本實用新型涉及一種電子元器件測試系統(tǒng)。

背景技術：

電子元器件咪頭只要用作傳聲器件，廣泛用于電子產(chǎn)品中，咪頭呈圓柱形，引腳在一側(cè)的端面上，引腳為兩個，性能測試時，探針接觸兩個引腳即可。現(xiàn)有對于電子元器件咪頭的測試時有通過人工測試，人工測試存在效率低。也有通過測試設備對于電子元器件咪頭進行測試，但由于不同的咪頭其大小不同，要求探針之間的距離也不同?，F(xiàn)有的測試設備其探針的距離固定，因此針對不同大小的咪頭需要不同探針距離的設備進行測試，從而提高測試成本。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的在于提供一種電子元器件測試系統(tǒng)，其結(jié)構簡單，使用方便，能夠測試不同型號的咪頭電子元器件，且測試準確性高。

為了達到上述目的，本實用新型的技術方案是：

一種電子元器件測試系統(tǒng)，包括底座，所述底座上開設有存儲滑槽，所述存儲滑槽內(nèi)安裝有電子元器件存儲板，所述電子元器件存儲板上開設有電子元器件存儲凹槽；所述底座上安裝有支撐架，所述支撐架上安裝有氣缸，所述氣缸與氣缸推桿相連，所述氣缸推桿與檢測底板相連，所述檢測底板上開設有調(diào)節(jié)滑槽，所述調(diào)節(jié)滑槽內(nèi)分別安裝有第一滑塊、第二滑塊、第三滑塊，所述第一滑塊與第一測針相連，所述第二滑塊與第二測針相連，所述第三滑塊與第三測針相連，所述第一滑塊與第二滑塊之間的調(diào)節(jié)滑槽內(nèi)安裝有第一限位塊，所述第二滑塊與第三滑塊之間的調(diào)節(jié)滑槽內(nèi)安裝有第二限位塊，所述第三滑塊與第一滑塊之間的調(diào)節(jié)滑槽內(nèi)安裝有第三限位塊。

所述支撐架下端安裝有紅外線計算器。

所述電子元器件存儲凹槽內(nèi)安裝有緩沖墊。

所述支撐架上端安裝有LED燈。

本實用新型的有益效果是：一種電子元器件測試系統(tǒng)，其結(jié)構簡單，使用方便，能夠測試不同型號的咪頭電子元器件，且測試準確性高。

附圖說明

圖1為本實用新型的結(jié)構示意圖；

圖2為檢測底板的結(jié)構示意圖。

具體實施方式

實施例1

如圖1、圖2所示一種電子元器件測試系統(tǒng)，包括底座1，所述底座1上開設有存儲滑槽2，所述存儲滑槽2內(nèi)安裝有電子元器件存儲板3，所述電子元器件存儲板3上開設有電子元器件存儲凹槽4；所述底座1上安裝有支撐架11，所述支撐架11上安裝有氣缸12，所述氣缸12與氣缸推桿13相連，所述氣缸推桿13與檢測底板14相連，所述檢測底板14上開設有調(diào)節(jié)滑槽15，所述調(diào)節(jié)滑槽15內(nèi)分別安裝有第一滑塊21、第二滑塊22、第三滑塊23，所述第一滑塊21與第一測針24相連，所述第二滑塊22與第二測針25相連，所述第三滑塊23與第三測針26相連，所述第一滑塊21與第二滑塊22之間的調(diào)節(jié)滑槽15內(nèi)安裝有第一限位塊27，所述第二滑塊22與第三滑塊 23之間的調(diào)節(jié)滑槽15內(nèi)安裝有第二限位塊28，所述第三滑塊23與第一滑塊21之間的調(diào)節(jié)滑槽15內(nèi)安裝有第三限位塊29。

電子元器件存儲凹槽4內(nèi)可存放電子元器件咪頭，在檢測時可手動推動電子元器件存儲板3在存儲滑槽2內(nèi)滑動，使電子元器件存儲板3內(nèi)的每個電子元器件存儲凹槽4內(nèi)存放的電子元器件咪頭通過測試。第一測針25、第二測針26和第三測針27均與測試電路相連，第一測針25、第二測針26和第三測針27其中兩根測針與引腳接觸，通過測試電路即可完成測試，從而有效提高檢測準確性。由于第一滑塊21、第二滑塊22和第三滑塊23能夠調(diào)節(jié)滑槽15內(nèi)滑動，因此能夠調(diào)節(jié)第一測針25、第二測針26和第三測針27之間的距離，從而適合測試不同大小的咪頭。

所述支撐架11下端安裝有紅外線計算器16。紅外線計算器16 的設置能夠統(tǒng)計測試數(shù)量。

所述電子元器件存儲凹槽4內(nèi)安裝有緩沖墊5。緩沖墊5的設置避免測針下落時對咪頭的檢測壓力損傷咪頭。

所述支撐架11上端安裝有LED燈17。

本實施例的一種電子元器件測試系統(tǒng)，其結(jié)構簡單，使用方便，能夠測試不同型號的咪頭電子元器件，且測試準確性高。