，效率低下；

2、吞吐量通路衰減不可調(diào)，僅能檢測DUT協(xié)商至最高速率下的發(fā)射指標(biāo)；

3、只能完成一根天線的測試，對于多天線DUT，需要手動拆裝拓?fù)洌鼡Q測試通路方可完成檢測。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例的目的是提出的一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)及方法，能自動切換并選擇發(fā)射設(shè)備的信號通路進(jìn)行檢測，無需手動拆裝拓?fù)鋪砀鼡Q測試通路，并實(shí)現(xiàn)測試儀器的觸發(fā)抓包功能，無需手動控制測試儀器。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施例提供一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，其特征在于，包括：測試儀器、N個射頻耦合器、射頻合路器、衰減裝置、射頻開關(guān)和控制處理器；

所述射頻耦合器，用于接收待測的信號發(fā)射設(shè)備發(fā)送的一路發(fā)射信號，對所述發(fā)射信號進(jìn)行耦合生成耦合信號，輸出所述耦合信號到所述射頻開關(guān)，還用于傳送所述發(fā)射信號給所述射頻合路器；

所述控制處理器，用于接收用戶發(fā)送的請求檢測所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)送的第i路發(fā)射信號的請求信號時，根據(jù)所述請求信號控制所述射頻開關(guān)切換鏈路，以使所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送至所述測試儀器；N≥i；

所述測試儀器，用于從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并輸出檢測結(jié)果；

所述射頻合路器，用于對接收所述N個射頻耦合器傳送的所有發(fā)射信號進(jìn)行合并生成合路發(fā)射信號，并輸出所述合路發(fā)射信號給所述衰減裝置；

所述衰減裝置，用于對所述合路發(fā)射信號進(jìn)行衰減，并傳送衰減后的所述合路發(fā)射信號給信號接收設(shè)備。

進(jìn)一步地，所所述衰減裝置為可編程衰減芯片；

所述控制處理器，還用于在測試儀器輸出檢測結(jié)果后，根據(jù)預(yù)設(shè)的衰減步進(jìn)在所述衰減裝置的當(dāng)前衰減值的基礎(chǔ)上增加所述衰減裝置的衰減值，直至達(dá)到所述衰減裝置的最大衰減值；

所述測試儀器，還用于在增加所述衰減裝置的衰減值之后，繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并輸出檢測結(jié)果，直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

進(jìn)一步地，所述從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并輸出檢測結(jié)果，具體為：

從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，判斷所述數(shù)據(jù)包是否為有效包；

若是，對計數(shù)值加一；

若否，返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包；

判斷所述計數(shù)值是否大于計數(shù)閾值；

若是，對提取的所有有效包進(jìn)行檢測，并輸出檢測結(jié)果以及對所述計數(shù)值清零；

若否，返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包。

進(jìn)一步地，所述控制處理器，還用于設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)，以使所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接；還用于在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設(shè)置后，判斷所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接的時長是否大于時長閾值，并在所述時長大于時長閾值時返回重新設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)。

進(jìn)一步地，所述射頻開關(guān)包括輸出端、控制端和N個輸入端；

所述射頻開關(guān)的控制端與所述控制處理器連接；

所述N個輸入端與所述N個射頻耦合器的連接，具體為：第i個輸入端與第i個射頻耦合器的耦合端連接；

所述輸出端與所述測試儀器連接。

進(jìn)一步地，所述控制處理器，包括控制臺和單片機(jī)；其中，所述控制臺包括顯示器。

相應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的方法，包括：

接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設(shè)備發(fā)送給信號接收設(shè)備的第i路發(fā)射信號的請求信號；所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)射的信號包括M路發(fā)射信號；M≥i；

根據(jù)所述請求信號控制射頻開關(guān)切換鏈路，以使射頻耦合器生成的第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送至測試儀器；所述射頻耦合器包括N個，N≥M；所述射頻耦合器用于傳送所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)射的信號到射頻合路器，以使所述射頻合路器將所述M路發(fā)射信號進(jìn)行生成合路發(fā)射信號，并輸出所述合路發(fā)射信號經(jīng)衰減裝置傳送到所述信號接收設(shè)備；

控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果。

進(jìn)一步地，所述方法還包括：

在接收所述檢測結(jié)果后，根據(jù)預(yù)設(shè)的衰減步進(jìn)在所述衰減裝置的當(dāng)前衰減值的基礎(chǔ)上增加所述衰減裝置的衰減值，直至達(dá)到所述衰減裝置的最大衰減值；

并在增加所述衰減裝置的衰減值之后，繼續(xù)控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

進(jìn)一步地，在接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設(shè)備的第i路發(fā)射信號的請求信號的同時，還包括：

設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)，以使所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接；

在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設(shè)置后，判斷所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接的時長是否大于時長閾值，并在所述時長大于時長閾值時返回重新設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)。

進(jìn)一步地，在控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測的同時，還包括：

接收用戶設(shè)置的計數(shù)閾值；

設(shè)置所述測試儀器的計數(shù)閾值為所述用戶設(shè)置的計數(shù)閾值；其中，所述計數(shù)閾值用于判斷所述測試儀器從第i路發(fā)射信號提取數(shù)據(jù)包為有效包時的計數(shù)值是否大于所述計數(shù)閾值。

實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例，具有如下有益效果：

本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)及方法，采用多個射頻耦合器，將待測的信號發(fā)射設(shè)備的每一路發(fā)射信號耦合生成相應(yīng)的耦合信號，并輸?shù)缴漕l開關(guān)，控制處理器再控制射頻開關(guān)切換鏈路，選擇用戶需檢測的一路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送到測試儀器中進(jìn)行檢測，實(shí)現(xiàn)無須手動折卸拓?fù)浔憧赏瓿尚盘柊l(fā)射設(shè)備多路輸出的測試工作；控制處理器自動調(diào)整鏈路衰減值，無須手動調(diào)整衰減，實(shí)現(xiàn)信號發(fā)射設(shè)備所有速率模式的測試工作；控制處理器自動觸發(fā)控制測試儀器對耦合信號的抓包，實(shí)現(xiàn)多路輸出的信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的自動化測試，無須手動操作測試儀器對耦合信號進(jìn)行數(shù)據(jù)包的提取。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性的系統(tǒng)的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3，是本發(fā)明提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)的測試過程的一個實(shí)施例的流程示意圖；

圖4是本發(fā)明提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的方法的一個實(shí)施例的流程示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

參見圖2，是本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

本發(fā)明實(shí)施例提供一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，其特征在于，包括：測試儀器、N個射頻耦合器、射頻合路器、衰減裝置、射頻開關(guān)和控制處理器；本實(shí)施例提供的系統(tǒng)的連接關(guān)系，具體如圖1所示：

所述N個射頻耦合器的輸入端用于連接待測的信號發(fā)射設(shè)備的一個輸出端，且一個射頻耦合器對應(yīng)于所述信號發(fā)射設(shè)備的一個輸出端，所述發(fā)射設(shè)備包括M個輸出端，設(shè)置N≥M；所述N個射頻耦合器的輸出端均連接到射頻合路器的輸入端；

所述射頻開關(guān)包括輸出端、控制端和N個輸入端；所述射頻開關(guān)的控制端與所述控制處理器連接；所述N個輸入端與所述N個射頻耦合器的連接，具體為：第i個輸入端與第i個射頻耦合器的耦合端連接；N≥i；以及，所述輸出端與所述測試儀器的測試輸入端連接；

所述測試儀器的測試輸出端與所述控制處理器連接。

作為上述系統(tǒng)的進(jìn)一步地改進(jìn)，所述控制處理器還與所述衰減裝置連接，所述衰減裝置為可編程衰減芯片。所述衰減裝置的衰減值也可能過手動調(diào)節(jié)，以及所述射頻開關(guān)的鏈路切換也可通過手動切換。

需要說明的是，將上述檢測系統(tǒng)作為一個整體，檢測系統(tǒng)的一端待測的信號發(fā)射設(shè)備連接，檢測系統(tǒng)的另一端與信號接收設(shè)備連接，并調(diào)整衰減裝置的衰減值來得使傳輸?shù)男盘柼幱诳勺兺铝磕Ｊ?，模擬用戶的實(shí)際使用過程。

作為上述系統(tǒng)的進(jìn)一步地改進(jìn)，所述控制處理器還與所述待測的信號發(fā)射設(shè)備連接，以及連接所述信號接收設(shè)備，使得控制處理器可設(shè)置信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)，以及信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)，實(shí)現(xiàn)信號發(fā)射設(shè)備和信號接收設(shè)備的通信連接。

作為上述系統(tǒng)的進(jìn)一步地改進(jìn)，所述控制處理器，包括控制臺和單片機(jī)；其中，所述控制臺包括顯示器，使得檢測結(jié)果可通過控制臺的顯示器展示給用戶，以及用戶可通過控制臺進(jìn)行控制單片機(jī)進(jìn)而控制檢測系統(tǒng)。

參見圖3，是本發(fā)明提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)的測試過程的一個實(shí)施例的流程示意圖。

以下將以信號發(fā)射設(shè)備為無線路由器、信號接收設(shè)備為移動手持設(shè)備為例，結(jié)合上述實(shí)施例提供的系統(tǒng)和圖3，描述上述系統(tǒng)對無線路由器的測試過程：

步驟S1：建立無線路由器與移動手持設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)連接；

所述控制處理器設(shè)置所述無線路由器的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述移動手持設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)，以使所述無線路由器與所述移動手持設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接；

所述控制處理器在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設(shè)置后，判斷所述無線路由器與所述移動手持設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接的時長是否大于時長閾值，并在所述時長大于時長閾值時返回重新設(shè)置所述無線路由器的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述移動手持設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)。所述時長閾值為30秒。

步驟S2：無線路由器發(fā)送發(fā)射信號給移動手持設(shè)備；

所述射頻耦合器接收待測的無線路由器發(fā)送的一路發(fā)射信號，使得N個射頻耦合器分別傳送一路發(fā)射信號給所述射頻合路器；

所述射頻合路器對接收所述N個射頻耦合器傳送的所有發(fā)射信號進(jìn)行合并生成合路發(fā)射信號，并輸出所述合路發(fā)射信號給所述衰減裝置；

所述衰減裝置對所述合路發(fā)射信號進(jìn)行衰減，并傳送衰減后的所述合路發(fā)射信號給所述移動手持設(shè)備。

步驟S3：控制處理器控制測試儀器進(jìn)行檢測工作；

所述控制處理器接收用戶發(fā)送的請求檢測所述無線路由器發(fā)送的第i路發(fā)射信號的請求信號；

所述控制處理器根據(jù)所述請求信號控制所述射頻開關(guān)切換鏈路，以使所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送至所述測試儀器；

所述測試儀器從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并輸出檢測結(jié)果給所述控制處理器。

需要說明的是，步驟S3的檢測工作過程，衰減裝置的衰減值維持在一個恒定的數(shù)值，對耦合信號進(jìn)行檢測，而當(dāng)完成此處檢測并輸出檢測結(jié)果給控制處理器后，調(diào)整衰減裝置的衰減值再次進(jìn)行檢測，即改變傳輸?shù)陌l(fā)射信號的吞吐量來進(jìn)行再次檢測。

因而，作為上述測試過程的進(jìn)一步改，所述測試過程還包括

步驟S4，控制處理器在調(diào)整衰減裝置的衰減值后再次進(jìn)行檢測工作；

所述控制處理器在所述測試儀器輸出檢測結(jié)果后，根據(jù)預(yù)設(shè)的衰減步進(jìn)在所述衰減裝置的當(dāng)前衰減值的基礎(chǔ)上增加所述衰減裝置的衰減值，直至達(dá)到所述衰減裝置的最大衰減值；

所述測試儀器在增加所述衰減裝置的衰減值之后，繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并輸出檢測結(jié)果給所述控制處理器，直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

在本發(fā)明實(shí)施例中，上述測試儀器執(zhí)行“從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并輸出檢測結(jié)果給所述控制處理器”操作，具體過程為：

從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，判斷所述數(shù)據(jù)包是否為有效包；

若是，對計數(shù)值加一；

若否，返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包；

判斷所述計數(shù)值是否大于計數(shù)閾值；

若是，對提取的所有有效包進(jìn)行檢測，并輸出檢測結(jié)果以及對所述計數(shù)值清零；

若否，返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包。

需要說明的是，上述計數(shù)閾值可由用戶通過控制處理器設(shè)置測試儀器的計數(shù)閾值。

本發(fā)明實(shí)施提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，將衰減裝置與射頻合路器組合，能構(gòu)成速率可控的無線通路，此時待測無線路由器完全處于正常工作狀態(tài)，即在模擬用戶實(shí)際使用無線路由器的過程，以及系統(tǒng)能通過射頻耦合器分出小部分無線功率，并巧妙通過射頻開關(guān)進(jìn)行射頻通路，在不影響無線路由器正常工作的情況下，能將與發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號送入測試儀器進(jìn)行測試，即可對發(fā)射信號進(jìn)行測試。另外，系統(tǒng)的可調(diào)衰減值的衰減裝置與射頻開關(guān)即可通過控制處理器的程控切換，又能通過串口命令手動切換，兩種方式分別能實(shí)現(xiàn)自動化測試以及手動調(diào)試。

參見圖4，是本發(fā)明提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的方法的一個實(shí)施例的流程示意圖。

以下將以控制處理器作為執(zhí)行主體，描述控制處理器控制上述實(shí)施例提供的系統(tǒng)工作的過程，包括步驟S11至S13，能夠?qū)崿F(xiàn)上述實(shí)施例提供系統(tǒng)的測試全部過程，具體如下：

S11，接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設(shè)備發(fā)送給信號接收設(shè)備的第i路發(fā)射信號的請求信號；所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)射的信號包括M路發(fā)射信號；M≥i；

S12，根據(jù)所述請求信號控制射頻開關(guān)切換鏈路，以使射頻耦合器生成的第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送至測試儀器；所述射頻耦合器包括N個，N≥M；所述射頻耦合器用于傳送所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)射的信號到射頻合路器，以使所述射頻合路器將所述M路發(fā)射信號進(jìn)行生成合路發(fā)射信號，并輸出所述合路發(fā)射信號經(jīng)衰減裝置傳送到所述信號接收設(shè)備；

S13，控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果。

進(jìn)一步地，所述方法還包括：

在接收所述檢測結(jié)果后，根據(jù)預(yù)設(shè)的衰減步進(jìn)在所述衰減裝置的當(dāng)前衰減值的基礎(chǔ)上增加所述衰減裝置的衰減值，直至達(dá)到所述衰減裝置的最大衰減值；

并在增加所述衰減裝置的衰減值之后，繼續(xù)控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測，并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

進(jìn)一步地，在接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設(shè)備的第i路發(fā)射信號的請求信號的同時，還包括：

設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)，以使所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接；

在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設(shè)置后，判斷所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接的時長是否大于時長閾值，并在所述時長大于時長閾值時返回重新設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)。

進(jìn)一步地，在控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測的同時，還包括：

接收用戶設(shè)置的計數(shù)閾值；

設(shè)置所述測試儀器的計數(shù)閾值為所述用戶設(shè)置的計數(shù)閾值；其中，所述計數(shù)閾值用于判斷所述測試儀器從第i路發(fā)射信號提取數(shù)據(jù)包為有效包時的計數(shù)值是否大于所述計數(shù)閾值。

本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)和方法，將衰減裝置與射頻合路器組合，能構(gòu)成速率可控的無線通路，此時待測信號發(fā)射設(shè)備完全處于正常工作狀態(tài)，即在模擬用戶實(shí)際使用信號發(fā)射設(shè)備的過程，以及系統(tǒng)能通過射頻耦合器分出小部分無線功率，并巧妙通過射頻開關(guān)進(jìn)行射頻通路，在不影響信號發(fā)射設(shè)備正常工作的情況下，能將與發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號送入測試儀器進(jìn)行測試，即可對發(fā)射信號進(jìn)行測試。另外，系統(tǒng)的可調(diào)衰減值的衰減裝置與射頻開關(guān)即可通過控制處理器的程控切換，又能通過串口命令手動切換，兩種方式分別能實(shí)現(xiàn)自動化測試以及手動調(diào)試。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，是可以通過計算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可存儲于一計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中，所述的存儲介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲記憶體(Read-Only Memory，ROM)或隨機(jī)存儲記憶體(Random Access Memory，RAM)等。

以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。