光纖節(jié)點的測試系統(tǒng)及方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試領域，特別是涉及一種光纖節(jié)點的測試系統(tǒng)及方法。
【背景技術】
[0002]光纖通信是各種電信號經(jīng)過光波調制后，以光纖進行傳輸?shù)耐ㄐ欧绞?。光纖通信不同于有線通信，后者是利用金屬媒體傳輸信號，光纖通信是利用光纖傳輸光波。一般通信電纜使用最高使用頻率為9?24兆赫(106Hz兆赫)，而光纖工作頻率在1014?1015Hz之間。光纖接入網(wǎng)(Optical Access Network)是目前發(fā)展最快的接入網(wǎng)技術，重點解決電話等帶窄業(yè)務的接入問題和解決調整數(shù)據(jù)業(yè)務、多媒體圖像的寬帶業(yè)務的接入問題。
[0003]光纖接入產(chǎn)品0NU(光網(wǎng)絡單元)在接收0LT光線路終端)的上行光過程時易出現(xiàn)如下問題:
[0004]①上行光傳輸中會遇到色散和SBS問題；
[0005]②易形成發(fā)射，擠掉其它在線用戶，即是業(yè)界所認知的BIP8 ;
[0006]③分級較多，出現(xiàn)問題不易排查；
[0007]④經(jīng)過鏈路衰減后，對接受機性能要求高；
[0008]⑤誤碼率較高。
[0009]隨著光纖網(wǎng)絡的家庭化越來越廣泛，0LT與0NU之間的光纖鏈路越來越復雜，僅對0NU和0LT進行簡單的單機測試，已無法滿足用戶對光纖網(wǎng)絡穩(wěn)定性、抗干擾性的要求。
[0010]因此，需要對現(xiàn)有的測試技術進行改進。

【發(fā)明內容】

[0011]鑒于以上所述現(xiàn)有技術的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種光纖節(jié)點的測試系統(tǒng)及方法，用于解決現(xiàn)有技術中光纖鏈路的節(jié)點設備(0NU和0LT)的測試不完整的問題。
[0012]為實現(xiàn)上述目的及其他相關目的，本發(fā)明提供一種光纖節(jié)點的測試系統(tǒng)，包括:待測試的至少一路光纖鏈路，其中，每路所述光纖鏈路包括位于光纖鏈路兩端的節(jié)點、和連接兩所述節(jié)點的光纖；位于至少一個所述節(jié)點的干擾設備，用于基于所獲取的干擾參數(shù)向所述待測試的光纖鏈路施加環(huán)境干擾；與所述干擾設備、各所述節(jié)點均相連的測試設備，用于按照預設的環(huán)境干擾策略向所述干擾設備發(fā)送所述干擾參數(shù)，并在所述干擾設備運行期間統(tǒng)計所述光纖鏈路兩端各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量，并基于各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量的比對結果，對各所述節(jié)點進行測試。
[0013]優(yōu)選地，所述干擾設備包括:噪聲信號發(fā)生裝置，用于基于所獲取的干擾參數(shù)中的噪聲參數(shù)向所述光纖鏈路施加噪聲干擾；光發(fā)射裝置，用于基于所獲取的干擾參數(shù)中的光干擾參數(shù)向所述光纖鏈路施加光線干擾。
[0014]優(yōu)選地，所述測試設備包括:控制裝置，用于基于所獲取的包含噪聲參數(shù)和/或光干擾參數(shù)、以及調節(jié)方式的環(huán)境干擾策略向所述干擾設備發(fā)送包含噪聲參數(shù)和/或光干擾參數(shù)的干擾參數(shù)；與當前測試的光纖鏈路兩端的節(jié)點均相連的數(shù)量統(tǒng)計裝置，用于統(tǒng)計預設時長內各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量，并基于各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量測試所述控制裝置所輸出的干擾參數(shù)所對應的丟包率，以及基于所述丟包率確定相應節(jié)點的抗干擾性。
[0015]優(yōu)選地，所述光纖鏈路兩端的節(jié)點分別為0LT和0NU。
[0016]優(yōu)選地，所述干擾設備位于所述0NU —側。
[0017]優(yōu)選地，當待測試的光纖鏈路為多條時，各所述光纖鏈路共同節(jié)點為0LT，所述測試系統(tǒng)還包括:與所述0LT相連的分光器，各待測試的光纖鏈路另一端的節(jié)點0NU通過所述分光器連接0LT。
[0018]優(yōu)選地，所述測試設備連接所有待測試的光纖鏈路中的各節(jié)點。
[0019]基于上述目的，本發(fā)明還提供一種光纖節(jié)點的測試方法，包括:按照預設的環(huán)境干擾策略向待測試的光纖鏈路施加環(huán)境干擾；在環(huán)境干擾期間，統(tǒng)計所述光纖鏈路兩端各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量，并基于各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量的比對結果，對各所述節(jié)點進行測試。
[0020]優(yōu)選地，所述統(tǒng)計光纖鏈路兩端各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量，并基于各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量的比對結果，對各所述節(jié)點進行測試的方式包括:統(tǒng)計預設時長內各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量，并基于各節(jié)點發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量測試所述干擾參數(shù)所對應的丟包率，以及基于所述丟包率確定相應節(jié)點的抗干擾性。
[0021]如上所述，本發(fā)明的光纖節(jié)點的測試系統(tǒng)及方法，具有以下有益效果:通過對光纖鏈路施加干擾，并測試在干擾情況下的各節(jié)點的抗擾能力，一方面能夠測試節(jié)點產(chǎn)品的網(wǎng)絡傳輸性能，另一方面還可以基于測試結果對節(jié)點產(chǎn)品進行改進；另外，特別針對噪聲和外界光對光纖鏈路的干擾，能準確的測得節(jié)點產(chǎn)品的抗擾性；還有，所述測試系統(tǒng)可以同時測試多個0NU及其共用的0LT，有效提高了測試效率。
【附圖說明】
[0022]圖1顯示為本發(fā)明的光纖節(jié)點的測試系統(tǒng)的結構示意圖。
[0023]圖2顯示為本發(fā)明的光纖節(jié)點的測試系統(tǒng)的一種優(yōu)選方式的結構示意圖。
[0024]圖3顯示為本發(fā)明的光纖節(jié)點的測試方法的流程圖。
[0025]元件標號說明
[0026]11節(jié)點
[0027]12干擾設備
[0028]13測試設備
[0029]S1 ?S2 步驟
【具體實施方式】
[0030]以下通過特定的具體實例說明本發(fā)明的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所揭露的內容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點與功效。本發(fā)明還可以通過另外不同的【具體實施方式】加以實施或應用，本說明書中的各項細節(jié)也可以基于不同觀點與應用，在沒有背離本發(fā)明的精神下進行各種修飾或改變。需說明的是，在不沖突的情況下，以下實施例及實施例中的特征可以相互組合。
[0031]需要說明的是，以下實施例中所提供的圖示僅以示意方式說明本發(fā)明的基本構想，遂圖式中僅顯示與本發(fā)明中有關的組件而非按照實際實施時的組件數(shù)目、形狀及尺寸繪制，其實際實施時各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態(tài)也可能更為復雜。
[0032]請參閱圖1，本發(fā)明提供一種光纖節(jié)點的測試系統(tǒng)。所述測試系統(tǒng)包括:待測試的至少一路光纖鏈路、干擾設備、測試設備。
[0033]所述光纖鏈路包括位于光纖鏈路兩端的節(jié)點11、和連接兩所述節(jié)點11的光纖。其中，光纖兩端的節(jié)點11分別為0LT和0NU。所述光纖的長度舉例為20km。其中，0LT可采用1490nm波長的下行光發(fā)送數(shù)據(jù)包，0NU可采用1310nm波長的上行光發(fā)送數(shù)據(jù)包。
[0034]所述干擾設備12可安裝在0NU側，也可以安裝在0LT側。所述干擾設備12用于基于所獲取的干擾參數(shù)向所述待測試的光纖鏈路施加環(huán)境干擾。
[0035]在此所述干擾參數(shù)包括但不限于:光干擾參數(shù)、噪聲參數(shù)等。
[0036]其中，所述干擾設備12包括:噪聲信號發(fā)生裝置和光發(fā)射裝置。
[0037]所述噪聲信號發(fā)生裝置用于基于所獲取的干擾參數(shù)中的噪聲參數(shù)向所述光纖鏈路施加噪聲干擾。
[0038]具體地，所獲取的干擾參數(shù)包括:高斯白噪聲干擾類型和干擾功率，則所述噪聲信號發(fā)生裝置按照所述干擾功率向所述光纖鏈路施加高斯白噪聲。
[0039]所述光發(fā)射裝置用于基于所獲取的干擾參數(shù)中的光干擾參數(shù)向所述光纖鏈路施加光線干擾。
[0040]具體地，所獲取的干擾參數(shù)包括:光強參數(shù)、光發(fā)射角度等，所述光發(fā)射裝置按照所述干擾參數(shù)向所述光纖鏈路施加光線干擾。
[0041]所述測試裝置與所述干擾設備12、各所述節(jié)點11均相連，用于按照預設的環(huán)境干擾策略向所述干擾設備12發(fā)送所述干擾參數(shù)，并在所述干擾設備12運行期間統(tǒng)計所述光纖鏈路兩端各節(jié)點11發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量，并基于各節(jié)點11發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量的比對結果，對各所述節(jié)點11進行測試。
[0042]在此，所述環(huán)境干擾策略包括但不限于:1)僅指示噪聲信號發(fā)生裝置調整噪聲參數(shù)；2)僅指示光發(fā)射裝置調整光干擾參數(shù)；3)同時指示噪聲信號發(fā)生裝置和光發(fā)射裝置調整各自干擾參數(shù)。其中，所述噪聲參數(shù)的調整范圍可參考實際光纖鏈路中噪聲參數(shù)的區(qū)間而設。所述光干擾參數(shù)的調整范圍也可參考實際光纖鏈路中光干擾參數(shù)的區(qū)間而設。
[0043]所述環(huán)境干擾策略中還包括調整方式。例如，所述測試設備13預設在干擾參數(shù)調整范圍內單調逐級的調整干擾參數(shù)，并在每級的干擾參數(shù)下統(tǒng)計預設時長內的各節(jié)點11發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量，并基于各節(jié)點11發(fā)送及接收到的數(shù)據(jù)包數(shù)量測試每級的干擾參數(shù)所對應的丟包率，以及基于所述丟包率確定相應節(jié)點11的抗干擾性。
[0044]在此，所述測試設備13包括:控制裝置和數(shù)量統(tǒng)計裝置。
[0045]所述控制裝置用于基于所獲取的包含噪聲參數(shù)和/或光干擾參數(shù)、以及調節(jié)方式的環(huán)境干擾策略向所述干擾設備12發(fā)送包含噪聲參數(shù)和/或光干擾參數(shù)的干擾參數(shù)。
[0046]具體地，所述控制裝置可包含顯示屏和人機交互組件(如鼠標、鍵盤等)，用戶通過人機交互組件輸入包含干擾參數(shù)和調節(jié)方式的環(huán)境干擾策略，則所述控制裝置獲取相應的環(huán)境干擾策略，并向所述干擾設備12發(fā)送相