本發(fā)明涉及一種自動處理gpib通信異常的方法，尤其涉及應(yīng)用于集成電路測試中，自動處理gpib通信異常的一種方法。

背景技術(shù)：

在集成電路晶圓測試中，需要將probe使用gpib連接到ate上進(jìn)行通信，以完成自動測試。此外，有些晶圓及成品電路測試，受限于ate的技術(shù)指標(biāo)，需要再另外使用儀器儀表來配合ate進(jìn)行測試，此時，也需要使用gpib連接ate和儀器儀表來完成自動測試。

本技術(shù)發(fā)明提供了一種自動處理gpib通信異常的方法，可應(yīng)用于上述提及的集成電路測試。該方法具有應(yīng)用范圍廣、使用簡單及快速響應(yīng)的優(yōu)點，可大大降低上述晶圓測試中，因gpib通信異常造成的額外時間成本；同時，可使測試工程師無需gpib通信知識積累進(jìn)行上述測試，大大降低上述測試對測試工程師的技術(shù)門檻。

現(xiàn)有技術(shù)中，測試工程師處理gpib通信異常。此類型技術(shù)主要依賴于gpib通信異常反饋、處理時間及測試工程師對gpib通信的知識積累。異常反饋時間可能長可能短，而異常處理則需要測試工程師的知識積累，一些測試工程師的知識積累不夠，需要花費長時間來處理，甚至無法處理，導(dǎo)致測試時間成本大大增加。因此，此類型技術(shù)，需要快速的異常反饋，這需要測試團(tuán)隊支持，同時對測試工程師需要gpib通信知識累積，這是一種門檻，限制了集成電路測試的快速發(fā)展。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題而采用的技術(shù)方案是提供一種自動處理gpib通信異常的方法，其中，具體技術(shù)方案為：

由2部分構(gòu)成，gpib通信反饋結(jié)構(gòu)及gpib通信處理軟件，gpib通信處理軟件需要安裝于ate電腦上。

上述的自動處理gpib通信異常的方法，其中：gpib通信反饋結(jié)構(gòu)是一塊印刷電路板，其上包括信號通斷顯示led、led控制走線、gpib插槽、gpib信號走線、usb插槽及usb信號走線。

上述的自動處理gpib通信異常的方法，其中：信號通斷顯示led連接led控制走線，led控制走線連接usb插槽，usb插槽連接gpib信號走線，gpib信號走線連接gpib插槽。

上述的自動處理gpib通信異常的方法，其中：gpib插槽用于連接集成電路測試中使用到的gpib，通過gpib信號走線，將所連接的所有g(shù)pib的通信、地址信息傳遞到usb信號走線。

上述的自動處理gpib通信異常的方法，其中：usb信號走線通過usb插槽上插的usb數(shù)據(jù)線，連接到ate電腦，ate電腦上的gpib通信處理軟件會依據(jù)測試工程師的設(shè)置，進(jìn)行自動收集、處理這些信息。

上述的自動處理gpib通信異常的方法，其中：ate電腦上的gpib通信處理軟件將結(jié)果通道usb數(shù)據(jù)線反饋到led控制走線，使相應(yīng)的信號通斷顯示led發(fā)光、熄滅或者閃爍。

上述的自動處理gpib通信異常的方法，其中：配合gpib通信處理軟件用于檢測集成電路測試中使用的gpib的好壞，結(jié)果通過led發(fā)光、熄滅或者閃爍顯示。

本發(fā)明相對于現(xiàn)有技術(shù)具有如下有益效果：此項技術(shù)方案降低了集成電路測試門檻，解決了現(xiàn)有方案一中的gpib通信異常反饋、處理時間的問題。本方案可應(yīng)用于使用到了gpib的晶圓、成品測試。本方案自行處理gpib通信異常，極大的降低了gpib通信異常的反饋、處理時間，提高了測試效率，降低了測試成本。

附圖說明

圖1為一種自動處理gpib通信異常的方法的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為一種自動處理gpib通信異常的方法的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為一種自動處理gpib通信異常的方法的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

ate：集成電路測試時使用的自動測試設(shè)備。

probe：集成電路測試時用于承載待測晶圓的設(shè)備。

測試工程師：實現(xiàn)集成電路自動測試的主體人群。

本技術(shù)方案可以實現(xiàn)單獨檢測gpib是否正常，無需ate系統(tǒng)。同時，將本技術(shù)連入到ate測試系統(tǒng)中，可以自動處理gpib通信異常。

針對ate測試系統(tǒng)，使用gpib連接本技術(shù)方案中的gpib通信反饋結(jié)構(gòu)及ate測試系統(tǒng)、probe及儀器儀表，此時，gpib通信反饋結(jié)構(gòu)根據(jù)所有g(shù)pib的地址，使對應(yīng)的led常亮或常滅，表征所有g(shù)pib的連接狀態(tài)，常亮表征連接正常，常滅表征連接異常；自動測試過程中，gpib通信反饋結(jié)構(gòu)會實時抓取所有g(shù)pib的通信信息，通信正常，相應(yīng)的led燈為常亮，出現(xiàn)異常時，led燈會閃爍，此時，gpib通信反饋結(jié)構(gòu)抓取到異常gpib的通信錯誤信息，通過usb將錯誤信息傳遞到測試ate電腦的gpib通信處理軟件中進(jìn)行處理。同時，gpib通信處理軟件會以文本形式記錄當(dāng)前的異常及處理過程并存檔，便于后續(xù)工程師查看。

本技術(shù)方案自動處理的整個過程快速、方便，無需額外人員介入，同時有相應(yīng)的異常及處理信息存檔，后續(xù)測試工程師可查看并改進(jìn)集成電路測試方案，達(dá)到降低測試的時間成本及測試工程師門檻。

現(xiàn)舉實施例詳細(xì)說明本發(fā)明在集成電路晶圓測試中的應(yīng)用：

技術(shù)方案參見圖三。本實施例中，需要使用到儀器儀表來配合測試，分配儀器儀表gpib地址為1，本技術(shù)方案連入測試系統(tǒng)，gpib通信反饋結(jié)構(gòu)上“1”處的led常亮，表征gpib連接正常。由于測試工程師對于gpib知識積累有限，未在測試方案中設(shè)計gpib緩存buff的清除模塊，在自動測試中，出現(xiàn)了gpibbuff溢出的通信異常，此時，本技術(shù)方案的led閃爍，并通過gpib通信反饋結(jié)構(gòu)抓取到異常gpib的buff溢出，并通過usb傳遞到gpib通信處理軟件，此時，gpib通信處理軟件會自動清理“1”地址的gpib的buff，并恢復(fù)到gpib異常前的操作狀態(tài)，繼續(xù)后續(xù)自動測試，異常解決，led燈常亮，同時，將gpibbuff溢出信息及清除buff的處理信息，以文本存檔。

目前國內(nèi)的集成電路測試正在迅猛發(fā)展，需要大量的測試工程師來完成測試方案設(shè)計，而且這些測試方案絕大部分需要用到gpib，gpib發(fā)生異常情況的會越來越多。本發(fā)明描述了一種自動處理gpib異常的方法，具有快速響應(yīng)、簡單方便的特點，可應(yīng)用于使用到gpib的ate測試中，同時無需測試工程師對gpib的知識積累，能夠降低ate測試成本及對測試工程師的技術(shù)門檻。

實施例二：

技術(shù)方案參見圖三。本實施例中，需要使用到儀器儀表來配合測試，分配儀器儀表gpib地址為2，本技術(shù)方案連入測試系統(tǒng)，gpib通信反饋結(jié)構(gòu)上“2”處的led常亮，表征gpib連接正常。由于測試工程師對于gpib知識積累有限，在設(shè)計測試方案時，指定了儀器儀表的識別名，使得其他同類型同功能的儀器儀表無法使用在該測試方案中，以及2個測試方案都指定該儀器儀表時，無法同時量產(chǎn)測試的問題。應(yīng)用本技術(shù)方案時，無需使用指定儀器儀表，在使用同類型同功能的其它儀器儀表時，gpib通信反饋結(jié)構(gòu)抓取到gpib的通信識別名不一致的異常，本技術(shù)方案的led閃爍，并通過usb傳遞到gpib通信處理軟件，gpib通信處理軟件會自動將使用中的儀器儀表的識別名偽裝成指定儀器儀表的識別名，偽裝成功后，led常亮，異常解決，測試正常開始，并將偽裝動作及偽裝前后識別名以文本形式存檔；偽裝失敗后，led常滅，測試終止，并在ate的電腦上彈出窗口提示當(dāng)前儀器儀表不支持當(dāng)前測試方案中的通信命令，并將偽裝失敗及提示以文本形式存檔。

雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的修改和完善，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)利要求書所界定的為準(zhǔn)。