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      一種上行外部干擾檢測方法和裝置的制造方法

      文檔序號:9203165閱讀:332來源:國知局
      一種上行外部干擾檢測方法和裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及移動通信技術(shù),尤其涉及一種上行外部干擾檢測方法和裝置。背景技 術(shù)
      [0002] 移動通信用戶的迅速增長帶來了移動通信網(wǎng)絡(luò)規(guī)模的快速膨脹,隨著網(wǎng)絡(luò)規(guī)模的 不斷擴(kuò)大,網(wǎng)絡(luò)干擾水平隨之出現(xiàn)不同程度的上升。
      [0003] 干擾問題一直是影響網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量的主要因素之一,干擾將導(dǎo)致呼叫失敗、質(zhì)差雜音、 掉話等等問題,嚴(yán)重影響客戶感知,是導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量下降的非常關(guān)鍵的問題。干擾分為上行 干擾和下行干擾,下行干擾主要是網(wǎng)內(nèi)的頻率干擾,而上行干擾的種類非常多,主要為設(shè)備 隱性故障造成的干擾、覆蓋延伸設(shè)備的干擾、互調(diào)干擾、其他通信系統(tǒng)巧日CDMA、GSM)干擾W 及私裝放大器干擾等,故障定位相對比較麻煩,工作量也大。
      [0004] 現(xiàn)有的上行外部干擾的分析,大多依賴于上行頻率掃描數(shù)據(jù),像FAS數(shù)據(jù)。但在網(wǎng) 絡(luò)測量期間,不可避免地會遇到各種問題,比如采樣點(diǎn)數(shù)不夠、基站本身故障,W及其他偶 然因素引起的問題,該些問題直接影響測量數(shù)據(jù)的全面性準(zhǔn)確性,使得測量數(shù)據(jù)難W真實(shí) 準(zhǔn)確反映網(wǎng)絡(luò)情況。同時不是所有的設(shè)備廠商都支持上行頻率掃描測量功能,對于沒有上 行頻率掃描測量功能的廠商,分析上行外部干擾的方法很有限,較為依賴技術(shù)人員經(jīng)驗(yàn)及 現(xiàn)場掃頻儀數(shù)據(jù),定位排查效率偏低。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005] 為解決現(xiàn)有存在的技術(shù)問題,本發(fā)明實(shí)施例提供一種上行外部干擾檢測方法和裝 置。
      [0006] 本發(fā)明實(shí)施例提供一種上行外部干擾檢測方法,所述方法包括:
      [0007] 采集話務(wù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù);
      [0008] 根據(jù)干擾帶band4和bands的占比及話務(wù)量篩選干擾疑似小區(qū);
      [0009] 獲取干擾疑似小區(qū)的信息,所述信息包括干擾疑似小區(qū)的基站位置信息、方位角 信息及鄰區(qū)關(guān)系;
      [0010] 根據(jù)所述信息確定干擾疑似小區(qū)與周邊小區(qū)的位置邏輯層次關(guān)系;
      [0011] 通過干擾疑似小區(qū)周邊小區(qū)的受干擾情況,確定是上行外部干擾的干擾疑似小 區(qū)。
      [0012] 本發(fā)明實(shí)施例提供一種上行外部干擾檢測裝置,所述裝置包括:
      [0013] 采集單元,用于采集話務(wù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù);
      [0014] 篩選單元,用于根據(jù)干擾帶band4和bands的占比及話務(wù)量篩選干擾疑似小區(qū);
      [0015] 獲得單元,用于獲取干擾疑似小區(qū)的信息,所述信息包括干擾疑似小區(qū)的基站位 置信息、方位角信息及鄰區(qū)關(guān)系;
      [0016] 第一確定單元,用于根據(jù)所述信息確定干擾疑似小區(qū)與周邊小區(qū)的位置邏輯層次 關(guān)系;
      [0017] 第二確定單元,用于通過干擾疑似小區(qū)周邊小區(qū)的受干擾情況,確定是上行外部 干擾的干擾疑似小區(qū)。
      [0018] 由上可知,本發(fā)明的技術(shù)方案包括;采集話務(wù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù);根據(jù)干擾帶band4和 bands的占比及話務(wù)量篩選干擾疑似小區(qū);獲取干擾疑似小區(qū)的信息,所述信息包括干擾 疑似小區(qū)的基站位置信息、方位角信息及鄰區(qū)關(guān)系;根據(jù)所述信息確定干擾疑似小區(qū)與周 邊小區(qū)的位置邏輯層次關(guān)系;通過干擾疑似小區(qū)周邊小區(qū)的受干擾情況,確定是上行外部 干擾的干擾疑似小區(qū)。由此,本發(fā)明能夠?qū)W(wǎng)絡(luò)進(jìn)行核查,準(zhǔn)確找出可能存在上行外部干擾 的小區(qū),且不受廠家設(shè)備的制約。
      【附圖說明】
      [0019] 圖1為本發(fā)明提供的一種上行外部干擾檢測方法的第一實(shí)施例的流程示意圖;
      [0020] 圖2為本發(fā)明實(shí)施例確定干擾疑似小區(qū)與周邊小區(qū)的位置邏輯層次關(guān)系的流程 示意圖;
      [0021] 圖3為本發(fā)明目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)右上方時,計(jì)算源小區(qū)、目標(biāo)小區(qū)與射線夾角 的示意圖;
      [0022] 圖4為本發(fā)明目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)右下方時,計(jì)算源小區(qū)、目標(biāo)小區(qū)與射線夾角 的不意圖;
      [0023] 圖5為本發(fā)明目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)左上方時,計(jì)算源小區(qū)、目標(biāo)小區(qū)與射線夾角 的示意圖;
      [0024] 圖6為本發(fā)明目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)左下方時,計(jì)算源小區(qū)、目標(biāo)小區(qū)與射線夾角 的示意圖;
      [00巧]圖7為本發(fā)明提供的一種上行外部干擾檢測方法的第二實(shí)施例的流程示意圖;
      [0026] 圖8為本發(fā)明提供的一種上行外部干擾檢測裝置的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實(shí) 施方式
      [0027] 本發(fā)明提供的一種上行外部干擾檢測方法的第一實(shí)施例,如圖1所示,所述方法 包括:
      [0028] 步驟101、采集話務(wù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù);
      [0029] 該里,收集BSC的band統(tǒng)計(jì),band統(tǒng)計(jì)分為5個等級,分別是bandl,band2,band3, band4和bands,在話務(wù)統(tǒng)計(jì)中,不同的設(shè)備廠家對應(yīng)的counter名稱會不一樣,但是意義是 相同的。
      [0030] 步驟102、根據(jù)干擾帶band4和bands的占比及話務(wù)量篩選干擾疑似小區(qū);
      [0031] 具體的,計(jì)算band4和bands所占比例超過口限及話務(wù)量超過口限的小區(qū)。
      [0032] 本文中,各口限值為默認(rèn)值,需根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行更改。
      [0033] 步驟103、獲取干擾疑似小區(qū)的信息,所述信息包括干擾疑似小區(qū)的基站位置信 息、方位角信息及鄰區(qū)關(guān)系;
      [0034] 步驟104、根據(jù)所述信息確定干擾疑似小區(qū)與周邊小區(qū)的位置邏輯層次關(guān)系; [00巧]該里,所述根據(jù)所述信息確定干擾疑似小區(qū)與周邊小區(qū)的位置邏輯層次關(guān)系,女口 圖2所示,包括:
      [003引1041、獲取干擾疑似小區(qū)的目標(biāo)小區(qū),所述干擾疑似小區(qū)為源小區(qū),所述目標(biāo)小區(qū) 為源小區(qū)的鄰區(qū);
      [0037] 具體的,W源小區(qū)所在基站為中也點(diǎn),目標(biāo)小區(qū)為源小區(qū)的鄰區(qū),只考慮GSM900, 且室內(nèi)站不計(jì)算在內(nèi)。
      [0038] 1042、判斷源小區(qū)與目標(biāo)小區(qū)的方位角關(guān)系;
      [0039] 該里,所述方位角關(guān)系是指兩個小區(qū)的朝向關(guān)系,用于表征小區(qū)的特性;所述方位 角關(guān)系分為;正對,側(cè)對,同向和背向;
      [0040] 1043、根據(jù)經(jīng)締度判斷目標(biāo)小區(qū)與源小區(qū)的相對位置關(guān)系;
      [0041] 相對位置關(guān)系具體可分為:目標(biāo)小區(qū)在源小區(qū)的右上方和正上方;目標(biāo)小區(qū)在源 小區(qū)的右下方和正右方;目標(biāo)小區(qū)在源小區(qū)的左上方和正左方;目標(biāo)小區(qū)在源小區(qū)的左下 方和正下方;
      [0042] 1044、針對各相對位置關(guān)系,分別計(jì)算源小區(qū)和目標(biāo)小區(qū)的方位角與經(jīng)過源小區(qū) 和目標(biāo)小區(qū)的射線的夾角;
      [0043] 具體包括;A、畫一條W源小區(qū)為起點(diǎn)經(jīng)過目標(biāo)小區(qū)的射線,對上述四種相對位置 關(guān)系,分別計(jì)算源小區(qū)和目標(biāo)小區(qū)的方位角與所畫射線的夾角。W經(jīng)度為X軸,締度為Y軸 建立二維坐標(biāo)系,設(shè)源小區(qū)和目標(biāo)小區(qū)的坐標(biāo)分別為化onA,LatA)和化〇址,La巧),在坐標(biāo) 化onB,LatA)處作點(diǎn)P,并點(diǎn)P到源小區(qū)的距離為dl,點(diǎn)P到目標(biāo)小區(qū)的距離為d2,dl和d2 為線段的長度,通過經(jīng)締度可計(jì)算出;令源小區(qū)方位角為a,目標(biāo)小區(qū)的方位角為0,a和 0為已知量,通過基礎(chǔ)數(shù)據(jù)可得到謝線與Y軸的夾角為目,源小區(qū)與射線的夾角為Y,目 標(biāo)小區(qū)與射線的夾角為5。
      [0044] B、根據(jù)所建的二維坐標(biāo)系,判斷源小區(qū)和目標(biāo)小區(qū)的相對位置關(guān)系,假設(shè)源小區(qū) 和目標(biāo)小區(qū)都在北半球,貝ij有:若La巧> =LatA并且LonB> =LonA,則目標(biāo)小區(qū)位于源小 區(qū)的右上方;若La巧> =LatA并且LonB= <LonA,則目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)的左上方;若 LatB= <LatA并且LonB>LonA,則目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)的右下方;若LatB= <LatA并且 LonB<LonA,則目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)的左下方。
      [0045] C、分別計(jì)算源小區(qū)與射線的夾角為Y,目標(biāo)小區(qū)與射線的夾角為5:
      [0046] 1、當(dāng)目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)右上方時,如圖3所示,有目=arctan(dl/d2),當(dāng)目標(biāo)小 區(qū)在源小區(qū)正上方時目=0 ;
      [0047] 若a《目,源小區(qū)與射線的夾角y=目-a,且夾角位于射線的右上方;
      [004引若a>目,且a-目《JI,源小區(qū)與射線的夾角y=a-目,且夾角位于射線的左下方;
      [004引若a>e,且a-e>Ji,源小區(qū)與射線的夾角y=2JI-(a-目),且夾角位于射 線的右上方;
      [0050]同理,
      [005。若0《目目標(biāo)小區(qū)與射線的夾角5=目-0,且夾角位于射線的右上方;
      [005引若0 >目,且0-目《n,目標(biāo)小區(qū)與射線的夾角5 = 0-目,且夾角位于射線的 左下方;
      [005引若0 >目,且0-目>n,目標(biāo)小區(qū)與射線的夾角5=2ji-(0-目),且夾角位于 射線的右上方;
      [0054] 2、當(dāng)目標(biāo)小區(qū)位于源小區(qū)的右下方時,如圖4所示,有目=31-arctan(dl/d2)。當(dāng) 目標(biāo)小區(qū)在源小區(qū)正右方時目=n/2 ;
      [005引若a《目,源小區(qū)與射線的夾角y=目-a,且夾角位于射線的右上方;
      [005引若a>目,且a-目《JI,源小區(qū)與射線的夾角y=a-目,且夾角位于射線的左 下方;
      [0057]若a>0,且a-目>Ji,源小區(qū)與射線的夾角y=231-(a-目),且夾角位于射 線的右上方;
      [005引 同理,
      [0059] 若0《目目標(biāo)小區(qū)與射線的夾角5=目-0,且夾角位于射線的右上方;
      [0060] 若0 >目,且0-目《n,目標(biāo)小區(qū)與射線的夾角5 = 0-目,且夾角位于射線的
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