技術特征：

技術總結
本發(fā)明公開了一種校正定位誤差的方法，包括：利用定位裝置對放置在待定位區(qū)域中采樣點上的校準裝置進行定位以獲得采樣點的測量位置；記錄該測量位置以及采樣點的真實位置并記錄采樣點測量位置與真實位置之間的對應關系；利用定位裝置對待定位裝置進行定位以獲得待定位裝置的測量位置；以及，根據(jù)待定位裝置的測量位置以及采樣點測量位置與真實位置之間的對應關系來確定待定位裝置的位置。利用校準裝置測量值修正定位誤差的方法解決了現(xiàn)有技術中由于待定位目標與定位基站所在平面間的高度差帶來的系統(tǒng)誤差導致的定位精度差的問題。

技術研發(fā)人員：蘇勵;袁韜韜;張晨曦;李飛雪;朱曉章
受保護的技術使用者：四川中電昆辰科技有限公司
技術研發(fā)日：2017.03.31
技術公布日：2017.08.29