一種射頻測試座和射頻測試線纜的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及終端射頻測試技術領域，特別涉及一種射頻測試座和射頻測試線纜。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)在所使用的射頻測試座，主要是用來測試射頻線纜的功率和靈敏度的，當不插入射頻測試線纜的時候，信號可以雙向流通，如圖1所示，帶箭頭的線是信號線，箭頭的方向表示信號的流向，但是，當插入射頻測試線纜的時候，信號只能單向?qū)ǎ鐖D2和圖3分別顯示了射頻測試座和射頻測試線纜的示意圖。如圖4所示，在測試射頻線纜功率的場景，當射頻測試線纜連接到射頻測試座的時候，射頻測試座就是單向?qū)ǖ?，只與射頻芯片這邊是導通的，與天線這一端是斷開的，也就是說，當不插入射頻測試線纜的時候，射頻測試座里面一個簧片是在圖中虛線所在的狀態(tài)。當插入射頻測試線纜的時候，射頻測試座中的簧片就從虛線的狀態(tài)，被往下擠壓到了實線這個狀態(tài)。
[0003]也就是說，LTE的終端上在每個射頻芯片和天線之間都有一個射頻測試座，現(xiàn)有的射頻測試座在插上射頻測試線纜以后，只有單向?qū)?，如果需要測量天線的Sll參數(shù)或者史密斯Smith圓圖的時候，必須把射頻測試座吹掉，把射頻測試線纜焊到主板上。這樣做有幾個缺點:
[0004]1、必須破壞主板來制作測試天線無源治具；
[0005]2、無源板通常和有源板有一定的差異，我們在無源板上調(diào)好天線的駐波和有源板測試的天線性能經(jīng)常不能一一對應；
[0006]3、如果更換主板射頻匹配或者更換主板廠家，我們需要重新制作無源板，這樣就需要破壞很多主板。
[0007]為解決上述問題，本發(fā)明提供了一種射頻測試座和射頻測試線纜。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的目的在于提供一種射頻測試座和射頻測試線纜，解決了現(xiàn)有技術中在不需要破壞主板來制作天線治具時，使得天線無源板和射頻有源板可以統(tǒng)一起來的問題。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種射頻測試座，包括:
[0010]射頻測試機座；
[0011 ] 固定在所述射頻測試機座內(nèi)的連接裝置；
[0012]固定在所述射頻測試機座內(nèi)的第一彈性裝置和第二彈性裝置，分別與所述連接裝置彈性連接。
[0013]優(yōu)選地，所述連接裝置包括:
[0014]金屬片；
[0015]設置在所述金屬片下側兩端的第一接觸點和第二接觸點。
[0016]優(yōu)選地，所述第一彈性裝置與所述連接裝置的第一接觸點彈性連接，所述第二彈性裝置與所述連接裝置的第二接觸點彈性連接。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種射頻測試線纜，包括:
[0018]固定在射頻測試線末端的射頻測試插頭；
[0019]安裝在所述射頻測試插頭一側并長于所述射頻測試插頭的絕緣頂針裝置。
[0020]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種手機射頻測試設備，包括:
[0021]權利要求1-3所述的射頻測試座；
[0022]權利要求4-6所述的射頻測試線纜；
[0023]測試模塊，用于分別通過射頻測試座中的第一彈性裝置和第二彈性裝置連接的第一測試裝置和第二測試裝置，利用所述射頻測試線纜和所述射頻測試座分別進行測試。
[0024]優(yōu)選地，所述測試模塊包括:
[0025]第一測試子模塊，用于利用所述絕緣頂針裝置頂壓所述第二彈性裝置，斷開所述射頻測試線纜與所述第二測試裝置的連接，同時利用所述射頻測試插頭與所述連接裝置相連接，以便經(jīng)由所述第一彈性裝置連接的所述第一測試裝置進行測試。
[0026]優(yōu)選地，所述測試模塊還包括:
[0027]第二測試子模塊，用于利用所述絕緣頂針裝置頂壓所述第一彈性裝置，斷開所述射頻測試線纜與所述第一測試裝置的連接，同時利用所述射頻測試插頭與所述連接裝置相連接，以便經(jīng)由所述第二彈性裝置連接的所述第二測試裝置進行測試。
[0028]優(yōu)選地，所述絕緣頂針裝置頂壓所述第二彈性裝置時，斷開所述第二彈性裝置與所述連接裝置的第二接觸點彈性連接，使得所述射頻測試線纜與所述第一測試裝置斷開。
[0029]優(yōu)選地，所述絕緣頂針裝置頂壓所述第一彈性裝置時，斷開所述第一彈性裝置與所述連接裝置的第一接觸點彈性連接，使得所述射頻測試線纜與所述第二測試裝置斷開。
[0030]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種手機射頻測試方法，包括以下步驟:
[0031]第一測試裝置與第二測試裝置通過射頻測試座中的連接第一測試裝置的第一彈性裝置和連接第二測試裝置的第二彈性裝置進行連接；
[0032]射頻測試線纜的絕緣頂針裝置通過頂壓所述第二彈性裝置，斷開射頻測試座與第二測試裝置連接，以便經(jīng)由所述射頻測試頭和所述第一彈性裝置對第一測試裝置進行測試；
[0033]射頻測試線纜的絕緣頂針裝置通過頂壓所述第一彈性裝置，斷開射頻測試座與第一測試裝置連接，以便經(jīng)由所述射頻測試頭和所述第二彈性裝置對第二測試裝置進行測試。
[0034]與現(xiàn)有技術相比較，本發(fā)明的有益效果在于:
[0035]本發(fā)明通過射頻測試座和射頻測試線纜，使第一測試單元和第二測試單元可以統(tǒng)一起來，不需要破壞主板來制作天線治具，提高了用戶體驗。
【附圖說明】
[0036]圖1是現(xiàn)有技術提供的射頻測試座的仰視圖；
[0037]圖2是現(xiàn)有技術提供的射頻測試座的示意圖；
[0038]圖3是現(xiàn)有技術提供的射頻測試線纜的示意圖；
[0039]圖4是現(xiàn)有技術提供的射頻測試座和射頻測試線纜工作的結構圖；
[0040]圖5是本發(fā)明提供的一種射頻測試座的示意圖；
[0041]圖6是本發(fā)明提供的一種射頻測試線纜的示意圖；
[0042]圖7是本發(fā)明實施例提供的一種手機射頻測試的裝置示意圖；
[0043]圖8是本發(fā)明實施例提供的一種手機射頻測試的方法流程圖；
[0044]圖9是本發(fā)明實施例提供的射頻測試座進行測試的示意圖；
[0045]圖10是本發(fā)明實施例提供的測試射頻線纜功率和靈敏度的示意圖；
[0046]圖11是本發(fā)明實施例提供的測試手機天線的無源波形的示意圖。
【具體實施方式】
[0047]以下結合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行詳細說明，應當理解，以下所說明的優(yōu)選實施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0048]圖5顯示了本發(fā)明提供的一種射頻測試座的示意圖，如圖5所示，包括:射頻測試機座；固定在所述射頻測試機座內(nèi)的連接裝置，用于與射頻測試線纜相連接；固定在所述射頻測試機座內(nèi)的第一彈性裝置和第二彈性裝置，分別與所述連接裝置彈性連接，用于連接/斷開射頻測試線纜與第一測試裝置和第二測試裝置。其中，所述連接裝置包括:金屬片；設置在所述金屬片下側兩端的第一接觸點和第二接觸點。所述第一彈性裝置與所述連接裝置的第一接觸點彈性連接，所述第二彈性裝置與所述連接裝置的第二接觸點彈性連接。
[0049]圖6顯示了本發(fā)明提供的一種射頻測試線纜的示意圖，如圖6所示，包括:固定在射頻測試線末端的射頻測試插頭，用于與所述射頻測試座的連接裝置相連接；安裝在所述射頻測試插頭一側并長于所述射頻測試插頭的絕緣頂針裝置，用于頂壓所述射頻測試座中的第一彈性裝置或第二彈性裝置。
[0050]圖7顯示了本發(fā)明實施例提供的一種手機射頻測試的裝置示意圖，如圖7所示，包括:權利要求1-3所述的射頻測試座701 ;權利要求4-6所述的射頻測試線纜702 ;測試模塊703，用于分別通過射頻測試座中的第一彈性裝置和第二彈性裝置連接的第一測試裝置和第二測試裝置，利用所述射頻測試線纜和所述射頻測試座分別進行測試。具體地說，所述測試