一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于光通信領(lǐng)域，尤其涉及一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路。
【背景技術(shù)】
[0002]光模塊是光纖通信系統(tǒng)的核心元器件。它的作用就是光電轉(zhuǎn)換，發(fā)送端把電信號(hào)轉(zhuǎn)換成光信號(hào)，通過光纖傳送后，接收端再把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。其性能好壞將直接影響到光通信系統(tǒng)能否正常工作，從而影響用戶之間的通信。隨著3G、4G無線通信網(wǎng)絡(luò)的發(fā)展，基站之間的互聯(lián)全面采用光纖，對(duì)光模塊的需求也大大增長(zhǎng)。基站的應(yīng)用場(chǎng)景，其使用環(huán)境較為苛刻，對(duì)光模塊的性能及可靠性提出了更高的要求。目前基站之間的互聯(lián)接口標(biāo)準(zhǔn)是CPRI (Common Public Rad1 Interface)。CPRI 標(biāo)準(zhǔn)定義了一系列速率，根據(jù)最新的 CRPI標(biāo)準(zhǔn) v6.0 版本，包括 CPRI opt1n 1-8 (從 614.4Mbit/s 到 10137.6Mbit/s 共八種速率)。而傳統(tǒng)的光模塊只支持單一速率，當(dāng)設(shè)備需要多速率后，傳統(tǒng)的模塊就不能滿足使用要求，需要重復(fù)購置多個(gè)不同速率的光模塊。這樣給使用者帶來非常大的不便，同時(shí)也降低了使用效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路，以解決現(xiàn)有技術(shù)中的光模塊只支持單一速率，當(dāng)設(shè)備需要多速率后，傳統(tǒng)的模塊就不能滿足使用要求，需要重復(fù)購置多個(gè)不同速率的光模塊，這樣給使用者帶來非常大的不便，同時(shí)也降低了使用效率的問題。
[0004]本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一方面本發(fā)明實(shí)施例提供了一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路，速率檢測(cè)電路包括AC功率計(jì)、數(shù)控晶振、鎖定檢測(cè)電路和MCU控制器，其中，MCU控制器連接所述AC功率計(jì)、數(shù)控晶振和鎖定檢測(cè)電路，具體的:
[0005]所述AC功率計(jì)，用于通過計(jì)算輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的低頻分量中存在的總的功率，并根據(jù)所述總的功率輸出平均電壓給所述MCU控制器；
[0006]所述MCU控制器，用于根據(jù)所述AC功率計(jì)的平均電壓，獲取用于輸入給數(shù)控晶振的初始頻率；所述MCU控制器還用于接收鎖定檢測(cè)電路的觸發(fā)消息，并調(diào)用AC功率計(jì)重新計(jì)算數(shù)控晶振的初始頻率；
[0007]所述鎖定檢測(cè)電路，用于比較數(shù)控晶振的工作頻率和所述輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的頻率，若頻率之差超出預(yù)設(shè)閾值，發(fā)送觸發(fā)消息給所述MCU控制器。
[0008]優(yōu)選的，所述速率檢測(cè)電路還包括光電二極管、前置放大器、限幅放大器、低通濾波器，具體的:
[0009]所述光電二極管、前置放大器、限幅放大器、低通濾波器依次連接，并將過濾后的信號(hào)發(fā)送給AC功率計(jì)，用于計(jì)算輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的低頻分量中存在的平均電壓。
[0010]優(yōu)選的，所述預(yù)設(shè)閾值具體為lOOOppm。
[0011]優(yōu)選的，所述低頻分量具體為頻率小于100M的信號(hào)。
[0012]另一方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)方法，所述方法包括AC功率計(jì)、數(shù)控晶振、鎖定檢測(cè)電路和MCU控制器，其中，MCU控制器連接所述AC功率計(jì)、數(shù)控晶振和鎖定檢測(cè)電路，具體的:
[0013]所述AC功率計(jì)通過計(jì)算輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的低頻分量中存在的總的功率，并根據(jù)所述總的功率輸出電壓信號(hào)給所述MCU控制器；
[0014]所述MCU控制器根據(jù)所AC功率計(jì)計(jì)算出的平均電壓，獲取用于輸入給數(shù)控晶振的初始頻率；
[0015]在數(shù)控晶振工作過程中，所述鎖定檢測(cè)電路比較數(shù)控晶振的工作頻率和所述輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的頻率，若頻率之差超出預(yù)設(shè)閾值，發(fā)送觸發(fā)消息給所述MCU控制器；
[0016]所述MCU控制器接收鎖定檢測(cè)電路的觸發(fā)消息，并調(diào)用AC功率計(jì)重新計(jì)算數(shù)控晶振的初始頻率。
[0017]優(yōu)選的，所述MCU控制器根據(jù)所AC功率計(jì)計(jì)算出的輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的低頻分量中存在的平均電壓，獲取用于輸入給數(shù)控晶振的初始頻率之后，還包括:
[0018]如果數(shù)據(jù)速率頻率大于數(shù)據(jù)采樣速率，則提高數(shù)控晶振頻率；具體的:
[0019]初始時(shí)，數(shù)控晶振頻率以較大的步長(zhǎng)遞增以支持快速采集；當(dāng)數(shù)控晶振頻率接近數(shù)據(jù)頻率時(shí)，步長(zhǎng)減小，直到數(shù)控晶振頻率在數(shù)據(jù)頻率的預(yù)設(shè)范圍內(nèi)。
[0020]優(yōu)選的，所述初始時(shí)，數(shù)控晶振頻率以較大的步長(zhǎng)遞增以支持快速采集；當(dāng)數(shù)控晶振頻率接近數(shù)據(jù)頻率時(shí)，步長(zhǎng)減小，直到數(shù)控晶振頻率在數(shù)據(jù)頻率的預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，具體包括:
[0021]數(shù)控晶振頻率復(fù)位到其范圍的下限，內(nèi)部分頻比設(shè)置為最低值N = I ;頻率檢測(cè)器將該采樣速率頻率與數(shù)據(jù)速率頻率相比較，若采樣速率頻率大于數(shù)據(jù)速率頻率，則將N的倍數(shù)提高。
[0022]優(yōu)選的，所述預(yù)設(shè)范圍為0_250ppm。
[0023]優(yōu)選的，所述MCU控制器根據(jù)所AC功率計(jì)計(jì)算出的輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的低頻分量中存在的平均電壓，獲取用于輸入給數(shù)控晶振的初始頻率，具體包括:
[0024]所述MCU控制器根據(jù)存儲(chǔ)的AC功率計(jì)的電壓-頻率關(guān)系表，查找對(duì)應(yīng)所述平均電壓下的頻率值，并將所述頻率值輸入給數(shù)控晶振作為其初始頻率。
[0025]優(yōu)選的，所述低頻分量具體為頻率小于100M的信號(hào)。
[0026]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路的有益效果包括:本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)電路和方法，解決了相關(guān)技術(shù)中需要通過不同模塊來支持不同數(shù)據(jù)傳輸速率，從而導(dǎo)致成本增加以及維護(hù)和升級(jí)不便的問題，進(jìn)而降低了系統(tǒng)版本維護(hù)成本和質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)，提高了系統(tǒng)維護(hù)和升級(jí)的便利性。
【附圖說明】
[0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0028]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種尚速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)不意圖；
[0029]圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)方法的流程示意圖；
[0030]圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種AC功率計(jì)的電壓-頻率對(duì)應(yīng)關(guān)系圖；
[0031]圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)方法的流程示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0032]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0033]為了說明本發(fā)明所述的技術(shù)方案，下面通過具體實(shí)施例來進(jìn)行說明。
[0034]實(shí)施例一
[0035]如圖1所示為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路，由圖1可知，本發(fā)明提供的一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路:
[0036]本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一方面本發(fā)明實(shí)施例提供了一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)電路，速率檢測(cè)電路包括AC功率計(jì)15、數(shù)控晶振16、鎖定檢測(cè)電路17和MCU控制器18，其中，MCU控制器18連接所述AC功率計(jì)15、數(shù)控晶振16和鎖定檢測(cè)電路17，具體的:
[0037]所述AC功率計(jì)15，用于通過計(jì)算輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的低頻分量中存在的總的功率，并根據(jù)所述總的功率輸出平均給所述MCU控制器18 ;
[0038]所述MCU控制器18，用于根據(jù)所述AC功率計(jì)15的平均電壓，獲取用于輸入給數(shù)控晶振16的初始頻率；所述MCU控制器18還用于接收鎖定檢測(cè)電路17的觸發(fā)消息，并調(diào)用AC功率計(jì)15重新計(jì)算數(shù)控晶振16的初始頻率；
[0039]所述鎖定檢測(cè)電路17，用于比較數(shù)控晶振16的工作頻率和所述輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的頻率，若頻率之差超出預(yù)設(shè)閾值，發(fā)送觸發(fā)消息給所述MCU控制器18。
[0040]本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)電路，解決了相關(guān)技術(shù)中需要通過不同模塊來支持不同數(shù)據(jù)傳輸速率，從而導(dǎo)致成本增加以及維護(hù)和升級(jí)不便的問題，進(jìn)而降低了系統(tǒng)版本維護(hù)成本和質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)，提高了系統(tǒng)維護(hù)和升級(jí)的便利性。
[0041]結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例存在一種優(yōu)選的方案，其中，所述速率檢測(cè)電路還包括光電二極管11、前置放大器12、限幅放大器13、低通濾波器14，如圖1所示，具體的:
[0042]所述光電二極管11、前置放大器12、限幅放大器13、低通濾波器14依次連接，并將過濾后的信號(hào)發(fā)送給AC功率計(jì)15，用于計(jì)算輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的低頻分量中存在的平均電壓。
[0043]結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例存在一種優(yōu)選的方案，其中，所述預(yù)設(shè)閾值具體為lOOOppm。
[0044]結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例存在一種優(yōu)選的方案，其中，所述低頻分量具體為頻率小于100M的信號(hào)。
[0045]實(shí)施例二
[0046]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種高速多速率自適應(yīng)速率檢測(cè)方法，所述方法包括AC功率計(jì)15、數(shù)控晶振16、鎖定檢測(cè)電路17和MCU控制器18，其中，MCU控制器18連接所述AC功率計(jì)15、數(shù)控晶振16和鎖定檢測(cè)電路17，如圖2所示，具體包括以下步驟:
[0047]在步驟201中，所述AC功率計(jì)15通過計(jì)算輸入數(shù)據(jù)信號(hào)的低頻分量中存在的總的功率，并根據(jù)所述總的功率輸出電壓信號(hào)給所述MCU控制器18。
[0048]在步驟202中，所述MCU控制器18根據(jù)所AC功率計(jì)15計(jì)算出的平均電壓，獲取用于輸入給數(shù)控晶振1