通過斷開開關(guān)SWCH來將信號(hào)保持在電容器CS中。
[0062]圖9是第二累積模式的時(shí)序圖?？刂茊卧?03通過接通開關(guān)SWRES和SWCH來使電容器CL和CS復(fù)位。隨后，控制單元103通過順次斷開傳輸門MTX和開關(guān)SWRES來開始信號(hào)累積。
[0063]在信號(hào)累積期間，由于傳輸門MTX斷開，因此無(wú)法根據(jù)輸出VOUT來監(jiān)視信號(hào)的累積狀態(tài)。因此，無(wú)法通過使用PB對(duì)比度檢測(cè)電路105和累積停止判斷電路106來判斷累積停止。
[0064]如稍后將要說明的，根據(jù)本實(shí)施例，在CPU 100將一個(gè)線傳感器設(shè)置在第二累積模式的情況下，將另一個(gè)線傳感器設(shè)置在第一累積模式。由于該原因，控制單元103與設(shè)置在第一累積模式中的線傳感器對(duì)的停止判斷聯(lián)動(dòng)地停止設(shè)置在第二累積模式中的線傳感器對(duì)的累積，并且進(jìn)行信號(hào)存儲(chǔ)操作。
[0065]在信號(hào)存儲(chǔ)操作中，首先，控制單元103通過接通開關(guān)SWRES來使電容器CL、FD部和電容器CS復(fù)位。此時(shí)，由于傳輸門MTX保持?jǐn)嚅_，因此保持ro部中累積的信號(hào)電荷。
[0066]控制單元103通過在斷開開關(guān)SWRES之后接通傳輸門MTX來將光電二極管H)中累積的信號(hào)電荷傳輸至積分電容器CL?？刂茊卧?03通過斷開傳輸門MTX來結(jié)束信號(hào)電荷的傳輸，然后通過斷開開關(guān)SWCH來將信號(hào)保持在電容器CS中。
[0067]這樣，由于在傳輸信號(hào)電荷之前立即使電容器CL和FD部復(fù)位，因此去除累積期間所生成的暗電流成分。在第一累積模式中所控制的另一個(gè)線傳感器對(duì)的像素部的缺陷充分小并且適當(dāng)?shù)乜刂评鄯e的情況下，線傳感器可以獲得暗電流成分的量相對(duì)較小的充分的信號(hào)量。
[0068]將參考圖10的流程圖來詳細(xì)說明具有上述結(jié)構(gòu)的焦點(diǎn)調(diào)節(jié)設(shè)備的操作。
[0069]在步驟S1000中，CPU 100從存儲(chǔ)電路209讀出制造過程等中預(yù)先檢查到的與缺陷像素部有關(guān)的信息。在這種情況下，與缺陷像素部有關(guān)的信息是各像素部的暗電流的大小。在以下說明中，將各線傳感器對(duì)的各個(gè)像素部的暗電流中的各線傳感器對(duì)中的最大暗電流值記作像素缺陷值。
[0070]在步驟S1001中，CPU 100判斷線傳感器對(duì)102-1和102_2中的各線傳感器對(duì)的像素缺陷值是否等于或小于預(yù)定閾值。在兩個(gè)線傳感器對(duì)的像素部中的任意像素缺陷值等于或小于閾值的情況下，處理進(jìn)入步驟S1002。與之相比，在兩個(gè)線傳感器對(duì)的像素部中的任意像素缺陷值大于閾值的情況下，處理進(jìn)入步驟S1003中的處理。
[0071]在步驟S1002中，CPU 100將兩個(gè)線傳感器對(duì)設(shè)置在第一累積模式中。在這種情況下，由于各個(gè)線傳感器對(duì)的任意像素缺陷值小于預(yù)定閾值，因此由于像素缺陷部，在累積充分的信號(hào)量之前沒有判斷為累積停止。因此，根據(jù)各線傳感器對(duì)上投影的被攝體圖像，在AF傳感器101的各線傳感器對(duì)上進(jìn)行最佳累積控制。
[0072]在步驟S1003中，CPU 100比較兩個(gè)線傳感器對(duì)中的像素缺陷值的大小。在比較各個(gè)線傳感器對(duì)的像素缺陷值時(shí)、線傳感器對(duì)102-1中的像素缺陷值的大小等于或大于線傳感器對(duì)102-2中的像素缺陷值的大小的情況下，處理轉(zhuǎn)移到步驟S1004。在線傳感器對(duì)102-2中的像素缺陷值大于線傳感器對(duì)102-1中的像素缺陷值的情況下，處理轉(zhuǎn)移到步驟S1005o
[0073]在步驟S1004中，CPU 100將線傳感器對(duì)102_1設(shè)置在第二累積模式，并將線傳感器對(duì)102-2設(shè)置在第一累積模式。在步驟S1005中，CPU 100將線傳感器對(duì)102-1設(shè)置在第一累積模式，并將線傳感器對(duì)102-2設(shè)置在第二累積模式。
[0074]在步驟S1002、S1004和S1005中設(shè)置線傳感器對(duì)的累積模式時(shí)，在步驟S1006中，CPU 100驅(qū)動(dòng)AF傳感器。
[0075]在步驟S1006中，如上所述，CPU 100將控制指示發(fā)送到控制單元103，并且控制單元103根據(jù)所設(shè)置的模式來控制各單元。
[0076]在兩個(gè)線傳感器均設(shè)置在第一累積模式的情況下，控制單元103控制線選擇電路104，以在預(yù)定周期內(nèi)監(jiān)視線傳感器對(duì)102-1和102-2的信號(hào)累積狀態(tài)。另外，在一個(gè)線傳感器對(duì)設(shè)置在第二累積模式的情況下，控制單元103控制線選擇電路104，以僅監(jiān)視設(shè)置在第一累積模式中的線傳感器對(duì)的信號(hào)累積狀態(tài)。
[0077]在停止這兩個(gè)線傳感器對(duì)中的信號(hào)累積的情況下，CPU 100將處理轉(zhuǎn)移到步驟S1007o
[0078]在步驟S1007中，CPU 100經(jīng)由輸出電路108從各個(gè)線傳感器對(duì)讀出信號(hào)。如上所述，來自設(shè)置在第二累積模式中的線傳感器對(duì)的信號(hào)是僅包含微小暗電流成分的信號(hào)。
[0079]在步驟S1008中，CPU 100判斷從線傳感器對(duì)所獲得的信號(hào)的可靠性，并且判斷信號(hào)是否能夠用于焦點(diǎn)檢測(cè)計(jì)算。例如，用于可靠性判斷的指標(biāo)包括根據(jù)所獲得的信號(hào)計(jì)算出的亮度信息、對(duì)比度信息和兩個(gè)線傳感器對(duì)所形成的圖像之間的一致度。
[0080]特別地，從設(shè)置在第二累積模式中的線傳感器對(duì)所獲得的信號(hào)并沒有基于投影到該線傳感器對(duì)的被攝體圖像而進(jìn)行信號(hào)累積控制，因此該信號(hào)可能已飽和。假定在第二累積模式中驅(qū)動(dòng)一個(gè)線傳感器對(duì)。在這種情況下，如果高亮度點(diǎn)光源僅投影到該線傳感器對(duì)，則該線傳感器對(duì)即使在第一累積模式中驅(qū)動(dòng)的另一個(gè)線傳感器對(duì)已進(jìn)行最佳累積控制的情況下也是飽和的。在這樣的情況下，該信號(hào)無(wú)法用于焦點(diǎn)檢測(cè)計(jì)算。
[0081]在步驟S1009中，CPU 100進(jìn)行焦點(diǎn)檢測(cè)計(jì)算。在步驟S1008中判斷為兩個(gè)線傳感器對(duì)的可靠性高于預(yù)定水平時(shí)，CPU 100對(duì)來自這兩個(gè)線傳感器對(duì)的信號(hào)進(jìn)行合成，并且進(jìn)行焦點(diǎn)檢測(cè)計(jì)算。在線傳感器對(duì)中的至少一個(gè)線傳感器對(duì)的可靠性低于預(yù)定水平的情況下，CPU 100通過使用具有較高可靠性的信號(hào)來進(jìn)行焦點(diǎn)檢測(cè)計(jì)算。
[0082]在步驟S1010中，CPU 100基于焦點(diǎn)檢測(cè)計(jì)算結(jié)果來將攝像鏡頭驅(qū)動(dòng)至適當(dāng)?shù)慕裹c(diǎn)狀態(tài)。
[0083]如上所述，本實(shí)施例被配置成:在信號(hào)累積時(shí)將具有像素缺陷值大的像素部的線傳感器對(duì)中所累積的信號(hào)電荷傳輸至積分電容器，并對(duì)該信號(hào)電荷進(jìn)行積分，從而防止由于累積期間像素部中的缺陷(暗電流)而停止累積。這使得即使像素缺陷值大的線傳感器也能夠累積充分的信號(hào)。使用該信號(hào)能夠?qū)崿F(xiàn)精確的焦點(diǎn)檢測(cè)計(jì)算。
[0084]另外，盡管本實(shí)施例以一個(gè)AF框中配置的兩個(gè)線傳感器對(duì)為例進(jìn)行說明，但也可以如上所述以相同方式來控制上述AF框附近的不同AF框中配置的兩個(gè)線傳感器。
[0085]另外，本實(shí)施例以一個(gè)AF框配置在中心處的兩個(gè)線傳感器對(duì)為例進(jìn)行說明。然而，也可以如上所述以相同方式來控制與多個(gè)AF框相對(duì)應(yīng)的多個(gè)線傳感器對(duì)。
[0086]第二實(shí)施例
[0087]以下將參考圖11的流程圖來說明根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的焦點(diǎn)檢測(cè)操作。注意，由于照相機(jī)和焦點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備的結(jié)構(gòu)與參考圖1?圖5的第一實(shí)施例中說明的結(jié)構(gòu)相同，因此將省略它們的說明。
[0088]在步驟SllOO中，CPU 100從存儲(chǔ)電路209讀出制造過程等中預(yù)先檢查到的與缺陷像素部有關(guān)的信息。在步驟SllOl中，CPU 100根據(jù)AE傳感器207檢測(cè)到的測(cè)光值來獲得被攝體亮度L。
[0089]在步驟S1102中，CPU 100判斷被攝體亮度L。在被攝體亮度L ^ Lthl的情況下，處理進(jìn)入步驟S1106，以將線傳感器對(duì)102-1和102-2兩者設(shè)置在第一累積模式。
[0090]另外，在被攝體亮度L滿足Lthl>L>Lth2的情況下，處理進(jìn)入步驟S1103，以將用于判斷像素缺陷值的大小的閾值設(shè)置為Fthl。接著，處理進(jìn)入步驟S1105。在被攝體亮度L滿足Lth2 ^ L的情況下，處理進(jìn)入步驟S1104，以將用于判斷像素缺陷值的大小的閾值設(shè)置為Fth2。接著，處理進(jìn)入步驟S1105。在這種情況下，F(xiàn)thl>Fth2。隨著被攝體亮度的增加，AF傳感器驅(qū)動(dòng)中的信號(hào)累積時(shí)間減少。作為像素信號(hào)中的缺陷的暗電流所生成的信號(hào)電荷與累積時(shí)間成比例。因此，隨著信號(hào)累積時(shí)間的減少，缺陷對(duì)第一累積模式中控制的線傳感器對(duì)的累積停止控制的影響變得較小。另外，所獲得的信號(hào)中所包含的隨機(jī)噪聲以光散粒噪聲(optical shot noise)占主導(dǎo)，因此可以忽略由暗電流生成的隨機(jī)噪聲。因此，在被攝體亮度高的情況下，可以允許一定程度的像素缺陷值。
[0091]在步驟S1105中，CPU 100判斷兩個(gè)線傳感器對(duì)中的像素缺陷值是否等于或小于步驟S1103或S1104中設(shè)置的閾值。在缺陷值等于或小于閾值的情況下，CPU 100使處理進(jìn)入步驟S1106，以將線傳感器對(duì)102-1和102-2兩者設(shè)置在第一累積模式。在缺陷值大于閾值的情況下，處理進(jìn)入步驟SI 107。
[0092]步驟SI 107?步驟SI 114中的處理與第