技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種PIM多頻段測(cè)試裝置，包括：信號(hào)源、具有不同頻段且相互并聯(lián)的多個(gè)無(wú)源器件、控制開(kāi)關(guān)、開(kāi)關(guān)控制盒以及頻譜儀；其中，所述信號(hào)源為并聯(lián)的兩組，所述兩組信號(hào)源與所述無(wú)源器件以及頻譜儀依次串聯(lián)連接；所述控制開(kāi)關(guān)包括：設(shè)置在所述信號(hào)源與無(wú)源器件之間用于分配信號(hào)源傳輸路徑的第一組射頻開(kāi)關(guān)和設(shè)置在所述無(wú)源器件與所述頻譜儀之間用于控制信號(hào)傳輸路徑的第二組射頻開(kāi)關(guān)，所述開(kāi)關(guān)控制盒控制所述控制開(kāi)關(guān)中各組射頻開(kāi)關(guān)的開(kāi)斷，待檢測(cè)產(chǎn)品連接至所述無(wú)源器件。本實(shí)用新型可以對(duì)不同頻段的待檢測(cè)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)互調(diào)測(cè)試，有效地解決因產(chǎn)品頻段多，需要頻繁切換測(cè)試頻段而造成的時(shí)間多，需要設(shè)備數(shù)量多的問(wèn)題。

技術(shù)研發(fā)人員：李加賓;吳曉慶;侯善全
受保護(hù)的技術(shù)使用者：艾迪康科技（蘇州）有限公司
文檔號(hào)碼：201720195676
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.02
技術(shù)公布日：2017.09.15